一种测量光强分布的实验装置的制造方法

文档序号:10211778阅读:342来源:国知局
一种测量光强分布的实验装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于教学实验仪器技术领域,具体涉及一种测量光强分布的实验装置,尤其涉及用数显游标卡尺来改装测量光强分布的实验装置。
【背景技术】
[0002]光的衍射现象是光的波动性的一种表现,研究光的衍射,不仅有助于加深对光的本性的理解,同时对近代光学技术如X光晶体衍射、光谱分析、全息分析、光信息处理等实验,也是重要实验基础。传统的光强分布实验装置一般采用氦氖激光器,移动位置测量装置一般采用手摇鼓轮加丝杆装置,这种装置不仅成本高,而且测量时读数不方便,回程调节慢。

【发明内容】

[0003]本实用新型的目的在于提供一种测量光强分布的实验装置,用以高等院校大学物理实验,能准确方便地测量单丝、单缝以及双丝和双缝的衍射光强分布。
[0004]本实用新型所提供的测量光强分布的实验装置,其结构如图1所示。包括激光器二维调节架1、半导体激光器2、光刻衍射屏3、游标尺测量装置4、固定滑块5、可微调滑块6、光学导轨7、双立柱固定滑块8,其中:
[0005]半导体激光器2、光刻衍射屏3和游标尺测量装置4分别通过滑块固定在光学导轨7上;其中半导体激光器2装在激光器二维调节架I上,二维调节架I可以调节激光器的出射光线的俯仰角和水平面上的左右角度,二维调节架I下部通过固定滑块5固定在导轨7的最左侧;光刻衍射屏3安装在可微调滑块6上,可微调滑块6可以在垂直导轨方向前后微调10毫米距离,用以改变激光通过光刻衍射屏的位置,该滑块一般固定在靠近激光器的一侧;游标尺测量装置4通过双立柱固定滑块8固定在导轨7的右端。
[0006]本实用新型中,所述半导体激光器2出射光线与光刻衍射屏3中的测量狭缝以及游标尺测量装置4中探测器处于同一直线。
[0007]本实用新型中,所述半导体激光器2安装在激光器二维调节支架I上,二维调节支架I后部设有两个微调螺丝,激光器出射光线可以通过二维调节支架I后部的两个微调螺丝来改变俯仰角和水平方向左右角。
[0008]本实用新型中,所述光刻衍射屏3上可有三种孔径的单缝、单丝,和双缝、双丝,共12组衍射测量线。
[0009]本实用新型中,所述双立柱固定滑块8为滑块在垂直导轨方向安装有两个立柱,如图2所示,这样保证上部游标尺测量装置4能够在垂直导轨方向移动以满足光强分布测量要求。
[0010]本实用新型的优点在于,较之传统的光强分布测量装置具有装置简单、成本低、位置读数调零方便等特点,特别适合于高等院校基础物理实验。
【附图说明】
[0011 ]图1为本实用新型的装置结构示意图。
[0012]图2为游标尺测量装置结构示意图。
[0013]图中标号:I为激光器二维调节架、2为半导体激光器、3为光刻衍射屏、4为游标尺测量装置、5为固定滑块、6为可微调滑块、7为光学导轨、8为双立柱固定滑块。9为探测器输出接头,10为光电探测器,11为游标尺显示架,12为游标尺主尺,13为游标尺固定架,14为双立柱。
【具体实施方式】
[0014]本实用新型包括激光器二维调节架1、半导体激光器2、光刻衍射屏3、游标尺测量装置4、固定滑块5、可微调滑块6、光学导轨7、双立柱固定滑块8,其中:
[0015]其中所述半导体激光器2、光刻衍射屏3和游标尺测量装置4通过三个滑块固定在80厘米长光学导轨上,其中所述光刻衍射屏3固定滑块具有垂直导轨方向10毫米微调装置,可以改变激光器照射的位置,光刻屏上刻有不同孔径的单丝、单缝、双丝和双缝,可以满足不同的衍射实验要求。
[0016]本实用新型中,游标尺测量装置4由一把长度150毫米数显游标卡尺改装而来,如图2所示。其包括:探测器输出接头9、光电探测器10、游标尺显示架11、游标尺主尺12、游标尺固定架13、双立柱14。游标尺主尺12固定在游标尺固定架13上,并在底部留出足够空间,利于实验者手推动游标尺显示架11移动,游标尺显示架11后部连接有一块线路板,线路板上面安装光电探测器10,探测器通过输出接头9连接到显示屏装置,可以显示探测光强。
【主权项】
1.一种测量光强分布的实验装置,其特征在于,包括激光器二维调节架、半导体激光器、光刻衍射屏、游标尺测量装置、固定滑块、可微调滑块、光学导轨、双立柱固定滑块,其中: 所述半导体激光器、光刻衍射屏和游标尺测量装置(4)分别通过滑块固定在光学导轨上;其中半导体激光器安装在激光器二维调节架上,二维调节架用以调节激光器的出射光线的俯仰角和水平面上的左右角度,二维调节架下部通过固定滑块(5)固定在导轨的最左侦h光刻衍射屏安装在可微调滑块上,可微调滑块可以在垂直导轨方向前后微调10毫米距离,用以改变激光通过光刻衍射屏的位置,该滑块固定在靠近激光器的一侧;游标尺测量装置通过双立柱固定滑块固定在导轨的右端。2.根据权利要求1所述的测量光强分布的实验装置,其特征在于,所述半导体激光器出射光线与光刻衍射屏中的测量狭缝以及游标尺测量装置中探测器处于同一直线。3.根据权利要求2所述的测量光强分布的实验装置,其特征在于,所述二维调节支架后部设有两个微调螺丝,激光器出射光线可以通过二维调节支架后部的两个微调螺丝来改变俯仰角和水平方向左右角。4.根据权利要求3所述的测量光强分布的实验装置,其特征在于,所述光刻衍射屏上有三种孔径的单缝、单丝,和双缝、双丝,共12组衍射测量线。5.根据权利要求4所述的测量光强分布的实验装置,其特征在于,所述游标尺测量装置由一把长度150毫米数显游标卡尺改装而来;其包括:探测器输出接头、光电探测器、游标尺显示架、游标尺主尺、游标尺固定架、双立柱;游标尺主尺固定在游标尺固定架上,并在底部留出足够空间,利于实验者手推动游标尺显示架移动,游标尺显示架后部连接有一块线路板,线路板上面安装光电探测器,探测器通过输出接头连接到显示屏装置,用以显示探测光强。
【专利摘要】本实用新型属于教学实验仪器技术领域,具体为一种测量光强分布的实验装置。本实验装置包括激光器两维调节支架、半导体激光器、衍射光刻屏、游标尺光强测量装置、固定滑块、可微调滑块和光学导轨。其中半导体激光器、衍射光刻屏和游标尺光强测量装置通过三个滑块固定在光学导轨上,衍射光刻屏固定滑块具有垂直导轨方向微调装置,游标尺光强测量装置可由是一把数显游标卡尺改装而来,在数显移动端上部装有一光电探测器,用以测量激光经过衍射之后的光强,数显游标卡尺通过固定支架安装在滑块上部,可以垂直导轨方向移动,并通过数显读出位置读数。由于数显游标尺有调零按钮且读数精度高,所以该光强分布实验装置调节方便、测量准确,特别适合于高等院校基础物理实验。
【IPC分类】G09B23/22
【公开号】CN205122058
【申请号】CN201520917323
【发明人】时晨, 张晨波, 夏原
【申请人】上海复旦天欣科教仪器有限公司
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年11月17日
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