专利名称：温度传感光缆的制作方法
技术领域：
本实用新型与利用微弯原理的温度传感光缆有关。
本实用新型的目的是提供一种测试动态范围大，可用来进行连续、分布式的监测，结构简单、成本低廉、测试精度高的温度传感光缆。
本实用新型是这样实现的温度传感光缆的每根光纤1首段与细杆2连为一体，外壳3内每隔一间距有一空腔4，空腔4之间的细杆2与外壳内腔有间隙，但在中间有一处与外壳3固连，光纤1在空腔4内的裸露部分成一曲线，每根光纤1没有与细杆2连为一体的后段动配合地穿过其后的光缆，外壳3与护套5动配合，外壳3与细杆2结构材料的温度线膨胀系数不同。
温度传感光缆的光纤1与细杆2连为一体部分有光纤盘6，其上挠有光纤1，盘外有壳体7，盘上光纤的两端与细杆2连为一体。温度传感光缆的细杆2和光纤盘6有通道8与光纤1的后段动配合。
温度传感光缆的外壳3材料的温度线膨胀系数大于细杆2材料的温度线膨胀数。
本实用新型的细杆2与外壳3结构材料的温度线膨胀系数不同，为不同种材料。当后者大于前者时的测试原理为当被测物温度升高时，引起整个光缆温度升高，外壳3的膨胀伸长比细杆大，使空腔4内的细杆之间距变大，光纤1的微弯变小，导致光损耗变小，利用OTDR仪测通过光纤的光损耗的变化，可知温度升高大小。反之可测温度降低大小。由于外壳3外有护套5，传感光缆可相对于护套5滑动，使被测物的变形不会引起传感光缆内结构的长度变化，排除了变形对测温度的影响。由于光纤1的微弯部分在空腔4内，光缆受横向力和剪切力对光纤的微弯无影响，排除了横向力和剪切力的藕合作用对测量温度的影响，每根光缆中可有数根或数十根传感光纤，可测长度数百米至数公里内的被测物的温度变化。可对光缆上各点的温度大小进行连续分布式的监控，且测试简单、直观。
图1为本实用新型的结构图。
图2为本实用新型的另一种结构图。
图3为
图1的I-I剖视图。
图4为图2的II-II剖视图。
如下是本实用新型的实施例同光纤1连为整体的φ8mm园细杆2与外壳3的材料不为同一种，其中园细杆材料的温度线膨胀系数较小，外壳3结构材料的温度线膨胀系数较大。外壳3与护套5之间可滑动。
外壳3内每隔200mm的间距有一直径为φ14m园柱形空腔4。空腔4由直径为φmm5的园细杆2连接。园细杆2与外壳3内腔有间隙，但在中间处A点连为一体。光纤1与园细杆2连为一体，在空腔4裸露部分微弯成曲线。光缆的某两个空腔4之间的与园细杆2连为一体的光纤1的中间段有光纤盘6。光纤1裸露地挠于盘上约60-120m，盘外有壳体7。盘上光纤的两端与园细杆连为一体。其作用是克服光损耗缓减区，使光缆的测试连续。光纤1在空腔4产生微弯时，光发生损耗，衰减。其损耗有一缓减区，距离为60-120米范围内，为了避免缓减区影响光缆对微弯的连续测试，利用光纤盘将光纤挠60-120米在盘上，使缓减区在空间距离上缩短成一点，从而避免了缓减区对测试的影响。
每根光纤1与园细杆连为一体段长度为100米，每根光缆中首端与末端另有数150左右光纤以克服仪器的测试盲区。
每根光纤1的延伸段穿过后面光缆园细杆2上的孔，光纤盘上也有孔供光纤延伸段穿过。
每根光缆中有数根或数十根光纤1。
每根光纤的背向光损耗控制在30dB以内。
本实用新型的参数见下表
权利要求1.温度传感光缆，其特征在于每根光纤(1)首段与细杆(2)连为一体，外壳(3)内每隔一间距有一空腔(4)，空腔(4)之间的细杆(2)与外壳内腔有间隙，但有一处与外壳(3)固连，光纤(1)在空腔(4)内的部分成一曲线，外壳(3)与护套(5)动配合，外壳(3)与细杆(2)结构材料的温度线膨胀系数不同。
2.根据权利要求1所述的温度传感光缆，其特征在于每根光纤(1)与细杆(2)连为一体部分有光纤盘(6)，其上挠有光纤(1)，盘外有壳体(7)，盘上光纤的两端与细杆(2)连为一体。每根光纤(1)没有与细杆(2)连为一体的后段动配合地穿过其后的光缆。
3.根据权利要求1或2所述的温度传感光缆，其特征在于细杆(2)和光纤盘(6)有通道(8)与光纤(1)的后段动配合。
4.根据权利要求3所述的温度传感光缆，其特征在于外壳(3)材料的温度线膨胀系数大于细杆(2)材料的温度线膨胀数。
专利摘要本实用新型为温度传感光缆，其中的每根光纤1的首段与圆细杆2连为一体。外壳3每隔一间距有一空腔4。空腔4之间的圆细杆2与外壳内腔有间隙，但在中间处与外壳3固连。光纤1在空腔4内的裸露部分成一曲线。每根光纤1没有与圆细杆2连为一体的后段动配合的穿过其后的光缆。外壳3与护套5动配合。外壳3与圆细杆2的材料不同，前者的温度线膨胀系数大于后者的。
文档编号G02B6/44GK2261630SQ9623358
公开日1997年9月3日 申请日期1996年8月19日 优先权日1996年8月19日
发明者唐剑虹, 甘霖 申请人:电力工业部成都勘测设计研究院