一种液晶显示装置亮度的校对方法和装置与流程

本发明涉及校对技术领域，更具体的说，涉及一种液晶显示装置亮度的校对方法和装置。

背景技术：

液晶显示装置的亮度是重要的参数，亮度直接影响到人们观看的状态，很多液晶显示装置的出厂的亮度，例如计算器的液晶显示屏，手握游戏机的液晶显示屏，一些遥控器的液晶显示屏等，这些显示屏的出厂亮度往往会固定，因此这些亮度需要合理的设置，以便用户使用。

目前，使用液晶显示装置亮度测试仪测试液晶显示装置的亮度时，通常是员工通过观测测试仪的数值来手动调节液晶显示装置的参数，在确认参数是最佳值后，将其写入到液晶显示装置中。此调节方法步骤繁多，而且由于大多步骤是手动操作，存在误判与误操作风险，且对员工的专业技能要求较高。

因此，亟需一种效率更高，更加可靠的液晶显示装置亮度的校对方法和装置。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是提供一种效率更高，更加可靠的液晶显示装置亮度的校对方法和装置。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种液晶显示装置亮度的校对方法，所述方法包括：

获取液晶显示装置的亮度初始值；

计算液晶显示装置的亮度最佳值；

判断亮度最佳值是否为最佳化；

若计算的亮度最佳值为最佳化，则将最佳值写入到液晶显示装置中；

判断写入的写入值是否正确，若正确，则结束。

进一步的，在所述获取液晶显示装置的亮度初始值的步骤之前还包括，

初始化液晶显示装置；

确认液晶显示装置工作状态是否正常；

若液晶显示装置工作状态正常，则将亮度感应单元与所述液晶模组进行对焦。

进一步的，在所述计算液晶显示装置的亮度最佳值的步骤之后还包括，

测试液晶显示装置的亮度值。

进一步的，所述亮度初始值通过使用硅光电池检测液晶显示装置表面的亮暗变化获取；并通过运算放大器对亮度信号进行放大并通过滤波器对亮度信号进行滤波，生成亮度模拟信号，通过模数转换器将亮度模拟信号转换为直流信号。

进一步的，使用ARM芯片作为亮度感应单元的主控芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示装置相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整亮度感应单元与液晶显示装置的距离。

一种液晶显示装置亮度的校对装置，包括：

主控芯片，与主控芯片相连的升降平台，测试液晶显示装置的亮度感应单元，与亮度感应单元相连的运算放大器，与运算放大器相连的滤波器，与滤波器相连的模数转换器，所述主控芯片还与液晶显示装置相连，其中，所述主控芯片包括：

获取模块，用于获取液晶显示装置的亮度初始值；

处理模块，用于计算液晶显示装置的亮度最佳值；

第一测试模块，用于判断亮度最佳值是否为最佳化；

写入模块，若计算的亮度最佳值为最佳化，则用于将最佳值写入到液晶显示装置中；

第二测试模块，用于判断写入的写入值是否正确，若正确，则结束。

进一步的，所述主控芯片还包括：

初始化模块，用于初始化液晶显示装置；

液晶测试模块，用于确认液晶显示装置工作状态是否正常；

对焦模块，用于若液晶显示装置工作状态正常，则将亮度感应单元与所述液晶模组进行对焦；

其中，所述对焦模块与所述获取模块相连。

进一步的，所述主控芯片还包括：

亮度检测模块，用于测试液晶显示装置的亮度值；

其中，所述亮度检测模块与处理模块和第一测试模块相连。

进一步的，所述亮度感应单元为硅光电池，所述运算放大器可对亮度信号进行放大并通过滤波器对亮度信号进行滤波，生成亮度模拟信号，通过模数转换器将亮度模拟信号转换为直流信号。

进一步的，所述主控芯片为ARM芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示装置相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整亮度感应单元与液晶显示装置的距离。

采用本发明的液晶显示装置亮度的校对方法，就可以通过亮度感应单元测试得到液晶显示装置的亮度值，然后将这个数值发送给主控芯片，主控芯片在获取到亮度初始值后，就会根据获取的众多亮度初始值进行计算得到液晶显示装置的亮度最佳值，然后，主控芯片就会判断亮度最佳值是否为最佳化，如果为最佳化就将计算得到的最佳值写入到液晶显示装置中，之后，主控芯片会从液晶显示装置中检测写入的亮度最佳值是否与计算得到最佳值相同，若是相同的，则就完成了本次校对，若检测写入的亮度最佳值与计算得到最佳值不相同，则会进行重新写入，直到写入值与计算得到的最佳值相同，即可完成本次校对，这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示装置的亮度校对，而且在写入亮度最佳值后，还进行检测写入值的步骤，这样就大大降低了写入出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

附图说明

图1是本发明实施例一的液晶显示装置亮度的校对方法的流程图；

图2是本发明实施例二的液晶显示装置亮度的校对方法的流程图；

图3是本发明实施例三的液晶显示装置亮度的校对装置的示意图；

图4是本发明实施例三的主控芯片的示意图；

图5是本发明实施例三的升降平台的示意图。

其中：10、主控芯片，11、获取模块，12、处理模块，13、第一测试模块，14、写入模块，15、第二测试模块,16、写入检测模块。17、亮度检测模块，18、初始化模块，19、液晶测试模块，20、对焦模块，31、升降平台，32、对比度感应单元，33、运算放大器，34、滤波器，35、模数转换器。

具体实施方式

下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。

实施例一

如图1所示，一种液晶显示装置亮度的校对方法，所述方法包括：

S100，获取液晶显示装置的亮度初始值；

S200，计算液晶显示装置的亮度最佳值；

S300，判断亮度最佳值是否为最佳化；

S400，若计算的亮度最佳值为最佳化，则将最佳值写入到液晶显示装置中；

S500，判断写入的写入值是否正确，若正确，则结束。

本发明中，由于方法包括，S100获取液晶显示装置的亮度初始值；S200计算液晶显示装置的亮度最佳值；S300，判断亮度最佳值是否为最佳化；S400，若计算的亮度最佳值为最佳化，则将最佳值写入到液晶显示装置中；S500判断写入的写入值是否正确，若正确，则结束。这样，就可以通过亮度感应单元测试得到液晶显示装置的亮度值，然后将这个数值发送给主控芯片，主控芯片在获取到亮度初始值后，就会根据获取的众多亮度初始值进行计算得到液晶显示装置的亮度最佳值，然后，主控芯片就会判断亮度最佳值是否为最佳化，如果为最佳化就将计算得到的最佳值写入到液晶显示装置中，之后，主控芯片会从液晶显示装置中检测写入的亮度最佳值是否与计算得到最佳值相同，若是相同的，则就完成了本次校对，若检测写入的亮度最佳值与计算得到最佳值不相同，则会进行重新写入，直到写入值与计算得到的最佳值相同，即可完成本次校对，这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示装置的亮度校对，而且在写入亮度最佳值后，还进行检测写入值的步骤，这样就大大降低了写入出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。当然，如果计算的亮度最佳值不是最佳化，则就会返回到S200计算液晶显示装置的亮度最佳值的步骤中进行继续计算，直到计算出符合最佳化的亮度最佳值。

另外，本实施例中，在将若计算的亮度最佳值为最佳化，则将最佳值写入到液晶显示装置中S400的步骤之后，还有步骤，检测写入到液晶显示装置的写入值，这样就方便S500的判断步骤。

根据本实施例中的一个示例，在所述获取液晶显示装置的亮度初始值S100的步骤之前还包括，

初始化液晶显示装置；

确认液晶显示装置工作状态是否正常；

若液晶显示装置工作状态正常，则将亮度感应单元与所述液晶模组进行对焦。

这样，就可以在对液晶显示装置进行校对之前先对液晶显示装置的工作状态进行确认，看看液晶显示装置是否可以正常工作，避免因液晶显示装置的问题而导致校对的失败，提高校对的效率，确认液晶显示装置的工作状态可以通过测试液晶显示装置的工作电压、电流、亮度等参数来判断。

根据本实施例中的另一个示例，在所述计算液晶显示装置的亮度最佳值S102的步骤之后还包括，

测试液晶显示装置的亮度值。

这样，在计算亮度最佳值之前，可以再次获取液晶显示装置的亮度值，从而通过更多的亮度值来进行计算，增加取样样本，提高亮度最佳值的计算精度。

根据本实施例中的另一个示例，所述亮度初始值通过使用硅光电池检测液晶显示装置表面的亮暗变化获取；并通过运算放大器对亮度信号进行放大并通过滤波器对亮度信号进行滤波，生成亮度模拟信号，通过模数转换器将亮度模拟信号转换为直流信号。硅光电池的成本较低，测试准确度较高，使用起来方便，运算放大器和滤波器可以对信号进行处理、进行滤波，产生干净的可用模拟信号，方便信号的使用，然后通过ADC(模数转换器)转换将亮度模拟信号转换为直流信号，由主控对数字信号进行处理及运算，用以识别当前亮度等级及判断是否为最佳化值。

根据本实施例中的另一个示例，使用ARM芯片作为亮度感应单元的主控芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示装置相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整亮度感应单元与液晶显示装置的距离。这样可以提高数据传输的效率，保证数据传送的稳定性和校对的准确性。其中，GPIO为通用输入/输出，或总线扩展器，利用工业标准I2C、SMBus或SPI接口简化了I/O口的扩展。当微控制器或芯片组没有足够的I/O端口，或当系统需要采用远端串行通信或控制时，GPIO产品能够提供额外的控制和监视功能。

本实施例中，使用ARM芯片作为校对仪的主控芯片，驱动液晶显示装置显示，并通过GPIO口实时读取液晶显示装置的工作状况，确保液晶显示装置的工作正常。

主控芯片通过GPIO口控制升降平台，自动调整亮度感应单元与液晶显示屏的距离，提烁度测试数据的准确性。如主控芯片确认液晶显示装置没有正常工作，升降平台将自动抬起，终止校对流程。

使用硅光电池检测液晶显示装置表面的亮暗变化，生成亮度的初始值，通过运算放大器对信号进行放大并通过滤波器对信号进行滤波，产生干净的可用模拟信号。

通过ADC转换将亮度模拟信号转换为直流信号，由主控对数字信号进行处理及运算，用以识别当前亮度等级及判断是否为最佳化值。

主控芯片将运算得出的最佳化参数固化入液晶显示装置中，并通过GPIO口确认固化入液晶显示装置中的参数是否正确。并显示“通过”或“不通过”画面提示操作人员。

主控芯片确认步骤结束后通过GPIO口控制升降平台抬升，表示步骤已全部结束，提示操作人员断电。

本实施例通过气压式升降平台自动调整亮度感应单元的与液晶显示屏的距离，增加亮度测试数据的准确性，并将测试数据通过ADC(模数转换器)转换提供给主控分析，主控完成数据分析后自动调整液晶显示屏的参数，并计算出亮度最佳值，主控将最佳值参数固化入液晶显示屏中，固化完成后主控再次调出液晶显示屏的参数确认是否固化正确，提升稳定性。此套发明所有动作均由仪器完成，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

此外，本实施例中，使用硅光电池作为亮度感应单元，提供亮度的初始值。使用ADC转换器对亮度初始值进行数模转换，为主控提供有效信号。主控对液晶显示屏的工作状态进行确认，保证液晶显示屏的工作状态正常。主控对亮度信号进行处理，运算，调试及输出。主控对固化在液晶显示屏中的参数进行调取并确认，保证调试成功。使用气压式升降平台，自动调整亮度感应单元与液晶显示屏的距离，保证亮度测试数据的准确性。通过主控芯片GPIO口控制电磁阀的开关，实现程序控制气压式升降平台。

实施例二

如图2所示，本实施例公开一种液晶显示装置亮度的校对方法，可以认为是对实施例一的进一步阐述和细化，所示方法包括：

S70，初始化液晶显示装置；

S80，确认液晶显示装置工作状态是否正常；

S90,若液晶显示装置工作状态正常，则将亮度感应单元与所述液晶模组进行对焦。

S100，获取液晶显示装置的亮度初始值；

S200，计算液晶显示装置的亮度最佳值；

S201，测试液晶显示装置的亮度值。

S300，判断亮度最佳值是否为最佳化；

S400，若计算的亮度最佳值为最佳化，则将最佳值写入到液晶显示装置中；

S401，检测写入到液晶显示装置的写入值；

S500，判断写入的写入值是否正确，若正确，则结束。

其中，步骤S90中，若液晶显示装置工作状态不是正常的，则将返回到开始状态，对新的液晶显示装置进行初始化，检测新的液晶显示装置的工作状态；步骤S300中，若亮度最佳值不是最佳化，则返回到步骤S200中，重新对液晶显示装置的亮度最佳值进行计算；在步骤S500中，若判断写入的写入值不是正确的，那么就会返回到步骤S400中，对液晶显示装置进行重新写入。

这种液晶显示装置的校对方法就会非常可靠和高效的进行校对，提高校对效率。

实施例三

如图3至图5所示，本发明公开一种液晶显示装置亮度的校对装置，包括：

主控芯片10，与主控芯片相连的升降平台31，测试液晶显示装置30的亮度感应单元32，与亮度感应单元32相连的运算放大器33，与运算放大器相连的滤波器34，与滤波器34相连的模数转换器35，所述主控芯片10还与液晶显示装置30相连，其中，所述主控芯片10包括：

获取模块11，用于获取液晶显示装置的亮度初始值；

处理模块12，用于计算液晶显示装置的亮度最佳值；

第一测试模块13，用于判断亮度最佳值是否为最佳化；

写入模块14，用于若计算的亮度最佳值为最佳化，则将最佳值写入到液晶显示装置中；

第二测试模块15，用于判断写入的写入值是否正确，若正确，则结束。

这样，就可以通过亮度感应单元32测试得到液晶显示装置30的亮度值，然后将这个数值发送给主控芯片10，主控芯片10的获取模块11在获取到亮度初始值后，处理模块12就会根据获取的众多亮度初始值进行计算得到液晶显示装置的亮度最佳值，然后第一测试模块13就会判断亮度最佳值是否为最佳化，如果为最佳化则写入模块14就将计算得到的最佳值写入到液晶显示装置中，之后，主控芯片10的第二测试模块15会从液晶显示装置中检测写入的亮度最佳值是否与计算得到最佳值相同，若是相同的，则就完成了本次校对，若检测写入的亮度最佳值与计算得到最佳值不相同，则会进行重新写入，直到写入值与计算得到的最佳值相同，即可完成本次校对，这样不仅可以由自动化设备完成液晶显示装置的亮度校对，而且在写入亮度最佳值后，还进行检测写入值的步骤，这样就大大降低了写入出现次品的情况，提高了生产的良品率，提高了总的生产效率，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

第一测试模块13还可以用于，若如果计算的亮度最佳值不是最佳化，则就会返回到处理模块12中继续计算液晶显示装置的亮度最佳值中，直到计算出符合最佳化的亮度最佳值。

另外，本实施例中，本装置还设有写入检测模块16，所述写入检测模块16位于所述写入模块14和第二测试模块15之间，方便第二测试模块15的判断。

根据本实施例中的另一个示例，所述主控芯片还包括：

亮度检测模块17，用于测试液晶显示装置的亮度值；所述亮度检测模块17位于处理模块12和第一测试模块13之间。

根据本实施例中的一个示例，所述主控芯片10还包括：

初始化模块18，用于初始化液晶显示装置；

液晶测试模块19，用于确认液晶显示装置工作状态是否正常；

对焦模块20，用于若液晶显示装置工作状态正常，则将亮度感应单元与所述液晶模组进行对焦；

其中，所述对焦模块与所述获取模块相连。这样，就可以在对液晶显示装置进行校对之前先对液晶显示装置的工作状态进行确认，看看液晶显示装置是否可以正常工作，避免因液晶显示装置的问题而导致校对的失败，提高校对的效率，确认液晶显示装置的工作状态可以通过测试液晶显示装置的工作电压、电流、亮度等参数来判断。

其中，所述调整模块与所述写入测试模块相连。这样，在计算亮度最佳值之前，可以再次获取液晶显示装置的亮度值，从而通过更多的亮度值来进行计算，增加取样样本，提高亮度最佳值的计算精度。

根据本实施例中的另一个示例，所述亮度感应单元为硅光电池，所述运算放大器可对亮度信号进行放大并通过滤波器对亮度信号进行滤波，生成亮度模拟信号，通过模数转换器将亮度模拟信号转换为直流信号。硅光电池的成本较低，测试准确度较高，使用起来方便，运算放大器和滤波器可以对信号进行处理、进行滤波，产生干净的可用模拟信号，方便信号的使用，然后通过ADC(模数转换器)转换将亮度模拟信号转换为直流信号，由主控对数字信号进行处理及运算，用以识别当前亮度等级及判断是否为最佳化值。

根据本实施例中的另一个示例，所述主控芯片为ARM芯片，所述主控芯片通过GPIO口与液晶显示装置相连；所述主控芯片通过GPIO口与升降平台相连，所述升降平台用于调整亮度感应单元与液晶显示装置的距离。这样可以提高数据传输的效率，保证数据传送的稳定性和校对的准确性。

如图5所示，本实施例中，利用的是升降平台31实现控制亮度感应单元32与液晶显示装置30之间的距离的，升降平台31上还设有运算放大器33和滤波器34，以及同样放置在升降平台31底部的主控芯片10。

本实施例中，使用ARM芯片作为校对仪的主控芯片，驱动液晶显示装置显示，并通过GPIO口实时读取液晶显示装置的工作状况，确保液晶显示装置的工作正常。

主控芯片通过GPIO口控制升降平台，自动调整亮度感应单元与液晶显示屏的距离，提烁度测试数据的准确性。如主控芯片确认液晶显示装置没有正常工作，升降平台将自动抬起，终止校对流程。

使用硅光电池检测液晶显示装置表面的亮暗变化，生成亮度的初始值，通过运算放大器对信号进行放大并通过滤波器对信号进行滤波，产生干净的可用模拟信号。

通过ADC转换将亮度模拟信号转换为直流信号，由主控对数字信号进行处理及运算，用以识别当前亮度等级及判断是否为最佳化值。

主控芯片将运算得出的最佳化参数固化入液晶显示装置中，并通过GPIO口确认固化入液晶显示装置中的参数是否正确。并显示“通过”或“不通过”画面提示操作人员。

主控芯片确认步骤结束后通过GPIO口控制升降平台抬升，表示步骤已全部结束，提示操作人员断电。

本实施例通过气压式升降平台自动调整亮度感应单元的与液晶显示屏的距离，增加亮度测试数据的准确性，并将测试数据通过ADC(模数转换器)转换提供给主控分析，主控完成数据分析后自动调整液晶显示屏的参数，并计算出亮度最佳值，主控将最佳值参数固化入液晶显示屏中，固化完成后主控再次调出液晶显示屏的参数确认是否固化正确，提升稳定性。此套发明所有动作均由仪器完成，节省人力与培训经费，大大缩减制造成本，另外存在多次步骤检测，提高了制造的稳定性。

此外，本实施例中，使用硅光电池作为亮度感应单元，提供亮度的初始值。使用ADC转换器对亮度初始值进行数模转换，为主控提供有效信号。主控对液晶显示屏的工作状态进行确认，保证液晶显示屏的工作状态正常。主控对亮度信号进行处理，运算，调试及输出。主控对固化在液晶显示屏中的参数进行调取并确认，保证调试成功。使用气压式升降平台，自动调整亮度感应单元与液晶显示屏的距离，保证亮度测试数据的准确性。通过主控芯片GPIO口控制电磁阀的开关，实现程序控制气压式升降平台。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。