。
[0042]具体地，所述阈值温度可根据AMOLED显示面板2的型号、驱动电路构成、及驱动电路内各元件的材料、特性等因素来确定，若通过温度侦测模块3测得的AMOLED显示面板2某一显示区域的温度超过了该阈值温度，则说明该AMOLED显示面板2内存在短路及微短路的问题，从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板2，防止其流向后端的装配制程。
[0043]进一步地，为了提高AMOLED显示面板的产品良率，本发明的AMOLED显示面板检测方法还包括:
[0044]步骤6、通过所述阻抗检测模块4对被拦截的AMOLED显示面板2中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置。
[0045]由于该步骤6仅对由之前步骤所拦截的AMOLED显示面板2中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，即对确定出现了现短路及微短路问题的显示区域做阻抗检测，针对性强，能够缩短阻抗检测时间，较快速地找出该被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置。
[0046]以及步骤7、通过激光(Laser)对被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置进行修复。
[0047]具体地，该步骤7先将出现短路及微短路的信号走线进行激光熔断，再将其与对应的修复线路进行激光熔接即可实现修复，使得AMOLED显示面板恢复正常，提高产品良率。
[0048]基于同一发明构思，本发明还提供一种AMOLED显示面板检测装置。如图3所示，本发明的AMOLED显示面板检测装置包括检测信号产生模块1、与所述检测信号产生模块I电性连接的AMOLED显示面板2、与所述AMOLED显示面板2电性连接的温度侦测模块3、及与所述AMOLED显示面板2电性连接的阻抗检测模块4。其中，所述温度侦测模块3优选为热像仪。
[0049]具体地，所述检测信号产生模块I用于向AMOLED显示面板2输出电源正电压0VDD、电源负电压0VSS、检测用数据信号Data、以及检测用扫描信号Gate，对所述AMOLED显示面板2进行控制。
[0050]所述AMOLED显示面板2用于显示测试画面，其设置有对应于各个信号的测试用接线端子，分别负责接收所述检测信号产生模块I向AMOLED显示面板2输出的电源正电压0VDD、电源负电压0VSS、检测用数据信号Data、以及检测用扫描信号Gate。
[0051]所述温度侦测模块3用于在AMOLED显示面板2持续显示纯白色画面时拍摄并记录AMOLED显示面板2各显示区域的温度，若通过所述温度侦测模块3测得的AMOLED显示面板2某一显示区域的温度超过了设定的阈值温度，则说明该AMOLED显示面板2内存在短路及微短路的问题，需要对该AMOLED显示面板2进行拦截，防止其流向后端的装配制程。
[0052]所述阻抗检测模块4用于对被拦截的AMOLED显示面板2中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置，以便于对短路及微短路的位置进行准确修复。
[0053 ]进一步地，本发明的AMOLED显示面板检测装置的工作过程为:
[0054]首先，所述检测信号产生模块I向AMOLED显示面板2输出各个信号，控制所述AMOLED显示面板2显示测试画面，由技术人员对测试画面进行常规检测，即通过目视或利用影像撷取设备来观察测试画面，若发现亮点、亮线则表明该AMOLED显示面板2存在点、线缺陷。
[0055]完成对测试画面的常规检测后，所述检测信号产生模块I控制所述AMOLED显示面板2持续显示纯白色画面10分钟左右，同时通过所述温度侦测模块3拍摄并记录AMOLED显示面板2各显示区域的温度。
[0056]接下来，根据AMOLED显示面板2的型号、驱动电路构成、及驱动电路内各元件的材料、特性等因素来设定一阈值温度，若通过温度侦测模块3测得的AMOLED显示面板2某一显示区域的温度超过了该阈值温度，则说明该AMOLED显示面板2内存在短路及微短路的问题，那么对该AMOLED显示面板2进行拦截，防止其流向后端的装配制程。
[0057]最后，所述阻抗检测模块4针对被拦截的AMOLED显示面板2中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，快速找出该被拦截的AMOLED显示面板2中出现短路及微短路的位置，为后续的激光修复提供位置依据，提高产品良率。
[0058]综上所述，本发明的AMOLED面板检测方法及检测装置，通过设置温度侦测模块拍摄并记录AMOLED显示面板各显示区域的温度，当该温度侦测模块侦测到AMOLED显示面板某一显示区域的温度超过设定的阈值温度时则说明该AMOLED显示面板内存在短路及微短路的状况，从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板，防止其流向后端的装配制程;进一步通过设置阻抗检测模块来对被拦截的AMOLED显示面板中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板中出现短路及微短路的位置，以进行准确的修复，提高面板良率。
[0059]以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明后附的权利要求的保护范围。
【主权项】
1.一种AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，包括以下步骤: 步骤1、提供AMOLED显示面板检测装置； 所述AMOLED显示面板检测装置至少包括检测信号产生模块(I)、与所述检测信号产生模块(I)电性连接的AMOLED显示面板(2)、及与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的温度侦测丰旲块(3)； 步骤2、所述检测信号产生模块(I)向AMOLED显示面板(2)输出电源正电压(0VDD)、电源负电压(OVSS)、检测用数据信号(Data)、以及检测用扫描信号(Gate)，控制所述AMOLED显示面板(2)显示测试画面； 步骤3、检测AMOLED显示面板(2)是否存在亮点、与亮线缺陷； 步骤4、所述检测信号产生模块(I)控制所述AMOLED显示面板(2)持续显示纯白色画面，同时通过所述温度侦测模块(3)拍摄并记录AMOLED显示面板(2)各显示区域的温度； 步骤5、设定阈值温度，对任一显示区域温度超过该阈值温度的AMOLED显示面板(2)进行拦截。2.如权利要求1所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，所述温度侦测模块(3)为热像仪。3.如权利要求1或2所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，步骤4中所述AMOLED显示面板(2)持续显示纯白色画面的时间为10分钟。4.如权利要求1所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，所述步骤I中的AMOLED显示面板检测装置还包括与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的阻抗检测模块(4)。5.如权利要求4所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，还包括步骤6、通过所述阻抗检测模块(4)对被拦截的AMOLED显示面板(2)中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板(2)中出现短路及微短路的位置。6.如权利要求5所述的AMOLED显示面板检测方法，其特征在于，还包括步骤7、通过激光对被拦截的AMOLED显示面板(2)中出现短路及微短路的位置进行修复。7.一种AMOLED显示面板检测装置，其特征在于，至少包括检测信号产生模块(I)、与所述检测信号产生模块(I)电性连接的AMOLED显示面板(2)、及与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的温度侦测模块(3)。8.如权利要求7所述的AMOLED显示面板检测装置，其特征在于，所述温度侦测模块(3)为热像仪。9.如权利要求7所述的AMOLED显示面板检测装置，其特征在于，还包括与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的阻抗检测模块(4)。
【专利摘要】本发明提供一种AMOLED面板检测方法及检测装置，通过设置温度侦测模块(3)拍摄并记录AMOLED显示面板(2)各显示区域的温度，当该温度侦测模块(3)侦测到AMOLED显示面板(2)某一显示区域的温度超过设定的阈值温度时则说明该AMOLED显示面板(2)内存在短路及微短路的状况，从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板(2)，防止其流向后端的装配制程；进一步通过设置阻抗检测模块(4)来对被拦截的AMOLED显示面板(2)中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测，找出该被拦截的AMOLED显示面板(2)中出现短路及微短路的位置，以进行准确的修复，提高面板良率。
【IPC分类】G09G3/00
【公开号】CN105679219
【申请号】CN201610178387
【发明人】王振岭, 黄泰钧
【申请人】深圳市华星光电技术有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年3月25日