一种显示装置及其显示面板的制作方法
【专利摘要】本发明公开一种显示装置及其显示面板。该显示面板包括显示区域和非显示区域，非显示区域包括驱动芯片、阵列外布线、阵列基板行驱动电路以及多个测试点，多个测试点通过驱动芯片的内部走线与对应的驱动芯片的端口连接，阵列基板行驱动电路通过阵列外布线和驱动芯片的端口获取测试信号。通过以上方式，本发明能够降低驱动芯片的驱动负载，减少信号的失真。
【专利说明】
一种显示装置及其显示面板
技术领域
[0001]本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示装置及其显示面板。
【背景技术】
[0002]目前，在窄边框的显示面板进行测试时，测试信号通过测试点输入测试信号，其中测试点通过测试走线与阵列外布线(Wire On Array，W0A)直接连接。其中，由于测试走线的存在导致负载增大，增加功耗损失，并且造成阵列基板行驱动电路(Gate On Array，G0A)所产生的信号失真。
【发明内容】
[0003]本发明提供一种显示装置及其显示面板，以解决现有技术中测试走线导致负载增大并且增加功耗损失的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本发明采用的一个技术方案是:提供一种显示面板，其包括:
[0005]显示区域，包括多个像素单元；
[0006]非显示区域，与显示区域相邻设置，包括:
[0007]驱动芯片，产生驱动信号；
[0008]阵列外布线，与驱动芯片的端口连接；
[0009]阵列基板行驱动电路，通过阵列外布线与驱动芯片连接，并根据驱动信号驱动多个像素单元；
[0010]多个测试点，用于接收测试信号，通过驱动芯片的内部走线与对应的驱动芯片的端口连接，阵列基板行驱动电路通过阵列外布线和驱动芯片的端口获取测试信号。
[0011]其中，显示面板进一步包括多个静电释放保护单元，与多个测试点对应设置，每个测试点与对应的静电释放保护单元连接。
[0012]其中，显示面板进一步包括扇形走线区，与阵列外布线相邻设置，扇形走线区用于连接驱动芯片与多个像素单元，多个像素单元通过扇形走线区从驱动芯片获取数据信号。
[0013]其中，显示面板进一步包括软性电路板，与驱动芯片连接，用于连接驱动芯片和主板。
[0014]其中，阵列基板行驱动电路设置在显示区域的两侧，阵列基板行驱动电路根据驱动信号产生扫描信号，扫描信号用于驱动多个像素单元。
[0015]为实现上述目的，本发明采用的另一个技术方案是:提供一种显示装置，其包括显示面板，显示面板包括:
[0016]显示区域，包括多个像素单元；
[0017]非显示区域，与显示区域相邻设置，包括:
[0018]驱动芯片，产生驱动信号；
[0019]阵列外布线，与驱动芯片的端口连接；
[0020]阵列基板行驱动电路，通过阵列外布线与驱动芯片连接，并根据驱动信号驱动多个像素单元；
[0021]多个测试点，用于接收测试信号，通过驱动芯片的内部走线与对应的驱动芯片的端口连接，阵列基板行驱动电路通过阵列外布线和驱动芯片的端口获取测试信号。
[0022]其中，显示面板进一步包括多个静电释放保护单元，与多个测试点对应设置，每个测试点与对应的静电释放保护单元连接。
[0023]其中，显示面板进一步包括扇形走线区，与阵列外布线相邻设置，扇形走线区用于连接驱动芯片与多个像素单元，多个像素单元通过扇形走线区从驱动芯片获取数据信号。
[0024]其中，显示面板进一步包括软性电路板，与驱动芯片连接，用于连接驱动芯片和显示装置的主板。
[0025]其中，阵列基板行驱动电路设置在显示区域的两侧，阵列基板行驱动电路根据驱动信号产生扫描信号，扫描信号用于驱动多个像素单元。
[0026]本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况，本发明提供的显示面板包括显示区域和非显示区域，非显示区域包括驱动芯片、阵列外布线、阵列基板行驱动电路以及多个测试点，多个测试点通过驱动芯片的内部走线与对应的驱动芯片的端口连接，阵列基板行驱动电路通过阵列外布线和驱动芯片的端口获取测试信号，能够降低驱动芯片的驱动负载，减少信号的失真。
【附图说明】
[0027]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，进一步可以根据这些附图获得其他的附图。其中:
[0028]图1是现有技术中显示面板的测试走线的示意图；
[0029]图2是图1中测试走线的等效电路图；
[0030]图3是本发明第一实施例的显示面板的结构示意图；
[0031]图4是图3中测试点与驱动芯片连接的示意图；
[0032]图5是图4的等效电路图；
[0033]图6是本发明第一实施例的显示装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0034]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0035]请参见图1和图2，图1是现有技术中显示面板的测试走线的示意图，图2是图1中测试走线的等效电路图。如图1所示，现有技术中显示面板包括:驱动芯片11、阵列外布线12、阵列基板行驱动电路13、测试点14以及测试走线15。具体而言，显示面板包括多条阵列外布线12，多条阵列外布线12分别与对应驱动芯片11的端口 111连接，以获取驱动信号。阵列基板行驱动电路13与多条阵列外布线12连接，以获取驱动信号。多个测试点13分别通过测试走线14与对应的阵列外布线12连接。
[0036]在驱动芯片11进行封装，并且驱动芯片11控制显示面板时，由于测试走线15的存在，如图2所示，测试走线15的等效于电阻Rtest和电容Ctest，负载电阻Rtest和电容Ctest在阻抗Rl之后，进而导致驱动芯片11输出的信号通过多条阵列外布线12会存在很大的负载，导致负载增大，增加功耗损失，严重时导致阵列基板行驱动电路13产生的信号失真。
[0037]请参见图3-图5所示，图3是本发明第一实施例的显示面板的结构示意图，图4是图3中测试点与驱动芯片连接的示意图，图5是图4的等效电路图。如图3和图4所示，本实施例所揭示的显示面板包括显示区域31和与显示区域31相邻设置的非显示区域32，显示区域31包括多个像素单元311，具体而言，多个像素单元311由多个扫描线Gl，G2……，Gn和多个数据线D1，D2……，Dn交替设置。
[0038]非显示区域32包括驱动芯片321、阵列外布线322、阵列基板行驱动电路323、多个测试点324、多个静电释放保护单元325、扇形走线区326以及软性电路板327。其中，阵列基板行驱动电路323设置在显示区域31的两侧，阵列基板行驱动电路323与多个扫描线Gl，G2……，Gn连接，用于产生扫描信号。
[0039]扇形(Fanout)走线区326设置在显示区域31的下方，与阵列外布线322相邻设置，即阵列外布线322设置在扇形走线区326的两侧，驱动芯片321设置在扇形走线区326的下方。其中，扇形走线区326用于连接驱动芯片321与多个像素单元311，多个像素单元311通过扇形走线区326从驱动芯片321获取数据信号；即扇形走线区326的一端与多个数据线Dl，D2……，Dn连接，扇形走线区326的另一端与驱动芯片321连接。即在驱动芯片321驱动多个像素单元311时，驱动芯片321用于为多个数据线Dl，D2……，Dn产生数据信号。
[0040]驱动芯片321还用于产生驱动信号，阵列外布线322与驱动芯片321的端口 328连接，阵列基板行驱动电路323通过阵列外布线322与驱动芯片321连接，阵列基板行驱动电路323获取驱动芯片321的驱动信号，并根据驱动信号驱动多个像素单元311。即在驱动芯片321驱动多个像素单元311时，阵列基板行驱动电路323根据驱动信号产生扫描信号，根据扫描信号来驱动多个像素单元311中的多个扫描线Gl，G2……，Gn。
[0041]软性电路板327设置在驱动芯片321的下方，并且与驱动芯片321电性连接，软性电路板327用于连接驱动芯片321和主板33。其中，主板33优选为该显示面板所在设备的主板。
[0042]多个测试点324分别设置在软性电路板327的两侧，多个测试点324用于接收测试信号。
[0043]多个测试点324通过驱动芯片321的内部走线329与对应的驱动芯片321的端口328连接，其中多个测试点324与驱动芯片321的多个端口 328——对应。在通过多个测试点324对显示面板进行测试时，阵列基板行驱动电路323通过阵列外布线322和驱动芯片321的端口 328获取测试信号。
[0044]其中，多个测试点324进一步与多个静电释放保护单元325连接，多个静电释放保护单元325与多个测试点324对应设置，每个测试点324与对应的静电释放保护单元325连接。多个静电释放保护单元325用于防止静电对驱动芯片321造成损坏。
[0045]如图5所示，驱动芯片321的内部走线329(即测试走线)等效于串联连接的电阻Rtest和电容Ctest，即测试走线所等效的负载Rtest和Ctest设置在电阻Rl之前，对于驱动芯片321的驱动信号的传输延时小，因此能够降低驱动芯片321的驱动负载，并且减少信号的失真。
[0046]本发明还提供一种显示装置，如图6所示，本实施例所揭示的显示装置优选为智能手机、平板电脑、掌上电脑等，其包括显示面板61和主板62，其中显示面板61与主板62建立连接，进行数据传输，本实施例所揭示的显示面板61为上述第一实施例所描述的显示面板，在此不再赘述。
[0047]综上所述，本发明提供的显示面板包括显示区域和非显示区域，非显示区域包括驱动芯片、阵列外布线、阵列基板行驱动电路以及多个测试点，多个测试点通过驱动芯片的内部走线与对应的驱动芯片的端口连接，阵列基板行驱动电路通过阵列外布线和驱动芯片的端口获取测试信号，能够降低驱动芯片的驱动负载，减少信号的失真。
[0048]以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
【主权项】
1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括: 显示区域，包括多个像素单元； 非显示区域，与所述显示区域相邻设置，包括: 驱动芯片，产生驱动信号； 阵列外布线，与所述驱动芯片的端口连接； 阵列基板行驱动电路，通过所述阵列外布线与所述驱动芯片连接，并根据所述驱动信号驱动所述多个像素单元； 多个测试点，用于接收测试信号，通过所述驱动芯片的内部走线与对应的所述驱动芯片的端口连接，所述阵列基板行驱动电路通过所述阵列外布线和所述驱动芯片的端口获取所述测试信号。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板进一步包括多个静电释放保护单元，与所述多个测试点对应设置，每个所述测试点与对应的所述静电释放保护单元连接。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板进一步包括扇形走线区，与所述阵列外布线相邻设置，所述扇形走线区用于连接所述驱动芯片与所述多个像素单元，所述多个像素单元通过所述扇形走线区从所述驱动芯片获取数据信号。4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板进一步包括软性电路板，与所述驱动芯片连接，用于连接所述驱动芯片和主板。5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板行驱动电路设置在所述显示区域的两侧，所述阵列基板行驱动电路根据所述驱动信号产生扫描信号，所述扫描信号用于驱动所述多个像素单元。6.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括显示面板，所述显示面板包括: 显示区域，包括多个像素单元； 非显示区域，与所述显示区域相邻设置，包括: 驱动芯片，产生驱动信号； 阵列外布线，与所述驱动芯片的端口连接； 阵列基板行驱动电路，通过所述阵列外布线与所述驱动芯片连接，并根据所述驱动信号驱动所述多个像素单元； 多个测试点，用于接收测试信号，通过所述驱动芯片的内部走线与对应的所述驱动芯片的端口连接，所述阵列基板行驱动电路通过所述阵列外布线和所述驱动芯片的端口获取所述测试信号。7.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述显示面板进一步包括多个静电释放保护单元，与所述多个测试点对应设置，每个所述测试点与对应的所述静电释放保护单元连接。8.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述显示面板进一步包括扇形走线区，与所述阵列外布线相邻设置，所述扇形走线区用于连接所述驱动芯片与所述多个像素单元，所述多个像素单元通过所述扇形走线区从所述驱动芯片获取数据信号。9.根据权利要求8所述的显示装置，其特征在于，所述显示面板进一步包括软性电路板，与所述驱动芯片连接，用于连接所述驱动芯片和所述显示装置的主板。10.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述阵列基板行驱动电路设置在所述显示区域的两侧，所述阵列基板行驱动电路根据所述驱动信号产生扫描信号，所述扫描信号用于驱动所述多个像素单元。
【文档编号】G09G3/00GK106057109SQ201610629099
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年8月3日
【发明人】赵莽, 张启沛
【申请人】武汉华星光电技术有限公司