用于测量泰伯效应特性的实验装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型属于大学物理实验仪器技术领域，尤其涉及一种用于测量泰伯效应特 性的实验装置。
【背景技术】
[0002] 泰伯效应是一种很重要的光学现象，又叫做衍射自成像效应，是指当一束单色平 面光照射一个光栅时会在光栅后的一定距离处出现光栅自身的像。传统的成像都需要借助 透镜来实现，而泰伯效应则是一种无透镜的自成像现象。
[0003] 泰伯效应成像的距离公式为：
[0004]
【主权项】
1. 一种用于测量泰伯效应特性的实验装置，其特征在于，包括激光器、空间光调制器、 CCD图像采集系统、图像采集卡以及计算机，所述激光器、空间调制器、CCD图像采集系统分 别与实验导轨滑动连接，所述图像采集卡的输入端与所述CCD图像采集系统的输出信号端 连接，所述图像采集卡的输出端与所述计算机的输入信号端连接。
2. 根据权利要求1所述的用于测量泰伯效应特性的实验装置，其特征在于：所述空间 光调制器包括起偏器、液晶光阀、检偏器以及控制电箱，所述起偏器、液晶光阀、检偏器分别 与所述实验导轨滑动连接，所述起偏器与所述检偏器透光偏振方向相互垂直，所述液晶光 阀与所述控制电箱连接。
3. 根据权利要求1所述的用于测量泰伯效应特性的实验装置，其特征在于：所述实验 导轨的长度方向设有刻度。
【专利摘要】本实用新型属于大学物理实验仪器技术领域，尤其涉及一种用于测量泰伯效应特性的实验装置，包括激光器、空间光调制器、CCD图像采集系统、图像采集卡以及计算机，所述激光器、空间调制器、CCD图像采集系统分别与所述实验导轨滑动连接，所述图像采集卡的输入端与所述CCD图像采集系统的输出信号端连接，所述图像采集卡的输出端与所述计算机的输入信号端连接。本实用新型的效果是光路中光栅的光栅常数可以通过空间光调制器任意改变；光栅的衍射自成像通过CCD采集，放大在计算机屏幕上现实，方便观测；通过软件分析光栅的衍射自成像的对比度，可以判断清晰的成像位置，提高测量精度。
【IPC分类】G09B23-22
【公开号】CN204315149
【申请号】CN201420495232
【发明人】张姝
【申请人】天津港东科技发展股份有限公司
【公开日】2015年5月6日
【申请日】2014年8月29日