包含用于tft测试的虚设显示元件的显示设备的制造方法

文档序号:10517916阅读:513来源:国知局
包含用于tft测试的虚设显示元件的显示设备的制造方法
【专利摘要】本发明提供用于包含虚设显示元件的显示设备的系统、方法及设备,所述虚设显示元件可在耦合到测试总线及耦合到驱动总线之间切换。当连接到所述驱动总线时,所述虚设显示元件的包含薄膜晶体管的电路组件经历暴露于典型操作信号下。当连接到所述测试总线时,所述显示设备可测试所述虚设显示元件电路组件的操作参数。
【专利说明】
包含用于TFT测试的虚设显示元件的显示设备
[0001 ] 相关申请案的交叉参考
[0002] 本专利申请案主张2014年12月30日申请的题为"包含用于薄膜晶体管测试的虚设 显不元件的显不设备(Display Apparatus Including Dummy Display Element For TFT Testing)"的第14/586,644号美国专利申请案的优先权,所述美国专利申请案为2014年6月 4日申请的题为"包含用于薄膜晶体管测试的虚设显示元件的显示设备(Display Apparatus Including Dummy Display Element For TFT Testing)"的第14/295,493号美 国非临时专利申请案的部分接续申请案,所述美国非临时专利申请案主张2014年1月3申请 的题为"包含用于薄膜晶体管测试的虚设显示元件的显示设备(Display Apparatus Including Dummy Display Element For TFT Testing)"的第61/923,323号美国临时专利 申请案的优先权。前述申请案中的每一者让与给本发明的同一受让人,且以引用的方式并 入本文中。
技术领域
[0003] 本发明涉及成像显示器领域,且尤其涉及用于测试像素电路组件的系统及方法。
【背景技术】
[0004] 机电系统(Electromechanical system,EMS)装置包含具有电及机械元件(例如, 致动器、光学组件(例如,镜面、快门及/或光学膜层)及电子装置)的装置。EMS装置可以多种 尺度来制造,包含(但不限于)微尺度及纳米尺度。举例来说,微机电系统 (microelectromechanical systems,MEMS)装置可包含具有范围为约一微米到数百微米或 更大的大小的结构。纳米机电系统(NEMS)装置可包含具有小于一微米的大小(例如,包含小 于数百纳米的大小)的结构。可使用沉积、蚀刻、光刻及/或蚀刻掉所沉积材料层的部分或添 加层以形成电及机电装置的其它微机械加工过程来创造机电元件。
[0005] 已提议基于EMS的显示设备,所述显示设备包含选择性地将光阻挡组件移动穿过 贯穿光阻挡层界定的孔隙进入及离开光学路径来调制光的显示元件。进行此操作使得来自 背光的光选择性地通过或反射来自环境或前光的光以形成图像。

【发明内容】

[0006] 本发明的系统、方法及装置各自具有若干创新方面,其中无单一者单独负责本文 中所揭示的合乎需要的属性。
[0007] 本发明中所描述的标的物的创新方面可在一种设备中实施。所述设备包含:图像 形成显示元件阵列,其跨越显示器的观看区布置;虚设显示元件,其定位于所述观看区外 部;驱动总线,其能够将驱动及控制信号输出到所述图像形成显示元件及所述虚设显示元 件;测试总线,其能够将测试信号输出到虚设显示元件像素电路;及一组开关。所述图像形 成显示元件中的每一者具有能够控制其相应图像形成显示元件的状态的相关联的图像形 成显示元件像素电路。所述虚设显示元件具有大体上类似于所述图像形成显示元件像素电 路中的每一者的虚设显示元件像素电路。所述虚设显示元件像素电路能够控制所述虚设显 示元件的状态且能够允许进行对包含于所述虚设显示元件像素电路中的多个薄膜晶体管 (TFT)的测试。所述组开关能够在第一切换配置中将所述虚设显示元件像素电路内的互连 件连接于所述驱动总线中的互连件之间以将所述虚设显示元件像素电路暴露于电信号,所 述电信号大体上类似于所述图像形成显示元件像素电路所经历的那些电信号。所述组开关 也能够在第二切换配置中将所述虚设显示元件像素电路内的互连件连接到所述测试总线 内的互连件以测量所述虚设显示元件像素电路中的所述多个TFT中的第一 TFT的一或多个 操作参数。在第三切换配置中,所述组开关能够将所述虚设显示元件像素电路内的互连件 连接到所述测试总线内的互连件以测量所述虚设显示元件像素电路中的所述多个TFT中的 第二TFT的一或多个操作参数。
[0008] 在一些实施方案中,所述组开关能够在多个额外配置中将所述虚设显示元件像素 电路互连件耦合到所述测试总线内的互连件以用于测试所述虚设显示元件像素电路中的 所述多个TFT的剩余部分中的每一者。在一些实施方案中,所述开关能够接通受测试TFT的 栅极端子与所述测试总线之间的所述虚设显示元件像素电路中的所有TFT。在一些实施方 案中,所述开关进一步能够接通所述虚设显示元件像素电路中的TFT,所述TFT足以在所述 受测试TFT的所述端子与所述测试总线的相应互连件之间形成电路径,且能够将所述受测 试TFT的所述端子与所述驱动总线的互连件电隔离。
[0009] 在一些实施方案中,所述设备也包含包括TFT评估电路,所述TFT评估电路能够确 定所述虚设显示元件像素电路中的受测试TFT的阈值电压,且所述一或多个所测量的操作 参数包含所述阈值电压。在一些实施方案中,所述设备也包含TFT评估电路,所述TFT评估电 路能够确定待施加到受测试TFT的足以造成通过所述受测试TFT的经配置电流电平的栅极 电压。在一些实施方案中,所述设备进一步包含控制器,所述控制器经配置以基于所述所确 定的阈值电压修改所述设备的操作电压。
[0010] 在一些实施方案中,所述设备包含包括耦合到数/模转换器的逐次近似寄存器。所 述数/模转换器的输出耦合到所述测试总线的栅极电压互连件,且所述逐次近似寄存器及 所述数/模转换器能够经由所述栅极电压互连件将一组递增地调整的电压施加到受测试 TFT的栅极端子。
[0011] 在一些实施方案中,所述设备可包含显示器、处理器及存储器装置。所述显示器包 含所述图像形成显示元件阵列及所述虚设显示元件。所述处理器可经配置以与所述显示器 通信且处理图像数据。所述存储器装置可经配置以与所述处理器通信。在一些实施方案中, 所述设备也可包含驱动器电路及控制器。所述驱动器电路可经配置以将至少一信号发送到 所述显示器。所述控制器可经配置以将所述图像数据的至少一部分发送到所述驱动器电 路。在一些实施方案中,所述设备包含可经配置以将所述图像数据发送到所述处理器的图 像源模块。所述图像源模块可包含接收器、收发器及发射器中的至少一者。在一些实施方案 中,所述设备可包含输入装置。所述输入装置可经配置以接收输入数据及将所述输入数据 传达到所述处理器。
[0012]本发明中所描述的标的物的另一创新方面可在一种设备中实施。所述设备包含跨 越显示器的观看区布置的图像形成显示元件阵列。所述图像形成显示元件中的每一者具有 能够控制其相应图像形成显示元件的状态的相关联的图像形成显示元件像素电路。所述设 备也包含定位于所述观看区外部的虚设显示元件。所述虚设显示元件具有大体上类似于所 述图像形成显示元件像素电路中的每一者的虚设显示元件像素电路。所述虚设显示元件像 素电路能够控制所述虚设显示元件的状态且允许进行对包含于所述虚设显示元件像素电 路中的多个薄膜晶体管(TFT)的测试。所述设备进一步包含:驱动信号传达装置,其用于将 驱动及控制信号输出到所述图像形成显示元件及所述虚设显示元件;及测试信号传达装 置,其用于将测试信号输出到所述虚设显示元件像素电路。所述设备进一步包含切换装置, 其用于在多个配置中选择性地将所述虚设显示元件像素电路的部分互连到所述驱动信号 传达装置及所述测试信号传达装置的部分。在第一配置中,所述切换装置将所述虚设显示 元件像素电路的部分连接到所述驱动信号传达装置的部分以将所述虚设显示元件像素电 路暴露于大体上类似于所述图像形成显示元件像素电路所经历的那些信号的信号。在第二 配置中,所述切换装置将所述虚设显示元件像素电路的部分连接到所述测试信号传达装置 的部分以测量所述虚设显示元件像素电路中的所述多个TFT中的第一 TFT的一或多个操作 参数。在第三切换配置中,所述切换装置将所述虚设显示元件像素电路的部分连接到所述 测试信号传达装置的部分以测量所述虚设显示元件像素电路中的所述多个TFT中的第二 TFT的一或多个操作参数。
[0013] 在一些实施方案中,所述切换装置能够在足够数目个配置中将所述测试信号传达 装置的部分连接到所述虚设显示元件像素电路的部分以测试所述虚设显示元件像素电路 中的所述多个TFT的剩余部分中的每一者。在一些实施方案中,所述切换装置能够隔离受测 试TFT以用于进行测试。
[0014] 在一些实施方案中,所述设备包含TFT评估装置,其用于评估所述虚设显示元件像 素电路中的受测试TFT的操作参数。在一些实施方案中,所述TFT评估装置能够确定所述受 测试TFT的阈值电压。在一些实施方案中,所述TFT评估装置能够确定待施加到所述受测试 TFT的足以造成通过所述受测试TFT的经配置电流电平的栅极电压。在一些实施方案中,所 述设备进一步包含操作电压调节装置,其用于基于所述受测试TFT的所述所确定的阈值电 压更新所述设备的操作电压。
[0015] 本发明中所描述的标的物的另一创新方面可在一种测试显示器的方法中实施。所 述方法包含通过经由第一信号总线将一组驱动信号施加到多个显示元件像素电路而在显 示设备上显示多个图像。所述方法也包含经由所述第一信号总线将用以显示所述多个图像 的所述驱动信号的子集施加到虚设显示元件像素电路,所述虚设显示元件像素电路大体上 与所述显示元件像素电路相同。所述方法进一步包含操作一组开关以在第一连接配置中将 所述虚设显示元件像素电路与所述第一信号总线解耦及将所述虚设显示元件像素电路耦 合到第二信号总线。经由具有所述第一连接配置的所述第二信号总线将第一组测试信号施 加到所述虚设显示元件像素电路的部分,以测试包含于所述虚设显示元件像素电路中的多 个薄膜晶体管(TFT)中的第一 TFT的操作参数。所述方法进一步包含操作所述组开关以在第 二连接配置中将所述虚设显示元件像素电路的部分连接到所述第二信号总线,经由具有所 述第二连接配置的所述第二信号总线将第二组测试信号施加到所述虚设显示元件像素电 路的部分以测试所述虚设显示元件像素电路的第二TFT的操作参数。
[0016] 在一些实施方案中,所述方法包含操作所述组开关及施加额外组测试信号以测试 所述虚设显示元件像素电路中的TFT的剩余部分中的每一者的操作参数。在一些实施方案 中,测试所述第一TFT及所述第二TFT的操作参数包含确定所述相应TFT中的每一者的阈值 电压。在一些实施方案中,所述方法进一步包含基于所述所确定的阈值电压更新所述显示 器的至少一操作电压。
[0017] 本说明书中所描述的标的物的一或多个实施方案的细节在随附图式及以下描述 中阐明。尽管此
【发明内容】
中所提供的实例主要是依据基于MEMS的显示器来描述,但本文中 所提供的概念可应用于其它类型的显示器(例如,液晶显示器(LCD)、有机发光二极管 (0LED)显示器、电泳显示器及场发射显示器)以及其它非显示器MEMS装置(例如,MEMS麦克 风、传感器及光学开关)。其它特征、方面及优点将从所述描述、所述图式及权利要求书变得 显而易见。应注意,以下各图的相对尺寸可能未按比例绘制。
【附图说明】
[0018] 图1A展示基于微机电系统(MEMS)的实例直观式显示设备的示意图。
[0019]图1B展示实例主机装置的框图。
[0020]图2A及2B展示实例双致动器快门组合件的视图。
[0021]图3展示实例像素电路的一部分。
[0022]图4展示实例帧寻址及显示元件致动方法的流程图。
[0023]图5展示施加到像素电路的各种互连件的实例电压的时序图。
[0024]图6展示包含虚设显示元件的显示设备的部分的框图。
[0025]图7展示图6中所展示的驱动芯片及虚设显示元件的部分的展开图。
[0026]图8A到8E展示由图7中所展示的开关的各种配置产生的实例电路图,所述电路图 用以测试虚设显示元件像素电路中的五个TFT中的每一者。
[0027]图9展示实例TFT评估电路。
[0028]图10展示用于使用图8E中所展示的测量电路测量Ml晶体管的操作参数的实例测 量电路。
[0029]图11展示用于调节显示设备的操作电压的过程的实例流程图。
[0030]图12A及12B展示包含多个显示元件的实例显示装置的系统框图。
[0031]各种图式中的相似参考数字及名称指示相似元件。
【具体实施方式】
[0032]以下描述涉及出于描述本发明的创新方面的目的的某些实施方案。然而,所属领 域的一般技术人员将容易认识到,本文中的教示可以许多不同方式来应用。所描述的实施 方案可在可能能够显示图像(无论为运动的(例如,视频)还是固定的(例如,静止图像),且 无论为文字的、图形的还是图片的)的任何装置、设备或系统中实施。更确切地说,预期所描 述实施方案可包含于例如(但不限于)以下各者的多种电子装置中或与所述电子装置相关 联:移动电话、具备多媒体因特网功能的蜂窝式电话、移动电视接收器、无线装置、智能电 话、Bluetooth?装置、个人数据助理(PDA)、无线电子邮件接收器、手持型或便携式计算机、 上网本、笔记型计算机、智能本、平板计算机、打印机、复印机、扫描仪、传真装置、全球定位 系统(GPS)接收器/导航器、相机、数字媒体播放器(例如,MP3播放器)、摄录影机、游戏控制 台、腕表、时钟、计算器、电视监视器、平板显示器、电子阅读装置(例如,电子阅读器)、计算 机监视器、汽车显示器(包含里程表及速度计显示器等)、座舱控制器及/或显示器、相机景 观显示器(例如,车辆中的后视相机的显示器)、电子相片、电子广告牌或标识、投影仪、建筑 结构、微波炉、冰箱、立体声系统、匣式录音机或播放器、DVD播放器、CD播放器、VCR、收音机、 便携式存储器芯片、洗衣机、干燥器、洗衣机/干燥器、停车仪、封装(例如,包含微机电系统 (MEMS)应用的机电系统(EMS)应用中,以及非EMS应用)、美学结构(例如,关于一件珠宝或服 装的图像的显示)及多种EMS装置。本文中的教示也可用于非显示器应用中,例如(但不限 于)电子切换装置、射频滤波器、传感器、加速度计、回转仪、运动传感装置、磁力计、用于消 费型电子装置的惯性组件、消费型电子装置产品的零件、可变电抗器、液晶装置、电泳装置、 驱动方案、制造过程及电子测试设备。因此,教示并不意欲仅仅限于图中所描绘的实施方 案,而实际上具有广泛适用性,如所属领域的一般技术人员将容易显而易见。
[0033]在使用薄膜晶体管(TFT)建置的一些显示器中,TFT的例如阈值电压及增益等操作 参数可随时间及在不同操作条件下改变。为了适应此些改变以随时间而维持可靠操作,能 够在显示器TFT的寿命内监视显示器TFT的操作参数可为有用的。为了考虑此监视,可在显 示器中包含一或多个虚设显示元件。所述虚设显示元件具有大体上类似于用以在显示器上 形成图像的显示元件的像素电路架构的像素电路架构。
[0034] 显示器可接着在耦合到驱动总线及测试总线之间切换虚设显示元件像素电路。当 耦合到驱动总线时,虚设显示元件像素电路的TFT暴露于与图像形成显示元件相同的电信 号。在正常操作期间,虚设显示元件像素电路耦合到驱动总线,使得其TFT经历类似于显示 器的其它像素电路中的TFT的驱动信号的驱动信号。当耦合到测试总线时,显示器可测试虚 设显示元件像素电路内的TFT的操作参数。在一些实施方案中,虚设显示元件像素电路可在 多种配置中连接到测试总线以使得可个别地测试所述TFT中的每一者。在一些实施方案中, 可在显示器的每一次启动时测试所述TFT。在一些实施方案中,可响应于某一其它调度、时 序或测试触发方案而测试所述TFT。
[0035] 可接着将所收集的关于TFT操作参数的数据发送到显示控制器。显示控制器可接 着使用信息调整驱动信号参数以用于控制图像形成显示元件像素电路。举例来说,显示控 制器可调整施加到包含于图像形成显示元件像素电路中的各种TFT的栅极的电压。另外,显 示控制器可调整施加到一或多个更新互连件、数据互连件或两者的电压。在一些实施方案 中,可用算术方法确定所述调整中的某些调整。在一些实施方案中,可参考查找表(LUT)进 行所述调整中的某些调整。
[0036] 图1A展示基于MEMS的实例直观式显示设备100的示意图。显示设备100包含以行及 列布置的多个光调制器l〇2a到102d(大体上光调制器102)。在显示设备100中,光调制器 102a及102d在打开状态下,从而允许光通过。光调制器102b及102c在闭合状态下,从而阻碍 光的通过。如果通过一或多个灯105照射,那么通过选择性设定光调制器102a到102d的状 态,显示设备100可用以形成用于背光显示的图像104。在另一实施方案中,设备100可通过 反射源自设备的前部的环境光而形成图像。在另一实施方案中,设备100可通过反射来自定 位于显示器前部的一或多个灯的光(即,通过使用前光)而形成图像。
[0037] 在一些实施方案中,每一光调制器102对应于图像104中的像素 106。在一些其它实 施方案中,显示设备100可利用多个光调制器来形成图像104中的像素 106。举例来说,显示 设备100可包含三个色彩特定光调制器102。通过选择性地打开对应于特定像素 106的色彩 特定光调制器102中的一或多者,显示设备100可产生图像104中的色彩像素106。在另一实 例中,显示设备100对于每一像素106包含两个或两个以上光调制器102以提供图像104中的 明度级别。关于图像,像素对应于通过图像的分辨率界定的最小像元。关于显示设备100的 结构组件,术语像素是指用以调制形成图像的单一像素的光的组合式机械与电组件。
[0038] 显示设备100为直观式显示器,这是因为所述显示设备可能不包含通常可见于投 影应用中的成像光学装置。在投影显示器中,形成于显示设备的表面上的图像被投影到屏 幕上或投影到墙壁上。显示设备大体上小于所投影图像。在直观式显示器中,用户可通过直 接查看显示设备而看见图像,显示设备含有光调制器及视情况含有用于增强在显示器上所 见的亮度及/或对比度的背光或前光。
[0039] 直观式显示器可以透射或反射模式来操作。在透射性显示器中,光调制器过滤或 选择性地阻挡源自定位于显示器后方的一或多个灯的光。来自灯的光视情况而注入到光导 或背光中,使得每一像素可得到均匀照射。透射性直观式显示器常常建置到透明或玻璃衬 底上以促进含有光调制器的一衬底定位于背光之上的夹层组合件布置。
[0040] 每一光调制器102可包含快门108及孔隙109。为了照射图像104中的像素106,快门 108经定位以使得其允许光通过孔隙109。为了保持像素106未被照亮,快门108经定位以使 得其阻碍光通过孔隙109。孔隙109是通过贯穿每一光调制器102中的反射性或光吸收材料 而图案化的开口界定。
[0041] 显示设备也包含耦合到衬底及光调制器以用于控制快门的移动的控制矩阵。控制 矩阵包含一系列电互连件(例如,互连件110、112及114),所述互连件包含每行像素至少一 个写入启用互连件11〇(也被称作扫描线互连件)、用于每一列像素的一数据互连件112,及 将共同电压提供到所有像素或至少提供到来自显示设备100中的多个列及多个行两者的像 素的一共同互连件114。响应于适当电压(写入启用电压,V WE)的施加,用于给定行像素的写 入启用互连件110使所述行中的像素准备好接受新的快门移动指令。数据互连件112按数据 电压脉冲的形式传达新移动指令。在一些实施方案中,施加到数据互连件112的数据电压脉 冲直接对快门的静电移动有贡献。在一些其它实施方案中,数据电压脉冲控制到光调制器 102的开关,例如控制单独致动电压的施加的晶体管或其它非线性电路元件,单独致动电压 在量值上通常高于数据电压。此些致动电压的施加导致快门108的静电驱动移动。
[0042] 图1B展示实例主机装置120(即,蜂窝式电话、智能电话、PDA、MP3播放器、平板计算 机、电子阅读器、上网本、笔记型计算机、手表、可穿戴装置、膝上型计算机、电视机或其它电 子装置)的框图。主机装置120包含显示设备128(例如,图1A中所展示的显示设备100)、主机 处理器122、环境传感器124、用户输入模块126及电源。
[0043] 显示设备128包含多个扫描驱动器130(也被称作写入启用电压源)、多个数据驱动 器132(也被称作数据电压源)、控制器134、共同驱动器138、灯140到146、灯驱动器148及显 示元件阵列150(例如,图1A中所展示的光调制器102)。扫描驱动器130将写入启用电压施加 到扫描线互连件131。数据驱动器132将数据电压施加到数据互连件133。
[0044]在显示设备的一些实施方案中,数据驱动器132能够将模拟数据电压提供到显示 元件阵列150,尤其在图像的明度级别将以模拟方式导出的情况下。在模拟操作中,显示元 件经设计,使得当经由数据互连件133施加一系列中间电压时,在所得图像中产生一系列中 间明度级别。在一些其它实施方案中,数据驱动器132能够仅将一组减少(例如,2个、3个或4 个)的数字电压电平施加到数据互连件133。在显示元件为以快门为基础的光调制器(例如, 图1A中所展示的光调制器102)的实施方案中,此些电压电平经设计以按数字方式设定快门 108中的每一者的打开状态、闭合状态或其它离散状态。在一些实施方案中,驱动器能够在 模拟模式与数字模式之间切换。
[0045] 扫描驱动器130及数据驱动器132连接到数字控制器电路134(也被称作控制器 134)。控制器134以主要串联方式将按顺序组织的数据(在一些实施方案中,其可经预定、通 过行及通过图像帧进行分组)发送到数据驱动器132。数据驱动器132可包含串联到并联数 据转换器、电平移位及(对于一些应用)数/模电压转换器。
[0046] 显示设备视情况包含一组共同驱动器138,其也被称作共同电压源。在一些实施方 案中,共同驱动器138将DC共同电位提供到显示元件阵列150内的所有显示元件,例如,通过 将电压供应到一系列共同互连件139。在一些其它实施方案中,共同驱动器138遵循来自控 制器134的命令而将电压脉冲或信号发出到显示元件阵列150,例如,能够驱动及/或起始阵 列的多个行及列中的所有显示元件的同时致动的全局致动脉冲。
[0047]用于不同显示功能的驱动器(例如,扫描驱动器130、数据驱动器132及共同驱动器 138)中的每一者可通过控制器134而时间同步。来自控制器134的时序命令协调经由灯驱动 器148进行的红色、绿色、蓝色及白色灯(分别为140、142、144及146)的照射、显示元件阵列 150内的特定行的写入启用及定序、来自数据驱动器132的电压的输出,及提供用于显示元 件致动的电压的输出。在一些实施方案中,所述灯为发光二极管(LED)。
[0048] 控制器134确定显示元件中的每一者可经重新设定为适于新图像104的照射电平 的定序或寻址方案。可按周期性间隔设定新图像104。举例来说,对于视频显示,按范围为10 赫兹到300赫兹(Hz)的频率刷新视频的彩色图像或帧。在一些实施方案中,到显示元件阵列 150的图像帧的设定与灯140、142、144及146的照射同步,使得替代图像帧按色彩(例如,红 色、绿色、蓝色及白色)的交替系列照射。每一相应色彩的图像帧被称作彩色子帧。在此方法 (被称作场序色彩方法)中,如果彩色子帧以超过20Hz的频率交替,那么人类视觉系统(HVS) 将交替帧图像平均化成具有广泛及连续色彩范围的图像的感知。在一些其它实施方案中, 灯可使用除红色、绿色、蓝色及白色以外的原色。在一些实施方案中,可在显示设备128中使 用小于四个或大于四个具有原色的灯。
[0049] 在一些实施方案中,其中显示设备128经设计用于在打开状态与闭合状态之间进 行快门(例如,图1A中所展示的快门108)的数字切换,控制器134通过时分灰度的方法形成 图像。在一些其它实施方案中,显示设备128可经由使用每一像素多个显示元件提供灰度。
[0050] 在一些实施方案中,图像状态的数据是由控制器134通过个别行(也被称作扫描 线)的顺序寻址而加载到显示元件阵列150。对于序列中的每一行或扫描线,扫描驱动器130 将写入启用电压施加到用于显示元件阵列150的所述行的写入启用互连件131,且随后数据 驱动器132为阵列的选定行中的每一列供应对应于所要快门状态的数据电压。此寻址过程 可重复直到数据已加载用于显示元件阵列150中的所有行为止。在一些实施方案中,用于数 据加载的选定行的序列为线性的,显示元件阵列150中从顶部进行到底部。在一些其它实施 方案中,选定行的序列为伪随机的,以便减轻可能的视觉假影。且在一些其它实施方案中, 定序是通过块组织,其中,对于一块,用于图像的仅某一小部分的数据经加载到显示元件阵 列150。举例来说,序列可经实施以按顺序仅寻址显示元件阵列150的每五行。在一些实施方 案中,可使用双扫描或多扫描寻址架构同时寻址两个或两个以上行。
[0051]在一些实施方案中,用于将图像数据加载到显示元件阵列150的寻址过程与致动 显示元件的过程在时间上为分离的。在此实施方案中,显示元件阵列150可包含用于每一显 示元件的数据存储器元件,且控制矩阵可包含用于载运来自共同驱动器138的触发信号以 根据存储于存储器元件中的数据起始显示元件的同时致动的全局致动互连件。
[0052]在一些实施方案中,显示元件阵列150及控制所述显示元件的控制矩阵可按除矩 形行及列以外的配置来布置。举例来说,可按六边形阵列或曲线行及列来布置显示元件。 [0053] 主机处理器122大体上控制主机装置120的操作。举例来说,主机处理器122可为用 于控制便携式电子装置的通用或专用处理器。关于包含于主机装置120中的显示设备128, 主机处理器122输出图像数据以及关于主机装置120的额外数据。此信息可包含来自环境传 感器124 (例如,环境光或温度)的数据;关于主机装置120的信息(包含(例如)主机的操作模 式或主机装置的电源中剩余的电力量);关于图像数据的内容的信息;关于图像数据的类型 的信息;及/或用于显示设备128以用于选择成像模式的指令。
[0054]在一些实施方案中,用户输入模块126直接地或经由主机处理器122将用户的个人 偏好传送到控制器134。在一些实施方案中,通过软件来控制用户输入模块126,用户在软件 中编程个人偏好,例如色彩、对比度、功率、亮度及内容偏好。在一些其它实施方案中,使用 例如按钮、开关或拨号盘或具有触控能力的元件的硬件将此些偏好输入到主机装置120。到 控制器134的多个数据输入引导控制器将数据提供到对应于最佳成像特性的各种驱动器 130、132、138及148。
[0055]环境传感器模块124也可作为主机装置120的部分来包含。环境传感器模块124可 能能够接收关于周围环境的数据(例如,温度及或环境照明条件)。传感器模块124可经编程 以(例如)区分装置是否在室内或办公室环境中对比明亮白天中的室外环境对比夜间室外 环境操作。传感器模块124将此信息传达到显示控制器134,使得控制器134可响应于周围环 境而使观看条件最佳化。
[0056]图2A及2B展示实例双致动器快门组合件200的视图。如图2A中所描绘的双致动器 快门组合件200在打开状态中。图2B展示处于闭合状态下的双致动器快门组合件200。快门 组合件200包含在快门206的任一侧上的致动器202及204。每一致动器202及204经独立地控 制。第一致动器(快门打开致动器202)用以打开快门206。第二对置致动器(快门闭合致动器 204)用以闭合快门206。致动器202及204中的每一者可实施为顺应式横杆电极致动器。致动 器202及204通过大体上在平行于孔隙层207(快门悬浮于孔隙层之上)的平面中驱动快门 206来打开及闭合快门206。快门206通过附接到致动器202及204的锚定器208而悬浮于孔隙 层207之上的短距离处。致动器202及204沿其移动轴线附接到快门206的对置端减少快门 206的平面外运动并将运动大体上限于平行于衬底(未描绘)的平面。
[0057]在所描绘的实施方案中,快门206包含光可通过的两个快门孔隙212。孔隙层207包 含一组三个孔隙209。在图2A中,快门组合件200处于打开状态且,因而,快门打开致动器202 已经致动,快门闭合致动器204处于其松弛位置中,且两个快门孔隙212的中心线与孔隙层 孔隙209的其中两个中心线重叠。在图2B中,快门组合件200已移动到闭合状态且,因而,快 门打开致动器202处于其松弛位置中,快门闭合致动器204已经致动,且快门206的光阻挡部 分现处于适当位置中以阻挡光透射穿过孔隙209(描绘为虚线)。
[0058]围绕每一孔隙的周边至少有一边缘。举例来说,矩形孔隙209有四个边缘。在圆形、 椭圆形、卵形或其它曲线型孔隙形成于孔隙层207中的一些实施方案中,每一孔隙可仅具有 单一边缘。在一些其它实施方案中,孔隙不需要分离或在数学意义上不相交,而可改为连接 在一起。换句话说,虽然孔隙的部分或经塑形区段可维持与每一快门的对应性,但可连接此 些区段中的若干者以使得孔隙的单一连续周边由多个快门共享。
[0059]为了在打开状态时允许具有多种出射角的光通过孔隙212及209,快门孔隙212的 宽度或大小可经设计为大于孔隙层207中的孔隙209的对应宽度或大小。为了在闭合状态时 有效地阻挡光逸出,快门206的光阻挡部分可经设计为与孔隙209的边缘重叠。图2B展示重 叠区216,所述重叠区在一些实施方案中可为预定义的、在快门206中的光阻挡部分的边缘 与形成于孔隙层207中的孔隙209的一边缘之间。
[0060]静电致动器202及204经设计以使得其电压位移行为对快门组合件200提供双稳态 特性。对于快门打开致动器及快门闭合致动器中的每一者,存在低于致动电压的一系列电 压,其如果在所述致动器处于闭合状态(其中快门打开或闭合)时施加,那么将保持所述致 动器闭合且快门处于适当位置中,甚至在将致动电压施加到对置致动器后也是如此。抵抗 此反作用力而维持快门的位置所需的最小电压被称作维持电压V m。
[0061 ] 大体来说,静电致动器(例如,致动器202及204)中的电双稳定性起因于以下事实: 跨越致动器的静电力为位置以及电压的强函数。光调制器200中的致动器的横杆可经实施 以充当电容器板。电容器板之间的力与l/d2成比例,其中d为电容器板之间的局部分离距 离。当致动器处于闭合状态时,致动器横杆之间的局部分离极小。因此,小电压的施加可在 处于闭合状态的致动器的致动器横杆之间产生相对较强的力。因此,相对较小的电压(例 如,Vm)可保持致动器处于闭合状态,即使其它元件对致动器施加反作用力也是如此。
[0062] 在例如200的双致动器光调制器中,光调制器的平衡位置将通过跨越致动器中的 每一者的电压差的组合效果来确定。换句话说,考虑三个端子(即,快门打开驱动横杆、快门 闭合驱动横杆,及负载横杆)的电位以及调制器位置来确定调制器上的平衡力。
[0063]对于电双稳定系统,一组逻辑规则可描述稳定状态且可用以开发用于给定光调制 器的可靠寻址或数字控制方案。参考作为一实例的以快门为基础的光调制器200,此些逻辑 规则如下:
[0064 ]假定V s为快门或负载横杆上的电位。假定V 〇为快门打开驱动横杆上的电位。假定 Vc为快门闭合驱动横杆上的电位。假定表达式| Vo-Vs |是指快门与快门打开驱动横杆之间 的电压差的绝对值。假定Vm为维持电压。假定Vact为致动阈值电压,即,在不存在Vm到对置 驱动横杆的施加的情况下用以致动致动器的电压。假定Vmax为用于Vo及Vc的最大可允许电 位。假定
[0065] 如果 | Vo_Vs |〈Vm及 | Vc_Vs |〈Vm (规则 1)
[0066] 则快门将会松弛到其机械弹簧的平衡位置。
[0067] 如果 | Vo_Vs | >Vm及 | Vc_Vs | >Vm (规则2)
[0068] 则快门将不会移动,即,快门将保持处于打开或闭合状态,而无论哪个位置是通过 最后的致动事件建立。
[0069] 如果 |V〇-Vs|>Vact及 |Vc_Vs|〈Vm (规则3)
[0070] 则快门将会移动到打开位置。
[0071] 如果 |V〇-Vs|〈Vm及 |Vc-Vs|>Vact (规则4)
[0072] 贝lj快门将会移动到闭合位置。
[0073] 遵循规则1,在每一致动器上的电压差接近零时,快门将会松弛。在许多快门组合 件中,机械松弛位置仅部分地打开或闭合,且因此,在寻址方案中通常避免此电压状态。
[0074] 规则2的条件使得将全局致动功能包含于寻址方案中成为可能。通过维持提供至 少为维持电压Vm的横杆电压差的快门电压,可在宽电压范围内在寻址序列的中间变更或切 换快门打开电位及快门闭合电位的绝对值(甚至在电压差超过Vact的情况下),无无意快门 运动的风险。
[0075] 规则3及4的条件为大体上在寻址序列期间设定目标以确保快门的双稳定致动的 条件。
[0076] 可将维持电压差Vm设计或表达为致动阈值电压Vact的某一小部分。对于经设计用 于可用程度的双稳定性的系统,维持电压可存在于Vac t的约20 %及约80 %之间的范围内。 此情形有助于确保系统中的电荷泄漏或寄生电压波动不会导致经设定的保持电压偏离其 维持范围的偏差-可导致快门的无意致动的偏差。在一些系统中,可提供异常程度的双稳定 性或迟滞,其中Vm存在于Vact的约2%及约98 %的范围内。然而,在此些系统中,必须小心确 保可在可供使用的寻址及致动时间内可靠地获得I Vc-Vs |或| Vo-Vs |小于Vm的电极电压条 件。
[0077] 在一些实施方案中,每一光调制器的第一致动器及第二致动器耦合到锁存器或驱 动器电路以确保光调制器的第一状态及第二状态为光调制器可采用的仅有的两种稳定状 ??τ 〇
[0078] 图3展示实例像素电路500的一部分。像素电路500可经实施以用于在图1中所描绘 的显示设备100中用以控制显示元件阵列中的显示元件,显示元件阵列例如图2Α及2Β中所 展示的快门组合件200。紧接着在下文描述像素电路500的结构。此后将关于图4及5描述所 述像素电路的操作。
[0079]像素电路500包含扫描线互连件506,其耦合到显示设备100中的一行显示元件中 的每一显示元件的像素电路;及数据互连件508,其耦合到一列显示元件中的每一显示元件 的像素电路。扫描线互连件506经配置以允许将数据加载到像素电路中。数据互连件508经 配置以提供对应于待加载到像素电路中的数据的数据电压。另外,像素电路500包含预先充 电互连件510、致动电压互连件520、第一更新互连件532、第二更新互连件534及快门互连件 536(统称作"共同互连件")。此些共同互连件510、520、532、534及536在阵列中的多个行及 多个列中的像素电路当中共享。在一些实施方案中,共同互连件510、520、532、534及536在 显示设备100中的所有像素电路当中共享。
[0080]像素电路500也包含写入启用晶体管552及数据存储电容器554。写入启用晶体管 552的栅极耦合到扫描线互连件506以使得扫描线互连件506控制写入启用晶体管552。写入 启用晶体管552的源极耦合到数据互连件508且写入启用晶体管552的漏极耦合到数据存储 电容器554的第一端子及下文所描述的第一状态反相器511。数据存储电容器554的第二端 子耦合到快门互连件536。以此方式,当写入启用晶体管552经由由扫描线互连件506提供的 写入启用电压而接通时,由数据互连件508提供的数据电压通过写入启用晶体管552且存储 于数据存储电容器554中。接着使用所存储的数据电压将显示元件驱动到第一状态或第二 状态中的一者。
[0081]像素电路500也包含可在第一状态与第二状态之间进行驱动的双致动光调制器 502。光调制器502通过耦合到第一致动节点515的第一致动器而被驱动到第一状态,同时光 调制器502可通过耦合到第二致动节点525的第二致动器而被驱动到第二状态。像素电路 500包含第一状态反相器511及第二状态反相器521。第一状态反相器511控管第一致动节点 515处的电压且包含在第一致动节点515处耦合到第一放电晶体管514的第一充电晶体管 512。第二状态反相器521控管第二致动节点525处的电压且包含在第二致动节点525处耦合 到第二放电晶体管524的第二充电晶体管522。
[0082]第一充电晶体管512的栅极连接到预先充电互连件510,而第一充电晶体管512的 漏极连接到致动电压互连件520。第一充电晶体管512的源极在第一致动节点515处耦合到 第一放电晶体管514的漏极。第一放电晶体管514的栅极连接到写入启用晶体管552的漏极 及数据存储电容器554的一端。第一放电晶体管的源极耦合到第一更新互连件532。
[0083]第二充电晶体管522的栅极也连接到预先充电互连件510。第二充电晶体管522的 漏极连接到致动电压互连件520。第二充电晶体管522的源极在第二致动节点525处耦合到 第二放电晶体管524的漏极。第二放电晶体管524的栅极耦合到第一致动节点515。第二放电 晶体管524的源极耦合到第二更新互连件534。
[0084]第一更新互连件532连同存储于数据存储电容器554上的电压一起经由第一放电 晶体管514控制第一致动节点515处的电压。第二更新互连件534经由第二放电晶体管524控 制第二致动节点525处的电压。晶体管512、514、522、524及552中的每一者为11型薄膜^)5晶 体管。如上文所描述,仅由一种类型的晶体管形成的电路特别可用于更新的氧化铟镓锌 (IGZ0)(以及其它金属氧化物)制造过程中,尤其是难以建置p型晶体管的情况。替代地,可 将像素电路设计成具有全部P型晶体管。
[0085]图4展示实例帧寻址及显示元件致动方法600的流程图。方法600可用以(例如)操 作图4的像素电路500。帧寻址及显示元件致动方法600在四个一般阶段中进行。首先,在数 据加载阶段中针对每一显示元件加载用于显示器中的显示元件的数据电压(阶段652)。接 下来,在预先充电阶段中,将耦合到显示元件的致动节点充电(阶段654)。接下来,在更新阶 段中,修改预先加载于第一更新互连件及第二更新互连件上的电压,从而造成显示元件呈 现经更新的状态(阶段656)。当显示元件呈现经更新的状态时,在光启动阶段中启动光源 (阶段658)。
[0086]将参看图5中所描绘的时序图描述帧寻址及显示元件致动方法600的各种阶段的 细节。图5展不施加到像素电路的各种互连件的实例电压的时序图700。时序图700可用以 (例如)根据图4中所描绘的所述寻址及显示元件致动方法600操作图3的像素电路500。 [0087]详细地说,时序图700包含单独时序曲线图,所述曲线图指示在供像素电路500使 用的帧寻址及显示元件致动方法600的各种阶段期间的各种互连件处的电压。时序图700包 含:时序曲线702,其指示在数据互连件508处施加的电压;时序曲线704,其指示扫描线互连 件506处的电压;时序曲线706,其指示第二全局更新互连件534处的电压;时序曲线708,其 指示施加到预先充电互连件510的电压;时序曲线710,其指示施加到致动电压的电压;及时 序曲线712,其指示施加到第一全局更新互连件532的电压。
[0088]另外,将时序图700分成对应于第一状态的第一区740a及对应于第二状态的第二 区740b。第一区740a与第二区740b两者包含对应于图4中所展示的帧寻址及显示元件致动 方法600的各种阶段的部分。第一区740a及第二区740b中的每一者包含:对应于数据加载阶 段652的对应数据加载部分742a及742b;对应于预先充电阶段654的预先充电部分744a及 744b;对应于更新阶段656的更新部分746a及746b;及对应于光启动阶段658的启动部分 748a及748b。应了解,时序图并未按比例绘制且时序曲线图中的每一者的相对长度及宽度 并非既定指示特定电压或持续时间。此外,图5中所展示的电压电平仅用于说明性目的。所 属领域的技术人员应理解,可在不同实施方案中使用其它电压电平。
[0089]现参看参照图3中所描绘的像素电路500及图5中所描绘的时序图700进行的图4中 所描绘的帧寻址及显示元件致动方法600,数据加载阶段(阶段652)对应于时序图700的数 据加载部分742a及742b。帧寻址及显示元件致动方法600从用于寻址阵列的特定行中的显 示元件中的每一者的数据加载阶段(阶段652)开始。数据加载阶段(阶段652)继续施加对应 于显示元件的下一状态的数据电压(阶段660)。下一状态可为对应于透光状态的第一状态 或对应于光阻挡状态的第二状态。在一些实施方案中,较高的数据电压对应于第一状态。此 情形描绘于时序曲线702的部分742a中。在一些实施方案中,较低的数据电压对应于第二状 态。此情形描绘于时序曲线702的部分742b中。
[0090] 数据加载阶段(阶段652)接着继续将写入启用电压Vwe施加到对应于行的扫描线互 连件506(阶段662),以使得扫描线互连件506允许写入。写入启用电压V we到用于扫描允许行 的扫描线互连件506的施加接通所述行中的所有显示元件的写入启用晶体管(例如,写入启 用晶体管552)。
[0091] 当将写入启用电压施加到扫描线互连件506时(阶段662),造成将施加到数据互连 件508的数据电压Vd作为电荷存储于所选定显示元件的数据存储电容器554上。即,因为当 将数据电压Vd施加到数据互连件508时,写入启用晶体管552接通,所以数据电压Vd通过写入 启用晶体管552到数据存储电容器554,所述数据电压作为电荷加载或存储于所述数据存储 电容器上。
[0092] 可在写入启用的行中的显示元件中的每一者中同时执行加载数据的过程。以此方 式,像素电路500在给定行允许写入的同时选择性地将数据电压施加到像素电路500中的所 述行中的数列。一旦所述行中的所有显示元件经寻址,便移除施加到扫描线互连件506的写 入启用电压(阶段664)。在一些实施方案中,将扫描线互连件506接地或加偏压到低电平。此 情形描绘于时序曲线704的部分742a中。接着也将施加到数据互连件508的数据电压从数据 电压互连件508移除(阶段666)。如果施加到数据互连件508的数据电压高,那么此情形描绘 于时序曲线702的部分742a中,且相反地,如果施加到数据互连件508的数据电压低,那么此 情形描绘于时序曲线702的部分742b中。在一些其它实施方案中,在数据电压互连件508上 维持所述数据电压,直到施加下一数据电压为止。如果待施加到数据电压互连件的下一数 据电压(例如,针对显示器的下一行)相同,那么数据电压互连件上的电压无需改变,直到施 加一不同数据电压为止。接着针对像素电路500中的阵列的后续数行重复数据加载阶段(阶 段652)。在数据加载阶段(阶段652)结束时,所选定群组中的显示元件中的数据存储电容器 中的每一者含有适合于下一图像状态的设定的数据电压。在一些实施方案中,可使用双扫 描或多扫描寻址架构同时寻址多个行。
[0093]像素电路500接着继续进行预先充电阶段(阶段654),在预先充电阶段中,使第二 更新互连件534变为高预先充电电压(阶段670)。此情形描绘于时序曲线706的部分744a及 744b中。在一些实施方案中,预先充电电压在约12V到40V的范围内。在一些实施方案中,高 预先充电电压可对应于施加到致动电压互连件520的致动电压。在一些实施方案中,使第二 更新互连件534变为高预先充电电压,以使得第二放电晶体管524保持切断。在一些实施方 案中,可使第二更新互连件534变为足以保持第二放电晶体管524切断同时第一致动节点 515及第二致动节点525经预先充电的任何电压。
[0094]当使第二更新互连件534变为高预先充电电压时,使预先充电互连件510变为高预 先充电电压(阶段672)。在一些实施方案中,预先充电电压在约12V到40V的范围内。在一些 实施方案中,使预先充电互连件510变为对应于施加到第二更新互连件534的高致动电压的 预先充电电压。大体来说,能够接通第一充电晶体管512及第二充电晶体管522的预先充电 电压为足够的。此情形描绘于时序曲线708的部分744a及744b中。
[0095]当使预先充电互连件510变为高预先充电电压时,施加到致动电压互连件520的致 动电压造成第一致动节点515及第二致动节点525变为约所述致动电压。以此方式,第一致 动节点515及第二致动节点525据称"经预先充电"。在一些实施方案中,维持致动电压互连 件520处于对应于施加到预先充电互连件510的高预先充电电压的电压。在一些实施方案 中,最大致动电压可小于最大预先充电电压以考虑充电晶体管512及522的栅极及源极之间 的阈值降低。在一些实施方案中,维持致动电压互连件520处于约25V到40V。
[0096]当将第一致动节点515及第二致动节点525预先充电时,预先充电互连件510也变 为低电压(阶段674)。在一些实施方案中,使预先充电互连件510电压变为接地。在一些实施 方案中,预先充电互连件510在约10到30ys内保持处于高电压。在一些实施方案中,预先充 电互连件510在比30ys长的周期内保持处于高电压。此情形描绘于时序曲线708的部分744a 及744b中。
[0097]当将第一致动节点515及第二致动节点525预先充电时,像素电路500继续进行更 新阶段(阶段656)。在此阶段中,使第一更新互连件532变为低电压(阶段680)。在一些实施 方案中,使第一更新互连件532连接到接地。施加到第一更新互连件532的电压的改变描绘 于时序曲线712的部分746a及746b中。如果存储于数据存储电容器554上的数据电压为高 (对应于第一状态),那么当使第一更新互连件532变为低电压状态时,第一放电晶体管514 接通。因此,使第一致动节点515处的电压变为低电压。相反地,如果存储于数据存储电容器 554上的数据电压为低(对应于第二状态),那么当使第一更新互连件532变为低电压时,第 一放电晶体管514保持切断。因此,第一致动节点515处的电压保持处于高电压状态。
[0098]在使第一更新互连件532变为低电压(阶段680)之后,使第二更新互连件534变为 低电压(阶段682)。施加到第二更新互连件534的电压的改变描绘于时序曲线706的部分 746a及746b中。在一些实施方案中,使第二更新互连件534连接到接地。在一些实施方案中, 第二更新互连件534在足以供第一致动节点515响应于降低第一更新互连件532而安定的时 间内保持处于高电压。在一些实施方案中,低电压状态可对应于足以将第二放电晶体管524 从切断状态切换到接通状态的电压,其限制条件为第一致动节点515处于高电压状态。如果 使第一致动节点515变为对应于第一状态的低电压,那么当使第二更新互连件534变为低电 压时,第二放电晶体管524保持切断。因此,第二致动节点525处的电压保持处于高电压。相 反地,如果第一致动节点515保持处于对应于第二状态的高电压状态,那么当使第二更新互 连件534变为低电压状态时,第二放电晶体管524接通。因此,使第二致动节点525处的电压 变为低电压状态。以此方式,第一致动节点515处的电压与第二致动节点525处的电压为互 补的。这是因为第一状态反相器的输入及第二状态反相器的输入经配置以接收互补数据输 入。
[0099] 基于第一致动节点515及第二致动节点525处的相对电压状态,光调制器502呈现 第一状态或第二状态。在一些实施方案中,当第一致动节点515处于低电压状态而第二致动 节点525处于高电压状态时,光调制器502可呈现第一状态。相反地,当第一致动节点515处 于高电压状态,而第二致动节点525处于低电压状态时,光调制器502可呈现第二状态。在一 些实施方案中,光调制器502可包含快门。在此些实施方案中,在更新阶段656期间,快门可 保持处于先前状态或经致动以呈现新状态。
[0100] 一旦光调制器502的致动器稳定处于其所要状态,像素电路500便继续进行光启动 阶段658。光启动阶段继续使第一更新互连件532及第二更新互连件534变为保持电压(阶段 684)。保持电压通常经设定为处于或约为高数据电压的电压。以此方式,当像素电路500准 备好进行对应于下一状态的数据加载阶段时,第一放电晶体管514及第二放电晶体管524可 切断。在一些实施方案中,在光调制器502安定于对应于数据电压的状态之后,第二更新互 连件534变为保持电压状态。在一些实施方案中,当数据电压为低时,第二放电晶体管524可 保持处于接通,甚至在施加保持电压之后也是如此。在此些情况下保持第二放电晶体管524 接通可改进像素性能。
[0101]当使第一更新互连件532及第二更新互连件534变为保持电压状态时,像素电路 500继续启动一或多个光源(阶段686)。时序图700的光启动部分748a及748b对应于光启动 阶段(阶段658)。在光启动阶段期间,可保持施加到各种互连件的所有电压,如时序图700的 部分748a及748b中所描绘。当启动光源时(阶段686),可通过返回到数据加载阶段(阶段 652)而重复帧寻址及显示元件致动方法600。
[0102]图6展示包含虚设显示元件802的显示设备800的部分的框图。显示设备包含显示 元件804的阵列,包含虚设显示元件802及驱动芯片806。驱动芯片806经由由多个互连件形 成的控制矩阵親合到显示元件804中的每一者,包含虚设显示元件802,所述多个互连件包 含耦合到显示设备800的给定行中的所有显示元件的互连件、耦合到显示设备800的给定列 中的所有显示元件的互连件,及耦合到显示设备800的多个行及多个列中的显示元件的共 同互连件。
[0103] 如上文所指示,显示设备800包含显示元件804的阵列,包含虚设显示元件802。显 示元件804(而非虚设显示元件802)布置于形成显示设备800的观看区域808的数行及数列 中,图像经由所述观看区域形成以用于呈现给观看者。虚设显示元件802定位于此观看区域 808外部,例如,刚好在观看区域中在第一行或第一列显示元件804之前或在最后行或最后 列的显示元件804之后。在不同实施方案中,虚设显示元件802可定位于其它位置处。在一些 实施方案中,显示设备800包含集群在一起或位于环绕显示设备800的周边的变化的位置处 的多个虚设显示元件802。
[0104] 在一些实施方案中,显示元件804呈图2A及2B中所展示的快门组合件200的形式。 虚设显示元件802不同于显示设备800的观看区域808中的显示元件804,不同之处在于:不 管虚设显示元件802的状态,虚设显示元件802保持黑暗。此情形防止虚设显示元件调制光, 或阻挡虚设显示元件调制的任何光到达观看者。举例来说,在一些实施方案中,虚设显示元 件802形成于缺乏任何孔隙的光阻挡层的一部分之上,在虚设显示元件802之下以允许光通 过。替代地或另外,缺乏孔隙的光阻挡层的一部分可定位于虚设显示元件802的对置侧上, 从而大体上阻挡经过或通过虚设显示元件802的所有光离开显示器。
[0105]除了虚设显示元件802以外的显示元件804(即,可观看显示元件)的状态是通过相 应像素电路810来控制。在一些实施方案中,可观看显示元件像素电路810呈图3中所展示的 像素电路810的形式。虚设显示元件802的状态通过虚设像素电路812来控制。虚设像素电路 812大体上类似于可观看显示元件像素电路810,其中微小差异为允许对包含于虚设像素电 路812中的TFT中的每一者进行测试。下文将关于图7进一步论述虚设像素电路812的细节。 可观看显示元件像素电路810及虚设像素电路812形成显示设备800的控制矩阵的一部分。
[0106] 驱动芯片806经配置以不仅将控制及驱动信号提供到显示元件804,而且测试包含 于虚设测试显示元件802中的TFT的操作参数。为此,驱动芯片806包含两个内部总线:驱动 总线807及测试总线811。驱动总线将控制及驱动信号输出到耦合到显示设备的可观看显示 元件像素电路810(例如,如关于上文图7到8E所描述)以及耦合到虚设显示元件像素电路 812的行互连件、列互连件及共同互连件。在一些实施方案中,例如图6中所展示的实施方 案,虚设显示元件像素电路812可耦合到可观看显示元件804的像素电路810。在一些其它实 施方案中,虚设显示元件像素电路812与剩余像素电路810电隔离。测试总线811经配置以将 测试信号载运到虚设显示元件像素电路812。驱动芯片806中的测量电路(下文进一步描述) 测量并记录测试的结果且可将结果转递回到控制器芯片,例如图1B中所展示的控制器134。
[0107] 驱动芯片806也包含一组开关820。所述组开关820选择性地将通向虚设显示元件 802的互连件从耦合到驱动总线807连接为连接到测试总线811的互连件中的一者,且反之 亦然。如下文进一步描述,开关820经配置而能够将虚设显示元件互连件切换到耦合到测试 总线811互连件的各种组合,以使得可测试虚设显示元件像素电路812中的TFT中的每一者。 如图6中所展示,从驱动总线807及测试总线811输出的信号通过开关820,而不管其是经导 引到虚设显示元件像素电路812还是经导引到可观看显示元件像素电路810。在一些其它实 施方案中,仅经导引到虚设显示元件像素电路812的信号通过开关820,而可观看显示元件 像素电路810经由直接电连接或一组单独开关连接到驱动总线807。
[0108]图7展示图6中所展示的驱动芯片806及虚设显示元件802的部分的展开图。详细地 说,图7展示驱动总线807、测试总线811、开关820及虚设显示元件像素电路812。
[0109] 虚设显示元件像素电路812包含数据互连件902、致动互连件904、两个预先充电互 连件(预先充电1互连件906及预先充电2互连件908)、加载互连件910、更新互连件912、快门 互连件914及更新2互连件916。
[0110] 驱动总线807包含可供用以驱动像素电路810及812的驱动信号中的每一者经由以 传达到显示元件802中的每一者的互连件。驱动总线807包含用于虚设显示元件像素电路 812的互连件中的每一者的对应互连件,其例外之处在于驱动总线807仅包含单一预先充电 互连件而非两个预先充电互连件。虚设显示元件像素电路812包含两个预先充电互连件,以 使得当虚设显示元件802受测试时可独立地将预先充电互连件切换到测试总线811中的不 同互连件。
[0111]当虚设显示元件像素电路812未受测试时,通过开关820将虚设显示元件像素电路 812互连件中的每一者切换到对应驱动总线807互连件。虚设显示元件像素电路812的两个 预先充电互连件(预先充电1 906及预先充电2 908)连接到驱动总线807中的单一预先充电 互连件。在此状态下,虚设显示元件像素电路812经历与其它显示元件像素电路810相同的 信号。因而,就其它显示元件像素电路810中的TFT的操作参数随时间变化(归因于使用)的 范围而言,虚设显示元件像素电路812中的TFT将经历类似变化。因此,监视虚设显示元件像 素电路812TFT的操作参数可得到可用以在显示设备800的寿命内调整施加到其它显示元件 802的像素电路810的驱动及控制信号以维持可靠操作的信息。
[0112] 测试总线811包含五个互连件:Vhigh互连件、Vlow互连件、Vsource互连件、Vdrain 互连件及Vgate互连件。Vhigh互连件载运用以在施加到适当TFT栅极时完全接通位于受测 试TFT与驱动芯片806之间的任何TFT的高电压。Vlow互连件载运足以保持并未处于受测试 TFT的电路路径中的任何TFT切断的低电压。Vsource及Vdrain互连件载运待施加到受测试 TFT的源极及漏极的电压,而Vgate互连件用于将测试栅极电压施加到受测试TFT。
[0113]当将测试虚设显示元件像素电路812TFT的操作参数时,开关820将虚设显示元件 像素电路互连件切换到耦合到测试总线中的适当互连件。大体来说,为了测试给定TFT("受 测试TFT"),将虚设显示元件像素电路812中的互连件切换到互连件以使得受测试TFT的源 极及漏极端子与驱动芯片之间的所有TFT完全接通,受测试TFT的栅极连接到测试总线811 的Vgate互连件,受测试TFT的栅极与驱动芯片806之间的所有TFT完全接通,且将达成上述 情形无需接通的所有TFT切断。
[0114]因而,开关820经配置以在四个可能状态之间切换虚设显示元件像素电路812的数 据互连件902。在第一状态下,数据互连件902耦合到驱动总线807的数据互连件。在第二状 态下,数据互连件902耦合到测试总线811的Vhigh互连件。在第三状态下,数据互连件902耦 合到测试总线的Vgate互连件。在第四状态下,数据互连件902与驱动总线807及测试总线 811两者断开连接。
[0115] 可通过开关820而使虚设显示元件像素电路812的致动互连件904在三个状态之间 切换。在第一状态下,致动互连件904耦合到驱动总线807的致动互连件。在第二状态下,致 动互连件904耦合到测试总线811的Vdrain互连件。在第三状态下,致动互连件904与驱动总 线807及测试总线811两者断开连接。
[0116] 预先充电1互连件906及预先充电2互连件908可各自独立地通过开关820而在五个 可能状态之间切换。其可耦合到驱动总线807的预先充电互连件,或耦合到测试总线811的 Vhigh、Vlow或Vgate互连件。另外,虚设显示元件像素电路812的预先充电1互连件906及预 先充电2互连件908两者可与驱动总线807及测试总线811两者断开连接。
[0117] 虚设显示元件像素电路812的加载互连件910可通过开关820而在连接到驱动总线 807的加载互连件及测试总线811的Vhigh互连件之间切换。另外,虚设显示元件像素电路 812的加载互连件910可与驱动总线807及测试总线811两者断开连接。
[0118] 虚设显示元件像素电路812的更新互连件912可通过开关820而在连接到驱动总线 的更新互连件及测试总线811的Vhigh、Vgate及Vsource互连件之间切换。另外,虚设显示元 件像素电路812的更新互连件912可与驱动总线807及测试总线811两者断开连接。虚设显示 元件像素电路的快门互连件914可通过开关820而在连接到驱动总线的快门互连件、测试总 线811的Vlow互连件或与驱动总线807及测试总线811两者断开连接之间切换。
[0119] 虚设显示元件像素电路812的更新2互连件916可由开关820而在连接到驱动总线 807的更新2互连件及测试总线811的Vhigh或Vsource互连件之间切换。另外,虚设显示元件 像素电路812的更新2互连件916可与驱动总线807及测试总线811两者断开连接。
[0120] 虚设显示元件像素电路812包含五个TFT Ml到M5JFT Ml到M5中的每一者对应于 图3中所展示的显示元件像素电路500中及可观看显示元件像素电路810中所包含的TFT中 的一者。Ml晶体管对应于写入启用晶体管552,M2晶体管对应于第一放电晶体管514,M3晶体 管对应于第二放电晶体管524,M4晶体管对应于第一充电晶体管512,且M5晶体管对应于第 二充电晶体管522。
[0121] 图8A到8E展示由图7中所展示的开关820的各种配置产生的实例电路图1000a到 1000e,所述电路图用以测试虚设显示元件像素电路的五个TFT Ml到M5中的每一者。图8A展 示用于在测试晶体管M2中使用的电路图1000a。图8B展示用于在测试晶体管M3中使用的电 路图1000b。图8C展示用于在测试晶体管M4中使用的电路图1000c。图8D展示用于在测试晶 体管M5中使用的电路图1000d。图8E展示用于在测试晶体管Ml中使用的电路图1000e。在电 路图1000a到1000e中的每一者中,以三种不同方式展示互连件。具有最大权重的互连件对 应于在测量受测试TFT的操作参数中直接涉及的互连件,其形成在本文中称作"测量电路" 的电路。具有中间权重的互连件对应于载运用以(例如)接通除受测试TFT之外的TFT以有助 于形成测量电路的偏压电压的互连件。最小权重的互连件对应于在测量受测试TFT的操作 参数中大体上未涉及的互连件。
[0122] 如上文所指示,图8A展示在测试晶体管M2时使用的电路图1000a。为了形成用以测 试M2晶体管的测量电路,接通Ml及M4晶体管,以使得存在以下电路径:在M2晶体管的漏极端 子与测试总线811的Vdrain互连件之间经由M4晶体管及虚设显示元件像素电路812的致动 互连件904,在M2晶体管的栅极与测试总线811的Vgate互连件之间经由Ml晶体管及虚设显 示元件显示元件像素电路812的数据互连件,及在M2的源极与测试总线811的Vsource互连 件之间经由虚设显示元件像素电路812的更新互连件912。同时,保持M3及M5晶体管切断以 防止通过虚设显示元件像素电路812的替代电流路径。为了接通Ml及M4晶体管,通过开关 820将虚设显示元件像素电路812的加载及预先充电1互连件连接到测试总线811的Vhigh互 连件。为了保持M5晶体管切断,通过开关820将虚设显示元件像素电路的预先充电2互连件 连接到测试总线811的Vlow互连件。为了保持M3晶体管切断,通过开关820将虚设显示元件 像素电路812的更新2互连件916连接到测试总线的Vhigh互连件。通过分别将Vsource及 Vdrain测试总线811互连件连接到虚设显示元件像素电路812的更新互连件912及致动互连 件904,将M2晶体管的源极及漏极端子耦合到测试总线的Vsource及Vdrain互连件。
[0123] 图8B展示在测试晶体管M3时使用的电路图1000b。为了形成用以测试M3晶体管的 测量电路,接通M5、M1及M2晶体管,以使得存在以下电路径:在M3晶体管的漏极端子与测试 总线811的Vdrain互连件之间经由M5晶体管及虚设显示元件像素电路的致动互连件904,在 M3晶体管的栅极与测试总线811的Vgate互连件之间经由M2晶体管及虚设显示元件像素电 路812的更新互连件912,及在M3的源极与测试总线811的Vsource互连件之间经由虚设显示 元件像素电路812的更新2互连件916。接通Ml晶体管以用于达成允许接通M2晶体管的目的。 同时,保持M4晶体管切断以防止通过虚设显示元件像素电路812的替代电流路径。为了接通 Ml、M2及M5晶体管,通过开关820将虚设显示元件像素电路812的加载、数据及预先充电2互 连件910、902及908连接到测试总线811的Vhigh互连件。为了保持M4晶体管切断,通过开关 820将虚设显示元件像素电路812的预先充电1互连件906连接到测试总线811的Vlow互连 件。
[0124] 图8C展示用于在测试晶体管M4中使用的电路图1000c。为了形成用以测试M4晶体 管的测量电路,接通Ml及M2晶体管,以使得存在以下电路径:在M4晶体管的漏极端子与测试 总线811的Vdrain互连件之间经由虚设显示元件像素电路的致动互连件904,在M4晶体管的 栅极与测试总线811的Vgate互连件之间经由虚设显示元件像素电路的预先充电1互连件 906,及在M4晶体管的源极与测试总线811的Vsource互连件之间经由M2晶体管及虚设显示 元件像素电路812的更新互连件912。接通Ml晶体管以用于达成允许接通M2晶体管的目的。 同时,保持M3及M5晶体管切断以防止通过虚设显示元件像素电路812的替代电流路径。为了 接通Ml及M2晶体管,通过开关820将虚设显示元件像素电路的加载互连件910及数据互连件 902连接到测试总线811的Vhigh互连件。为了保持M5晶体管切断,通过开关820将虚设显示 元件像素电路的预先充电2互连件908连接到测试总线811的Vlow互连件。为了保持M3晶体 管切断,通过开关820将虚设显示元件像素电路812的更新2互连件916连接到测试总线的 Vhigh互连件。
[0125] 图8D展示用于在测试晶体管M5中使用的电路图1000d。为了形成用以测试M5晶体 管的测量电路,接通M1、M2及M3晶体管,以使得存在以下电路径:在M5晶体管的漏极端子与 测试总线811的Vdrain互连件之间经由虚设显示元件像素电路812的致动互连件904,在M5 晶体管的栅极与测试总线的Vgate互连件之间经由虚设显示元件像素电路的预先充电2互 连件908,及在M5晶体管的源极与测试总线811的Vsource互连件之间经由M3晶体管及虚设 显示元件像素电路的更新2互连件916。接通Ml及M2晶体管以用于达成允许接通M3晶体管的 目的。同时,保持M4晶体管切断以防止通过虚设显示元件像素电路812的替代电流路径。为 了接通M1、M2及M3晶体管,通过开关820将虚设显示元件像素电路812的加载、数据及更新互 连件910、902及912连接到测试总线811的Vhigh互连件。为了保持M4晶体管切断,通过开关 820将虚设显示元件像素电路812的预先充电1互连件906连接到测试总线的Vlow互连件。 [0 126]图8E展示用于在测试Ml晶体管中使用的电路图lOOOeJl晶体管是以不同于剩余 晶体管M2到M5的方式来测试且将在下文进一步加以论述。话虽如此,但为了形成用于测试 Ml晶体管的适当测量电路,将所有其它晶体管M2到M5关掉。为此,将虚设显示元件像素电路 812的致动、预先充电1、预先充电2、更新及更新2互连件904、906、908、912及916中的每一者 耦合到测试总线811的Vlow互连件。快门互连件914也耦合到Vlow以使得存储电容器的端子 親合到低电压。加载互连件910在连接到Vhigh及Vgate之间循环,而数据互连件902在连接 到Vhigh及Vdrain之间循环,如下文进一步描述,以测试Ml晶体管的操作参数。
[0127] 图9展示实例TFT评估电路1100 JFT评估电路1100可耦合到(例如)图6及7中所展 示的驱动芯片806内的图6中所展示的测试总线811 JFT评估电路1100包含测量部分1102及 测试部分1104。
[0128] TFT评估电路1100的测试部分1104包含电压轨与受测试TFT之间的测试源极跟随 器晶体管1106(经由图7中所展示的测试总线811的Vdrain互连件)。测试部分1104也包含用 于在受测试TFT具有负电压阈值的情况下将受测试TFT的源极端子连接到接地电压或正电 压的源极端子电压开关1108。对于此论述的剩余部分,将假定:受测试TFT具有正电压阈值 且源极端子电压开关1108将受测试TFT的源极端子经由测试总线811的Vsource端子耦合到 接地。
[0129] TFT评估电路1100的测量部分1102包含测量源极跟随器晶体管1110、放大器1112、 电流源1114、比较器1116、逐次近似寄存器(SAR)1118及数/模转换器(DAC) 1120。测量源极 1114跟随器晶体管1110将电流源1114耦合到与其耦合到测试源极跟随器晶体管1106相同 的电压轨。测试源极跟随器晶体管1106及测量源极跟随器晶体管1110两者的栅极耦合到负 反馈放大器1112的输出。负反馈放大器1112将耦合到测试总线811的Vdrain互连件的互连 件及参考电压Vdl作为输入。比较器1116将耦合到测量源极跟随器晶体管1110的源极的互 连件及第二参考电压Vref作为输入,在一些实施方案中,所述第二参考电压经配置以大体 上等于Vd 1。将比较器1116的输出输入到SAR 1118。SAR1118又耦合到DAC 1120,所述DAC 1120经由测试总线811的Vgate互连件将栅极电压VG输出到受测试TFT AAR 1118经配置以 取决于其输入而输出连续地将DAC 1120中的位值递增1或递减1的电压。
[0130]在一些实施方案中,如下操作TFT评估电路1100。在显示设备启动时,将恒定电压 乂肌施加到测试源极跟随器晶体管1106的栅极且将用于受测试TFT的栅极电压V?的初始值 加载到DAC 1120中。在一些实施方案中,选择V?为处于DAC中的可供使用的值的范围的中间 的值。举例来说,对于8位DAC,将选择V?为对应于10000000或0 111 111 1的电压。此情形导致 DAC 1120经由测试总线的Vgate互连件及通过测试源极跟随器晶体管1106、受测试TFT及测 量源极跟随器晶体管1110的初始电流将V?施加到受测试TFT的栅极端子,同时负反馈放大 器1112保持受测试TFT的漏极上的电压(V D)恒定地处于Vdl。
[0131] 基于相比较于电流源1114的经配置输出而言的通过测量源极跟随器晶体管1110 的电流的电平,比较器1116将电压输出到SAR 1118。如果通过测量源极跟随器晶体管1110 的电流低于电流源1114的经配置输出,那么比较器1116输出适当逻辑电平,所述逻辑电平 又造成SAR 1118将较高电压输出到DAC。过程继续,直到达到稳定状态为止或直到已将Vc调 整了等于DAC 1120的分辨率的位数目的次数为止。
[0132] 在完成处于第一电流源1114输出电平/参考电压电平(Vd.)对的测试之后,在一些 实施方案中,按不同电流源1114输出电平及/或不同参考电压(Vdl)电平进行一或多个额外 测试。将在每一测试结束时存储于DAC 1120中的最终值传达到显示控制器(例如,图1B中所 展示的控制器134)以供控制器在确定对电路驱动信号的调整中使用。
[0133] 图10展示用于使用图8E中所展示的测量电路1000e测量Ml晶体管的操作参数的实 例测量电路1200。测量电路1200包含通过电流镜1205耦合的测量部分1202及测试部分 1204。测试部分1204包含第一引发开关1206、误差放大器1208及测试源极跟随器晶体管 1210。测量部分1202包含电流源1212、电压比较器1214、逐次近似寄存器(SAR)1216、数/模 转换器(DAC)1218及第二引发开关1220。
[0134] 在操作中,测量电路1200在引发阶段与测试阶段之间来回循环。在引发阶段中,第 一引发开关1206将虚设显示元件像素电路812(图6中所展示)的数据(DATA)互连件耦合到 测试总线811(图7中所展示)的Vhigh互连件。同时,第二引发开关1220将虚设显示元件像素 电路812的加载(LOAD)互连件耦合到测试总线811的Vhigh互连件。因此,将电压存储于虚设 显示元件像素电路812的数据存储电容器554上。
[0135] 在将电压存储于数据存储电容器554上之后,测量电路1200切换到测试阶段,在测 试阶段中,第一引发开关将虚设显示元件像素电路812的数据互连件与测试总线811的 Vhigh互连件解耦且经由测试总线811的Vsource互连件将其耦合到测试源极跟随器晶体管 1210的源极及误差放大器1208的输入。误差放大器1208的另一输入耦合到恒定偏移电压 (例如,1.8V)。
[0136] 第二引发开关1220将虚设显示元件像素电路812的加载互连件与测试总线811的 Vhigh互连件解耦且将其连接到DAC 1218的输出,从而将DAC的输出电压施加到Ml晶体管的 栅极。如果对应于存储于DAC中的值的电压足够高,那么Ml晶体管接通,从而允许电流从数 据存储电容器554流经Ml晶体管及流经测试源极跟随器晶体管1210。
[0137] 电流镜1205镜射通过测量电路1200的测量部分1202的一部分的此电流。电压比较 器1214输出基于经镜射的电流与电流源1212的经配置的电流输出之间的比较的电压。将由 电压比较器1214输出的电压输入到SAR 1216,如果经镜射的电流为0或太低,那么所述电压 将存储于DAC 1218中的值递增,或如果经镜射的电流太高,那么所述电压将所存储的值减 少一位。
[0138] 在将新值存储于DAC 1218中之后,引发开关1206及1220复位到其引发阶段状态以 使得可将新电压存储于数据存储电容器554上。在一些实施方案中,数据存储电容器554具 有相对较低的电容(例如,大约数百毫微微法拉),且因此必须重复地将其再充电以确保其 电压足以造成通过Ml的可检测到的电流为施加到Ml的栅极的足够高的电压。
[0139] 在一些实施方案中,输入到DAC的初始值为表示DAC范围的中间的值。举例来说,对 于8位DAC,初始值可为0 111 111 1或10000000。在一些此些实施方案中,可通过所述测量电路 的等于DAC 1218的分辨率的位数目的数目个循环(例如,对于8位DAC为8个循环)来检测最 终测量结果。
[0140] 在一些实施方案中,测量电路1200经配置以检测通过Ml晶体管的极小电流,借此 允许其测量Ml晶体管的阈值(即,可见电流流经Ml晶体管的最低栅极电压)。在一些实施方 案中,在使用第一电流源1212输出电平确定Ml阈值电压的第一测量结果之后,改变电流源 1212的输出电平且重复测试以取得额外测量结果。可将所得测量结果发射回到显示控制 器,例如图1B中所展示的控制器134,以调整施加到剩余像素电路812的Ml晶体管的栅极电 压。
[0141] 图11展示用于调节显示设备的操作电压的实例过程1100的流程图。可(例如)在显 示控制器(例如,图1B中所展示的控制器134)上基于上文所描述的使用图7中所展示的虚设 像素电路812取得的测量结果实施过程1100。过程1100包含使并入到显示设备中的至少一 虚设显示元件的状态稳定(阶段1102),测量虚设显示元件中的晶体管的阈值电压(阶段 1104),基于电压阈值测量结果获得操作电压(阶段1106),及相应地调节显示设备的操作电 压(阶段1108)。可贯穿显示设备的寿命周期性地或偶发地执行过程1100。举例来说,可在每 一显示器启动时执行一次所述过程,在每一显示器会话时多次执行所述过程(例如,在启动 时及在预热周期之后,贯穿所述会话周期性地,在改变显示模式时,等等),每周或每月或每 一其它时间段执行一次所述过程,或响应于多种触发事件中的一者而执行所述过程。
[0142] 过程1100包含使显示设备中的虚设显示元件的状态稳定(阶段1102)。在一些实施 方案中,虚设显示元件可呈图6中所展示的虚设显示元件802的形式。在一些实施方案中,显 示设备可包含多个虚设显示元件802。在测量虚设像素电路TFT的行为之前,显示控制器将 每一虚设显示元件的状态设定为经评估为共同状态。举例来说,对于以快门为基础的显示 元件,可将每一虚设显示元件的快门驱动到打开或闭合状态。确保所有虚设显示元件处于 相同状态会增加跨越虚设显示元件的测量结果的一致性。在一些实施方案中,可省略过程 1100的此阶段。
[0143] 过程1100进一步包含测量虚设显示元件中的晶体管的阈值电压(阶段1104)。可如 上文关于图7到10所描述般进行阈值电压测量。在一些实施方案中,仅测量一次每一虚设显 示元件中的每一晶体管的阈值电压。在一些实施方案中,多次地测量每一虚设显示元件中 的每一晶体管的阈值电压,例如,2次、3次、4次、5次或大于5次。
[0144] 在一些实施方案中,将控制显示设备的显示元件的控制矩阵划分成多个相异部 分。举例来说,可将控制矩阵划分成两个二分之一、三个三分之一、四个四分之一等等,其中 每一相异部分与其它部分至少部分地电隔离。可通过单独驱动器或通过单一驱动器来驱动 相异部分。在具有多个相异部分的显不器中,每一部分可具有其自身的一组一或多个虚设 显示元件。在一些此些实施方案中,在共同测量循环期间大体上同时地测量所有相异部分 的虚设显示元件的晶体管。在一些其它实施方案中,作为时间上相异的测量过程的一部分 而测量相应相异部分的虚设显示元件的晶体管。
[0145] 基于阈值电压测量结果,过程1100包含获得显示设备的操作电压(阶段1106)。对 于具有多个电隔离控制矩阵部分的显示设备,在一些实施方案中,获得共同操作电压以供 跨越所有相异部分使用。在一些其它部分中,独立地针对每一相异部分获得单独操作电压。 并非用以操作显示设备的所有操作电压需要基于阈值电压测量结果来设定。可在操作期间 基于除所测量的阈值电压以外的因素来设定一些操作电压,例如环境温度或显示器温度。 替代地,一些操作电压为固定的且根本不变化。固定的操作电压或无关于阈值电压测量结 果而设定的面积被称作独立的所测量的阈值电压(或MTVI)。
[0146] 在一些实施方案中,使用原始阈值电压测量结果获得操作电压。在一些其它实施 方案中,基于每一晶体管的电压阈值测量结果的平均值获得操作电压中的一或多者。如果 关于显示设备控制矩阵的一给定相异部分使用一个以上虚设显示元件802,那么可基于跨 越用于控制矩阵的相异部分的所述组虚设显示元件802的类似晶体管的阈值电压测量结果 的平均值确定一或多个操作电压。在包含多个相异控制矩阵部分的一些实施方案中,操作 电压可进一步基于所述相异部分当中的最高或最低阈值电压平均值。在一些实施方案中, 可基于一给定晶体管或一组共同晶体管的最大或最小阈值电压测量结果获得一或多个操 作电压。
[0147] 表1展示可在一些实施方案中使用以获得包含类似于图3中所展示的像素电路的 像素电路的显示设备的操作电压的一组实例等式。

[0149] 表1
[0150] 在表1中,Vact对应于显示器的致动电压,其被施加到致动电压互连件520^-?^ 为施加到快门互连件536的电压。Vu2H为施加到第二更新互连件534的高电压,而Vu2L为施加 到第二更新互连件534的低电压。类似地,VinFiSViadi应于施加到第一更新互连件532的高 电压及低电压。Vpch及Vpa对应于施加到预先充电互连件510的高电压及低电压。'\%1及¥[^对 应于施加到扫描线互连件506的高电压及低电压,且VCCIL对应于高数据电压。Vam到Vc0N6为可 在制造显示器期间设定的恒定电压值。
[0151 ] 如表1中所展示,'\^。1;、'\^111;1^、¥11211及^%皆独立于虚设显示元件的所测量的阈值。 Vm是基于参考查找表(LUT)而获得,可在制造时填入查找表。在一些实施方案中,可基于取 得测量结果所自的虚设像素电路812的M2晶体管的最小的所测量的阈值电压查询LUT。在具 有多个相异控制矩阵部分的一些其它实施方案中,可基于相异部分的虚设像素电路中的M2 晶体管的所测量的阈值的平均值当中的最小值查询LUT。在一些实施方案中,V PCH及VPa的值 分别基于跨越虚设像素电路812的M4及M5晶体管测量的阈值电压的最大值及最小值。在一 些实施方案中,针对每一M4晶体管及每一M5晶体管计算平均阈值电压测量结果,且分别基 于那些平均值的最大值及最小值计算V PCH及VPa。所属领域的技术人员将容易认识到,可按 不同于上文在显示器的其它实施方案中所描述的实例的方式使用所测量的值计算或确定 操作电压。
[0152]过程1100包含基于所获得的操作电压调节显示设备的操作电压(阶段1108)。在一 些实施方案中,过程1100在每次计算新的操作电压时更新操作电压(除了为MTVI的那些操 作电压以外)。在一些其它实施方案中,如果新近获得的操作电压大于不同于一组先前操作 电压电平的阈值量,那么仅更新操作电压。阈值可从电压到电压而变化。举例来说,用于更 新乂1^的阈值可低于用于更新其它操作电压的阈值。在一些实施方案中,合适的更新阈值在 介于约0.2V与0.8V之间的范围内。
[0153]图12A及12B展示包含多个显示元件及虚设显示元件(例如,上文所描述的那些显 示元件)的实例显示装置40的系统框图。显示装置40可为(例如)智能电话、蜂窝式或移动电 话。然而,显示装置40的相同组件或其略微变化也说明各种类型的显示装置,例如电视机、 计算机、平板计算机、电子阅读器、手持型装置及便携式媒体装置。
[0154] 显不装置40包含外壳41、显不器30、天线43、扬声器45、输入装置48及麦克风46。外 壳41可由多种制造过程(包含射出成形及真空成形)中的任一者形成。另外,外壳41可由包 含(但不限于)以下各者的多种材料中的任一者制成:塑料、金属、玻璃、橡胶及陶瓷或其组 合。外壳41可包含可与不同色彩或含有不同标识、图片或符号的其它抽取式部分互换的抽 取式部分(未图示)。
[0155] 显示器30可为如本文中所描述的多种显示器中的任一者,包含双稳态或模拟显示 器。显示器30也可经配置以包含平板显示器(例如,等离子体、电致发光(EL)显示器、OLED、 超扭转向行(STN)显示器、LCD或薄膜晶体管(TFT)LCD),或非平板显示器(例如,阴极射线管 (CRT)或其它管装置)。另外,显示器30可包含基于机械光调制器的显示器,如本文中所描 述。
[0156] 图12B中示意性地说明显示装置40的组件。显示装置40包含外壳41,且可包含至少 部分围封于其中的额外组件。举例来说,显示装置40包含网络接口 27,所述网络接口包含可 耦合到收发器47的天线43。网络接口 27可为可显示于显示装置40上的图像数据的来源。因 此,网络接口 27为图像源模块的一实例,但处理器21及输入装置48也可充当图像源模块。收 发器47连接到处理器21,所述处理器连接到调节硬件52。调节硬件52可经配置以调节信号 (例如,对信号进行滤波或以其它方式操纵信号)。调节硬件52可连接到扬声器45及麦克风 46。处理器21也可连接到输入装置48及驱动器控制器29。驱动器控制器29可耦合到帧缓冲 器28及耦合到阵列驱动器22,所述阵列驱动器又可耦合到显示器阵列30。显示装置40中的 一或多个元件(包含图12A中未特定描绘的元件)可经配置以充当存储器装置且经配置以与 处理器21通信。在一些实施方案中,电力供应器50可将电力提供到特定显示装置40设计中 的大体上所有组件。
[0157] 网络接口 27包含天线43及收发器47,使得显示装置40可经由网络与一或多个装置 通信。网络接口 27也可具有减轻(例如)处理器21的数据处理要求的一些处理能力。天线43 可发射及接收信号。在一些实施方案中,天线43根据IEEE 16.11标准(包含IEEE16.11(a)、 (b)或(g))或IEEE 802.11标准(包含IEEE 802. lla、b、g、n)及其其它实施方案来发射及接 收RF信号。在一些其它实施方案中,天线43根据Bluetooih?.标准发射及接收RF信号。在蜂窝 式电话的状况下,天线43可经设计以接收码分多址(CDMA)、频分多址(FDMA)、时分多址 (TDMA)、全球移动通信系统(GSM)、GSM/通用包无线电服务(GPRS)、增强型数据GSM环境 (EDGE)、陆上集群无线电(TETRA)、宽带CDMA(W-CDMA)、演进数据最佳化(EV-D0)、lxEV-DO、 EV-D0修订A、EV-D0修订B、高速包存取(HSPA)、高速下行链路包存取(HSDPA)、高速上行链路 包存取(HSUPA)、演进型高速包存取(HSPA+)、长期演进(LTE)、AMPS或用以在无线网络(例 如,利用3G、4G或5G技术的系统)内通信的其它已知信号。收发器47可预处理从天线43接收 的信号,使得所述信号可由处理器21接收及进一步加以操纵。收发器47也可处理从处理器 21接收的信号,使得所述信号可经由天线43从显示装置40发射。
[0158] 在一些实施方案中,收发器47可由接收器替换。另外,在一些实施方案中,可用可 存储或产生待发送到处理器21的图像数据的图像源来替换网络接口 27。处理器21可控制显 示装置40的总操作。处理器21接收数据(例如,来自网络接口 27或图像源的经压缩的图像数 据),且将数据处理成原始图像数据或处理成可易于处理成原始图像数据的格式。处理器21 可将经处理的数据发送到驱动器控制器29或发送到帧缓冲器28以供存储。原始数据通常是 指识别图像内的每一位置处的图像特性的信息。举例来说,此些图像特性可包含色彩、饱和 度及灰度。
[0159] 处理器21可包含用以控制显示装置40的操作的微控制器、CPU或逻辑单元。调节硬 件52可包含用于将信号发射到扬声器45及用于从麦克风46接收信号的放大器及滤波器。调 节硬件52可为显示装置40内的离散组件,或可并入于处理器21或其它组件内。
[0160] 驱动器控制器29可直接从处理器21或从帧缓冲器28取得由处理器21产生的原始 图像数据且可适当地重新格式化原始图像数据以供高速发射到阵列驱动器22。在一些实施 方案中,驱动器控制器29可将原始图像数据重新格式化成具有光栅状格式的数据流,以使 得所述数据流具有适合于跨越显示器阵列30扫描的时间次序。接着,驱动器控制器29将经 格式化的信息发送到阵列驱动器22。尽管驱动器控制器29(例如,IXD控制器)常常作为独立 集成电路(1C)与系统处理器21相关联,但此些控制器可以许多方式来实施。举例来说,控制 器可作为硬件嵌入于处理器21中、作为软件嵌入于处理器21中,或与阵列驱动器22-起完 全集成于硬件中。
[0161] 阵列驱动器22可从驱动器控制器29接收经格式化的信息,且可将视频数据重新格 式化为一组平行波形,所述组波形被每秒许多次地施加到来自显示器的x-y显示元件矩阵 的数百且有时数千个(或更多)导线。在一些实施方案中,阵列驱动器22及显示器阵列30为 显示模块的一部分。在一些实施方案中,驱动器控制器29、阵列驱动器22及显示器阵列30为 显不模块的一部分。
[0162] 在一些实施方案中,驱动器控制器29、阵列驱动器22及显示器阵列30适合于本文 中所描述的任何类型的显示器。举例来说,驱动器控制器29可为常规显示控制器或双稳态 显示控制器(例如,机械光调制器显示元件控制器)。另外,阵列驱动器22可为常规驱动器或 双稳态显示驱动器(例如,机械光调制器显示元件控制器)。此外,显示器阵列30可为常规显 示器阵列或双稳态显示器阵列(例如,包含机械光调制器显示元件阵列的显示器)。在一些 实施方案中,驱动器控制器29可与阵列驱动器22集成。此实施方案可用于例如移动电话、便 携式电子装置、钟表或小面积显示器的高度集成系统中。
[0163] 在一些实施方案中,输入装置48可经配置以允许(例如)用户控制显示装置40的操 作。输入装置48可包含小键盘(例如,QWERTY键盘或电话小键盘)、按钮、开关、摇臂、触摸屏、 与显示器阵列30集成的触摸屏,或压敏或热敏隔膜。麦克风46可配置为显示装置40的输入 装置。在一些实施方案中,经由麦克风46的语音命令可用于控制显示装置40的操作。
[0164] 电力供应器50可包含多种能量存储装置。举例来说,电力供应器50可为可再充电 电池,例如镍镉电池或锂离子电池。在使用可再充电电池的实施方案中,可再充电电池可为 可使用来自(例如)壁式插座或光伏打装置或阵列的电力来充电的。替代地,可再充电电池 可为可无线充电的。电力供应器50也可为可再生能源、电容器或太阳能电池(包含塑料太阳 能电池或太阳能电池漆)。电力供应器50也可经配置以从壁式插座接收电力。
[0165] 在一些实施方案中,控制可编程性驻留于可位于电子显示系统中的若干处的驱动 器控制器29中。在一些其它实施方案中,控制可编程性驻留于阵列驱动器22中。上文所描述 的最佳化可在任何数目个硬件及/或软件组件中实施及以各种配置实施。
[0166] 如本文中所使用,提及项目的列表"中的至少一者"的片语是指那些项目的任何组 合,包含单一成员。作为实例,"a、b或c中的至少一者"意欲涵盖:aic^a-tKa-cA-c^a-b- co
[0167] 结合本文中揭示的实施方案所描述的各种说明性逻辑、逻辑块、模块、电路及算法 过程可实施为电子硬件、计算机软件或两者的组合。硬件与软件的互换性已大体按功能性 加以描述,且于上文所描述的各种说明性组件、块、模块、电路及过程中加以说明。将此功能 性实施于硬件还是软件中取决于特定应用及强加于整个系统上的设计约束。
[0168] 用以实施结合本文中所揭示的方面而描述的各种说明性逻辑、逻辑块、模块及电 路的硬件及数据处理设备可通过通用单芯片或多芯片处理器、数字信号处理器(DSP)、专用 集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑装置、离散门或晶体管逻辑、 离散硬件组件或其经设计以执行本文中所描述的功能的任何组合来实施或执行。通用处理 器可为微处理器,或任何常规处理器、控制器、微控制器或状态机。处理器也可实施为计算 装置的组合,例如,DSP与微处理器的组合、多个微处理器、一或多个微处理器结合DSP核心, 或任何其它此配置。在一些实施方案中,特定过程及方法可由给定功能所特定的电路来执 行。
[0169] 在一或多个方面中,所描述的功能可以硬件、数字电子电路、计算机软件、固件(包 含在此说明书中揭示的结构及其结构等效物)或其任何组合来实施。本说明书中所描述的 标的物的实施方案也可实施为编码于计算机存储媒体上以用于供数据处理设备执行或控 制数据处理设备的操作的一或多个计算机程序(即,计算机程序指令的一或多个模块)。
[0170] 本发明中所描述的实施方案的各种修改对于所属领域的技术人员来说可为易于 显而易见的,且本文中所界定的一般原理可在不脱离本发明的精神或范围的情况下应用于 其它实施方案。因此,权利要求书并不意欲限于本文中所展示的实施方案,而应符合与本文 中揭示的本发明、原理及创新特征相一致的最广泛范围。
[0171] 另外,所属领域的一般技术人员将易于了解,有时为了易于描述诸图而使用术语 "上部"及"下部",且所述术语指示对应于在经适当定向的页面上的图的定向的相对位置, 且可能并不反映如所实施的任何装置的适当定向。
[0172] 在单独实施方案的情况下描述于此说明书中的某些特征也可在单一实施方案中 以组合形式实施。相反地,在单一实施方案的情况下所描述的各种特征也可分别在多个实 施方案中或以任何合适子组合实施。此外,尽管上文可能将特征描述为以某些组合起作用 且甚至最初按此来主张,但来自所主张组合的一或多个特征在一些状况下可从所述组合删 除,且所主张组合可针对子组合或子组合的变化。
[0173] 类似地,虽然在图式中以特定次序来描绘操作,但不应将此理解为需要以所展示 的特定次序或以顺序次序执行此些操作,或执行所有所说明操作以达成合乎需要的结果。 另外,图式可按流程图的形式示意性地描绘一或多个实例过程。然而,未描绘的其它操作可 并入于示意性说明的实例过程中。举例来说,可在所说明操作中的任一者之前、之后、同时 或之间执行一或多个额外操作。在某些情况下,多任务及并行处理可为有利的。此外,不应 将在上文所描述的实施方案中的各种系统组件的分离理解为在所有实施方案中要求此分 离,且应理解,所描述程序组件及系统可大体上一起集成于单一软件产品中或经封装到多 个软件产品中。另外,其它实施方案属于以下权利要求书的范围内。在一些状况下,权利要 求书中所叙述的动作可以不同次序执行且仍达成合乎需要的结果。
【主权项】
1. 一种设备,其包括: 图像形成显示元件阵列,其跨越显示器的观看区布置,所述图像形成显示元件中的每 一者具有相关联的图像形成显示元件像素电路,所述图像形成显示元件像素电路能够控制 其相应图像形成显示元件的状态; 虚设显示元件,其定位于所述观看区外部,所述虚设显示元件具有大体上类似于所述 图像形成显示元件像素电路中的每一者的虚设显示元件像素电路,所述虚设显示元件像素 电路能够控制所述虚设显示元件的状态且能够允许进行对包含于所述虚设显示元件像素 电路中的多个薄膜晶体管TFT的测试; 驱动总线,其能够将驱动及控制信号输出到所述图像形成显示元件及所述虚设显示元 件; 测试总线,其能够将测试信号输出到所述虚设显示元件像素电路;及 一组开关,其能够: 在第一切换配置中,将所述虚设显示元件像素电路内的互连件连接于所述驱动总线中 的互连件之间以将所述虚设显示元件像素电路暴露于电信号,所述电信号大体上类似于所 述图像形成显示元件像素电路所经历的那些电信号; 在第二切换配置中,将所述虚设显示元件像素电路内的互连件连接到所述测试总线内 的互连件,以测量所述虚设显示元件像素电路中的所述多个TFT中的第一TFT的一或多个操 作参数;及 在第三切换配置中,将所述虚设显示元件像素电路内的互连件连接到所述测试总线内 的互连件,以测量所述虚设显示元件像素电路中的所述多个TFT中的第二TFT的一或多个操 作参数。2. 根据权利要求1所述的设备,其中所述组开关能够在多个额外配置中将所述虚设显 示元件像素电路互连件耦合到所述测试总线内的互连件,以用于测试所述虚设显示元件像 素电路中的所述多个TFT的剩余部分中的每一者。3. 根据权利要求2所述的设备,其中所述开关能够接通受测试TFT的栅极端子与所述测 试总线之间的所述虚设显示元件像素电路中的所有TFT。4. 根据权利要求3所述的设备,其中所述开关进一步能够接通所述虚设显示元件像素 电路中的所述多个TFT中的一或多者,所述一或多者足以在所述受测试TFT的所述端子与所 述测试总线的相应互连件之间形成电路径,且能够将所述受测试TFT的所述端子与所述驱 动总线的互连件电隔离。5. 根据权利要求2所述的设备,其进一步包括TFT评估电路,所述TFT评估电路能够确定 所述虚设显示元件像素电路中的受测试TFT的阈值电压,且所述一或多个所测量的操作参 数包含所述阈值电压。6. 根据权利要求5所述的设备,其进一步包括控制器,所述控制器经配置以基于所述所 确定的阈值电压修改所述设备的操作电压。7. 根据权利要求2所述的设备,其进一步包括TFT评估电路,所述TFT评估电路能够确定 待施加到受测试TFT的足以造成通过所述受测试TFT的经配置电流电平的栅极电压。8. 根据权利要求2所述的设备,其进一步包括耦合到数/模转换器的逐次近似寄存器, 其中所述数/模转换器的输出耦合到所述测试总线的栅极电压互连件,且所述逐次近似寄 存器及所述数/模转换器能够经由所述栅极电压互连件将一组递增地调整的电压施加到受 测试TFT的栅极端子。9. 根据权利要求1所述的设备,其进一步包括: 显示器,其包含所述图像形成显示元件阵列及所述虚设显示元件, 处理器,其能够与所述显示器通信,所述处理器能够处理图像数据;及 存储器装置,其能够与所述处理器通信。10. 根据权利要求9所述的设备,所述显示器进一步包含: 驱动器电路,其能够将至少一信号发送到所述显示器;及 控制器,其能够将所述图像数据的至少一部分发送到所述驱动器电路。11. 根据权利要求9所述的设备,其进一步包含: 图像源模块,其能够将所述图像数据发送到所述处理器,其中所述图像源模块包括接 收器、收发器及发射器中的至少一者。12. 根据权利要求9所述的设备,所述显示装置进一步包含: 输入装置,其能够接收输入数据并将所述输入数据传达到所述处理器。13. -种设备,其包括: 图像形成显示元件阵列,其跨越显示器的观看区布置,所述图像形成显示元件中的每 一者具有相关联的图像形成显示元件像素电路,所述图像形成显示元件像素电路能够控制 其相应图像形成显示元件的状态; 虚设显示元件,其定位于所述观看区外部,所述虚设显示元件具有大体上类似于所述 图像形成显示元件像素电路中的每一者的虚设显示元件像素电路,所述虚设显示元件像素 电路能够控制所述虚设显示元件的状态且能够允许进行对包含于所述虚设显示元件像素 电路中的多个薄膜晶体管TFT的测试; 驱动信号传达装置,其用于将驱动及控制信号输出到所述图像形成显示元件及所述虚 设显示元件; 测试信号传达装置,其用于将测试信号输出到所述虚设显示元件像素电路;及 切换装置,其用于在多个配置中选择性地将所述虚设显示元件像素电路的部分互连到 所述驱动信号传达装置及所述测试信号传达装置的部分,其中: 在第一配置中,所述切换装置将所述虚设显示元件像素电路的部分连接到所述驱动信 号传达装置的部分以将所述虚设显示元件像素电路暴露于大体上类似于所述图像形成显 示元件像素电路所经历的那些信号的信号; 在第二配置中,所述切换装置将所述虚设显示元件像素电路的部分连接到所述测试信 号传达装置的部分以测量所述虚设显示元件像素电路中的所述多个TFT中的第一 TFT的一 或多个操作参数;及 在第三切换配置中,所述切换装置将所述虚设显示元件像素电路的部分连接到所述测 试信号传达装置的部分以测量所述虚设显示元件像素电路中的所述多个TFT中的第二TFT 的一或多个操作参数。14. 根据权利要求13所述的设备,其中所述切换装置能够在足够数目个配置中将所述 测试信号传达装置的部分连接到所述虚设显示元件像素电路的部分,以测试所述虚设显示 元件像素电路中的所述多个TFT的剩余部分中的每一者。15. 根据权利要求14所述的设备,其中所述切换装置能够隔离受测试TFT以用于进行测 试。16. 根据权利要求13所述的设备,其进一步包括TFT评估装置,所述TFT评估装置用于评 估所述虚设显示元件像素电路中的受测试TFT的操作参数。17. 根据权利要求16所述的设备,其中所述TFT评估装置能够确定所述受测试TFT的阈 值电压。18. 根据权利要求17所述的设备,其进一步包括操作电压调节装置,所述操作电压调节 装置用于基于所述受测试TFT的所述所确定的阈值电压更新所述设备的操作电压。19. 根据权利要求16所述的设备,其中所述TFT评估装置能够确定待施加到所述受测试 TFT的足以造成通过所述受测试TFT的经配置电流电平的栅极电压。20. -种测试显示器的方法,其包括: 通过经由第一信号总线将一组驱动信号施加到多个显示元件像素电路而在显示设备 上显示多个图像; 经由所述第一信号总线将用以显示所述多个图像的所述驱动信号的子集施加到虚设 显示元件像素电路,所述虚设显示元件像素电路大体上与所述显示元件像素电路相同; 操作一组开关以在第一连接配置中将所述虚设显示元件像素电路与所述第一信号总 线解耦及将所述虚设显示元件像素电路耦合到第二信号总线; 经由具有所述第一连接配置的所述第二信号总线将第一组测试信号施加到所述虚设 显示元件像素电路的部分,以测试包含于所述虚设显示元件像素电路中的多个薄膜晶体管 TFT中的第一 TFT的操作参数; 操作所述组开关以在第二连接配置中将所述虚设显示元件像素电路的部分连接到所 述第二信号总线;及 在所述第二连接配置下经由所述第二信号总线将第二组测试信号施加到所述虚设显 示元件像素电路的部分,以测试所述虚设显示元件像素电路的第二TFT的操作参数。21. 根据权利要求20所述的方法,其进一步包括操作所述组开关及施加额外组测试信 号以测试所述虚设显示元件像素电路中的TFT的剩余部分中的每一者的操作参数。22. 根据权利要求20所述的方法,其中测试所述第一 TFT及所述第二TFT的操作参数包 含确定所述相应TFT中的每一者的阈值电压。23. 根据权利要求22所述的方法,其进一步包括基于所述所确定的阈值电压更新所述 显示器的至少一操作电压。
【文档编号】G09G3/00GK105874526SQ201480071634
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2014年12月30日
【发明人】艾伦·杰拉尔德·刘易斯, 马克·米伦科·托多罗维奇, 阿兰·布莱恩·纳迪格贝, 娜达·武科维奇-拉迪奇, 斯蒂芬·罗伯特·刘易斯
【申请人】皮克斯特隆尼斯有限公司
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