有机发光二极管显示装置及其驱动方法

文档序号:9811851阅读:539来源:国知局
有机发光二极管显示装置及其驱动方法
【专利说明】有机发光二极管显示装置及其驱动方法
[0001]本申请要求于2014年10月31日提交的韩国专利申请N0.10-2014-0149901的权益,为了所有目的,通过引用将该申请结合在此,如同在此完全阐述一样。
技术领域
[0002]本发明涉及一种有机发光二极管(OLED)显示装置。更具体地,本发明涉及一种能够感测和校正渐进亮点(progressive bright point)缺陷的OLED显示装置及其驱动方法。
【背景技术】
[0003]使用液晶的液晶显示器(IXD)、使用OLED的有机发光二极管(OLED)显示装置、使用电泳颗粒的电泳显示器(EPD)等通常被用作利用数字数据来显示图像的平板显示装置。
[0004]在上述装置中,OLED显示装置是使得有机发光层通过电子和正性空穴的重组而发射光的自发光装置。OLED显示装置具有高亮度和低驱动电压且可被配置成超薄膜。因此,预期OLED显示装置将被用作下一代显示装置。
[0005]包括在OLED显示装置中的多个像素或子像素的每一个具有OLED元件,OLED元件包括位于阳极和阴极之间的有机发光层以及独立地驱动OLED元件的像素电路。
[0006]像素电路包括开关薄膜晶体管(TFT)、驱动TFT等,其中开关薄膜晶体管提供数据电压,使得存储电容器由对应于所述数据电压的电压充电,驱动TFT基于对存储电容器进行充电的电压来控制电流并将电流提供至OLED元件。OLED元件产生与电流成比例的光。提供至OLED元件的电流受到驱动TFT的诸如阈值电压(Vth)、迀移率等驱动特性的影响。
[0007]然而,由于各种原因,驱动TFT的阈值电压、迀移率等在各子像素之间有所不同。例如,由于工艺变化等,驱动TFT的初始阈值电压、迀移率等在各子像素之间有所不同,并且由于随着驱动时间的过去发生驱动TFT的劣化等,导致在各子像素之间出现差异。因此,对于同一数据,各个子像素的电流是非均匀的,因此产生非均匀亮度的问题。为了解决这一问题,OLED显示装置利用通过感测驱动TFT的驱动特性来补偿数据的外部补偿方法。
[0008]例如,外部补偿方法感测表示每个驱动TFT的驱动特性的电压(或电流),基于感测值计算用于补偿驱动TFT的阈值电压和迀移率的变化的补偿值,以将补偿值存储在存储器中或更新这些值,然后利用所存储的补偿值来补偿待提供至每个子像素的数据。
[0009]由于在制造工艺期间进入的颗粒等,导致OLED显示装置存在微小短路缺陷的问题。在产品装运之前,微小短路缺陷在检查工艺等中不会被检测到。然而,在产品装运之后,随着驱动时间的过去,由于颗粒导致电阻分量逐渐减小。这样就会产生短路,导致渐进亮点(即,随着时间的过去而出现的亮点)缺陷。
[0010]因此,虽然在检查工艺中检测到的短路缺陷可通过修复被校正为变暗,但是在检查工艺中不会被检测到并且随着驱动时间的过去而被发现的由于微小短路缺陷导致的渐进亮点缺陷可既不会被检测到,也不会被校正。

【发明内容】

[0011]因此,构思本发明来解决上述问题,并且本发明要解决的课题涉及一种能够感测和校正渐进亮点缺陷的有机发光二极管(OLED)显示装置及其驱动方法。
[0012]为了解决上述问题,根据本发明的实施方式的OLED显示装置包括:数据驱动器,所述数据驱动器将截止驱动电压提供至用于驱动每个子像素中的发光元件的驱动晶体管,并感测对应于所述驱动晶体管的漏电流的电压;和亮点评估器,所述亮点评估器通过将经由所述数据驱动器感测的电压值与基准值进行比较来评估子像素的渐进亮点,并暗化和校正被评估为具有所述渐进亮点的子像素。
[0013]所述数据驱动器可分别将黑色数据电压和基准电压提供至子像素的驱动晶体管的第一节点和第二节点,以将所述黑色数据电压和所述基准电压的电压差作为所述截止驱动电压提供至所述驱动晶体管。
[0014]在预定的发光周期期间,所述数据驱动器可在根据所述驱动晶体管的截止驱动电压而产生的漏电流流向所述发光元件之后,将所述驱动晶体管的漏电流存储在连接至基准线的电容器中,以感测存储在所述电容器中的电压。
[0015]所述亮点评估器可将感测的电压值与所述黑色数据进行比较,当感测的电压值大于或等于所述黑色数据时,所述亮点评估器评估子像素具有所述渐进亮点,使得所述黑色数据提供至被评估为具有所述渐进亮点的子像素,并通过根据感测的电压值提高所述基准电压来使子像素变暗。
[0016]图像处理器可包括所述亮点评估器,其中所述图像处理器可通过所述数据驱动器来感测所述驱动晶体管的阈值电压,将感测到的阈值电压与预定的最小阈值电压进行比较,以感测正常亮点,并通过将黑色数据提供至子像素来使被感测为具有所述正常亮点的子像素变暗,其中在所述正常亮点中感测到的阈值电压小于所述最小阈值电压。
[0017]所述亮点评估器可评估和感测被预期为随着驱动时间的过去由于微小短路而具有渐进亮点的子像素,其中所述微小短路是由于颗粒而在高电位电压的供给线和所述驱动晶体管的栅极节点之间引起的。
[0018]根据本发明的实施方式,提供一种驱动OLED显示装置的方法,所述方法包括以下步骤:感测与根据驱动晶体管的截止驱动电压而产生的漏电流对应的电压,其中所述驱动晶体管用于驱动每个子像素中的发光元件;通过将感测的电压与基准值进行比较来评估子像素的渐进亮点;和暗化和校正被预期为具有所述渐进亮点的子像素。
【附图说明】
[0019]被包括用来提供对本发明的进一步理解并且并入本申请且构成本申请的一部分的附图图解了本发明的实施方式,并与说明书一起用于解释本发明的原理。在附图中:
[0020]图1是图解在根据本发明的OLED显示装置中,具有渐进亮点缺陷的子像素的一个实例的等效电路图;
[0021]图2是图解由于图1中所示的驱动晶体管的微小短路缺陷导致的电压对电流的变化特性的曲线图;
[0022]图3是图解根据本发明的实施方式的能够评估、感测和校正渐进亮点的OLED显示装置的一部分的等效电路图;
[0023]图4是图解用于感测图3中所示的OLED显示装置的漏电流的驱动波形的示意图;
[0024]图5A、5B、5C和是依次图解图3中所示的子像素的漏电流感测过程的示图;
[0025]图6A、6B、7A、7B、8A和8B是图解在根据本发明的实施方式的OLED显示装置中,通过根据驱动晶体管的微小短路的电阻值来感测漏电流得到的模拟结果的示图;
[0026]图9是示意性地图解根据本发明的实施方式的OLED显示装置的框图;以及
[0027]图10是分步骤图解根据本发明的实施方式的评估、感测和校正OLED显示装置的渐进亮点的方法的流程图。
【具体实施方式】
[0028]在描述本发明的优选实施方式之前,将对由微小短路导致渐进亮点缺陷的原因进行说明。
[0029]图1是图解在根据本发明的OLED显示装置中预期具有渐进亮点缺陷的子像素的一个实例的等效电路图,图2是图解相对于图1中所示的驱动晶体管的驱动电压的电流变化特性的曲线图。
[0030]图1中所示的子像素SP包括OLED元件和用来独立地驱动OLED元件的像素电路,像素电路包括第一开关晶体管STl及第二开关晶体管ST2、驱动晶体管DT和存储电容器Cst0
[0031]第一开关晶体管STl根据一条栅极线的扫描信号SC将来自数据线的数据电压Vdata提供至驱动晶体管DT的栅极节点NI。
[0032]第二开关晶体管ST2根据另一条栅极线的感测控制信号SE将来自基准线RL的基准电压Vref提供至驱动晶体管DT的源极节点N2。第二开关晶体管ST2更频繁地用作根据感测模式中的感测控制信号SE来将电流从驱动晶体管DT输出至基准线RL的路径。
[0033]存储电容器Cst由电压差Vdata-Vref充电,电压差Vdata-Vref是从通过第一开关晶体管STl提供至栅极节点NI的数据电压Vdata中减去通过第二开关晶体管ST2提供至源极节点N2的基准电压Vref得到的,以提供电压差作为驱动晶体管DT的驱动电压Vgs。
[0034]驱动晶体管DT根据对存储电容器Cst进行充电的驱动电压Vgs控制从高电位电压EVDD的供给线提供的电流,以将与驱动电
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