Goa电路及液晶显示面板的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种GOA电路，其包括GOA驱动芯片、GOA驱动信号线、阵列基板测试芯片、测试信号线以及GOA保护电路；GOA驱动芯片用于生成扫描驱动信号；GOA驱动信号线用于传输扫描驱动信号至相应的扫描线；阵列基板测试芯片用于生成阵列基板测试信号；测试信号线用于将阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；GOA保护电路设置在GOA驱动信号线和测试信号线之间，用于防止测试信号线上的静电信号传输至GOA驱动信号线。本发明还提供一种液晶显示面板，本发明的GOA电路及液晶显示面板可有效阻止静电通过测试信号线进入到GOA电路，从而避免GOA电路造成静电损伤。
【专利说明】
GOA电路及准晶显不面板
技术领域
[0001]本发明涉及显示屏驱动领域，特别是涉及一种G0A电路及液晶显示面板。【背景技术】
[0002]随着科技的发展，越来越多的用户使用各种各样的液晶显示面板进行工作、学习以及娱乐活动。因此用户对液晶显示面板的要求也越来越高，如高分辨率、高亮度以及高反应速率等。
[0003]G0A(gate on array)电路是一种液晶显示器中用于驱动液晶显示面板的重要电路，用于实现扫描线(gate)的逐行驱动，以实现液晶显示面板的正常显示。阵列基板测试 (array test)电路是一种用于测试G0A电路的电性连接情况的电路。
[0004]在现有的液晶显示面板的设计方案中，G0A电路的信号线，如STV(启动信号线)， U2D(正向扫描信号线)，D2U(反向扫描信号线)等，与阵列基板测试电路上的对应的测试信号线通过导线连接。这样当该液晶显示面板进行正常显示或进行静电测试时，静电可能通过阵列基板测试电路的测试信号线进入到G0A电路，对G0A电路造成损伤，从而影响整个液晶显示面板的正常工作。[00〇5]故，有必要提供一种G0A电路及液晶显不面板，以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
[0006]本发明的目的在于提供一种可有效避免G0A电路造成静电损伤的G0A电路及液晶显示面板；以解决现有的G0A电路及液晶显示面板容易造成静电损伤，从而影响整个液晶显示面板的正常工作的技术问题。
[0007]本发明实施例提供一种G0A电路，其包括:
[0008]G0A驱动芯片，用于生成扫描驱动信号；
[0009]G0A驱动信号线，用于传输所述扫描驱动信号至相应的扫描线；
[0010]阵列基板测试芯片，用于生成阵列基板测试信号；[〇〇11]测试信号线，用于将所述阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；以及[〇〇12] G0A保护电路，设置在所述G0A驱动信号线和所述测试信号线之间，用于防止所述测试信号线上的静电信号传输至所述G0A驱动信号线。
[0013]在本发明所述的G0A电路中，所述G0A保护电路为传输门电路。
[0014]在本发明所述的G0A电路中，所述传输门电路包括NM0S晶体管以及PM0S晶体管；
[0015]所述NM0S晶体管的输入端与所述测试信号线连接，所述NM0S晶体管的输出端与所述G0A驱动信号线连接，所述NM0S晶体管的控制端与保护控制信号源连接；
[0016]所述PM0S晶体管的输入端与所述测试信号线连接，所述PM0S晶体管的输出端与所述G0A驱动信号线连接，所述PM0S管的控制端通过非门与所述保护控制信号源连接。
[0017]在本发明所述的G0A电路中，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，所述保护控制信号源输出低电平信号，以隔断所述测试信号线与所述G0A驱动信号线；
[0018]当相应的液晶显示面板进行画面测试时，所述保护控制信号源输出高电平信号， 以导通所述测试信号线与所述G0A驱动信号线。[0〇19]在本发明所述的G0A电路中，所述G0A保护电路为反相器电路。
[0020]在本发明所述的G0A电路中，所述反相器电路包括第一匪0S晶体管、第二NM0S晶体管、第一 PM0S晶体管以及第二PM0S晶体管；[0021 ]所述第一匪0S晶体管的输入端与低电平源连接，所述第一 NM0S晶体管的输出端与所述第二匪0S晶体管的输入端连接，所述第一匪0S晶体管的控制端与保护控制信号源连接；[〇〇22]所述第二匪0S晶体管的输出端通过非门与所述G0A驱动信号线连接，所述第二 NM0S晶体管的控制端与所述测试信号线连接；[〇〇23]所述第一 PM0S晶体管的输入端与高电平源连接，所述第一 PM0S晶体管的输出端与所述第二PM0S晶体管的输入端连接，所述第一 PM0S晶体管的控制端通过非门与所述保护控制信号源连接；[〇〇24]所述第二PM0S晶体管的输出端通过非门与所述G0A驱动信号线连接，所述第二 PM0S晶体管的控制端与所述测试信号线连接。[〇〇25] 在本发明所述的G0A电路中，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，所述保护控制信号源输出低电平信号，以隔断所述测试信号线与所述G0A驱动信号线；
[0026]当相应的液晶显示面板进行画面测试时，所述保护控制信号源输出高电平信号， 以导通所述测试信号线与所述G0A驱动信号线。[〇〇27]在本发明所述的G0A电路中，所述G0A驱动信号线包括但不限于启动信号线、正向扫描信号线、反向扫描信号线、时钟信号线、高电平信号线、低电平信号线以及使能信号线中至少一个。[〇〇28]本发明实施例还提供一种液晶显示面板，其包括G0A电路，其中所述G0A电路包括: [〇〇29] G0A驱动芯片，用于生成扫描驱动信号；
[0030] G0A驱动信号线，用于传输所述扫描驱动信号至相应的扫描线；[0031 ]阵列基板测试芯片，用于生成阵列基板测试信号；
[0032]测试信号线，用于将所述阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；以及[〇〇33] G0A保护电路，设置在所述G0A驱动信号线和所述测试信号线之间，用于防止所述测试信号线上的静电信号传输至所述G0A驱动信号线。
[0034]在本发明所述的液晶显示面板中，所述G0A保护电路为传输门电路或反相器电路。 [〇〇35] 相较于现有的G0A电路及液晶显示面板，本发明的G0A电路及液晶显示面板通过 G0A保护电路的设置，可有效的避免测试信号线上的静电信号对G0A电路造成静电损伤;解决了现有的G0A电路及液晶显示面板容易造成静电损伤，从而影响整个液晶显示面板的正常工作的技术问题。
[0036]为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下:【附图说明】[〇〇37]图1为本发明的G0A电路的优选实施例的结构示意图；
[0038]图2为本发明的GOA电路的优选实施例的GOA保护电路为传输门电路时的具体电路图；[〇〇39]图3为本发明的G0A电路的优选实施例的G0A保护电路为反相器电路时的具体电路图。【具体实施方式】
[0040]以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」 等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
[0041]在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。[〇〇42]请参照图1，图1为本发明的G0A电路的优选实施例的结构示意图，本优选实施例的 G0A电路用于给相应的液晶显示面板提供扫描驱动信号，该G0A电路10包括G0A驱动芯片11、 G0A驱动信号线12、阵列基板测试芯片13、测试信号线14以及G0A保护电路15。[0〇43] G0A驱动芯片11用于生成扫描驱动信号;G0A驱动信号线12用于传输扫描驱动信号至相应的扫描线16;阵列基板测试芯片13用于生成阵列基板测试信号；测试信号线14用于将阵列基板测试信号传输至相应的扫描线16;G0A保护电路15设置在G0A驱动信号线12和测试信号线14之间，用于防止测试信号线14上的静电信号传输至G0A驱动信号线12。[〇〇44]这里的G0A驱动信号线12包括但不限于启动信号线STV1、正向扫描信号线U2D1、反向扫描信号线D2U1、时钟信号线CK1、高电平信号线VGH1、低电平信号线VGL1以及使能信号线GRST1中一个或多个。[〇〇45]这里的测试信号线14包括但不限于启动信号线STV2、正向扫描信号线U2D2、反向扫描信号线D2U2、时钟信号线CK2、高电平信号线VGH2、低电平信号线VGL2以及使能信号线 GRST2中一个或多个。
[0046]请参照图2，图2为本发明的G0A电路的优选实施例的G0A保护电路为传输门电路时的具体电路图。图2为传输门电路的具体电路图，该传输门电路包括NM0S晶体管21以及PM0S 晶体管22,匪0S晶体管21的输入端与测试信号线连接，NM0S晶体管21的输出端与G0A驱动信号线连接，NM0S晶体管21的控制端与保护控制信号源ATEN1连接;PM0S晶体管22的输入端与测试信号线连接，PM0S晶体管22的输出端与G0A驱动信号线连接，PM0S管22的控制端通过非门与保护控制信号源ATEN1连接。[〇〇47] 本优选实施例的G0A电路10工作时，当相应的液晶显示面板进行画面显示，保护控制信号源ATEN1输出低电平信号，这样NM0S晶体管21的控制端输入低电平信号，NM0S晶体管 21处于断开状态，PM0S晶体管22的控制端输入高电平信号，PM0S晶体管22也处于断开状态， 测试信号线与相应的G0A驱动信号线处于隔断状态，从而可以有效的避免测试信号线的静电信号传输至G0A电路上，防止G0A电路10产生静电损伤。[〇〇48]当相应的液晶显示面板使用测试信号线进行画面测试时，保护控制信号源ATEN1 输出高电平信号，这样匪0S晶体管21的控制端输入高电平信号，W0S晶体管21处于导通状态;PM0S晶体管22的控制端输入低电平信号，PM0S晶体管22也处于导通状态，测试信号线与相应的G0A驱动信号线处于导通状态;从而可使用测试信号线对G0A电路10进行有效的信号测试。
[0049]请参照图3,图3为本发明的GOA电路的优选实施例的GOA保护电路为反相器电路时的具体电路图。图3为反相器电路的具体电路图，该反相器电路包括第一NM0S晶体管31、第二NM0S晶体管32、第一PM0S晶体管33以及第二PM0S晶体管34。
[0050]第一匪0S晶体管31的输入端与低电平源VGL连接，第一匪0S晶体管31的输出端与第二匪0S晶体管32的输入端连接，第一匪0S晶体管31的控制端与保护控制信号源ATEN2连接;第二NM0S晶体管32的输出端通过非门与G0A驱动信号线连接，第二NM0S晶体管32的控制端与测试信号线连接;第一 PM0S晶体管33的输入端与高电平源VGH连接，第一 PM0S晶体管33 的输出端与第二PM0S晶体管34的输入端连接，第一 PM0S晶体管33的控制端通过非门与保护控制信号源ATEN2连接;第二PM0S晶体管34的输出端通过非门与G0A驱动信号线连接，第二 PM0S晶体管34的控制端与测试信号线连接。
[0051]本优选实施例的G0A电路10工作时，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，保护控制信号源ATEN2输出低电平信号，这样第一 NM0S晶体管31的控制端输入低电平信号，第一匪0S晶体管31处于断开状态，第一PM0S晶体管33的控制端输入高电平信号，第一PM0S晶体管33处于断开状态，这样第二NM0S晶体管32和第二PM0S晶体管34的输入端均没有信号，因此测试信号线与相应的G0A驱动信号线处于隔断状态，从而可以有效的避免测试信号线的静电信号传输至G0A电路上，防止G0A电路10产生静电损伤。[〇〇52]当相应的液晶显示面板使用测试信号线进行画面测试时，保护控制信号源ATEN2 输出高电平信号，这样第一NM0S晶体管31的控制端输入高电平信号，第一匪0S晶体管31处于导通状态，第一PM0S晶体管33的控制端输入低电平信号，第一PM0S晶体管33处于导通状态，这样第二NM0S晶体管32通过第一匪0S晶体管31输入低电平信号，第二PM0S晶体管34通过第一 PM0S晶体管33输入高电平信号。[〇〇53]当测试信号线为高电平时，第二匪0S晶体管32导通，第二PM0S晶体管34断开，G0A 驱动信号线输出高电平信号；当测试信号线为低电平时，第二PM0S晶体管34导通，第二NM0S 晶体管32断开，G0A驱动信号线输出低电平信号。从而可使用测试信号线对G0A电路10进行有效的信号测试。[〇〇54] 这样即完成了本优选实施例的G0A电路10的画面显示驱动以及画面测试驱动过程。[〇〇55]本优选实施例的G0A电路通过G0A保护电路的设置，可有效的避免测试信号线上的静电信号对G0A电路造成静电损伤。[〇〇56] 本发明实施例还提供一种液晶显示面板，该液晶显示面板包括G0A电路、扫描线、 数据线以及相应的像素单元。其中G0A电路包括G0A驱动芯片、G0A驱动信号线、阵列基板测试芯片、测试信号线以及G0A保护电路。[〇〇57] G0A驱动芯片用于生成扫描驱动信号;G0A驱动信号线用于传输扫描驱动信号至相应的扫描线；阵列基板测试芯片用于生成阵列基板测试信号；测试信号线用于将阵列基板测试信号传输至相应的扫描线;G0A保护电路设置在G0A驱动信号线和测试信号线之间，用于防止测试信号线上的静电信号传输至G0A驱动信号线。[〇〇58]优选的，G0A保护电路为传输门电路。[〇〇59]优选的，传输门电路包括匪0S晶体管以及PM0S晶体管;NM0S晶体管的输入端与测试信号线连接，NMOS晶体管的输出端与GOA驱动信号线连接，NMOS晶体管的控制端与保护控制信号源连接;PM0S晶体管的输入端与测试信号线连接，PM0S晶体管的输出端与G0A驱动信号线连接，PM0S管的控制端通过非门与保护控制信号源连接。
[0060]优选的，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，保护控制信号源输出低电平信号，以隔断测试信号线与G0A驱动信号线；当相应的液晶显示面板进行画面测试时，保护控制信号源输出高电平信号，以导通测试信号线与所述G0A驱动信号线。[0061 ]优选的，G0A保护电路为反相器电路。[〇〇62]优选的，反相器电路包括第一NM0S晶体管、第二匪0S晶体管、第一PM0S晶体管以及第二PM0S晶体管;第一 NM0S晶体管输入端与低电平源连接，第一W0S晶体管的输出端与第二匪0S晶体管的输入端连接，第一 NM0S晶体管的控制端与保护控制信号源连接;第二匪0S 晶体管的输出端通过非门与G0A驱动信号线连接，第二NM0S晶体管的控制端与测试信号线连接;第一 PM0S晶体管的输入端与高电平源连接，第一 PM0S晶体管的输出端与第二PM0S晶体管的输入端连接，第一 PM0S晶体管的控制端通过非门与保护控制信号源连接;第二PM0S 晶体管的输出端通过非门与G0A驱动信号线连接，第二PM0S晶体管的控制端与测试信号线连接。[〇〇63]优选的，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，保护控制信号源输出低电平信号，以隔断测试信号线与G0A驱动信号线；当相应的液晶显示面板进行画面测试时，保护控制信号源输出高电平信号，以导通测试信号线与G0A驱动信号线。[〇〇64]优选的，G0A驱动信号线包括但不限于启动信号线、正向扫描信号线、反向扫描信号线、时钟信号线、高电平信号线、低电平信号线以及使能信号线中至少一个。[〇〇65]本发明的液晶显示面板的具体工作原理与上述的G0A电路的优选实施例中的描述相同或相似，具体请参见上述G0A电路的优选实施例中的相关描述。[〇〇66]本发明的G0A电路及液晶显示面板通过G0A保护电路的设置，可有效的避免测试信号线上的静电信号对G0A电路造成静电损伤;解决了现有的G0A电路及液晶显示面板容易造成静电损伤，从而影响整个液晶显示面板的正常工作的技术问题。[〇〇67] 综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
【主权项】
1.一种GOA电路，其特征在于，包括:G0A驱动芯片，用于生成扫描驱动信号；G0A驱动信号线，用于传输所述扫描驱动信号至相应的扫描线；阵列基板测试芯片，用于生成阵列基板测试信号；测试信号线，用于将所述阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；以及G0A保护电路，设置在所述G0A驱动信号线和所述测试信号线之间，用于防止所述测试 信号线上的静电信号传输至所述G0A驱动信号线。2.根据权利要求1所述的G0A电路，其特征在于，所述G0A保护电路为传输门电路。3.根据权利要求2所述的G0A电路，其特征在于，所述传输门电路包括NM0S晶体管以及 PM0S晶体管；所述NM0S晶体管的输入端与所述测试信号线连接，所述NM0S晶体管的输出端与所述 G0A驱动信号线连接，所述NM0S晶体管的控制端与保护控制信号源连接；所述PM0S晶体管的输入端与所述测试信号线连接，所述PM0S晶体管的输出端与所述 G0A驱动信号线连接，所述PM0S管的控制端通过非门与所述保护控制信号源连接。4.根据权利要求3所述的G0A电路，其特征在于，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，所述保护控制信号源输出低电平信号，以隔 断所述测试信号线与所述G0A驱动信号线；当相应的液晶显示面板进行画面测试时，所述保护控制信号源输出高电平信号，以导 通所述测试信号线与所述G0A驱动信号线。5.根据权利要求1所述的G0A电路，其特征在于，所述G0A保护电路为反相器电路。6.根据权利要求5所述的G0A电路，其特征在于，所述反相器电路包括第一 NM0S晶体管、 第二NM0S晶体管、第一 PM0S晶体管以及第二PM0S晶体管；所述第一W0S晶体管的输入端与低电平源连接，所述第一W0S晶体管的输出端与所述 第二NM0S晶体管的输入端连接，所述第一 NM0S晶体管的控制端与保护控制信号源连接；所述第二匪0S晶体管的输出端通过非门与所述G0A驱动信号线连接，所述第二匪0S晶 体管的控制端与所述测试信号线连接；所述第一 PM0S晶体管的输入端与高电平源连接，所述第一 PM0S晶体管的输出端与所述 第二PM0S晶体管的输入端连接，所述第一 PM0S晶体管的控制端通过非门与所述保护控制信 号源连接；所述第二PM0S晶体管的输出端通过非门与所述G0A驱动信号线连接，所述第二PM0S晶 体管的控制端与所述测试信号线连接。7.根据权利要求6所述的G0A电路，其特征在于，当相应的液晶显示面板进行画面显示时，所述保护控制信号源输出低电平信号，以隔 断所述测试信号线与所述G0A驱动信号线；当相应的液晶显示面板进行画面测试时，所述保护控制信号源输出高电平信号，以导 通所述测试信号线与所述G0A驱动信号线。8.根据权利要求1所述的G0A电路，其特征在于，所述G0A驱动信号线包括但不限于启动 信号线、正向扫描信号线、反向扫描信号线、时钟信号线、高电平信号线、低电平信号线以及 使能信号线中至少一个。9.一种液晶显示面板，其特征在于，包括GOA电路，其中所述GOA电路包括:G0A驱动芯片，用于生成扫描驱动信号；G0A驱动信号线，用于传输所述扫描驱动信号至相应的扫描线；阵列基板测试芯片，用于生成阵列基板测试信号；测试信号线，用于将所述阵列基板测试信号传输至相应的扫描线；以及 G0A保护电路，设置在所述G0A驱动信号线和所述测试信号线之间，用于防止所述测试 信号线上的静电信号传输至所述G0A驱动信号线。10.根据权利要求9所述的液晶显示面板，其特征在于，所述G0A保护电路为传输门电路 或反相器电路。
【文档编号】G09G3/36GK105976785SQ201610575503
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2016年7月21日
【发明人】洪光辉, 陈归, 龚强
【申请人】武汉华星光电技术有限公司