一种液晶显示面板检测装置的制作方法

专利名称：一种液晶显示面板检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板检测装置。
背景技术：
在液晶显示技术领域，液晶显示器件的不良现象经常发生，不良现象多种多样。减少不良的发生，提闻广品的良品率，从而节约成本是每个厂家一直追求的目标。在TFT-IXD制造过程中，液晶显示器件产生不良的现象是不可以避免的。所述不良主要分两大类别光学不良和电学不良。光学不良产生的因素包括液晶、金属电极、绝缘层、取向层和封框胶等出现问题，并且以上任何一个因素都会导致如水平黑线、白线、黑点等光学不良。电学不良产生的因素主要是阵列工艺上的各种缺陷，如电路线短路、断路或 存在污溃颗粒等现象。相应地，在制作产品的过程中，有光学检测设备和电学检测设备，液晶显示面板的不良可以通过光学检测设备和电学检测设备检测相应的不良现象，如通过光学检测设备检测液晶是否具有缺陷、或通过电学检测设备检测TFT是否有坏损的情况。现有技术检测液晶显示面板是否存在光学不良的方法为，通过光学对位，将与数据线对应的探针和与扫描线对应的探针分别精确接触液晶显示面板的信号输入端口，当给液晶显示面板施加信号电压时，实现画面的显示，从而检测液晶显示面板上是否存在不良。但是现有的不良检测设备，只能在一张较大的玻璃基板经切割工艺之后，针对每一个经切割工艺后得到的面板去测量，但是存在以下缺陷第一、工程不良反馈时间较长，只有在制作出大量的包括有多个面板的玻璃基板后，并对每一张玻璃基板进行切割得到液晶显示面板，才能测量面板的不良，无法同时针对一张玻璃基板上的所有面板进行测量。当某一不良存在一张玻璃基板上的所有面板中时，一一测试面板的不良，明显带来较大的工作量。并且，现有无法在切割工艺之前反应面板的不良，会导致产品的报废率较高。第二、检测出的不良无法判断是电学不良还是光学不良。在不良分析的过程中，如果能够准确识别不良属于电学不良还是光学不良，可以帮助工程师更快速地定位不良的原因。第三、检测设备的工作精度要求很高。例如，检测过程中，调整Block的位置，使Block的Blade与Panel Pad部位置——对应，对设备移动需要精确到lum。第四、检测设备必须使用印刷电路板，低压差分信号线，信号发生器，探针单元等硬件。第五、当液晶显示器件的型号发生改变时，必须更换印刷电路板，低压差分信号线探针单元等硬件设备。即每个尺寸的液晶盒需要相应的一套检测设备，检测设备的成本较闻。综上，现有技术检测面板的不良现象的效率太低，目前还没有一种检测设备，能够在液晶显示面板切割工艺之前就能够检测产品的某些电学不良或光学不良，也没有针对所有规格的产品通用的检测设备。

发明内容
本发明实施例提供一种液晶显示面板检测装置，用以及时高效地检测出面板的不良现象。为了实现上述目的，本发明提供的液晶显示面板检测装置，包括底座；第一透明基板，位于所述底座上垂直于底座放置；
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第二基板，位于所述底座上垂直于底座放置，且与所述第一透明基板相对平行放置，其中，所述第一透明基板和第二基板之间的垂直距离不小于被检测的液晶显示面板的·
厚度；第一透明金属膜层，形成在所述第一透明基板上；第二金属膜层，形成在所述第二基板上；为第一透明金属膜层和第二金属膜层提供电压信号的信号发生器，与所述第一透明金属膜层和第二金属膜层电连接；为被检测的液晶显示面板提供背光的背光源。本发明通过将待检测物(包含有多个液晶显示面板的玻璃基板)放置于所述第一透明基板和第二基板之间，通过信号发生器为位于第一透明基板上的第一透明金属膜层和位于第二基板上的第二金属膜层施加电压信号，以及通过背光源为液晶显示面板提供光源，实现不同灰阶图像的显示，测试切割之前的液晶显示面板的不良现象。提高检测液晶显示面板不良的效率。


图I为本发明实施例提供的液晶显示面板检测装置结构侧视示意图；图2为本发明实施例提供的液晶显示面板检测装置结构正视示意图；图3为本发明实施例提供的另一液晶显示面板检测装置结构侧视示意图；图4为本发明实施例提供的另一液晶显示面板检测装置结构正视示意图；图5为本发明实施例提供的液晶显不面板上不良的形状和区域不意图。
具体实施例方式本发明实施例提供了一种液晶显示面板检测装置，用以快速检测出切割之前的玻璃基板上的各液晶显示面板的不良现象。本发明提及的液晶显示面板(简称面板)为将一整块玻璃基板切割之后得到的面板，每一块面板对应一个液晶显示装置。一整块玻璃基板可以用于同时制作多个一定尺寸的液晶显示面板，将包含有多个液晶显示面板的玻璃基板进行切割，得到多个独立的液晶显示面板。所述液晶显示面板的制作流程为阵列工艺、彩膜工艺、液晶盒工艺，和模组工艺。其中，阵列工艺、彩膜工艺、液晶盒工艺都是在一整块玻璃基板上完成的，即，在玻璃基板切割之前完成的。模组工艺是在玻璃基板经切割之后得到面板上完成的。
一般情况下，一块玻璃(Glass)基板的长和宽的都在一米以上，可以被切割成多块面板。在液晶显示器件的制作流程过程中，约有300多次工序，每道工序都有可能造成液晶显示面板的不良。因此，及时检测出每道工序中液晶面板出现的不良并尽快解决，对于产品的大批量生产模式是非常重要的。如果在某一道工序中出现了问题且没有及时发现，造成不可挽回的损失是巨大的。本发明针对某些不良，如液晶盒工艺之后，面板出现的关于液晶质量问题导致的不良或者TFT损坏导致的不良等，在玻璃基板没有进行切割工艺之前，使用液晶显示面板检测装置对一整块玻璃基板上的面板进行不良的检测，及时发现不良的产生，及时解决。下面通过附图具体说明本发明实施例提供的技术方案。参见图1，为本发明实施例提供的液晶显示面板检测装置的侧视示意图。本发明实施例提供的一种液晶显示面板检测装置，包括底座I ;第一透明基板2,位于底座I上垂直于底座I放置；第二基板3，位于底座I上垂直于底座I放置，且与第一透明基板2相对平行放置，其中，第一透明基板2和第二基板3之间的垂直距离不小于被检测的液晶显示面板的厚度；第一透明金属膜层4，形成在第一透明基板2上；第二金属膜层5，形成在第二基板3上；为第一透明金属膜层4和第二金属膜层5提供电压信号的信号发生器6,与第一透明金属膜层4，和第二金属膜层5电连接；为被检测的液晶显示面板提供背光的背光源7。其中，第一透明金属膜层4可以形成在第一透明基板2的任意一侧，第二金属膜层5可以形成在第二基板3的任意一侧。为了保护第一透明金属膜层4，或第二金属膜层5不会受损，较佳地，第一透明金属膜层4，形成在第一透明基板2上与第二基板3相距较远的一侧；第二金属膜层5，形成在 第二基板3上与第一透明基板2相距较远的一侧。所述第二基板可以是透明的也可以是不透明的。所述第二金属膜层可以是透明的也可以是不透明的。较佳地，所述第一透明基板和第二基板的面积不小于被检测的液晶显示面板的面积，以保证被检测的液晶显示面板在一次检测过程中都被检测。图2为本发明实施例提供的液晶显示面板检测装置的正视示意图。本发明通过将待检测物(包含有多个液晶显示面板的玻璃基板)放置于所述第一 透明基板和第二基板之间，通过信号发生器为位于第一透明基板上的第一透明金属膜层和位于第二基板上的第二金属膜层施加电信号，以及通过背光源提供的光源，实现不同灰阶图像的显示，测试切割之前的液晶显示面板的不良现象。提高检测液晶显示面板不良的效率。较佳地，所述信号发生器可以位于所述底座上，所述背光源可以位于所述底座上。所述信号发生器或背光源也可以是和底座独立的装置。较佳地，背光源7为亮度可调的背光源。
参见图3,所述液晶显示面板检测装置还包括第一偏光片8,形成在第一透明金属膜层4之上；第二偏光片9,形成在第二金属膜层5之上。较佳地，第一透明基板2和/或第二基板3为玻璃基板，便于透光第一透明基板2或第二基板3观察位于第一透明基板2和第二基板3之间的液晶显示面板的显示画面。较佳地，所述第一透明金属膜层可以为铟锡氧化物ITO导电膜层。所述第二金属膜层可以是铟锡氧化物ITO导电膜层，或者为金属导电膜层，如银Ag或者招Al。较佳地，所述液晶显示面板检测装置还包括位于第一透明基板2和/或第二基板 3上的至少一个夹子10。所述夹子可以但不限于为气动夹子。该夹子用于夹持第一透明基板2与待测物(玻璃基板)，或第二基板3与待测物(玻璃基板)，使得液晶显示面板在底座上保持稳定。其中，第一透明基板2上的夹子10用于夹持待测物(玻璃基板)和第一透明基板2，第二基板3上的夹子10用于夹持待测物(玻璃基板)和第二基板3。较佳地，所述液晶显示面板检测装置还包括与信号发生器6、背光源7，以及夹子10电连接的控制装置11。该控制装置11与背光源7连接用于控制背光源7的开闭，以及控制背光源7的亮度。该控制装置11与夹子10连接，用于控制夹子10的开关。该制装置11与信号发生器6连接，用于控制信号发生器6工作。较佳地，可以通过所述控制装置上的操作界面和操作按钮实现对信号发生器、背光源，以及夹子的控制。所述控制装置11可以设置在底座上，与底座构成一个整体结构，或者可以是一个独立于底座的装置。 较佳地，所述液晶显示面板检测装置还包括位于背光源7和第一透明基板2或者位于背光源7和第二基板3之间的光线扩散板12。光线扩散板12用于将背光源的光线均匀扩散到整个基板(第一透明基板或第二基板)上，保证光线投射到液晶显示面板上的均匀性，使得测试的不良更加准确。本发明实施的待测物为不止一个液晶显示面板，具体为未经切割工艺的包含有多个液晶显示面板的玻璃基板。图3所示的液晶显示面板检测装置的结构为侧视示意图,其正视示意图如图4所
/Jn o下面具体说明使用本发明实施例提供的液晶显示面板检测装置，检测液晶显示面板的方法。具体包括以下步骤步骤一、将一张包含有多个面板的玻璃基板放置于液晶显示面板检测装置的底座上。具体地，将玻璃基板放置于液晶显示面板检测装置的底座上、位于第一透明基板和第二基板之间。所述液晶显示面板是根据现有的方法通过阵列基板(TFT基板)和彩膜基板(CF基板)，对盒工艺后形成。步骤二、人为操作具有控制面板的控制装置，控制背光源、夹持玻璃基板的夹子，以及信号发生器的打开。具体地，在控制装置控制打开信号发生器之后，通过对第一透明金属膜层和第二金属膜层进行显示电压的输入，不同的电压对应被检测的液晶显示面板显示的不同的灰阶。当信号发生器的显示电压输入到第一透明基板上的第一导电膜层上和第二基板上的第二导电膜层上时，第一透明基板和第二基板组成平行板电容器形成平行电场。该电场可以是恒定电场或交变电场，由信号发生起决定。玻璃基板上的各面板中的液晶分子沿电场取向偏转实现显示。位于第一透明基板或者第二基板后的背光源为面板提供背光。在一定的显示电压下，一定的背光源光强下，液晶显示面板会出现同一的颜色，如全黑或者全白或者一定的灰度。通过液晶显示面板上的显示图像的特征可以判断，液晶显示面板的不良光学不良还是电学不良，是光学不良或电学不良中的具体哪一种不良。例如第一透明基板和第二基板之间施加电场后，当液晶层中出现液晶异常，异常 区域的液晶分子将无法正常偏转，该区域的就出现显示异常与其他区域显示的画面灰度不同显示不均。且这种异常的显示是永久性的，不会消失，这种现象表明面板的液晶分子有缺陷。本发明可以通过人眼观察液晶基板输入显示信号后，如果出现显示面板上的图像显示不均，则表明液晶面板内有缺陷，Cell制程有异常；如果没有出现显示不均，则表明Cell制程没有异常。本发明实施例提供的液晶面板检测装置还可以用到不良分析过程。可以检测某种不良属于电学性不良或者是光学性不良。当在正常液晶盒检测工位检测出来一种显示不均的不良，该不良无法确定是否为电学性不良。可以进行如下处理一、对液晶盒不良处进行标记Mark处理，明确标注出不良的形状和区域。当液晶层中出现液晶异常，或者PI膜层中出现异常，如图5所示的42为异常区域，41为正常区域。异常区域42的液晶分子将无法正常偏转，该区域的就出现显示异常与其他区域显示的画面灰度不同显示不均，该不良属于光学性不良。当TFT器件损坏，TFT器件电学特性不均匀时候，该区域PI膜和液晶膜正常液晶分子可以正常偏转。基于以上原理，本发明可以区分面板Panel出现的不良是电学性不良还是光学性不良。二、将不良的液晶盒放置于本发明的检测设备上进行检测，观察Mark区域的显示情况。如果Mark区域出现显示不均，则表明该不良为光学性不良；如果Mark区域没有出现显示不均，则表明该不良为电学性不良。综上所述，本发明实施例提供了一种液晶显示面板检测装置，检测液晶显示面板可以带来以下有益效果第一、由于在一次检测过程中，检测的是玻璃基板上的多个面板，如果面板上出现不良，相比较对切割玻璃基板后得到的面板的检测，本发明在液晶显示面板对盒工艺后即可检测，工程不良反馈时间很快。第二、本发明液晶显示面板检测装置检测的不良，可见的不良都属于Cell工程不良，不可见的不良属于Array工程不良。可以初步归类不良的这类，便于后续快速定位不良。第三、本发明液晶显示面板检测装置检测面板的不良，对检测设备的工作精度要求很低。因为使用镀有导电膜层如ITO的第一透明基板和第二基板作为检测设备的信号输入装置，因此只需要保证待检测基板处于检测区域即可。第四、本发明液晶显示面板检测装置无需使用PCB-A，LVSDS Cable, P/G, P/U等昂贵的硬件，仅需两块镀有导电膜层的基板和信号发生装置即可实现对面板的检测。第五、本发明液晶显示面板检测装置可以同时对一张玻璃基板上的面板进行检测，无需考虑面板的规格型号，所有型号的面板通用一套检测设备。综上所述，本发明实施例提供的液晶显示面板检测装置，通过将待检测物(包含有多个液晶显示面板的玻璃基板)放置于所述第一透明基板和第二基板之间，通过信号发生器为位于第一透明基板上的第一透明金属膜层和位于第二基板上的第二金属膜层施加电信号，以及通过背光源提供的光源，实现不同灰阶图像的显示，测试切割之前的液晶显示面板的不良现象。提高检测液晶显示面板不良的效率。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求
1.一种液晶显示面板检测装置，其特征在于，包括 底座； 第一透明基板，位于所述底座上垂直于底座放置； 第二基板，位于所述底座上垂直于底座放置，且与所述第一透明基板相对平行放置，其中，所述第一透明基板和第二基板之间的垂直距离不小于被检测的液晶显示面板的厚度； 第一透明金属膜层形成在所述第一透明基板上； 第二金属膜层，形成在所述第二基板上； 为第一透明金属膜层和第二金属膜层提供电压信号的信号发生器，与所述第一透明金 属膜层和第二金属膜层电连接； 为被检测的液晶显示面板提供背光的背光源。
2.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，所述信号发生器位于所述底座上，所述背光源位于所述底座上。
3.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，所述第一透明基板和第二基板的面积不小于被检测的液晶显示面板的面积。
4.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，所述第一透明金属膜层形成在所述第一透明基板上与第二基板相距较远的一侧，所述第二金属膜层，形成在所述第二基板上与第一透明基板相距较远的一侧。
5.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，该装置还包括 第一偏光片，形成在所述第一透明金属膜层之上； 第二偏光片，形成在所述第二金属膜层之上。
6.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，所述第一透明基板和/或第二基板为透明玻璃基板。
7.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，所述第一透明金属膜层或第二金属膜层为铟锡氧化物导电膜层。
8.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，该装置还包括位于所述第一透明基板和/或第二基板上的至少一个夹持待检测的液晶显示面板的夹子。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述夹子为气动夹子。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，该装置还包括与所述信号发生器、背光源，以及夹子电连接用于控制所述信号发生器、背光源，以及夹子工作的控制装置。
11.根据权利要求I所述的装置，其特征在于，该装置还包括位于背光源和所述第一透明基板或者位于背光源和所述第二基板之间的光线扩散板。
全文摘要
本发明公开了一种液晶显示面板检测装置，用以快速检测出被检测的液晶显示面板的不良现象。本发明提供的液晶显示面板检测装置包括底座；第一透明基板，位于所述底座上垂直于底座放置；第二基板，位于所述底座上垂直于底座放置，且与所述第一透明基板相对平行放置，其中，所述第一透明基板和第二基板之间的垂直距离不小于被检测的液晶显示面板的厚度；第一透明金属膜层，形成在所述第一透明基板上；第二金属膜层，形成在所述第二基板上；为第一透明金属膜层和第二金属膜层提供电压信号的信号发生器，与所述第一透明金属膜层和第二金属膜层电连接；为被检测的液晶显示面板提供背光的背光源。
文档编号G02F1/13357GK102749735SQ20121022686
公开日2012年10月24日 申请日期2012年6月29日 优先权日2012年6月29日
发明者张钟石, 郭栋, 金用燮 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 合肥京东方光电科技有限公司