显示面板及其像素修复装置、像素修复方法和显示器与流程

本发明涉及显示控制技术领域，特别涉及一种显示面板的像素修复装置、一种显示面板、一种显示器和一种显示面板的像素修复方法。

背景技术：

ltps(lowtemperaturepoly-silicon，低温多晶硅技术)玻璃基的oled(organiclight-emittingdiode，有机发光二极管)显示面板，因ltps本身的弊端，驱动晶体管的阈值电压容易发生漂移，这种阀值电压漂移会在显示效果上体现为亮度不均，因此需要进行阈值电压补偿即像素补偿才可以显示较均匀的画面。

相关技术中，一般是通过针对每个像素设置一个像素补偿电路来进行像素补偿，也因每个像素有像素补偿电路，导致像素电路较为复杂，像素上的金属密度较高，工艺制程中很容易出现短路、断路的现象，从而很容易导致显示面板变为不良品，降低了显示面板制作的良品率。

技术实现要素：

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的第一个目的在于提出一种显示面板的像素修复装置，该装置可以在定位到某个像素发生异常时，通过异常像素对应的像素补偿电路控制异常像素成为暗点以对像素进行修复，从而可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

本发明的第二个目的在于提出一种显示面板。

本发明的第三个目的在于提出一种显示器。

本发明的第四个目的在于提出一种显示面板的像素修复方法。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种显示面板的像素修复装置，所述显示面板包括多个像素补偿电路，所述多个像素补偿电路中的每个像素补偿电路对应一个像素设置，每个像素对应一个发光二极管，所述每个像素补偿电路包括驱动晶体管，且所述每个像素补偿电路通过对应的驱动晶体管驱动相应发光二极管进行发光，所述像素修复装置包括：检测及定位单元，所述检测及定位单元用于检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位以获得异常像素的位置；像素修复单元，所述像素修复单元包括修复线；激光修复单元，所述激光修复单元用于根据所述异常像素的位置将所述修复线上的相应第一修复节点与所述异常像素对应的像素补偿电路中的第二修复节点导通，以通过所述异常像素对应的像素补偿电路控制相应发光二极管处于截止状态，以使所述异常像素成为暗点。

根据本发明实施例的显示面板的像素修复装置，通过检测及定位单元检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位以获得异常像素的位置，激光修复单元根据异常像素的位置将修复线上的相应第一修复节点与异常像素对应的像素补偿电路中的第二修复节点导通，以通过异常像素对应的像素补偿电路控制相应发光二极管处于截止状态，以使异常像素成为暗点。由此，该装置可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

另外，根据本发明上述实施例提出的显示面板的像素修复装置还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述像素修复单元还包括第一修复晶体管，所述第一修复晶体管的第一端与高电平电源端相连，所述第一修复晶体管的控制端与发光信号端相连，所述第一修复晶体管的第二端与所述修复线相连，所述修复线上的每个第一修复节点与每个像素补偿电路中的第二修复节点对应，其中，所述每个像素补偿电路中的第二修复节点为每个像素补偿电路中驱动晶体管的控制端。

根据本发明的一个实施例，所述像素修复单元还包括第二修复晶体管，所述第二修复晶体管的第一端与低电平电源端相连，所述第二修复晶体管的控制端与发光信号端相连，所述第二修复晶体管的第二端与所述修复线相连，所述修复线上的每个第一修复节点与每个像素补偿电路中的第二修复节点对应，其中，所述每个像素补偿电路中的第二修复节点为每个像素补偿电路中与相应发光二极管的阳极相连的补偿输出端。

根据本发明的一个实施例，当所述多个像素补偿电路采用n行m列设置时，所述像素修复单元为n个，n个像素修复单元对应n行像素补偿电路设置，其中，n和m均为正整数。

根据本发明的一个实施例，所述发光二极管为oled。

为达到上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种显示面板，包括本发明实施例第一方面所述的显示面板的像素修复装置。

根据本发明实施例的显示面板，通过上述的显示面板的像素修复装置，可以在定位到某个像素发生异常时，通过异常像素对应的像素补偿电路控制异常像素成为暗点以对像素进行修复，从而可以把部分不良品显示面板变为良品，提升良品率。

为达到上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种显示器，包括本发明第二方面实施例所述的显示面板。

根据本发明实施例的显示器，通过上述的显示面板，可以在定位到某个像素发生异常时，通过异常像素对应的像素补偿电路控制异常像素成为暗点以对像素进行修复，从而可以把部分不良品显示器变为良品，提升显示器的良品率。

为达到上述目的，本发明第四方面实施例提出了一种显示面板的像素修复方法，所述显示面板包括多个像素补偿电路，所述多个像素补偿电路中的每个像素补偿电路对应一个像素设置，每个像素对应一个发光二极管，所述每个像素补偿电路包括驱动晶体管，且所述每个像素补偿电路通过对应的驱动晶体管驱动相应发光二极管进行发光，所述像素修复方法包括以下步骤：检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位以获得异常像素的位置；根据所述异常像素的位置将修复线上的相应第一修复节点与所述异常像素对应的像素补偿电路中的第二修复节点导通，以通过所述异常像素对应的像素补偿电路控制相应发光二极管处于截止状态，以使所述异常像素成为暗点。

根据本发明实施例的显示面板的像素修复方法，通过检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位以获得异常像素的位置，然后，根据异常像素的位置将修复线上的相应第一修复节点与异常像素对应的像素补偿电路中的第二修复节点导通，以通过异常像素对应的像素补偿电路控制相应发光二极管处于截止状态，以使异常像素成为暗点。由此，该方法可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

另外，根据本发明上述实施例提出的显示面板的像素修复方法还可以具有如下附加的技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述显示面板上还设有第一修复晶体管，所述第一修复晶体管的第一端与高电平电源端相连，所述第一修复晶体管的控制端与发光信号端相连，所述第一修复晶体管的第二端与所述修复线相连，所述修复线上的每个第一修复节点与每个像素补偿电路中的第二修复节点对应，其中，所述每个像素补偿电路中的第二修复节点为每个像素补偿电路中驱动晶体管的控制端。

根据本发明的一个实施例，所述显示面板上还设有第二修复晶体管，所述第二修复晶体管的第一端与低电平电源端相连，所述第二修复晶体管的控制端与发光信号端相连，所述第二修复晶体管的第二端与所述修复线相连，所述修复线上的每个第一修复节点与每个像素补偿电路中的第二修复节点对应，其中，所述每个像素补偿电路中的第二修复节点为每个像素补偿电路中与相应发光二极管的阳极相连的补偿输出端。

根据本发明的一个实施例，当所述多个像素补偿电路采用n行m列设置时，所述像素修复单元为n个，n个像素修复单元对应n行像素补偿电路设置，其中，n和m均为正整数。

根据本发明的一个实施例，所述发光二极管为oled。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中，

图1a-1b是根据本发明一个实施例的显示面板的像素修复装置的电路拓扑图；

图2是根据本发明一个实施例的像素补偿电路的时序图；

图3a-3b是根据本发明一个实施例的显示面板的像素修复装置的修复原理示意图；以及

图4是根据本发明一个实施例的显示面板的像素修复方法的流程图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面结合附图来描述本发明实施例的显示面板的像素修复装置、显示面板、显示器和显示面板的像素修复方法。

图1a-1b是根据本发明一个实施例的显示面板的像素修复装置的电路拓扑图。其中，显示面板包括多个像素补偿电路10；像素修复装置包括：检测及定位单元(图中未具体示出)、像素修复单元和激光修复单元(图中未具体示出)。

其中，多个像素补偿电路10中的每个像素补偿电路10对应一个像素设置，每个像素对应一个发光二极管d，每个像素补偿电路包括驱动晶体管t7，且每个像素补偿电路通过对应的驱动晶体管t7驱动相应发光二极管d进行发光。

检测及定位单元用于检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位以获得异常像素的位置。像素修复单元包括修复线l。激光修复单元用于根据异常像素的位置将修复线上l的相应第一修复节点n1与异常像素对应的像素补偿电路10中的第二修复节点n2导通，以通过异常像素对应的像素补偿电路10控制相应发光二极管d处于截止状态，以使异常像素成为暗点。

具体地，显示面板包括多个像素补偿电路10，每个像素补偿电路10对应一个像素设置，检测及定位单元可以通过arraytest(阵列测试)判断每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位。例如，图1a-1b所示的像素补偿电路10的区域的像素发生异常，激光修复单元可以将n1和n2导通，从而使对应的像素补偿电路10中的发光二极管d截止，进而使异常像素成为暗点。由此，可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

如图1a-1b所示，像素补偿电路10还可以包括：数据线data、栅线gate、第一电源vdd、第二电源vss、参考信号端vref、存储电容cst、复位控制端reset、复位信号端vint、第一晶体管t1、第二晶体管t2、第三晶体管t3、第四晶体管t4、发光控制端em、第五晶体管t5和第六晶体管t6。其中，数据线data提供数据电压vdata，栅线gate提供扫描电压，第一电源vdd提供第一电源电压，第二电源vss提供第二电源电压，参考信号端vref提供参考电压。各器件的连接方式具体可参见图1a-1b，此处不再赘述。

如图2所示，本发明实施例的像素补偿电路10工作时包括三个阶段：

第一阶段t1：复位控制端reset信号有效，t1，t2导通，对存储电容cst两端进行复位。此时，存储电容cst的第一端1写入电压vint，存储电容cst的第一端2为参考电压vref。

第二阶段t2：栅线gate信号有效，使得t3、t4导通，存储电容cst的第二端2写入vdata，存储电容cst的第一端1写入vdd－vth，此时存储电容cst存储的电压为vdd－vth－vdata。本阶段t3将包括第一电源电压vdd和驱动晶体管t7的阈值电压vth写入存储电容cst的第一端1。

第三阶段t3：发光控制端em的信号有效，t5、t6导通，t5连接参考信号线ref，存储电容cst的第一端2的电位为vref，存储电容cst的第一端1的电位为vdd－vth－vdata+vref，这也就是驱动晶体管t7的栅极电位，驱动晶体管t7的源极电位为vdd，栅源电压vgs为vdd－vth－vdata+vref－vdd，流向d的电流为i＝1/2μcox(w/l)(vgs－vth)²＝1/2μcox(w/l)(vref－vdata)²。其中，μ为载流子迁移率，cox为栅氧化层电容，w/l为驱动晶体管t7的宽长比。

可以理解，上述实施例中的驱动晶体管t7、第一晶体管t1、第二晶体管t2、第三晶体管t3、第四晶体管t4、第五晶体管t5、第六晶体管t6均为p型晶体管。当然也可以是n型，或p型和n型的组合，只是栅极控制信号端的有效信号不同。本领域技术人员可以根据晶体管的类型、信号连接方式等内容清楚的知道像素补偿电路10的工作原理和状态。

作为一种示例，如图1a所示，像素修复单元还可以包括第一修复晶体管t8，第一修复晶体管t8的第一端与高电平电源端vgh相连，第一修复晶体管t8的控制端与发光信号端em相连，第一修复晶体管t8的第二端与修复线l相连，修复线l上的每个第一修复节点n1与每个像素补偿电路10中的第二修复节点n2对应，其中，每个像素补偿电路10中的第二修复节点n2为每个像素补偿电路中驱动晶体管t8的控制端。

具体地，当检测及定位单元检测到图1a所示的像素补偿电路10的像素发生异常时，激光修复单元可以根据异常像素的位置将n1与n2导通，发光信号端em给出低电平信号以使t8导通，vgh信号会由n1导通至n2，因此n2处为高电平信号，即驱动晶体管t7的栅极(即控制端)为高电平信号，t7关闭，无电流流入发光二极管d，发光二极管d为截止状态不发光，因此，异常像素成为暗点。由此，可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

作为另一种示例，如图1b所示，像素修复单元还可以包括第二修复晶体管t9，第二修复晶体管t9的第一端与低电平电源端vgl相连，第二修复晶体管t9的控制端与发光信号端em相连，第二修复晶体管t9的第二端与修复线l相连，修复线l上的每个第一修复节点n1与每个像素补偿电路中的第二修复节点n2对应，其中，每个像素补偿电路中的第二修复节点n2为每个像素补偿电路中与相应发光二极管d的阳极相连的补偿输出端。

具体地，如图1b所示，当检测及定位单元检测到图1b所示的像素补偿电路10的像素发生异常时，激光修复单元可以根据异常像素的位置将n1与n2导通，发光信号端em给出低电平信号以使t9导通，vgl信号会由n1导通至n2。因此，发光二极管d的阳极为低电平信号，比发光二极管d阴极的vss信号更负，发光二极管d为截止状态不发光，因此，异常像素成为暗点。由此，可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

在本发明的实施例中，如图3a-3b所示，当多个像素补偿电路10采用n行m列设置时，像素修复单元为n个，n个像素修复单元对应n行像素补偿电路10设置，其中，n和m均为正整数。

具体地，假如显示面板包括n行m列像素补偿电路10，如果采用图3a所示的方式进行异常像素修复，那么只需n行修复线l上的vgh信号，即可完成mⅹn个像素的修复；如果采用图3b所示的方式进行异常像素修复，那么只需n行修复线l上的vgl信号，即可完成mⅹn个像素的修复。

需要说明的是，在本发明的实施例中，发光二极管可以为oled。

综上所述，根据本发明实施例的显示面板的像素修复装置，通过检测及定位单元检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位以获得异常像素的位置，激光修复单元根据异常像素的位置将修复线上的相应第一修复节点与异常像素对应的像素补偿电路中的第二修复节点导通，以通过异常像素对应的像素补偿电路控制相应发光二极管处于截止状态，以使异常像素成为暗点。由此，该装置可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

本发明实施例还提出一种显示面板，包括上述的显示面板的像素修复装置。

根据本发明实施例的显示面板，通过上述的显示面板的像素修复装置，可以在定位到某个像素发生异常时，可以通过异常像素对应的像素补偿电路控制异常像素成为暗点以对像素进行修复，从而可以把部分不良品显示面板变为良品，提升良品率。

本发明实施例还提出一种显示器，包括上述的显示面板。

根据本发明实施例的显示器，通过上述的显示面板，可以在定位到某个像素发生异常时，通过异常像素对应的像素补偿电路控制异常像素成为暗点以对像素进行修复，从而可以把部分不良品显示器变为良品，提升显示器的良品率。

图4是根据本发明一个实施例的显示面板的像素修复方法的流程图。其中，如图1a-1b所示，显示面板包括多个像素补偿电路，多个像素补偿电路中的每个像素补偿电路对应一个像素设置，每个像素对应一个发光二极管，每个像素补偿电路包括驱动晶体管，且每个像素补偿电路通过对应的驱动晶体管驱动相应发光二极管进行发光；如图4所示，像素修复方法包括以下步骤：

s1，检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位以获得异常像素的位置。

s2，根据异常像素的位置将修复线上的相应第一修复节点与异常像素对应的像素补偿电路中的第二修复节点导通，以通过异常像素对应的像素补偿电路控制相应发光二极管处于截止状态，以使异常像素成为暗点。

具体地，显示面板包括多个像素补偿电路，每个像素补偿电路对应一个像素设置，可以通过arraytest(阵列测试)判断每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位。例如，图1a-1b所示的像素补偿电路区域的像素发生异常，通过激光修复技术可以将第一修复节点和第二修复节点导通，从而使对应的像素补偿电路中的发光二极管截止，进而使异常像素成为暗点。由此，可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

而具体地像素补偿电路的结构和工作原理可参照本发明上述实施例，此处不再赘述。

作为一种示例，如图1a所示，像素修复单元还可以包括第一修复晶体管，第一修复晶体管的第一端与高电平电源端相连，第一修复晶体管的控制端与发光信号端相连，第一修复晶体管的第二端与修复线相连，修复线上的每个第一修复节点与每个像素补偿电路中的第二修复节点对应，其中，每个像素补偿电路中的第二修复节点为每个像素补偿电路中驱动晶体管的控制端。

具体地，当检测到图1a所示的像素补偿电路的像素发生异常时，可以根据异常像素的位置将第一修复节点与第二修复节点导通，发光信号端给出低电平信号以使第一修复晶体管导通，高电平信号会由第一修复节点导通至第二修复节点，因此第二修复节点处为高电平信号，即驱动晶体管的栅极(即控制端)为高电平信号，驱动晶体管关闭，无电流流入发光二极管，发光二极管为截止状态不发光，因此，异常像素成为暗点。由此，可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

作为另一种示例，如图1b所示，像素修复单元还可以包括第二修复晶体管，第二修复晶体管的第一端与低电平电源端相连，第二修复晶体管的控制端与发光信号端相连，第二修复晶体管的第二端与修复线相连，修复线上的每个第一修复节点与每个像素补偿电路中的第二修复节点对应，其中，每个像素补偿电路中的第二修复节点为每个像素补偿电路中与相应发光二极管的阳极相连的补偿输出端。

具体地，如图1b所示，当检测到图1b所示的像素补偿电路的像素发生异常时，可以根据异常像素的位置将第一修复节点与第二修复节点导通，发光信号端给出低电平信号以使第二修复晶体管导通，低电平信号会由第一修复节点导通至第二修复节点。因此，发光二极管的阳极为低电平信号，比发光二极管阴极的电平信号更负，发光二极管为截止状态不发光，因此，异常像素成为暗点。由此，可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良品率。

在本发明的实施例中，如图3a-3b所示，当多个像素补偿电路采用n行m列设置时，像素修复单元为n个，n个像素修复单元对应n行像素补偿电路10设置，其中，n和m均为正整数。

具体地，假如显示面板包括n行m列像素补偿电路，如果采用图3a所示的方式进行异常像素修复，那么只需n行修复线上的高电平信号，即可完成mⅹn个像素的修复；如果采用图3b所示的方式进行异常像素修复，那么只需n行修复线上的低电平信号，即可完成mⅹn个像素的修复。

需要说明的是，在本发明的实施例中，发光二极管可以为oled。

综上所述，根据本发明实施例的显示面板的像素修复方法，通过检测每个像素是否发生异常，并对发生异常的像素进行定位以获得异常像素的位置，然后，根据异常像素的位置将修复线上的相应第一修复节点与异常像素对应的像素补偿电路中的第二修复节点导通，以通过异常像素对应的像素补偿电路控制相应发光二极管处于截止状态，以使异常像素成为暗点。由此，该方法可以把部分不良品显示面板变为良品，提升显示面板的良率。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。