一种液晶显示模组显示测试转接板的制作方法

本实用新型涉及液晶显示模组显示测试领域，特别涉及一种液晶显示模组显示测试转接板。

背景技术：

项目测试治具是针对项目制作的专用测试治具，产线生产更换其他型号项目时就无法满足测试要求，给生产带来不便；在生产的过程中需要进行五次以上的点屏测试，每次测试都需要插拔一次连接器，导致连接器的损坏风险大。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的是提出一种液晶显示模组显示测试转接板，旨在实现测试主板端接口定义的统一，从而实现测试针模和主板的共用，模组连接器在整个生产过程中只需要与转接fpc插拔一次，可以有效减小连接器损坏的风险。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种液晶显示模组显示测试转接板，用于连接测试模组和测试治具，包括：转接连接器和转接fpc，所述转接连接器上设置有与所述测试模组适配的转接口，所述转接fpc包括上层线路、下层线路和金手指端接口，所述上层线路和所述下层线路通过通过同一网络线路的两端分别与所述金手指端接口和转接连接器连接，所述上层线路和所述下层线路通过过孔对应连接；所述金手指端接口为51pin通用接口，所述转接fpc的信号线上并联有第一tvs管，所述转接fpc的电源线上并联第二tvs管；所述转接连接器用于与所述测试模组连接，所述金手指端接口用于与所述测试治具的针模连接。

优选地，所述转接连接器为btb连接器。

优选地，所述的转接fpc的背面和所述连接器的背面均设置有补强钢片。

优选地，所述转接fpc靠近所述金手指端接口处的两侧设置有定位耳。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过转接板分别与测试模组和测试治具连接，转接连接器与测试模组的接口相适配，转接fpc经过原理同一网络对应走线的规则，在转接fpc上通过走线在金手指端实现统一，由于金手指端接口(51pin)为通用接口，pin数量会多于模组接口(示例接口34pin)，其他测试模组用不到的接口做悬空处理。另外，在转接fpc的关键信号线(mipi、spi、i2c等)上并联3.5v的tvs管，在电源线上根据电压值的大小分别并联7v、18v等防护tvs管。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型的使用连接原理图；

图2为本实用新型中转接fpc的结构示意图；

图3为本实用新型转接转接板的电路原理图；

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

本实施例提出的一种液晶显示模组显示测试转接板，如图1和图2所示，用于连接测试模组100和测试治具200，包括：转接连接器300和转接fpc400，所述转接连接器300上设置有与所述测试模组100适配的转接口，所述转接fpc400包括上层线路410、下层线路420和金手指端接口430，所述上层线路410和所述下层线路420通过同一网络线路的两端分别与所述金手指端接口430和转接连接器300连接，同一网络的所述上层线路410和所述下层线路420通过过孔440对应连接；所述金手指端接口430为51pin通用接口，所述转接fpc400的信号线上并联有第一tvs管500，所述转接fpc400的电源线上并联第二tvs管600；所述转接连接器300用于与所述测试模组100连接，所述金手指端接口430用于与所述测试治具200的针模连接。

为了加强对模组esd的防护效果，我们将原本在测试治具200的针模上的防护tvs管移到转接fpc400上，这样离模组更近，更能起到效果。两端经受瞬间的高能量(电压)冲击时，它能以极高的速度使其骤然降低，同时吸收一个大电流，将其两端间的电压箝位在一个预定的数值上，从而确保后面的免受高能量的冲击而损坏。

在本实用新型一实施例中，所述转接连接器300为btb连接器。

在本实用新型一实施例中，所述的转接fpc400的背面和所述连接器的背面均设置有补强钢片。为了减小金手指端接口430和转接连接器300接触不良的风险，我们在金手指端接口430和转接连接器300的背面都加上了0.2mm的钢片补强，为的就是减小fpc变形带来的接触不良。

在本实用新型一实施例中，所述转接fpc400靠近所述金手指端接口430处的两侧设置有定位耳800。为了防止转接fpc400(金手指端)在测试治具200的针模卡槽中晃动产生接触异常，我们在转接fpc400的金手指端接口430的两边都增加了突出的定位耳800，以防止晃动带来的接触异常。

具体步骤如下：

1、测试主板910通过一根30pin和一根40pin的排线与测试针模接口相连

2、tp测试板920利用12pin的排线与测试治具200的针模的tp测试接口相连

3、测试治具200针模通过探针卡槽与转接fpc400的金手指端接口430相连

4、转接fpc400通过转接连接器300与模组相连

测试的核心创新点为增加了一个统一接口的转接fpc400，使得针模端的测试接口实现统一，从而实现测试治具200的统一。

转接fpc400主要由三部分组成：如图3所示，转接连接器300的连接部分(图中左侧)、tvs管浪涌保护(图中中间部分)和金手指端接口430(图中右侧部分)。

如图2所示，转接fpc400经过原理同一网络对应走线的规则，在转接fpc400上通过走线在金手指端实现统一，由于金手指端接口430(51pin)为通用接口，pin数量会多于模组接口(示例接口34pin)，其他测试模组100用不到的接口做悬空处理。另外，在转接fpc400的关键信号线(mipi、spi、i2c等)上并联3.5v的第一tvs管500，在电源线上根据电压值的大小分别并联7v或18v的第二tvs管600。

实现接口统一的方法：

由于每个项目的测试接口pin定义、pin序、连接器规格等都存在很大差异，导致项目测试时都需要一个专用的测试针模接口，导致针模只能专用。依此，通过调研显示模组的接口定义，确定了一个可以通用点屏测试的接口，将该接口定义为针模固定接口，同时作为转接fpc400的金手指端接口430，转接fpc400的另一端与模组相连，所以接口依据项目固定的测试接口而定(通过btb连接器与测试模组100相连)，通过修改转接fpc400的走线，实现在模组端接口不同，但针模接口相同的测试，从而实现针模、主板、tp测试板920三者均可通用。

以上仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。