显示面板测试系统以及显示面板的测试方法与流程

文档序号:11135929
显示面板测试系统以及显示面板的测试方法与制造工艺

本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板测试系统及显示面板的测试方法。



背景技术:

随着显示技术的发展,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)及有机发光二极管显示器(Organic Light Emitting Display,OLED)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点,而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品,成为显示装置中的主流。

通常在显示面板的在生产过程中会设置多个测试环节,来保证显示面板的品质,提升生产效率,其中,在显示面板成盒(Cell)后,会对显示面板进行点亮测试,通过显示简单的画面来检测显示面板的显示品质。目前,为了方便检测,显示面板的玻璃上会设计有一系列的测试点(Test Pad),在这些测试点上输入对应的测试信号就可以产生简单的画面,以进行点亮测试。

现有技术中,点亮测试过程通常包括:先将显示面板固定到显示面板固定台(JIG)上,然后将带有探针的压头压合到显示面板上,使得探针与测试点接触,进而将测试信号一一接触输入到显示面板内部的。

其中,压头在压合时,需要将探针、及探针对应的测试点准确对位到一起,以实现测试信号的传输,目前,探针与测试点的是通过测试人员肉眼进行对位的,极易出现对位不准的情况,短路情况经常发生,大大影响了产品开发的效率。



技术实现要素:

本发明的目的在于提供一种显示面板测试系统,能够避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题,减少对位时间,提高测试效率。

本发明的目的还在于提供一种显示面板的测试方法,能够避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题,减少对位时间,提高测试效率。

为实现上述目的,本发明提供了一种显示面板测试系统,包括:显示面板、对应所述显示面板设置的压头、以及与所述压头电性连接的转接板;

所述压头上依次排列的有一第一对位探针、数个测试信号探针、一第二对位探针;

所述显示面板上设有对应所述第一对位探针设置的第一对位点、对应所述第二对位探针设置的第二对位点、以及数个与所述测试信号探针一一对应的测试点,所述第一对位点与所述第二对位点设于所述显示面板上的走线电性连接;

所述转接板内设有信号转接电路,所述信号转接电路包括:一电阻、以及数个薄膜晶体管,所述测试信号探针的数量与薄膜晶体管的数量相同;

所述电阻一端接入薄膜晶体管关闭信号,另一端经由第一节点电性连接第一对位探针;所述数个薄膜晶体管的栅极均电性连接第一节点,源极分别接入一测试信号,漏极分别电性连接一测试信号探针;所述第二对位探针经由转接板接入薄膜晶体管开启信号;所述薄膜晶体管开启信号与所述薄膜晶体管关闭信号的电位相反;

测试时,将所述压头压合到显示面板上,使得所述第一对位探针与所述第一对位点对位接触,第二对位探针与所述第二对位点对位接触,数个测试信号探针分别与数个测试点一一对位接触,所述薄膜晶体管开启信号经由走线传输到第一节点,各个薄膜晶体管均打开,测试信号写入显示面板显示测试画面。

所述压头上设有4个测试信号探针,所述显示面板设有4个测试点,所述信号转接电路包括4个薄膜晶体管;

所述4个薄膜晶体管的源极接入的测试信号分别为:高电位点亮信号、低电位点亮信号、恒压高电位信号、以及恒压低电位信号。

所述4个薄膜晶体管均为N型薄膜晶体管,所述薄膜晶体管开启信号为恒压高电位信号,所述薄膜晶体管关闭信号为恒压低电位信号。

所述4个薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管,所述薄膜晶体管关闭信号为恒压高电位信号,所述薄膜晶体管开启信号为恒压低电位信号。

还包括:显示面板固定台,测试时,所述显示面板固定于所述显示面板固定台上。

本发明还提供一种显示面板的测试方法,包括如下步骤:

步骤S1、提供一显示面板测试系统,包括:显示面板、对应所述显示面板设置的压头、以及与所述压头电性连接的转接板;

所述压头上依次排列有一第一对位探针、数个测试信号探针、以及一第二对位探针;

所述显示面板上设有对应所述第一对位探针设置的第一对位点、对应所述第二对位探针设置的第二对位点、以及数个与所述测试信号探针的一一对应的测试点,所述第一对位点与所述第二对位点设于所述显示面板上的走线电性连接;

所述转接板内设有信号转接电路,所述信号转接电路包括:一电阻、以及数个薄膜晶体管,所述测试信号探针的数量与薄膜晶体管的数量相同;

所述电阻一端接入薄膜晶体管关闭信号,另一端经由第一节点电性连接第一对位探针;所述数个薄膜晶体管的栅极均电性连接第一节点,源极分别接入一测试信号,漏极分别电性连接一测试信号探针;所述第二对位探针经由转接板接入薄膜晶体管开启信号;所述薄膜晶体管开启信号与所述薄膜晶体管关闭信号的电位相反;

步骤S2、将所述压头压合到显示面板,使得所述第一对位探针与所述第一对位点对位接触,第二对位探针与所述第二对位点对位接触,数个测试信号探针分别与数个测试点一一对位接触;

步骤S3、点亮所述显示面板,根据所述显示面板的点亮情况判断是否存在对位偏差;

若显示面板点亮异常,则判定存在对位偏差,并返回步骤2S重新对位;

若显示面板点亮正常,则判定对位准确,进行步骤S4;

步骤S4、根据显示面板点亮后显示的测试画面确定显示面板的品质。

所述压头上设有4个测试信号探针,所述显示面板设有4个测试点,所述信号转接电路包括4个薄膜晶体管;

所述4个薄膜晶体管的源极接入的测试信号分别为:高电位点亮信号、低电位点亮信号、恒压高电位信号、恒压低电位信号。

所述4个薄膜晶体管均为N型薄膜晶体管,所述薄膜晶体管开启信号为恒压高电位信号,所述薄膜晶体管关闭信号为恒压低电位信号。

所述4个薄膜晶体管均为P型薄膜晶体管,所述薄膜晶体管关闭信号为恒压高电位信号,所述薄膜晶体管开启信号为恒压低电位信号。

所述步骤S2还包括:提供一显示面板固定台,并将所述显示面板固定于所述显示面板固定台上。

本发明的有益效果:本发明提供一种显示面板测试系统,该系统包括转接板、压头、以及显示面板,所述显示面板中增设有第一对位点和以及与第一对位点电性连接的第二对位点,压头上增设有与第一对位点对应的第一对位探针和与第二对位点对应的第二对位探针,转接板内设有薄膜晶体管用于控制测试信号的传输,当第一对位点和第二对位点对位准确时,转接板内的薄膜晶体管将会开启,测试信号才能传输到显示面板中,而第一对位点和第二对位点对位不准时,转接板内的薄膜晶体管将保持截止,测试信号不会传输到显示面板中,能够避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题,减少对位时间,提高测试效率。本发明还提供一种显示面板的测试方法,能够避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题,减少对位时间,提高测试效率。

附图说明

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制。

附图中,

图1为本发明的显示面板测试系统的结构图;

图2为本发明的显示面板测试系统的第一实施例的信号转接电路的电路图;

图3为本发明的显示面板测试系统的第二实施例的信号转接电路的电路图;

图4为本发明的显示面板的测试方法的流程图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果,以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图1,本发明提供一种显示面板测试系统,包括:显示面板1、对应所述显示面板1设置的压头2、以及与所述压头电性连接的转接板3。

具体地,所述压头2上依次排列有一第一对位探针21、数个测试信号探针23、以及一第二对位探针22;所述显示面板1上设有对应所述第一对位探针21设置的第一对位点TP1、对应所述第二对位探针22设置的第二对位点TP2、以及数个与所述测试信号探针23的一一对应的测试点CT,所述第一对位点TP1与所述第二对位点TP2设于所述显示面板1上的走线11电性连接。

需要说明的是,所述转接板3内设有信号转接电路,所述信号转接电路包括:一电阻R、以及数个薄膜晶体管T,所述测试信号探针23的数量与薄膜晶体管T的数量相同;所述电阻R一端接入薄膜晶体管关闭信号,另一端经由第一节点A电性连接第一对位探针21;所述数个薄膜晶体管T的栅极均电性连接第一节点A,源极分别接入一测试信号,漏极分别电性连接一测试信号探针23;所述第二对位探针22经由转接板3接入薄膜晶体管开启信号;所述薄膜晶体管开启信号与所述薄膜晶体管关闭信号的电位相反。

进一步地,所述测试信号由外部信号源提供。所述显示面板测试系统还包括:显示面板固定台4,测试时,所述显示面板1固定于所述显示面板固定台4上,所述压头2与所述显示面板固定台4可以集成在一起,形成一测试机台。

如图2所示,在本发明的第一实施例的中,所述压头2上设有4个测试信号探针,所述显示面板1设有4个测试点CT,所述信号转接电路包括4个薄膜晶体管T,所述4个薄膜晶体管T均为P型薄膜晶体管,所述4个薄膜晶体管T的源极接入的测试信号分别为:高电位点亮信号ELH、低电位点亮信号ELL、恒压高电位信号VGH、恒压低电位信号VGL,与此同时,所述恒压高电位信号VGH和恒压低电位信号VGL还分别作为4个薄膜晶体管T的薄膜晶体管关闭信号和薄膜晶体管的开启信号,用于在对位不准时,关闭薄膜晶体管T,在对位准确时,打开薄膜晶体管T。

如图3所示,在本发明的第二实施例中,所述压头2上设有4个测试信号探针,所述显示面板1设有4个测试点CT,所述信号转接电路包括4个薄膜晶体管T,所述4个薄膜晶体管T均为N型薄膜晶体管,所述4个薄膜晶体管T的源极接入的测试信号分别为:高电位点亮信号ELH、低电位点亮信号ELL、恒压高电位信号VGH、恒压低电位信号VGL,与此同时,所述恒压高电位信号VGH和恒压低电位信号VGL还分别作为4个薄膜晶体管T的薄膜晶体管开启信号和薄膜晶体管的关闭信号,用于在对位不准时,关闭薄膜晶体管T,在对位准确时,打开薄膜晶体管T。

可以理解的是,虽然本发明的第一和第二实施例中均采用了4个薄膜晶体管T、4个测试信号探针23、4个测试点CT、以及4个不同的测试信号的技术方案,但本发明还可以根据需要增加或减少薄膜晶体管、测试信号探针、测试点、以及测试信号的数量,本发明对此不做限制。

进一步地,所述压头2上通常还会设置不与转接板3电性连接的非转接测试探针,该些非转接测试探针直接接入对应的测试信号,并通过与显示面板1上设置的对应的测试点接触将相应的测试信号写入测试面板,这些测试信号通常是不会产生较大电流,不需要进行短路保护的测试信号,而会产生较大电流的测试信号则需要经由转接板3接入,以进行短路保护。

具体地,以第一实施例为例,本发明提供一种显示面板测试系统的工作原理为:先将所述压头2压合到显示面板1,进行初步对位,使得所述第一对位探针21与所述第一对位点TP1对位接触,第二对位探针22与所述第二对位点TP2对位接触,数个测试信号探针23分别与数个测试点CT一一对位接触,若此时对位准确,则薄膜晶体管开启信号(恒压低电位信号VGL)传输到第二对位点TP2,再经由走线11传输到第一节点A,拉低第一节点A的电位,使得各个薄膜晶体管T打开,高电位点亮信号ELH、低电位点亮信号ELL、恒压高电位信号VGH、以及恒压低电位信号VGL写入显示面板1,显示面板1正常显示测试画面,若此时对位不准确,则薄膜晶体管开启信号(恒压低电位信号VGL)不能经由第二对位点TP2和走线11传输到第一节点A,第一节点A将在薄膜晶体管关闭信号(恒压高电位信号VGH)的影响下持续保持高电位,各个薄膜晶体管T均保持关闭,高电位点亮信号ELH、低电位点亮信号ELL、恒压高电位信号VGH、以及恒压低电位信号VGL均无法写入显示面板1,显示面板1无法正常显示测试画面,此时测试人员观察到显示面板1点亮异常之后,重新调整对位,直至显示面板1能够正常显示测试画面,在调整的过程中,由于对位不准时,薄膜晶体管T就不会开启,各个测试信号也不会写入显示面板1,从而有效避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题,减少对位时间,提高测试效率。

请参阅图4,本发明还提供一种显示面板的测试方法,包括如下步骤:

步骤S1、提供一显示面板测试系统,包括:显示面板1、对应所述显示面板1设置的压头2、以及与所述压头2电性连接的转接板3;

所述压头2上依次排列有一第一对位探针21、数个测试信号探针23、以及、一第二对位探针;

所述显示面板1上设有对应所述第一对位探针21设置的第一对位点TP1、对应所述第二对位探针22设置的第二对位点TP2、以及数个与所述测试信号探针23的一一对应的测试点CT,所述第一对位点TP1与所述第二对位点TP2设于所述显示面板1上的走线11电性连接;

所述转接板3内设有信号转接电路,所述信号转接电路包括:一电阻R、以及数个薄膜晶体管T,所述测试信号探针23的数量与薄膜晶体管T的数量相同;

所述电阻R一端接入薄膜晶体管关闭信号,另一端经由第一节点A电性连接第一对位探针;所述数个薄膜晶体管T的栅极均电性连接第一节点A,源极分别接入一测试信号,漏极分别电性连接一测试信号探针23;所述第二对位探针经由转接板3接入薄膜晶体管开启信号;所述薄膜晶体管开启信号与所述薄膜晶体管关闭信号的电位相反。

可选地,如图2所示,在本发明的第一实施例的中,所述压头2上设有4个测试信号探针23,所述显示面板1设有4个测试点,所述信号转接电路包括4个薄膜晶体管T,所述4个薄膜晶体管T均为P型薄膜晶体管,所述4个薄膜晶体管T的源极接入的测试信号分别为:高电位点亮信号ELH、低电位点亮信号ELL、恒压高电位信号VGH、恒压低电位信号VGL,与此同时,所述恒压高电位信号VGH和恒压低电位信号VGL还分别作为4个薄膜晶体管T的薄膜晶体管关闭信号和薄膜晶体管的开启信号,用于在对位不准时,关闭薄膜晶体管T,在对位准确时,打开薄膜晶体管T。

可选地,如图3所示,在本发明的第二实施例中,所述压头2上设有4个测试信号探针23,所述显示面板1设有4个测试点,所述信号转接电路包括4个薄膜晶体管T,所述4个薄膜晶体管T均为N型薄膜晶体管,所述4个薄膜晶体管T的源极接入的测试信号分别为:高电位点亮信号ELH、低电位点亮信号ELL、恒压高电位信号VGH、恒压低电位信号VGL,与此同时,所述恒压高电位信号VGH和恒压低电位信号VGL还分别作为4个薄膜晶体管T的薄膜晶体管开启信号和薄膜晶体管的关闭信号,用于在对位不准时,关闭薄膜晶体管T,在对位准确时,打开薄膜晶体管T。

进一步地,所述测试信号由外部信号源提供。所述显示面板测试系统还包括:显示面板固定台4,测试时,所述显示面板1固定于所述显示面板固定台4上,所述压头2与所述显示面板固定台4可以集成在一起,形成一测试机台。

可以理解的是,虽然本发明的第一和第二实施例中均采用了4个薄膜晶体管T、4个测试信号探针、4个测试点、以及4个不同的测试信号的技术方案,但本发明还可以根据需要增加或减少薄膜晶体管、测试信号探针、测试点、以及测试信号的数量,本发明对此不做限制。

此外,所述压头2上通常还会设置不与转接板3电性连接的非转接测试探针,该些非转接测试探针直接接入对应的测试信号,并通过与显示面板1上设置的对应的测试点接触将相应的测试信号写入测试面板,这些测试信号通常是不会产生较大电流,不需要进行短路保护的测试信号,而会产生较大电流的测试信号则需要经由转接板3接入,以进行短路保护。

步骤S2、将所述压头2压合到显示面板1,使得所述第一对位探针21与所述第一对位点TP1对位接触,第二对位探针22与所述第二对位点TP2对位接触,数个测试信号探针23分别与数个测试点CT一一对位接触。

具体地,所述步骤S2中的对位为初步对位,还需要根据步骤S3的点亮情况来判定对位是否准确。

步骤S3、点亮所述显示面板1,根据所述显示面板1的点亮情况判断是否存在对位偏差;

若显示面板1点亮异常,则判定存在对位偏差,并返回步骤S2重新对位;

若显示面板1点亮正常,则判定对位准确,进行步骤S4。

具体地,以第一实施例为例,对所述步骤S3的具体工作过程进行说明:若此时对位准确,则薄膜晶体管开启信号(恒压低电位信号VGL)会传输到第二对位点TP2,再经由走线11传输到第一节点A,拉低第一节点A的电位,使得各个薄膜晶体管T打开,高电位点亮信号ELH、低电位点亮信号ELL、恒压高电位信号VGH、以及恒压低电位信号VGL写入显示面板1,显示面板1正常显示测试画面,若此时对位不准确,则薄膜晶体管开启信号(恒压低电位信号VGL)不能经由第二对位点TP2和走线11传输到第一节点A,第一节点A将在薄膜晶体管关闭信号(恒压高电位信号VGH)的影响下持续保持高电位,各个薄膜晶体管T均保持关闭,高电位点亮信号ELH、低电位点亮信号ELL、恒压高电位信号VGH、以及恒压低电位信号VGL均无法写入显示面板1,显示面板1无法正常显示测试画面,此时测试人员观察到显示面板1点亮异常之后,重新调整对位,直至显示面板1能够正常显示测试画面,在调整的过程中,由于对位不准时,薄膜晶体管T就不会开启,各个测试信号也不会写入显示面板1,从而有效避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题,减少对位时间,提高测试效率。

步骤S4、根据显示面板1点亮后显示的测试画面确定显示面板1的品质。

综上所述,本发明提供一种显示面板测试系统,该系统包括转接板、压头、以及显示面板,所述显示面板中增设有第一对位点和以及与第一对位点电性连接的第二对位点,压头上增设有与第一对位点对应的第一对位探针和与第二对位点对应的第二对位探针,转接板内设有薄膜晶体管用于控制测试信号的传输,当第一对位点和第二对位点对位准确时,转接板内的薄膜晶体管将会开启,测试信号才能传输到显示面板中,而第一对位点和第二对位点对位不准时,转接板内的薄膜晶体管将保持截止,测试信号不会传输到显示面板中,能够避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题,减少对位时间,提高测试效率。本发明还提供一种显示面板的测试方法,能够避免显示面板点亮测试中因压头对位不准导致的短路问题,减少对位时间,提高测试效率。

以上所述,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形,而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

再多了解一些
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