一种显示面板及其驱动方法、显示装置与流程

本发明涉及显示面板
技术领域：
，特别涉及一种显示面板及其驱动方法、显示装置。
背景技术：
：有机发光(organiclight-emittingdiode，以下简称oled)显示面板因其具有主动发光、高对比度、无视角限制以及响应速度快等其诸多优点而被广泛应用于显示
技术领域：
。目前，由于有机发光器件中发光材料的寿命衰减特性，为使有机发光显示面板在使用时的特性更加稳定，在显示面板出厂前会对其进行老化(l-aging)处理，以将初始使用阶段寿命衰减速率较快的阶段过滤掉，使有机发光显示面板工作于衰减速率较为稳定的阶段。oled产品的尺寸主要分布在2英寸～17英寸，如下表1所示，表1为常规oled产品从2英寸～17英寸单色点灯电流范围，从30ma级～>1000ma；老化工艺需要老化电源(power)对vdd电源线和vss电源线输入电压，而常规老化电源power可对应老化电流多≤2000ma。l-aging老化电流一般为点灯电流的n倍，n>2以上。为保证输出老化电压均一性，老化电源唯一。若老化电源对应2英寸～17英寸产品整体同时进行老化工艺，则需要输出电流由200ma～10000ma级，设备输出区间极大，且容易造成小尺寸产品老化时输出精度不高问题。因此，目前常规老化电源输出电流一般在2000ma级，无法对应如17英寸大尺寸oled产品的老化工艺。表1常规oled产品单色点灯电流2英寸6英寸12英寸17英寸单色点灯电流30ma级250ma级700ma级>1000ma老化电流约200ma级约800ma级约2000ma级3000ma级～10000ma级技术实现要素：本发明实施例提供的一种显示面板及其驱动方法、显示装置，用以解决大尺寸oled老化电流过大，而常规老化电源无法进行老化工艺的问题。本发明实施例提供的一种显示面板，包括显示区和非显示区，所述显示区包括多条数据线，沿所述数据线的排列方向，所述多条数据线至少被划分为两组数据线；所述非显示区包括检测电路、控制电路、第一控制线、第二控制线、第一测试线和第二测试线；所述检测电路包括多个检测单元，各所述检测单元的输出端与不同的所述数据线电连接，各所述检测单元的输入端与对应的所述第一测试线电连接，各所述检测单元的控制端与对应的所述第一控制线电连接；所述控制电路包括多个控制单元，各所述控制单元的输出端与不同的所述数据线电连接，各所述控制单元的输入端与对应的所述第二测试线电连接，各所述控制单元的控制端与对应的所述第二控制线电连接；其中，在电学检测阶段：各所述检测单元被配置为在对应所述第一控制线的控制下导通，通过对应的所述第一测试线向对应的所述数据线输入第一测试信号；各所述控制单元被配置为在对应所述第二控制线的控制下关闭；在老化阶段：其中一组数据线对应的检测单元被配置为在对应所述第一控制线的控制下导通，通过对应的所述第一测试线向对应的所述数据线输入第一测试信号，其余组数据线对应的检测单元被配置为在对应所述第一控制线的控制下关闭；与导通的所述检测单元对应的各所述控制单元被配置为在对应所述第二控制线的控制下关闭，与关闭的所述检测单元对应的各所述控制单元被配置为在对应所述第二控制线的控制下导通，通过对应的所述第二测试线向对应的数据线输入第二测试信号。可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所述控制单元包括第一开关晶体管，所述第一开关晶体管的栅极与对应的所述第二控制线电连接，所述第一开关晶体管的第一极与对应的所述第二测试线电连接，所述第一开关晶体管的第二极与对应的所述数据线电连接。可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，各所述第一开关晶体管的第一极与同一条所述第二测试线电连接，同一组数据线对应的第一开关晶体管的栅极与同一条所述第二控制线电连接，不同组数据线对应的第一开关晶体管的栅极与不同的所述第二控制线电连接。可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所述第一开关晶体管为p型晶体管。可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所述检测单元包括第二开关晶体管，所述第二开关晶体管的栅极与对应的所述第一控制线电连接，所述第二开关晶体管的第一极与对应的所述第一测试线电连接，所述第二开关晶体管的第二极与对应的所述数据线电连接。可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所述显示区还包括多行多列不同颜色的子像素，同一列所述子像素与同一条所述数据线电连接，且同一条所述数据线电连接的子像素列的颜色相同；在同一组所述数据线中，相同颜色的子像素列电连接的数据线对应的第二开关晶体管的栅极与同一条所述第一控制线电连接，不同颜色的子像素列电连接的数据线对应的第二开关晶体管的栅极与不同的所述第一控制线电连接；在不同组所述数据线中，相同颜色的子像素列电连接的数据线对应的第二开关晶体管的栅极与不同的所述第一控制线电连接。可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所述第二开关晶体管为p型晶体管。可选地，在本发明实施例提供的上述显示面板中，所述检测电路和所述控制电路位于所述显示区的同一侧，且所述检测电路位于所述显示区和所述控制电路之间。相应地，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括上述任一项所述的显示面板。相应地，本发明实施例还提供了一种上述任一项所述的显示面板的驱动方法，包括：在电学检测阶段：各所述检测单元在对应所述第一控制线的控制下导通，通过对应的所述第一测试线向对应的数据线输入第一测试信号；各所述控制单元在对应所述第二控制线的控制下关闭；在老化阶段：其中一组数据线对应的检测单元在对应所述第一控制线的控制下导通，通过对应的所述第一测试线向对应的数据线输入第一测试信号，其余组数据线对应的检测单元在对应所述第一控制线的控制下关闭；与导通的所述检测单元对应的各所述控制单元在对应所述第二控制线的控制下关闭，与关闭的所述检测单元对应的各所述控制电路在对应所述第二控制线的控制下导通，通过对应的所述第二测试线向对应的数据线输入第二测试信号。本发明的有益效果如下：本发明实施例提供的一种显示面板及其驱动方法、显示装置，通过在显示面板的非显示区设置检测电路和控制电路，在电学检测阶段，可以控制检测电路导通，控制电路关闭，实现全屏显示；在老化阶段，对于大尺寸显示屏而言，对不同组数据线对应的oled器件分别进行老化，每一组数据线对应的oled器件的显示和老化电流可以降至原来的1/n，n为数据线的组数，这样就可以采用常规老化电源对应大尺寸oled产品的老化工艺，从而解决了大尺寸oled老化电流过大，而常规老化电源无法进行老化工艺的问题。附图说明图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；图2为图1中显示面板的具体结构示意图；图3为电学测试阶段的全屏显示效果示意图；图4为老化阶段的半屏显示效果示意图；图5为本发明实施例提供的一种显示面板的驱动方法流程示意图；图6为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。具体实施方式为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。并且在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。除非另外定义，本发明使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“内”、“外”、“上”、“下”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。需要注意的是，附图中各图形的尺寸和形状不反映真实比例，目的只是示意说明本
发明内容。并且自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。本发明实施例提供的一种显示面板，如图1所示，包括显示区aa和非显示区(aa以外的区域)，显示区aa包括多条数据线(d1、d2、d3……)，沿数据线的排列方向，多条数据线至少被划分为两组数据线(本发明实施例图1以两组为例，两个虚线框所示，分别为第一组b1和第二组b2)；非显示区包括检测电路、控制电路、第一控制线(swr1、swg1、swb1、swr2、swg2、swb2)、第二控制线(swh1、swh2)、第一测试线(dr、dg、db)和第二测试线dh；检测电路包括多个检测单元10，各检测单元10的输出端与不同的数据线电连接，各检测单元10的输入端与对应的第一测试线电连接(例如d1、d4、dn、dn+3电连接的检测单元10的输入端均与第一测试线dr电连接，d2、dn+1电连接的检测单元10的输入端均与第一测试线dg电连接，d3、dn+2电连接的检测单元10的输入端均与第一测试线db电连接)，各检测单元10的控制端与对应的第一控制线电连接(例如第一组b1中d1、d4电连接的检测单元10的控制端与第一控制线swr1电连接，d2电连接的检测单元10的控制端与第一控制线swg1电连接，d3电连接的检测单元10的控制端与第一控制线swb1电连接；第二组b2中dn、dn+3电连接的检测单元10的控制端与第一控制线swr2电连接，dn+1电连接的检测单元10的控制端与第一控制线swg2电连接，dn+2电连接的检测单元10的控制端与第一控制线swb2电连接)；控制电路包括多个控制单元20，各控制单元20的输出端与不同的数据线电连接，各控制单元20的输入端与对应的第二测试线电连接(例如所有数据线电连接的检测单元10的输入端均与第二测试线dh电连接)，各控制单元20的控制端与对应的第二控制线电连接(例如第一组b1中所有数据线电连接的检测单元10的控制端与第二控制线swh1电连接，第二组b2中所有数据线电连接的检测单元10的控制端与第二控制线swh2电连接)；其中，在电学检测阶段(et测试)：各检测单元10被配置为在对应第一控制线的控制下导通，通过对应的第一测试线向对应的数据线输入第一测试信号，具体地，d1、d4电连接的检测单元10在第一控制线swr1的控制下导通，通过第一测试线dr向对应的数据线(d1、d4)输入第一测试信号；d2电连接的检测单元10在第一控制线swg1的控制下导通，通过第二测试线dg向数据线d2输入第一测试信号；d3电连接的检测单元10在第一控制线swb1的控制下导通，通过第二测试线db向数据线d3输入第一测试信号……；dn、dn+3电连接的检测单元10在第一控制线swr2的控制下导通，通过第一测试线dr向对应的数据线(dn、dn+3)输入第一测试信号；dn+1电连接的检测单元10在第一控制线swg2的控制下导通，通过第二测试线dg向数据线dn+1输入第一测试信号；dn+2电连接的检测单元10在第一控制线swb2的控制下导通，通过第二测试线db向数据线dn+2输入第一测试信号；各控制电路20被配置为在对应第二控制线的控制下关闭，具体地，第一组b1的数据线d1、d2、d3、d4……电连接的控制单元20在第二控制线swh1的控制下关闭，第二组b2的数据线dn、dn+1、dn+2、dn+3……电连接的控制单元20在第二控制线swh2的控制下关闭；在老化阶段(l-aging)：其中一组数据线(例如第一组b1)对应的检测单元10被配置为在对应第一控制线的控制下导通，通过对应的第一测试线向对应的数据线输入第一测试信号，具体地，d1、d4电连接的检测单元10在第一控制线swr1的控制下导通，通过第一测试线dr向对应的数据线(d1、d4)输入第一测试信号；d2电连接的检测单元10在第一控制线swg1的控制下导通，通过第二测试线dg向数据线d2输入第一测试信号；d3电连接的检测单元10在第一控制线swb1的控制下导通，通过第二测试线db向数据线d3输入第一测试信号……；其余组数据线(例如第二组b2)对应的检测单元10被配置为在对应第一控制线的控制下关闭，具体地，dn、dn+3电连接的检测单元10在第一控制线swr2的控制下关闭，dn+1电连接的检测单元10在第一控制线swg2的控制下关闭，dn+2电连接的检测单元10在第一控制线swb2的控制下关闭；与导通的检测单元(第一组b1的各检测单元10)对应的各控制单元20被配置为在对应第二控制线的控制下关闭，具体地，第一组b1的d1、d2、d3、d4……电连接的控制单元20在第二控制线swh1的控制下关闭；与关闭的检测单元(第二组b2的各检测单元10)对应的各控制单元20被配置为在对应第二控制线的控制下导通，通过对应的第二测试线向对应的数据线输入第二测试信号，具体地，第二组b2的dn、dn+1、dn+2、dn+3电连接的控制单元20在第二控制线swh2的控制下导通，通过第二测试线dh向对应的数据线(dn、dn+1、dn+2、dn+3)输入第二测试信号。本发明实施例提供的上述显示面板，通过在显示面板的非显示区设置检测电路和控制电路，在电学检测阶段，可以控制检测电路导通，控制电路关闭，实现全屏显示；在老化阶段，对于大尺寸显示屏而言，对不同组数据线对应的oled器件分别进行老化，每一组数据线对应的oled器件的显示和老化电流可以降至原来的1/n，n为数据线的组数，这样就可以采用常规老化电源对应大尺寸oled产品的老化工艺，从而解决了大尺寸oled老化电流过大，而常规老化电源无法进行老化工艺的问题。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图1所示，显示区aa还包括多行多列不同颜色的子像素(未示出)，同一列子像素与同一条数据线电连接，且同一条数据线电连接的子像素列的颜色相同，例如数据线d1、d4、dn、dn+3电连接的四列子像素均为红色子像素r，数据线d2、dn+1电连接的两列子像素均为绿色子像素g，数据线d3、dn+2电连接的两列子像素均为蓝色子像素b。需要说明的是，本发明为了示意性说明，图1中仅示意部分数据线及该部分数据线对应的检测单元10、控制单元20。需要说明的是，本发明为了示意性说明，图1中仅将显示面板中的所有数据线分为第一组b1和第二组b2，当然根据实际需要，可以分为三组或更多组，本发明对此不作限定。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图2所示，控制单元20包括第一开关晶体管t1，第一开关晶体管t1的栅极与对应的第二控制线电连接(例如第一组b1对应的第一开关晶体管t1的栅极与第二控制线swh1电连接，第二组b2对应的第一开关晶体管t1的栅极与第二控制线swh2电连接)，第一开关晶体管t1的第一极与对应的第二测试线电连接(例如所有第一开关晶体管t1的第一极均与第二测试线dh电连接)，第一开关晶体管t1的第二极与对应的数据线电连接。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图2所示，各第一开关晶体管t1的第一极与同一条第二测试线dh电连接，同一组数据线对应的第一开关晶体管的栅极与同一条第二控制线电连接，不同组数据线对应的第一开关晶体管的栅极与不同的第二控制线电连接，例如第一组b1对应的第一开关晶体管t1的栅极与同一条第二控制线swh1电连接，第二组b2对应的第一开关晶体管t1的栅极与同一条第二控制线swh2电连接。通过不同组数据线对应的第一开关晶体管的栅极与不同的第二控制线电连接，可以实现显示面板分区老化工艺。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图2所示，第一开关晶体管优选为p型晶体管。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图2所示，检测单元10包括第二开关晶体管t2，第二开关晶体管t2的栅极与对应的第一控制线电连接，例如d1、d4电连接的第二开关晶体管t2的栅极均与第一控制线swr1电连接，d2电连接的第二开关晶体管t2的栅极与第一控制线swg1电连接，d3电连接的第二开关晶体管t2的栅极与第一控制线swb1电连接，dn、dn+3电连接的第二开关晶体管t2的栅极均与第一控制线swr2电连接，dn+1电连接的第二开关晶体管t2的栅极与第一控制线swg2电连接，dn+2电连接的第二开关晶体管t2的栅极与第一控制线swb2电连接；第二开关晶体管t2的第一极与对应的第一测试线电连接，例如d1、d4、dn、dn+3电连接的第二开关晶体管t2的第一极与第一测试线dr电连接，d2、dn+1电连接的第二开关晶体管t2的第一极与第一测试线dg电连接，d3、dn+2电连接的第二开关晶体管t2的第一极与第一测试线db电连接；第二开关晶体管t2的第二极与对应的数据线电连接。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图2所示，在同一组数据线中(例如第一组b1)，相同颜色的子像素列电连接的数据线(d1、d4)对应的第二开关晶体管t2的栅极与同一条第一控制线swr1电连接，不同颜色的子像素列电连接的数据线(例如d1和d2)对应的第二开关晶体管t2的栅极与不同的第一控制线(分别对应swr1、swg1)电连接；在不同组数据线中(例如第一组b1和第二组b2)，相同颜色的子像素列电连接的数据线(例如d1、dn)对应的第二开关晶体管t2的栅极与不同的第一控制线(分别对应swr1、swr2)电连接。在具体实施时，为了统一制作工艺，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图2所示，第二开关晶体管优选为p型晶体管。在具体实施时，在本发明实施例提供的上述显示面板中，如图1和图2所示，检测电路(所有检测单元10)和控制电路(所有控制单元20)位于显示区aa的同一侧，且检测电路(所有检测单元10)位于显示区aa和控制电路(所有控制单元20)之间。需要说明的是，swh1和swh2与swr1、swg1、swb1、swr2、swg2、swb2独立设置，dh与dr、dg、db独立设置，因此老化工艺和电学测试工艺互不影响。需要说明的是，et测试时swh1和swh2电连接的第一开关晶体管全部关闭，通过swr1、swg1、swb1、swr2、swg2、swb2电连接的第二开关晶体管全部导通，写入dr、dg、db信号，实现全屏显示。老化工艺时，采用分区老化，老化区域(例如第一组b1对应区域)通过swr1、swg1、swb1信号正常写入dr、dg、db信号，并将swh1电连接的第一开关晶体管关闭；非老化区域(例如第二组b1对应区域)的swr2、swg2、swb2电连接的第二开关晶体管全部关闭，非老化区域不写入dr、dg、db信号，swh2电连接的第一开关晶体管导通写入与老化区域不相同的数据信号，如写入“无效”的dh信号，而关闭该非老化区域，该“无效”的dh信号可以是显示黑画面的信号。而对不显示的分区写入关闭的数据信号，其信号。需要说明的是，本发明实施例提供的显示面板也适用于小尺寸显示屏，老化时全屏老化，将所有第一开关晶体管关闭、所有第二开关晶体管导通即可。本发明实施例提供的显示面板适用于小尺寸～大尺寸(例如2寸-17寸)的显示面板的老化工艺。下面对本发明实施例图2所示的显示面板的电学检测和老化工艺进行详细说明：在电学检测阶段：以显示红色(r)画面为例，swh1和swh2均为高电平，所有第一开关晶体管t1关闭；swr1、swg1、swb1、swr2、swg2、swb2均为低电平，所有第二开关晶体管t2导通，各第一测试线dr、dg、db分别通过对应的第二开关晶体管t2向对应的数据线输入第一测试信号，此时显示面板全屏显示r画面，如图3所示；在老化阶段(l-aging)：以显示红色(r)画面为例，首先对第一组b1数据线对应的显示器件进行老化，swh1为高电平，swr1、swg1、swb1为低电平，swh2为低电平，swr2、swg2、swb2为高电平，此时第一组b1数据线电连接的第一开关晶体管t1关闭，第一组b1数据线电连接的第二开关晶体管t2导通，各第一测试线dr、dg、db分别通过对应的第二开关晶体管t2向对应的数据线输入第一测试信号，此时第一组b1对应的区域显示r画面，第一组b1对应的区域进行了老化工艺；同时，第二组b2数据线电连接的第一开关晶体管t1导通，第二组b2数据线电连接的第二开关晶体管t2关闭，第二测试线dh通过对应的第一开关晶体管t1向对应的数据线输入第二测试信号，第二组b2对应的区域显示黑画面，从而实现第一组b1对应的区域先进行老化，如图4所示。然后再对第二组b2对应的区域进行老化，与第一组b1对应的区域进行老化的原理相同，即控制第二组b2对应的区域显示r画面，第一组b1对应的区域显示黑画面。综上所述，本发明实施例提供的显示面板可实现et测试时全屏显示和老化工艺时分区老化，如设置2分区(第一组b1和第二组b2)。老化工艺时先对分区1(第一组b1)进行老化工艺，分区2(第二组b2)关闭显示；再对分区2(第二组b2)进行老化工艺，分区1(第一组b1)关闭显示。由于老化时仅1/2显示区域进行像素显示和老化工艺，显示和老化电流可以降低至原来全屏老化时电流的1/2，可使原来的单色点灯电流(例如1000ma)降低至500ma，老化电流也可降低至原来的1/2，因此常规老化设备即可实现大尺寸oled产品的老化工艺。需要说明的是，本发明实施例是以将显示面板分为两个区域为例，当然可以分为n个区域，n≥2，则老化电流可降低至原来的1/n，在实际应用时根据显示屏的实际尺寸和老化电源的电流范围进行分区。基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种上述显示面板的驱动方法，如图5所示，包括：s501、在电学检测阶段：各检测单元在对应第一控制线的控制下导通，通过对应的第一测试线向对应的数据线输入第一测试信号；各控制单元在对应第二控制线的控制下关闭；s502、在老化阶段：其中一组数据线对应的检测单元在对应第一控制线的控制下导通，通过对应的第一测试线向对应的数据线输入第一测试信号，其余组数据线对应的检测单元在对应第一控制线的控制下关闭；与导通的检测单元对应的各控制单元在对应第二控制线的控制下关闭，与关闭的检测单元对应的各控制单元在对应第二控制线的控制下导通，通过对应的第二测试线向对应的数据线输入第二测试信号。在具体实施时，本发明实施例提供的显示面板的驱动方法的详细过程可以参见前述显示面板中对驱动方法的描述，在此不做赘述。基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明实施例提供的上述显示面板。该显示装置解决问题的原理与前述显示面板相似，因此该显示装置的实施可以参见前述显示面板的实施，重复之处在此不再赘述。在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示装置可以为有机发光显示装置，在此不作限定。在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示装置可以为全面屏显示装置，或者也可以为柔性显示装置等，在此不作限定。在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示装置可以为如图6所示的全面屏的手机。当然，本发明实施例提供的上述显示装置也可以为平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明实施例的精神和范围。这样，倘若本发明实施例的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。当前第1页12