1)planar crystal spectrometer平晶谱仪
2)flat crystal spectrometer平面晶体谱仪
3)position sensitive spectrometer with a flat-crystal平面晶体位置灵敏谱仪
4)Curved crystal spectrometer弯晶谱仪
1.Application of curved crystal spectrometer in measuring X-ray line;弯晶谱仪在X射线探测中的应用
英文短句/例句
1.Elliptically Bent Crystal Spectrometer for Z-Pinch Plasma X-RayZ箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪
2.Research on Fundamental Theories and Experiments of Double-channel Elliptically-curved Crystal Spectrograph;双通道椭圆弯晶谱仪的基础理论及实验研究
3.Elliptical Crystal Spectrometer for Gas-puff-Pinch Plasma X-Ray喷气箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪研究
4.Theoretical Calculation and Design for Cylindrical and Conical Bent Crystal Spectrograph圆柱面和圆锥面弯晶谱仪的理论计算及设计
5.Research of the Two-channel Elliptical Crystal Spectrometer in the 620～6200-eV X-ray Region;基于620～6200—eV能区X射线探测的双通道椭圆弯晶谱仪的研究
6.four crystal X-ray spectrometer四晶体x射线光谱仪
7.multiple crystal X-ray spectrometer多晶体x射线光谱仪
8.TAP curved crystal spectrometer for diagnosing K-shell radiation of aluminum Z-pinch plasma用于测量Z箍缩铝等离子体K层辐射的邻苯二甲酸氢铊弯晶摄谱仪
9.Effect of spectral curvature on signal acquisition of imaging spectrometer with prism dispersion in VNIR谱线弯曲对成像光谱仪辐射信号采集的影响
10.Research on Key Technologies of a Window-type X-ray Crystal Spectrograph“窗式”X射线晶体谱仪关键技术研究
11.Design of the Two-channel Elliptical Crystal Spectrometer and Experiment Research;双通道椭圆弯晶谱议的设计及实验研究
12.The Research on Simulation of EEMC on BESⅢ;北京谱仪BESⅢ端盖晶体量能器EEMC的模拟研究
13.Measurements on the Size of CsI(TI) Crystals of Electromagnetic Calorimeters in BESIII北京谱仪III电磁量能器晶体尺寸的测量
14.An instrument that produces a chromatogram.色谱仪产生色谱的仪器
15.meniscus astrograph弯月形透镜天体摄影仪
16.meniscus photoheliograph弯月形透镜太阳摄影仪
17.horizontally bent comb monochromator水平弯曲中子梳单色仪
18.UF6 mass spectrometers/ion sourcesUF6质谱仪/离子源
相关短句/例句
flat crystal spectrometer平面晶体谱仪
3)position sensitive spectrometer with a flat-crystal平面晶体位置灵敏谱仪
4)Curved crystal spectrometer弯晶谱仪
1.Application of curved crystal spectrometer in measuring X-ray line;弯晶谱仪在X射线探测中的应用
5)crystal spectrometer晶体谱仪
1.Unfolded study on spectra by elliptical crystal spectrometer椭圆型晶体谱仪谱测量的解谱
6)Bent crystal spectrometer弯晶谱仪
1.e describe a focusing bent crystal spectrometer (BCS) and a pinhole crystalspectrometer (PCS) for X-ray laser experimental study at the high power laser facilityLF12# of SIOFM.本文讨论了两种适用于Ｘ射线激光实验的聚焦型弯晶谱仪和针孔晶体谱仪。
2.One-dimension spatial resolution soft X-ray spectra of laser-produced Ta plasmas is obtained by using a bent crystal spectrometer.采用聚焦石英弯晶谱仪测量钽(Ta)激光等离子体发射谱线，得到了一维空间高分辨软X 射线谱，辨认了其类镍和类钴离子谱线。
延伸阅读
平晶 具有两个（或一个）光学测量平面的正圆柱形或长方形的量规。光学测量平面是表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面，它能够产生光波干涉条纹（见激光测长技术）。平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，图1a为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的，用于测量两高光洁表面的平行度误差，例如千分尺两测量面的平行度误差（图1b）。平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。圆柱形平面平晶的直径通常为 45～150毫米。其光学测量平面的平面度误差为:1级精度的为0.03～0.05微米；2级精度的为0.1微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。 平晶是利用光波干涉现象测量平面度误差的，故其测量方法称为平晶干涉法（图2）,也称技术光波干涉法。测量时,把平晶放在被测表面上,且与被测表面形成一个很小的楔角 θ，以单色光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表面间的间隙很小,则由平晶测量面P反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P发生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白光下，则出现彩色干涉条纹。如干涉条纹平直，相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表示平面度不好。其误差值为，式中a为两干涉条纹间距离，b为干涉条纹的弯曲值,λ为光波波长，白光波长一般以0.6微米计算。
