液晶显示面板的测试结构及测试方法与流程

本发明涉及液晶显示技术领域，具体而言涉及一种液晶显示面板的测试结构及测试方法。

背景技术：

LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示器)由于其轻薄化和低功耗等优点，是目前市场中的主流显示装置，而在产品生产过程中，为了提高产品良率，就需要对液晶显示面板设置测试(成盒测试或液晶面板测试)结构或测试电路，以在成盒制程后进行Cell测试。

在当前的结构设计中，如图1所示，位于液晶显示面板的走线区域(Outer Lead Bonding，OLB,又称外引线焊接区域)的测试结构包括测试垫11、焊盘12以及短路棒(shorting bar)13。设置于左右两侧的测试垫11接收灰阶电压，并通过短路棒13、走线14将灰阶电压传输给焊盘12，最终输出给液晶显示面板。但当采用GOA(Gate Driver on Array,阵列基板行驱动)技术时，液晶显示面板会在走线区域增加很多用以传输GOA信号的走线，这些走线通过短路棒13连接至测试垫11，结合图2所示，这就需要大幅度增加短路棒13的宽度，因此会增大走线区域，显然不利于液晶显示面板的窄边框设计。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明实施例提供一种液晶显示面板的测试结构及测试方法，能够有利于液晶显示面板的窄边框设计。

本发明一实施例的液晶显示面板的测试结构，位于液晶显示面板的走线区域，且包括焊盘以及与焊盘连接并沿平行于液晶显示面板的栅极线方向依次设置的第一组短路棒、第二组短路棒和第三组短路棒，第一组短路棒、第二组短路棒和第三组短路棒之间独立间隔设置，第一组短路棒和第三组短路棒分别通过与各自连接的焊盘向液晶显示面板施加GOA信号，第二组短路棒通过与其连接的焊盘向液晶显示面板施加灰阶信号。

其中，所述测试结构还包括多组测试垫，与第二组短路棒连接的焊盘包括多组子焊盘，多组测试垫与多组子焊盘交错设置，分别邻近第一组短路棒和第三组短路棒的两组子焊盘均通过与各自连接的一组测试垫接收灰阶信号，其余各组子焊盘通过位于各自两侧的两组测试垫接收灰阶信号。

其中，第一组短路棒和第三组短路棒分别通过第一走线与对应的子焊盘和测试垫连接，第二组短路棒通过第二走线与对应的子焊盘和测试垫连接，第一走线的阻抗等于第二走线的阻抗的一半。

其中，第一组短路棒和第三组短路棒与焊盘或第二组短路棒同层设置。

其中，第一组短路棒和第三组短路棒中的一者与液晶显示面板的奇数行扫描线连接，另一者与液晶显示面板的偶数行扫描线连接。

本发明一实施例的液晶显示面板的测试方法，应用于位于液晶显示面板的走线区域的测试结构，所述测试结构包括焊盘以及与焊盘连接并沿平行于液晶显示面板的栅极线方向依次设置的第一组短路棒、第二组短路棒和第三组短路棒，第一组短路棒、第二组短路棒和第三组短路棒之间独立间隔设置，所述测试方法包括：第一组短路棒和第三组短路棒分别通过与各自连接的焊盘向液晶显示面板施加GOA信号；第二组短路棒通过与其连接的焊盘向液晶显示面板施加灰阶信号。

其中，所述测试结构还包括多组测试垫，与第二组短路棒连接的焊盘包括多组子焊盘，多组测试垫与多组子焊盘交错设置，所述第二组短路棒通过与其连接的焊盘向液晶显示面板施加灰阶信号的步骤，包括：分别邻近第一组短路棒和第三组短路棒的两组子焊盘均通过与各自连接的一组测试垫接收灰阶信号，其余各组子焊盘通过位于各自两侧的两组测试垫接收灰阶信号。

其中，第一组短路棒和第三组短路棒分别通过第一走线与对应的子焊盘和测试垫连接，第二组短路棒通过第二走线与对应的子焊盘和测试垫连接，第一走线的阻抗等于第二走线的阻抗的一半。

其中，第一组短路棒和第三组短路棒与焊盘或第二组短路棒同层设置。

其中，第一组短路棒和第三组短路棒中的一者与液晶显示面板的奇数行扫描线连接，另一者与液晶显示面板的偶数行扫描线连接。

有益效果：本发明实施例的测试结构包括独立间隔设置的三组短路棒，通过两侧的两组短路棒向液晶显示面板施加GOA信号，中间一组短路棒向液晶显示面板施加灰阶信号，相当于将现有的短路棒分为三段，因此不会增大短路棒的宽度，不会增大走线区域，有利于液晶显示面板的窄边框设计。

附图说明

图1是现有的液晶显示面板的测试结构的结构示意图；

图2是现有的GOA液晶显示面板的测试结构的结构示意图；

图3是本发明的液晶显示面板的测试结构一实施例的结构示意图；

图4是具有图3所示测试结构的液晶显示面板的结构俯视图；

图5是本发明的液晶显示面板的测试方法一实施例的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明所提供的各个示例性的实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。在不冲突的情况下，下述各个实施例以及实施例中的特征可以相互组合。并且，本发明全文所采用的方向性术语，例如“左”、“右”等措辞，均是为了更好的描述各个实施例，并非用于限制本发明的保护范围。

请参阅图3和图4，为本发明一实施例的液晶显示面板的测试结构。该测试结构位于液晶显示面板30的走线区域，且包括多组测试垫31、焊盘32及第一组短路棒33、第二组短路棒34和第三组短路棒35。

多组测试垫31用于从IC(Integrated Circuit,集成电路)接收GOA信号和灰阶信号，并将GOA信号传输给第一组短路棒33和第三组短路棒35、将灰阶信号传输给第二组短路棒34。以图4所示为例，测试结构包括13组测试垫S₁～S₁₃，每一组包括多个测试垫31，这13组测试垫S₁～S₁₃沿平行于液晶显示面板30的栅极线方向(图中水平方向)依次设置，第一组测试垫S₁和最后一组测试垫S₁₃分别位于液晶显示面板30的左右两侧。

焊盘32包括多组子焊盘，以图4所示的12组子焊盘X₁～X₁₂为例，这12组子焊盘X₁～X₁₂沿平行于液晶显示面板30的栅极线方向依次设置，第一组子焊盘X₁和最后一组子焊盘X₁₂分别位于液晶显示面板30的左右两侧。其中，各组子焊盘的多个焊条与液晶显示面板30的数据线连接，以向数据线提供灰阶信号。另外，在第一组子焊盘X₁的左侧还设置有一组子焊盘X₀₁，在最后一组子焊盘X₁₂的右侧还设置有一组子焊盘X₀₂，子焊盘X₀₁的多个焊条与液晶显示面板30的奇数行栅极线连接，子焊盘X₀₂的多个焊条与液晶显示面板30的偶数行栅极线连接。

与现有技术不同的是，本发明实施例的测试结构包括独立间隔设置的三组短路棒33、34、35。其中，第一组短路棒33和第三组短路棒35可以与焊盘32或者第二组短路棒34同层设置，所谓同层设置即为形成在同一层结构上。第一组短路棒33和第三组短路棒35分别通过与各自连接的焊盘32向液晶显示面板30施加GOA信号，第二组短路棒34通过与其连接的焊盘32向液晶显示面板30施加灰阶信号。具体地，结合图4所示，第一组短路棒33通过第一走线36与子焊盘X₀₁和测试垫S₁连接，第三组短路棒35通过第一走线36与子焊盘X₀₂和测试垫S₁₃连接，第二组短路棒34通过第二走线37与各组子焊盘X₁～X₁₂和其余各组测试垫S₂～S₁₂之间连接。

结合图1和图3所示，本实施例相当于保持图1所示短路棒13的宽度不变，而仅仅将短路棒13分割为三组33、34、35，左右两侧的两组短路棒33、35向液晶显示面板30施加GOA信号，中间一组短路棒34向液晶显示面板30施加灰阶信号，无需如图2所示增大短路棒13的宽度，因此不会增大走线区域，有利于液晶显示面板的窄边框设计。

本发明实施例与现有技术的不同之处还有：用于接收灰阶信号的测试垫31的位置。在本实施例中，多组测试垫31与多组子焊盘交错设置。参阅图4所示，13组测试垫S₁～S₁₃与12组子焊盘X₁～X₁₂交错设置。

在驱动液晶显示面板30时，子焊盘X₀₁通过与其连接的一组测试垫S₁接收GOA信号，子焊盘X₀₂通过与其连接的一组测试垫S₁₃接收GOA信号，邻近第一组短路棒33的一组子焊盘X₁通过与其连接的一组测试垫S₂接收灰阶信号，邻近第三组短路棒35的一组子焊盘X₁₂通过与其连接的一组测试垫S₁₂接收灰阶信号，其余各组子焊盘X₂～X₁₁通过位于各自两侧的两组测试垫接收灰阶信号，例如，子焊盘X₂通过位于其两侧的两组测试垫S₂、S₃接收灰阶信号，子焊盘X₁₁通过位于其两侧的两组测试垫S₁₁、S₁₂接收灰阶信号。

另外，第一走线36的阻抗等于第二走线37的阻抗的一半，使得接入子焊盘X₀₁、X₀₂的信号的延迟程度与接入其余子焊盘X₁～X₁₂的信号的延迟程度一致，从而避免测试时第一组短路棒33和第三组短路棒35的驱动区域与第二组短路棒33的驱动区域的显示亮度不同，即避免产生分屏现象。

本发明还提供如图5所示一实施例的液晶显示面板的测试方法。如图5所示，所述测试方法可以包括步骤S51和S52。

S51：第一组短路棒和第三组短路棒分别通过与各自连接的焊盘向液晶显示面板施加GOA信号。

S52：第二组短路棒通过与其连接的焊盘向液晶显示面板施加灰阶信号。

所述测试方法应用于上述液晶显示面板30的测试结构，因此该测试方法亦具有相同的有益效果，此处不再赘述。

应理解，以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，例如各实施例之间技术特征的相互结合，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。