本发明涉及一种磁共振成像(mri：magneticresonanceimaging)技术。特别涉及通过计算推定被检测体参数的技术。
背景技术：
：：mri装置是一种医用图像诊断装置，其使横断被检测体的任意的平面内的氢原子核引起核磁共振，根据所产生的核磁共振信号(nmr信号：回波信号)摄影核磁共振平面内的断层像。一般，与施加用于确定摄影面的切片倾斜磁场同时地，赋予激励该面内的磁化的激励脉冲，由此得到在所激励的磁化收敛的阶段产生的回波信号。这时，对磁化赋予位置信息，因此在从激励到得到回波信号的期间，在断层面内施加相互垂直的方向的相位编码倾斜磁场和读出倾斜磁场。根据预先设定的脉冲时序，施加用于产生回波信号的激励脉冲和赋予位置信息的各倾斜磁场。根据目的已知有各种该脉冲时序。例如，在梯度回波(ge)类型的高速摄影法中，使该脉冲时序重复工作，在每次重复时顺序地改变相位编码倾斜磁场，由此顺序地测量得到一张断层像所需个数的回波。在mri中，一般通过重构所得到的回波信号而得到图像。除此以外，有根据使用不同的摄影参数执行脉冲时序所得到的多个图像，通过计算对每个像素求出希望的定量值而得的定量值图像(计算图像、参数分布、参数图表)。在计算的定量值中有被检测体参数、装置参数等。摄影参数是重复时间、高频磁场的设定强度、高频磁场的相位等在摄影时设定的参数，被检测体参数是纵缓和时间t1、横缓和时间t2、自旋密度ρ、共振频率f0、扩散系数d、高频磁场的照射强度分布(b1分布)等被检测体的物性值、依存于它的值，装置参数是磁场强度b0、接收线圈的灵敏度分布sc等依存于摄影所使用的mri装置的参数。一般，解析地求出摄影参数、被检测体参数或装置参数与像素值之间的关系作为信号函数，使用该信号函数，得到上述定量值。但是，根据摄影时序的不同，有时没有解析地求出信号函数。在这样的摄影时序的情况下，存在以下的方法，即通过数值模拟生成信号函数，由此生成计算图像(例如参照专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2011-024926号公报技术实现要素：发明要解决的问题根据推定对象的参数计算图像的最优的分辨率不同。例如，作为被检测体参数的b1分布在空间上平滑地变化，因此与t1、t2分布相比，不需要高分辨率。在分别测量计算各个参数的现有的方法的情况下，能够对各参数以最优的分辨率计算出计算图像。但是，在专利文献1所公开的方法中，同时生成多个被检测体参数和装置参数的计算图像。因此，最优的分辨率被固定为最高的参数的分辨率，而计算全部的计算图像。例如，在同时计算b1、t1、t2、ρ的分布时，也以与其他分布相同的高分辨率求出b1分布的分辨率。但是，以高分辨率计算出不需要高分辨率的参数的计算图像(例如b1分布)，由此sn比降低，其结果造成计算图像的画质、精度的降低。本发明就是鉴于上述情况而提出的，其目的在于：提供一种技术，其在使用同时生成多个参数的计算图像的方法的情况下，也提高计算图像的画质、参数推定精度。用于解决问题的手段本发明使用对各个推定对象的参数最优的分辨率的重构图像，推定该参数的值，得到该参数的值的分布即计算图像。通过调整在摄影时以推定对象的参数中的最优分辨率最高的推定参数的最优分辨率取得的重构图像的分辨率，而得到最优分辨率的重构图像。或者，在摄影时，只对计算预定的推定对象参数时使用的重构图像，以对该推定对象参数最优的分辨率而取得。发明效果根据本发明，在同时生成多个参数的计算图像的情况下，也能够提高计算图像的画质、参数推定精度。附图说明图1是表示第一实施方式的mri装置的概要结构的框图。图2是第一实施方式的计算机的功能框图。图3是第一实施方式的计算图像生成处理的流程图。图4的(a)是用于说明第一实施方式的摄影时序的说明图，(b)是用于说明第一实施方式的摄影时序的k空间的说明图。图5是第一实施方式的信号函数生成处理的流程图。图6是用于说明第一实施方式的信号函数的强度分布例子的说明图。图7是第一实施方式的参数推定处理的流程图。图8是用于说明第一实施方式的参数推定处理的流程的具体例子的说明图。图9的(a)是用于说明在图8所示的处理中最初得到的重构图像例子的说明图，(b)～(e)是用于说明在图8所示的处理的中途得到的重构图像或参数分布例子的说明图，(f)是说明通过现有方法得到的参数分布例子的说明图。图10(a)～(d)是用于分别说明通过第一实施方式的方法得到的参数分布、通过现有方法得到的参数分布的说明图。图11的(a)是用于说明第二实施方式的单回波时序的说明图，(b)是用于说明第二实施方式的多回波时序的说明图。图12(a)～(c)是用于说明第二实施方式的参数推定处理的说明图。图13是用于说明本发明的各实施方式的接受画面例子的说明图。图14的(a)是用于说明本发明的变形例子的摄影时序的说明图，(b)是用于说明(a)的摄影时序的k空间的说明图。具体实施方式<第一实施方式>以下，说明应用本发明的第一实施方式。以下，在用于说明本发明的实施方式的全部图中，基本上具有相同功能的部分附加相同的符号，省略其重复的说明。首先，说明本实施方式的mri装置。图1是表示本实施方式的mri装置100的概要结构的框图。mri装置100具备产生静磁场的磁铁101、产生倾斜磁场的倾斜磁场线圈102、时序发生器104、倾斜磁场电源105、高频磁场发生器106、照射高频磁场并且检测核磁共振信号的收发线圈107、接收器108、计算机109、显示装置110、存储装置111。收发线圈107在图中表示出一个，但也可以分别地具备发送线圈和接收线圈。被检测体(例如生物体)103被载置在卧台(台(table))等上，配置在磁铁101所产生的静磁场空间内。时序发生器104向倾斜磁场电源105和高频磁场发生器106发送指令，使得分别产生倾斜磁场和高频磁场。通过收发线圈107向被检测体103施加高频磁场。通过收发线圈107接收从被检测体103产生的核磁共振信号(nmr信号：回波信号)，通过接收器108进行检波。通过时序发生器104设置成为检波的基准的核磁共振频率(检波基准频率；共振频率f0)。检波出的回波信号被发送到计算机109，在此进行图像重构等信号处理。其结果被显示在显示装置110。也可以根据需要，将检波出的信号、测定条件存储到存储装置111。时序发生器104通常控制各装置以预先编程的定时、强度动作。将程序中的特别是记述了高频磁场、倾斜磁场、信号接收的定时、强度的部分称为脉冲时序(摄影时序)。计算机109依照脉冲时序，使各部动作，测量回波信号。另外，针对得到的回波信号，实施各种信号处理，得到希望的图像。此外，通过时序发生器104进行回波信号的测量。计算机109具备cpu和存储器。另外，由计算机109的cpu将存储在存储装置111中的程序装载到存储器并执行，来实现计算机109实现的各功能。另外，也可以通过asic(applicationspecificintegratedcircuit：专用集成电路)、fpga(field-programmablegatearray：现场可编程门阵列)等硬件来实现全部或一部分的功能。另外，将各功能的处理所使用的各种数据、处理中生成的各种数据存储在存储装置111中。此外，磁铁101作为静磁场产生部发挥功能，倾斜磁场线圈102和倾斜磁场电源105作为倾斜磁场产生部发挥功能，收发线圈107和高频磁场发生器106作为高频发送部发挥功能，收发线圈107和接收器108作为接收部发挥功能，时序发生器104和计算机109作为控制部发挥功能，计算机109还作为图像重构部发挥功能。在本实施方式中，根据改变摄影参数而取得的多个重构图像，分别以最优分辨率得到被检测体参数和/或装置参数的计算图像。为了实现它，如图2所示，本实施方式的计算机109具备接受部210、重构图像取得部220、参数推定部230、显示图像生成部240。另外，如后述那样，在需要生成信号函数的情况下，还具备信号函数生成部250。以下，在本实施方式中，在摄影时序执行时，用户将能够在任意设定的参数称为摄影参数，将依存于被检测体103的参数称为被检测体参数，将mri装置固有的参数称为装置参数。摄影参数例如有重复时间(tr)、回波时间(te)、高频磁场的强度(倾斜角(flipangle：fa))、高频磁场的相位(θ)等。另外，被检测体参数有纵缓和时间(t1)、横缓和时间(t2)、自旋密度(ρ)、共振频率差(δf0)、扩散系数(d)、高频磁场强度(高频磁场的照射强度分布：b1)等。进而，装置参数有静磁场强度(b0)、接收线圈的灵敏度分布(sc)等。此外，共振频率差δf0是各像素的共振频率和基准频率f0之间的差。[接受部]接受部210接受来自用户的指示。接受部210在重构图像取得部220执行摄影时，接受必要的信息。进而，在本实施方式中，接受用于生成计算图像(参数分布)的对象的被检测体参数和/或装置参数(推定参数)的指定、摄影所使用的摄影参数组的指定。经由显示在显示装置110的接受画面，接受这些信息。另外，预先将能够指定的参数的信息保存在存储装置111中。[重构图像取得部]本实施方式的重构图像取得部220依照预先确定的摄影时序，使用预先设定的摄影参数，执行摄影，得到重构图像。通过向时序发生器104发出指示以便控制各部依照摄影参数和摄影时序而执行摄影。在本实施方式中，使用一个以上的摄影参数的值不同的多个摄影参数组，依照预先确定的摄影时序，进行摄影，针对每个摄影参数组取得重构图像。这时，本实施方式的重构图像取得部220依照与由接受部210接受的各推定参数对应的摄影条件，进行摄影，取得重构图像。此外，与各推定参数对应的摄影条件包括对该推定参数最优的分辨率，预先保存在存储装置111等中。[参数推定部]参数推定部230使用多个重构图像、依照取得该重构图像时的摄影时序的信号函数，推定依存于被检测体103的被检测体参数、以及依存于装置的装置参数中的至少一个参数即推定对象的参数(推定参数)的值。在本实施方式中，使用对每个推定参数最优的分辨率的重构图像，对推定参数的值进行推定。对每个像素进行推定参数的值的推定。因此，作为结果，本实施方式的参数推定部230输出每个像素的参数值即参数分布。将在后面说明本实施方式的参数推定部230的参数推定处理的细节。[显示图像生成部]显示图像生成部240根据由参数推定部230生成的参数分布生成显示图像，显示在显示装置110。此外，也可以不具备显示图像生成部240。首先，在图3中表示这些各部的计算图像生成处理的流程的概要。首先，重构图像取得部220依照预先确定的摄影时序，进行摄影，得到多个重构图像320(步骤s1101)。这时，在本实施方式中，如上述那样，使用一个以上的摄影参数的值不同的多个摄影参数组310，进行摄影。然后，参数推定部230使用信号函数330和多个重构图像320，进行参数推定处理(步骤s1102)，得到希望的推定参数的每个像素的参数值(参数分布)340。然后，显示图像生成部240生成显示图像(步骤s1103)，显示在显示装置110(步骤s1104)，结束处理。[参数推定处理]以下，说明本实施方式的参数推定处理。如上述那样，参数推定部230在参数推定时使用信号函数330。在说明参数推定处理之前，说明信号函数330。信号函数330是在对每个摄影时序确定摄影参数、被检测体参数以及装置参数与重构图像的各像素值之间的关系的函数。一般，对每个摄影时序解析地计算并公式化。在参数推定时使用具有公式化了的信号函数的摄影时序的情况下，使用该信号函数330。另一方面，在使用信号函数没有公式化的摄影时序的情况下，在本实施方式中，信号函数生成部250预先生成信号函数330。即，本实施方式的信号函数生成部250在生成计算图像时使用的摄影时序是无法解析地求出信号函数的时序、或不是已知的时序的情况下，通过数值模拟生成信号函数330。此外，在使用解析地求出了信号函数的摄影时序、或已知的时序的情况下，也可以不具备信号函数生成部250。[摄影时序]在说明信号函数生成部250的信号函数生成处理的细节之前，说明没有解析地求出信号函数的摄影时序的例子。在此，作为该摄影时序，列举rf-sppoiledge时序为例子进行说明。图4(a)是rf-spoiledge时序610的时序图。rf、gs、gp、gr分别表示高频磁场(rf)脉冲、切片选择倾斜磁场脉冲、相位编码倾斜磁场脉冲、读出倾斜磁场脉冲的施加定时。以下，在本说明书中相同。在该rf-spoiledge时序610中，首先施加切片倾斜磁场脉冲611，并且照射高频磁场(rf)脉冲612，激励对象物体内的预定的切片的磁化。接着，施加切片相位倾斜磁场脉冲613、用于对磁化的相位附加相位编码方向的位置信息的相位编码倾斜磁场脉冲614、失相(dephase)用读出倾斜磁场615。然后，一边施加用于附加读出方向的位置信息的读出倾斜磁场脉冲616，一边测量磁共振信号(回波信号)617。然后，最后施加失相用相位编码倾斜磁场脉冲619。在使用rf-spoiledge时序610进行摄影的情况下，重构图像取得部220使相位编码倾斜磁场脉冲614和失相用相位编码倾斜磁场脉冲619的强度(相位编码量kp)改变，并且使rf脉冲612的相位的增加值每次变化117度，同时以重复时间tr重复以上的步骤，测量得到一张图像所需要的回波。此外，这时，第n个施加的rf脉冲612的相位θ(n)为θ(n-1)+117n。由此，如图4(b)所示，将各回波信号配置在k空间上。然后，重构图像取得部220通过二维傅立叶逆变换而重构图像。此外，如果使用rf-spoiledge时序610，则得到强调了t1(纵缓和时间)的重构图像。[信号函数生成处理]以下，说明信号函数生成部250生成rf-spoiledge时序610的信号函数的处理。如图5所示，信号函数生成部250分别使用一个以上的摄影参数的值不同的多个摄影参数组410，进行数值模拟(步骤s1201)，生成信号函数420。多个摄影参数组410是多个不同的上述摄影参数和上述被检测体参数的组合。[信号函数]使用被检测体参数的纵缓和时间t1、横缓和时间t2、自旋密度ρ、高频磁场强度b1、装置参数的接收线圈灵敏度sc、作为能够在rf-spoiledge时序610中变更的摄影参数的倾斜角fa、重复时间tr、回波时间te、rf相位增加值θ，用以下的公式(1)表示rf-spoiledge时序610的信号函数fs。[公式1]i＝fs(ρ，t1，t2，b1，fa，tr，te，θ，sc)＝ρscf(t1，t2，b1×fa，θ，tr，te)…(1)此外，b1在摄影时为fa的系数，因此为与fa的积的形式。另外，ρ和sc作为比例系数对信号强度起作用，因此处于函数的外侧。[摄影参数组]本实施方式的信号函数生成部250对被检测体参数的t1、t2的任意的值涵盖地改变摄影参数fa、tr、te，通过数值模拟得到信号，对所得的信号进行插补，由此生成信号函数。此外，能够在rf-spoiledge时序610中变更的参数如上述那样是fa、tr、te、θ。但是，其中，rf相位增加值θ被固定为117度。θ被固定是为了得到与作为高速摄影法之一的flash同等的t2依存性少的图像对比度。如果改变θ，则图像对比度的t2依存性有很大变化。另外，这时，摄影对象的自旋密度ρ和b1、sc是固定的(例如为1)。以下表示生成信号函数时使用的被检测体参数t1、t2的值、改变的摄影参数fa、tr、θ的值的一个例子。分别包含实际摄影时使用的摄影参数的范围、被检测体的t1、t2的范围。t1(15个)[s]：0.05，0.07，0.1，0.14，0.19，0.27，0.38，0.53，0.74，1.0，1.5，2.0，2.8，4.0，5.6。t2(17个)[s]：0.01，0.02，0.03，0.04，0.05，0.07，0.1，0.14，0.19，0.27，0.38，0.53，0.74，1.0，1.4，2.0，2.8。tr(4个)[ms]：10，20，30，40。fa(10个)度：5，10，15，20，25，30，35，40，50，60θ(17个)度：0，1，2，3，4，5，6，7，8，9，10，12，14，16，18，20，22。在该情况下，信号函数生成部250生成由以上的摄影参数和被检测体参数的全部组合构成的173400个摄影参数组410，通过数值模拟计算出基于各个摄影参数组410的信号值。[数值模拟]数值模拟以在格子点上配置自旋所得的被检测体模型、摄影时序、摄影参数、装置参数作为输入，求解作为磁共振现象的基础方程式的bloch的公式，输出磁共振信号。作为自旋的空间分布(γ，m0，t1，t2，cs)而赋予被检测体模型。此处，γ是磁旋比，m0是热平衡磁化(自旋密度)，t1和t2分别是纵缓和时间和横缓和时间。bloch的公式是1阶线性常微分方程式，用下式表示。[公式2]h＝bo+gxx+gyy+gzz+2πfo/γ在此，(x，y，z)表示三维的正交坐标系，z与静磁场(强度为b0)的方向相等。另外，(mx，my，mz)是自旋，gx、gy、gz分别是下标方向的倾斜磁场强度，h1是高频磁场强度，f0是旋转坐标系的频率。[插补]如果通过上述公式(2)得到每个摄影参数组410的信号值，则信号函数生成部250对它们进行插补，生成信号函数fs(420)。对插补，可以使用1次到3次左右的线性插补、样条插补。在图6中表示本实施方式的信号函数生成部250通过上述方法生成的信号函数420的强度的一部分。在此，表示在设t1为900ms，t2为100ms，θ为5度的情况下的fa和tr的每个值的强度。横轴是fa(deg.)，纵轴是tr(s)。信号强度越大，则用越浓的颜色表示。[参数推定处理]接着，说明本实施方式的参数推定部230的参数推定处理的细节。如上述那样，在本实施方式中，对每个推定参数，使用最优分辨率的重构图像，对推定参数的值进行推定。如上述那样，预先将每个推定参数的最优分辨率保存在存储装置111等中。在推定时，参数推定部230使用多个重构图像320、摄影时序的信号函数330。重构图像取得部220使用多个摄影参数组310，依照预先确定的摄影时序进行摄像，分别取得该多个重构图像320。在多个摄影参数组中，也可以包含摄影参数相同的参数组。这时，取得的重构图像320的张数为推定对象的推定参数个数以上。另外，以成为推定对象的推定参数中的最优分辨率最高的推定参数的分辨率(最高分辨率)取得要取得的多个重构图像320。例如，在推定被检测体参数的t1、t2、b1、ρ和装置参数sc的积即a(＝ρsc)的情况下，对于b1，如上述那样，在空间上平滑地变化，因此与t1、t2相比，不需要高分辨率。因此，在该情况下，取得推定t1、t2所需要的分辨率的图像。此外，根据摄像视野fov和编码步进数确定分辨率。经由接受部210设定这些摄影参数。另外，参数推定部230针对最优分辨率比最高分辨率低的推定参数，将重构图像取得部220取得的重构图像的分辨率降低为该推定参数的最优分辨率，对推定参数的值进行推定。这时，参数推定部230从最优分辨率低的推定参数开始顺序地对推定参数的值进行推定。在进行推定时，将已经推定的推定参数的值调整为推定对象的推定参数的最优分辨率，与信号函数330一起使用。以下，依照处理的流程说明本实施方式的参数推定部230的参数推定处理的细节。图7是本实施方式的参数推定处理的处理流程。在此，将推定参数个数设为m(m为2以上的整数)。在该情况下，预先准备多个摄影参数组(fa、tr、θ)310，在上述步骤s1101中，重构图像取得部220取得所准备的摄影参数组310的个数的重构图像320。准备的摄影参数组310的个数一般需要作为推定参数个数的m以上。这是因为在求解方程式的解时，方程式(摄影参数组和根据它摄影的图像)的个数必须与未知数(推定参数)的个数相等或比其更多。在此，作为一个例子，假设准备n(n为m以上的整数)组。因此，重构图像320的个数也是n张。例如，在推定参数个数是4个(t1、t2、b1、a)的情况下，摄影参数组310的个数为比4组多的例如6组。此外，摄影参数组个数越多，则越是提高推定精度，但摄影时间变长。另外，在此，以推定对象的推定参数中的要求最高分辨率的推定参数的分辨率，取得多个重构图像320。参数推定部230推定m个推定参数。在本实施方式中，从最优分辨率小的推定参数开始顺序地进行推定(步骤s1301)。另外，同时对最优分辨率相同的推定参数进行推定。以下，将最优分辨率为第m个低的推定参数个数设为k(m)个。首先，将n张重构图像320调整为最优分辨率为第m个低的k(m)个推定参数的最优分辨率(步骤s1302)。在此，降低n张重构图像320的分辨率。例如通过将多个像素的值相加等，来降低分辨率。此外，在降低分辨率时，根据重构图像320的sn比和对处理对象的推定参数最优的分辨率，决定设为怎样程度的分辨率。即，在重构图像320的sn比充分高的情况下，可以任意地决定分辨率。但是，在sn比低的情况下，与推定参数的分布对应地设为尽量低的分辨率。由此，即使sn比低，也能够尽量保持参数的推定精度高。将已经推定的推定参数的参数分布的分辨率调整为与在步骤s1302中调整后的图像的分辨率一致(步骤s1303)。在此，先推定出的推定参数的参数分布的分辨率为当前正在推定的推定参数以下，因此进行插补扩大处理，调整分辨率。在插补放大时，使用以下的公式(3)所示的预先确定的次数n以下的同次函数的和。例如，理想的是次数n为6左右。[公式3]另外，使用在步骤s1302中得到的分辨率的图像、已经推定出的推定参数的已经调整分辨率后的参数分布、先生成出的信号函数330，对推定对象的参数进行推定(步骤s1304)。其结果是得到该推定参数的参数分布340。具体地说，通过使每个像素的信号值i与对公式(1)进行变形所得的以下的公式(4)的函数f拟合，由此来推定推定参数。[公式4]此外，通过用以下的公式(5)表示的最小二乘法来进行函数拟合。[公式5]在此，χ是信号函数和幻像(phantom)的像素值的残差的总和，i是(fa，θ，tr)处的像素值。对全部推定参数重复进行以上的处理(步骤s1305、s1306)，结束处理。<实施例>以下，使用图8、图9(a)～图9(f)通过具体例子说明本实施方式的参数以上的参数推定部230的参数推定处理。在此，将推定参数设为(b1、a、t1、t2)这4个。因此，准备的摄影参数组310的个数为比其多的6组。将各摄影参数组310分别设为p1～p6。p1～p6的摄影参数组310为分别通过fa为10度和30度、θ为2度、6度、20度、tr为10ms、40ms的组合所得到的12组摄像参数组中的6组。此外，te固定为5ms。此外，摄影参数组310例如依照误差传输的法则等，选择能够高精度地推定的组。另外，推定对象的推定参数中只有b1是最优分辨率比其他推定参数低的推定参数。即，在本例子中，最优分辨率为第一个低的推定参数只有b1一个，最优分辨率为第二个低的推定参数是a、t1、t2这3个。因此，首先，重构图像取得部220与a、t1、t2的最优分辨率对应地取得6张重构图像320。在图9(a)中表示重构图像取得部220使用各摄影参数组310得到的6张重构图像320的例子。参数推定部230首先推定b1的参数值(b1分布)(步骤s1410)。这时，与b1的最优分辨率对应地使图像低分辨率化并推定。在b1分布的推定中，首先，将6张重构图像320的分辨率降低为对推定参数b1最优的分辨率(步骤s1401)。在图9(b)中表示分别使图9(a)所示的重构图像320低分辨率化后的图像321。图9(b)所示的图像321将原重构图像320的4×4像素相加，成为一个像素。例如在原重构图像320的分辨率是1.6mm×1.6mm的情况下，将4×4像素相加成为一个像素，为6.4mm×6.4mm，得到图像321。然后，使用信号函数330、低分辨率化后的6张图像321，推定b1的每个像素的参数值(步骤s1402)，得到参数分布(b1分布)341。此外，这时，还以与b1相同的分辨率推定a、t1、t2。在图9(c)中表示它们的推定结果341。接着，参数推定部230推定剩余的推定参数(t1、t2、a)(步骤s1420)。在此，使用插补扩大了的b1分布和取得时的分辨率的多个重构图像320。因此，首先对b1分布341进行插补扩大，将其分辨率设为与原6张重构图像320的分辨率相等(步骤s1421)。在图9(d)中表示插补扩大了的b1分布342。另外，使用图9(a)所示的原重构图像320、插补扩大后的b1分布342、信号函数330，以原重构图像320的分辨率推定a、t1、t2、a的3个参数(步骤s1402)，得到参数分布。在图9(e)中表示插补扩大后的b1分布342、推定出的a、t1、t2的参数分布343。此外，在步骤s1402中的推定处理中，对于b1，使用插补放大后的b1分布342作为正解值，因此，成为已知，未知数是a、t1、t2的3个。未知数的个数减少，因此处理速度变快，推定精度提高。在此，在图9(f)中表示现有的方法，即根据以与最优分辨率最高的推定参数对应的分辨率得到的重构图像推定全部推定参数(b1、a、t1、t2)的分布的情况下的结果(参数分布)344。如果对图9(e)所示的参数分布343和图9(f)所示的参数分布344进行比较，则可知本实施方式的方法的结果343与现有技术相比，噪声减少了。为了更明确地表示效果，在图10(a)和图10(b)中分别表示图9(e)的b1分布和a分布343的纵向的一行(横向的大致中心位置的行)的轮廓513、523，另外，在图10(c)和图10(d)中分别表示图9(f)的b1分布和a分布344的同一轮廓514、524。在本图中，横轴是一行上的位置，纵轴是信号强度。如该图所示，对于b1分布，如果对本实施方式的方法的轮廓513和现有方法的轮廓514进行比较，则被插补扩大了，因此可知在本实施方式的方法的分布中几乎没有噪声。对于a分布，如果对本实施方式的方法的轮廓523和现有方法的轮廓524进行比较，则也可知通过本实施方式的方法得到的分布的噪声少。如以上说明的那样，本实施方式的mri装置100具备：参数推定部230，其使用多个重构图像320和取得该重构图像320时所遵从的摄影时序的信号函数330，推定依存于被检测体103的被检测体参数和依存于装置的装置参数的至少一个推定参数的值，其中，使用多个摄影参数组310，依照上述摄影时序进行摄像，分别取得上述多个重构图像320，上述信号函数330是对每个上述摄影时序确定上述摄影参数、上述被检测体参数以及上述装置参数与上述重构图像的各像素值之间的关系的函数，上述参数推定部230使用对每个上述推定参数最优的分辨率的上述重构图像来推定上述值。这样，根据本实施方式，针对推定对象的参数，使用对它们分别最优的分辨率的图像，推定其值。因此，能够高速、高精度、sn比不降低地得到计算图像。另外，也可以是上述多个重构图像320具有上述推定参数中的上述最优分辨率最高的推定参数的该最优分辨率即最高分辨率，上述参数推定部230针对上述最优分辨率比上述最高分辨率低的推定参数，将上述重构图像320的分辨率降低为对该推定参数最优的分辨率，来推定上述值。这时，上述参数推定部230从上述最优分辨率低的上述推定参数开始顺序地推定上述值，并且在推定时，将已经推定出的推定参数的值调整为推定对象的上述推定参数的最优分辨率，与上述信号函数330一起使用。因此，根据本实施方式，根据计算量少的最优分辨率低的推定参数进行推定，并且随着最优分辨率变高，未知的推定对象参数个数变少。因此，处理中的发散等降低，能够得到高精度的推定结果。<第二实施方式>接着，说明本发明的第二实施方式。在第一实施方式中，以与最优分辨率最高的推定参数的计算图像一致的分辨率取得图像，在推定参数值时，分别降低为最优分辨率。另一方面，在本实施方式中，在对每个推定参数有帮助的重构图像清楚的情况下，在取得重构图像时，以最优分辨率取得该重构图像。本实施方式的mri装置基本上具有与第一实施方式的mri装置100相同的结构。但是，参数推定时的处理不同，因此计算机109的各部的处理内容不同。以下，着眼于与第一实施方式不同的处理来说明本实施方式。此外，能够使用独立的图像计算定量值的推定参数例如有共振频率差δf0。在计算磁化率图像时使用δf0。即，δf0与相位为比例关系。因此，通过将预定的系数乘以δf0分布的各像素值，能够得到相位图像。另外，相位图像反映了组织间的磁化率。因此，通过基于相位图像来求解逆问题，能够得到磁化率图表。如果有te不同的2张以上的图像，则能够计算出该δf0分布。在计算δf0分布时，与t1、t2、a等参数相比，要求高分辨率。因此，在本实施方式中，首先得到te不同的2张第一重构图像，根据该2张图像计算出δf0分布。然后，以与第一重构图像不同的分辨率，改变摄影参数地得到多个第二重构图像，通过与第一实施方式相同的方法，推定其他推定参数。这时，将第一重构图像变换为第二重构图像的分辨率地使用第一重构图像。另外，在本实施方式中，通过多回波时序取得te不同的2张第一重构图像。即，本实施方式的重构图像取得部220取得推定参数中最优分辨率最高的推定参数的具有作为最优分辨率的第一分辨率的第一重构图像、具有与第一分辨率不同的第二分辨率的第二重构图像。该第一重构图像是通过多回波时序取得的多回波图像。此外，第二分辨率为在对其他推定参数最优的分辨率中的最高的分辨率。然后，本实施方式的参数推定部230根据多回波图像，对推定参数中的δf0的值进行推定。然后，参数推定部230将多回波图像的分辨率调整为第二分辨率，与信号函数一起使用调整后的多回波图像和第二重构图像，推定δf0以外的推定参数的值。以下，在详细说明本实施方式的参数推定部230的处理之前，说明取得te不同的图像的摄像时序。在本实施方式中，也与第一实施方式同样地，基本上使用rf-spoiledge时序610。在取得te不同的图像的情况下，使用在一次tr中测量2个以上的回波信号的多回波时序。图11(a)是单回波时序的rf-spoiledge时序(以下称为单回波时序。)610，图11(b)是多回波时序的rf-spoiledge时序(以下称为多回波时序。)630。此外，在此，作为多回波时序630，示例在一次tr内取得2个回波信号的情况。此外，在本图中，a/d表示回波信号取得定时。图11(a)所示的单回波时序610如图4(a)所说明的那样。其中，在图11(a)中表示三维摄像的情况下的时序。因此，613是切片相位兼切片相位编码倾斜磁场脉冲。重构图像取得部220改变相位编码倾斜磁场脉冲613和614的强度(相位编码量ks、kp)，并且使rf脉冲612的相位的增加值每次变化117度(第n个rf脉冲的相位为θ(n)＝θ(n-1)+117n)，同时以重复时间tr重复进行以上的步骤，测量得到图像所需要的回波。各回波被配置在三维的k空间(kr-kp-ks空间)上。然后，重构图像取得部220通过三维傅立叶逆变换而重构图像。通过该脉冲时序610得到的图像是强调了t1(纵缓和时间)的图像。对于图11(b)所示的多回波时序630，所施加的脉冲基本上与单回波时序610的情况相同。即，首先施加切片倾斜磁场脉冲611并且照射高频磁场(rf)脉冲612，激励对象物体内的某切片的磁化。接着，在施加切片相位兼切片相位编码脉冲613、相位编码倾斜磁场脉冲614、失相用读出倾斜磁场脉冲615后，一边施加用于附加读出方向的位置信息的读出倾斜磁场脉冲616，一边测量第一磁共振信号(回波信号)617。在测量回波信号617后，接着，一边施加读出倾斜磁场脉冲618，一边测量第二个回波信号622。最后，施加失相用相位编码倾斜磁场脉冲619、620、以及破碎脉冲621。在本时序630中，回波信号617和回波信号622相对于rf脉冲612的时间(te)不同。重构图像取得部220与单回波时序610同样地控制动作，分别将te不同的2个回波信号617、622配置在不同的三维的k空间。然后，重构图像取得部220通过三维傅立叶逆变换，从各k空间分别重构图像。重构出的2张图像的te不同，因此t2强调度不同。[参数推定处理]参数推定部230首先根据该te不同的2张图像，计算δf0分布。被激励的自旋的横磁化的旋转量(相位)是将te乘以该横磁化的位置处的频率和成为基准的共振频率f0之间的差(δf0)所得的值。因此，如果用2张图像的相位差除以te的差，则得到δf0。对每个像素求出δf0，得到δf0分布。此外，te不同的图像的个数并不限于2个。例如，也可以使用进一步追加读出脉冲而测量3个以上的te不同的回波的多回波时序，进而增加te不同的图像而用于δf0分布的计算。如果增加图像个数，则δf0分布的计算精度提高。因此，一般使用在一次tr中测量3个以上(通常是5个左右)的回波信号的时序。本实施方式的参数推定部230推定包含δf0的预先确定的推定参数。如上述那样，在第一实施方式中，参数推定部230进行参数推定处理，因此分别改变一个以上的摄影参数的值地取得推定参数个数以上的图像。但是，在本实施方式中，为了计算δf0分布而执行多回波时序630。通过该多回波时序630，得到摄影参数相同但te不同的2张以上的图像。如果为了计算δf0分布而设执行多回波时序630所得到的图像(称为多回波图像)的张数为j张，推定参数个数为m，则在本实施方式中，依照单回波时序610取得m-j张以上的图像(单图像)。这时，与δf0以外的推定参数中其参数分布(计算图像)的最优分辨率最高的推定参数的最优分辨率一致地取得单图像。此后的处理与第一实施方式相同。即，从最优分辨率低的推定参数开始，顺序地对推定参数的值进行推定，得到参数分布。在推定时，使用预先准备的信号函数fs、j张多回波图像、(m-j)张单图像。这时，对于j张多回波图像，与单图像的分辨率一致地调整分辨率(在此使其降低)。此外，例如在本实施方式中，在对δf0以外的推定参数最优的分辨率是相同水平的情况，或多回波图像、单图像都具有充分的sn比的情况下，也可以不使单图像的分辨率变化地推定δf0以外的推定参数。[参数推定处理的流程]使用图12(a)～图21(c)说明本实施方式的参数推定处理的流程。在此，推定参数为t1、t2、b1、ρsc(＝a)、δf0的5个。另外，列举以下的情况为例子进行说明，即使用单回波时序610和多回波时序630，取得各推定参数的三维分布。在多回波时序630中，得到te不同的2张多回波图像。此外，通过在第一实施方式中说明的方法等，预先生成信号函数fs。在该情况下，也与第一实施方式同样地，准备比推定的推定参数个数多的个数的fa、tr、θ的任意一个的值不同的摄影参数组310。即，从根据fa为10度和30度、θ为2度、6度、20度、tr为10ms、40ms的组合得到的12组摄像参数组中，与第一实施方式同样地进行选择。但是，在本实施方式中，还通过多回波时序630取得2张多回波图像。因此，在第一实施方式中，准备了6组摄影参数组(p1～p6)310，但在此准备5组摄影参数组(p1～p5)。由此，得到6张图像。另外，在多回波时序630中，如果tr不适度地变长，则无法测量te长的回波。因此，多回波时序630所使用的摄影参数组310为长的tr的组。例如，在准备了tr为10ms和40ms的摄影参数组310的情况下，应用于多回波时序630的摄影参数组310是tr为40ms的参数组。另外，在第一实施方式的例子中，te固定为5ms。在本实施方式中，在多回波时序630中，将第一回波的te(te1)设为与单回波时序610相同的5ms，将第二回波的te(te2)设为20ms。进而，如上述那样，δf0在此后用于磁化率分布的计算。在该磁化率分布的计算中，需要比通常的形态图像高的分辨率。因此，设定摄影参数使得通过多回波时序630得到的图像(多回波图像)的分辨率比通过单回波时序610得到的图像(单回波图像)高。例如，为了得到根据δf0计算磁化率分布的精度，理想的是以表示多回波图像的分辨率的体素大小为从0.5mm到1mm左右的方式来设定摄影参数。在此，为0.8mm。另一方面，单回波图像的分辨率为1.6mm。这是其他推定参数t1、t2、b1、a的最优分辨率中最高的。此外，将执行多回波时序630所使用的摄影参数组设为p1，将执行单回波时序610所使用的摄影参数组设为p2～p5。在图12(a)中表示使用这些摄影参数组得到的图像。在该图中，图像711和712是通过多回波时序630得到的多回波图像，分别为在te1、te2中得到的多回波图像。另外，图像713～716分别是通过以摄影参数组p2～p5执行单回波时序610而得到的单回波图像。这些图像713～716是在te1中得到的图像。本实施方式的参数推定部230首先使用多回波图像711、712推定δf0。接着，参数推定部230如图12(b)所示那样，将多回波图像711、712的分辨率变换为与单回波图像713～716相同的分辨率。在此，降低分辨率。设降低后的多回波图像为721、722。在此，将多回波图像711、712的体素大小设定为单回波图像713～716的2倍，因此例如通过简单地将多回波图像711、712的2×2×2体素相加而成为1个体素，来实现分辨率的降低。除此以外，也可以使用线性插补、2次到3次左右的插补。然后，参数推定部230使用预先准备的信号函数fs、多回波图像721、722、单回波图像713～716，对推定参数b1、a、t1、t2进行推定。这些推定参数的推定方法与第一实施方式相同。例如，使用上述公式(4)和公式(5)，通过最小二乘拟合，推定这些推定参数。这时，也可以与第一实施方式同样地，首先以低分辨率求出b1图表后，以原分辨率求出t1、t2、a。通过以上，如图12(c)所示，得到δf0、b1、a、t1、t2各自的参数分布(计算图像)740。如以上说明的那样，本实施方式的mri装置100具备与第一实施方式相同的参数推定部230。另外，在对推定参数的值进行推定时使用的上述多个重构图像由具有上述推定参数中的上述最优分辨率最高的推定参数的该最优分辨率即第一分辨率的第一重构图像(711、712)、具有与上述第一分辨率不同的第二分辨率的第二重构图像(713～716)构成。另外，上述第一重构图像(711、712)也可以是通过多回波时序取得的多回波图像，参数推定部230根据上述多回波图像，推定上述推定参数中的共振频率差δf0的值。另外，上述参数推定部230将上述多回波图像的分辨率调整为上述第二分辨率，与上述信号函数一起使用调整后的多回波图像和上述第二重构图像(713～716)，推定上述共振频率差以外的上述推定参数的值。这时，上述参数推定部230也可以针对上述最优分辨率比上述第二分辨率低的推定参数，将上述重构图像的分辨率降低为对该推定参数最优的分辨率来推定上述值。进而，也可以针对δf0以外的推定参数，从上述最优分辨率低的上述推定参数开始顺序地推定上述值，并且在推定时，将已经推定出的推定参数的值调整为推定对象的上述推定参数的最优分辨率，与上述信号函数一起使用。这样，根据本实施方式，与第一实施方式同样地，能够以必要充分的分辨率得到希望的定量值(被检测体参数、装置参数的值)。因此，能够得到高质量的计算图像。另外，能够抑制推定时的发散产生次数，能够高效地推定值。另外，在本实施方式中，根据通过多回波时序取得的高分辨率的图像计算δf0，另外将高分辨率的图像设为低分辨率，与其他低分辨率图像一起使用，推定t1、t2、b1、a这样的推定参数。通过这样使用多回波时序，能够减少取得的参数推定用的图像个数。与分别个别地进行摄影、推定相比，能够提高摄影效率。此外，上述各实施方式也可以具备从用户接受推定对象的参数的指定的接受画面。由接受部210生成接受画面，显示在显示装置110。在图13中表示该接受画面800的例子。如该图所示，接受画面800例如具备接受推定对象的推定参数的指定的推定参数接受区域810、接受所设定的摄像参数组的参数组接受区域820。接受部210接受来自用户的指示，向重构图像取得部220和参数推定部230通知该指示。重构图像取得部220依照所接受的指示取得图像，参数推定部230依照该指示推定预定的推定参数。这时，例如也可以针对δf0等预先决定了对推定最优的摄影时序的推定参数，对应地保存摄影时序。由此，在用户选择了该推定参数的情况下，即使不设定摄影时序，也自动地选择对应地保存的摄影时序。<变形例>上述各实施方式的显示图像生成部240能够使用所得到的计算图像和信号函数fs，任意地生成变更了推定出的被检测体参数和装置参数、摄影时序、摄影参数的一部分的图像(例如t1强调像、t2强调像)。其中，能够变更的摄影时序是信号函数fs已知、或已经通过数值模拟生成出的任意的摄影时序。以下，作为摄影时序，以使用最普通的自旋回波(se)时序的情况为例子进行说明。首先，说明se时序。图14(a)是se时序900的例子。在se时序900中，首先施加切片选择倾斜磁场脉冲901，并且照射高频磁场(rf)脉冲902，激励对象物体内的某切片的磁化。接着，施加切片相位倾斜磁场脉冲903、用于对磁化的相位附加相位编码方向的位置信息的相位编码倾斜磁场脉冲904、失相用读出倾斜磁场905。然后，在对各轴施加用于抑制不需要的信号的破碎脉冲906、907、908后，与切片选择倾斜磁场脉冲909一起照射重聚焦脉冲910。再次施加破碎脉冲911、912、913。然后，一边施加用于附加读出方向的位置信息的读出倾斜磁场脉冲914，一边通过a/d915测量回波信号918，最后施加破碎脉冲916和917。将从rf脉冲902的照射到回波峰值的时间称为回波时间te。一边改变相位编码倾斜磁场脉冲904的强度(相位编码量kp)和切片位置，一边以重复时间tr重复进行以上的步骤，测量与必要的切片张数对应的量的回波信号。根据rf脉冲902的频率，改变切片位置。对每个切片，如图14(b)所示那样，将各回波信号918配置在k空间上，通过傅立叶逆变换重构图像。在该se时序900中，通过适当地改变tr和te，得到强调了t1的对比度的图像(t1强调像)、强调了t2的对比度的图像(t2强调像)。例如，如果设tr为数百毫秒，te为十毫秒左右，则得到t1强调像，如果设tr为数秒，te为一百毫秒左右，则得到t2强调像。解析地求出se时序900的信号函数，用以下的公式(6)表示以se时序900摄影的图像的亮度值ise。[公式6]ise＝a(1-exp(-tr/t1))exp(-te/t2)×sin(b1×90°)…(6)在公式(6)中，使用推定出的被检测体参数t1、t2，并且指定摄影参数的tr和te的值，由此能够以任意的强调度，自由地生成t1强调像和t2强调像。另外，通过将被检测体参数之一的b1设为均匀(例如设定为b1＝1)，能够得到b1分布均匀的情况下的图像。另外，例如如果使用在上述各实施方式中推定出的被检测体参数t1、t2，将tr设定为500ms，将te设定为15ms，则得到t1强调像。在通过se时序900得到的t1强调像中，如果t1长，则亮度值小。例如，如果将te直接设为15ms，将tr设为100ms那样的短，则得到强调了对比度、进而提高了t1强调度的t1强调像。另一方面，如果使tr和te更长(例如(tr、te)＝(4000ms、100ms))，则得到t2强调像。在t2强调像中，如果t2长，则亮度值大。此外，成为对象的脉冲时序并不限于se时序900。只要是梯度回波时序、rssg时序等如上述那样解析地得到信号函数fs的时序、或能够通过数值模拟生成的时序即可。此外，在信号函数fs不是已知、或没有通过数值模拟生成的情况下，也可以使用所设定的摄影时序、摄影参数、被检测体参数、装置参数，通过数值模拟来生成图像。这样，根据本变形例，能够使用推定出的推定参数的值、预先确定的摄影时序的信号函数，得到该摄影时序的预先确定的画质(任意的对比度)的图像。此外，在上述各实施方式中，mri装置100具备参数推定部230、显示图像生成部240、信号函数生成部250，但并不限于此。也可以将其中的至少一个结构构筑在例如能够与mri装置100进行数据的收发的与mri装置100独立的信息处理装置上。附图标记说明100：mri装置；101：磁铁；102：倾斜磁场线圈；103：被检测体；104：时序发生器；105：倾斜磁场电源；106：高频磁场发生器；107：收发线圈；108：接收器；109：计算机；110：显示装置；111：存储装置；210：接受部；220：重构图像取得部；230：参数推定部；240显示图像生成部；250：信号函数生成部；310：摄影参数组；320：重构图像；321：低分辨率化后的图像；330：信号函数；340：参数分布；341：参数分布；342：插补扩大后的参数分布；343：参数分布；344：现有方法的参数分布；410：摄影参数组；420：信号函数；513：b1分布的轮廓；514：b1分布的轮廓；523：a分布的轮廓；524：a分布的轮廓；610：rf-spoiledge时序；611：切片倾斜磁场脉冲；612：rf脉冲；613：切片相位(兼切片相位编码)倾斜磁场脉冲；614：相位编码倾斜磁场脉冲；615：失相用读出倾斜磁场脉冲；616：读出倾斜磁场脉冲；617：回波信号；618：读出倾斜磁场脉冲；619：失相用相位编码倾斜磁场脉冲；620：失相用相位编码倾斜磁场脉冲；621：破碎脉冲；622：回波信号；630：多回波时序；711：多回波图像；712：多回波图像；713：单回波图像；714：单回波图像；715：单回波图像；716：单回波图像；721：多回波图像；722：多回波图像；740：参数分布；800：接受画面；810：推定参数接受区域；820：参数组接受区域；900：se时序；901：切片选择倾斜磁场脉冲；902：rf脉冲；903：切片相位倾斜磁场脉冲；904：相位编码倾斜磁场脉冲；905：失相用读出倾斜磁场脉冲；906：破碎脉冲；907：破碎脉冲；908：破碎脉冲；909：切片选择倾斜磁场脉冲；910：重聚焦脉冲；911：破碎脉冲；912：破碎脉冲；913：破碎脉冲；914：读出倾斜磁场脉冲；915：a/d；916：破碎脉冲；918：回波信号。当前第1页12当前第1页12