专利名称：Pci精密测量控制系统的制作方法
技术领域：
本实用新型属于试验机和工业自动测控技术领域。
背景技术：
目前在综合测量及控制系统，一般都为独立的模拟传感器测量电箱，连接到A/D卡，这种用法的缺点有测量电箱内的电压基准与A/D转换卡的电压基准不能完全一致，随着时间的变化，基准不一所带来的误差越来越大。一般在多路采集的系统中，采样的过程是，对多路测量通道在CPU的管理下，循环扫描采集，必然会造成采样不同步的错误。
发明内容
本实用新型提供一种PCI精密测量控制系统，以解决采用独立的模拟传感器存在的基准不一所带来的误差越来越大和采样不同步的错误。本实用新型采取的技术方案是3个模拟传感器一、二、三分别与模拟测量放大与零点调整增益调整电路一、二、三连接，该模拟测量放大与零点调整增益调整电路一、二、三分别与A/D转换器一、二、三连接，该A/D转换器一、二、三分别与可编程门阵列电路连接，该可编程门阵列电路与光电隔离的数字量控制输出电路连接，该可编程门阵列电路内部的PCI接口与PCI总线连接，3个数字传感器一、二、三分别与光电隔离及滤波抗干扰电路一、二、三连接，该光电隔离及滤波抗干扰电路一、二、三分别与该可编程门阵列电路连接。
工作时，模拟传感器与模数转换器(A/D)共用同一基准电压源；传感器信号输入后，经过模拟测量放大与零点调整、增益调整；进入A/D转换器；经A/D转换器转换后进入可编程门阵列，数字传感器的数字输出信号经过光电隔离及滤波抗干扰电路，后进入可编程门阵列，FPGA的数字控制信号，经光电隔离的数字量控制输出电路输出，该可编程门阵列电路内部的PCI接口与PCI总线连接。
本实用新型优点在于结构新颖，在模拟传感器测量过程中，供桥电压与A/D转换器采用统一基准，能保持一致性，多路测量信号的采样不是由CPU直接管理，而是由大规模可编程门阵列同步采样，不会产生任何时间偏差。本实用新型是在一块微机PCI插卡上实现三路模拟传感器的高精度测量、三路数字传感器的测量和一路闭环调速控制输出，组成完整的、多功能的综合测控系统，具有很高集成度、高性能、且成本低、应用面广的特点，可对试验机和多种设备实现全面的测量控制管理。
图1、本实用新型原理框图。
图2、本实用新型可编程门阵列电路中运行程序的原理框图。
具体实施方式
3个模拟传感器一、二、三分别与模拟测量放大与零点调整增益调整电路一、二、三连接，该模拟测量放大与零点调整增益调整电路一、二、三分别与A/D转换器一、二、三连接，该A/D转换器一、二、三分别与可编程门阵列电路连接，该可编程门阵列电路与光电隔离的数字量控制输出电路连接，该可编程门阵列电路内部的PCI接口与PCI总线连接，3个数字传感器一、二、三分别与光电隔离及滤波抗干扰电路一、二、三连接，该光电隔离及滤波抗干扰电路一、二、三分别与该可编程门阵列电路连接。
可编程门阵列电路可采用EP1C12Q240C8芯片，该电路采用硬件描述语言VHDL设计，首先将PCI总线转换为简单易用的地址、数据等电路，在生成地址统一安排的综合译码，管理如图2所示的各种功能电路。
权利要求1.一种PCI精密测量控制系统，其特征在于3个模拟传感器一、二、三分别与模拟测量放大与零点调整增益调整电路一、二、三连接，该模拟测量放大与零点调整增益调整电路一、二、三分别与A/D转换器一、二、三连接，该A/D转换器一、二、三分别与可编程门阵列电路连接，该可编程门阵列电路与光电隔离的数字量控制输出电路连接，该可编程门阵列电路内部的PCI接口与PCI总线连接，3个数字传感器一、二、三分别与光电隔离及滤波抗干扰电路一、二、三连接，该光电隔离及滤波抗干扰电路一、二、三分别与该可编程门阵列电路连接。
专利摘要本实用新型涉及一种PCI精密测量控制系统，属于试验机和工业自动测控技术领域。3个模拟传感器分别与模拟测量放大与零点调整增益调整电路连接，再分别与A/D转换器连接，该A/D转换器分别与可编程门阵列电路连接，还与光电隔离的数字量控制输出电路连接，该可编程门阵列电路内部的PCI接口与PCI总线连接，3个数字传感器分别与光电隔离及滤波抗干扰电路连接，再分别与该可编程门阵列电路连接。优点在于在模拟传感器测量过程中，供桥电压与A/D转换器采用统一基准，能保持一致性，多路测量信号的采样由大规模可编程门阵列同步采样，不会产生任何时间偏差。
文档编号G08C19/16GK2914215SQ20062002879
公开日2007年6月20日 申请日期2006年5月24日 优先权日2006年5月24日
发明者孔祥龙 申请人:长春市奥维精密试验设备有限公司