一种显示基板、显示装置及定位标识的识别方法

文档序号:9809481阅读:581来源:国知局
一种显示基板、显示装置及定位标识的识别方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示领域,特别是指一种显示基板、显示装置及定位标识的识别方法。
【背景技术】
[0002]在当前显示装置的制作过程中,显示基板的上、下两侧都需要分别设置定位标记,以进行研磨、检查、贴Pol等工艺。图1所示的是显示装置的基板,现有技术需要在基板边缘的空白区域设计定位标识Mark(即图1中黑色十字图形)。其中,基板的空白区域是上下透光的,因此可以作为基板上侧或下侧的对位标记。
[0003]由于现有的Mark需要在空白区域进行设计,那么,在Panel加装背光源后,Mark所在的空白区域势必会有漏光情况发生。而为了防止漏光,那么必须在后期对该区域进行处理,从而导致工艺变得复杂、成本提升、且产品品质不高。
[0004]此外,在基板上为Mark预留空白区域,也不符合显示装置向窄边框甚至无边框发展的趋势。

【发明内容】

[0005]本发明的目的是提供一种定位标识的设置方案,不需要对定位标识的设置区域进行防漏光处理,可提高显示装置制作效率,进而降低生产成本。
[0006]为实现上述发明目的,一方面,本发明的实施例提供一种显示基板,包括:
[0007]在衬底基板第一侧面上形成的第一图形和第二图形,所述第二图形设置在所述第一图形与衬底基板之间,且所述第一图形具有一正对所述第二图形的第一通孔;
[0008]其中,所述第一图形与所述第二图形由反光率不同的材料形成;所述第一通孔作为在对衬底基板第一侧面一侧的定位标识。
[0009]可选地,所述第二图形具有一正对所述第一图形的第二通孔,所述第二通孔位于所述衬底基板第一侧面的正向投影与所述第一通孔位于所述衬底基板第一侧面的正向投影相互错开,所述第二通孔作为衬底基板第二侧面一侧的定位标识,所述第二侧面为所述衬底基板上与所述第一侧面相对的一侧。
[0010]可选地,所述显示基板还包括:
[0011]金属图形以及黑矩阵图形;
[0012]其中,所述第一图形与所述金属图形同层同材料形成,所述第二图形与所述黑矩阵图形同层同材料形成;或者所述第一图形与所述黑矩阵同层同材料形成,所述第二图形与所述金属图形同层同材料形成。
[0013]可选地,所述第一图形为所述金属图形,所述第二图形为黑矩阵;或者第一图形为黑矩阵,所述第二图形为金属图形。
[0014]可选地,所述第一通孔为四个,分布成一矩形的四个顶点;和/或所述第二通孔为四个,分布成另一矩形的四个顶点。
[0015]可选地,所述第一通孔和所述第二通孔的图形为圆形或多边形。
[0016]可选地,所述第一通孔和所述第二通孔设置在非显示区域内。
[0017]另一方面,本发明还提供一种显示装置,包括有上述显示基板。
[0018]此外,本发明还提供一种定位标识的识别方法,应用于上述显示基板,包括:
[0019]对所述衬底基板的第一侧面进行照射;
[0020]根据所述基板的第一侧面的反射光,确定出由所述第一通孔作为的定位标识。
[0021 ] 可选地,所述对位方法还包括:
[0022]所述基板的第二图形具有一正对第一图形的第二通孔,所述第二通孔位于所述衬底基板第一侧面的正向投影与所述第一通孔位于所述衬底基板第一侧面的正向投影相互错开;
[0023]所述对位方法还包括:
[0024]对所述衬底基板的第二侧面进行照射,所述第二侧面为所述衬底基板上与所述第一侧面相对的一侧;
[0025]根据所述基板的第二侧面的反射光,确定出由所述第二通孔作为的第二定位标识。
[0026]本发明的上述技术方案的有益效果如下:
[0027]在本发明的方案中,利用相互重叠、且反光能力不同的两个图形,制作出可通过反射光识别的定位标识。由于不需要设置在显示基板的透明区域上,因此不需要对定位标识的设置区域进行漏光处理,可提高显示装置制作效率,进而降低生产成本。
【附图说明】
[0028]图1为现有的设置有定位标识的显示基板;
[0029]图2为本发明的显示基板的第一侧面的结构示意图;
[0030]图3为对本发明的显示基板的第一侧面进行定位标识识别的示意图;
[0031 ]图4为本发明的显示基板的第一侧面的俯视图;
[0032]图5为本发明的显示基板的第二侧面进行定位标识识别的示意图;
[0033]图6为本发明的显示基板的第二侧面的俯视图;
[0034]图7为本发明的显示装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0035]为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。
[0036]针对现有技术存在的问题,本发明提供一种新的定位标识的设计方案,不需要设置在基板的空白区域上,从而不需要再使用额外工艺对空白区域进行防漏光处理。
[0037]一方面,本发明的实施例提供一种显示基板,如图2所示,包括:
[0038]在衬底基板I的第一侧面(即图2中衬底基板I的上侧)上形成的第一图形A和第二图形B,该第二图形B设置在第一图形A与衬底基板I之间。其中,第一图形A具有一正对第二图形B的第一通孔Markl,在本实施例中,第一图形A和第二图形B由反光率不同的材料形成,通过反射光检测的方法可以准确地识别出第一通孔Markl的位置,因此将该第一通孔Markl用作对衬底基板I的第一侧面进行切割、掩膜、检查、贴Pol等工艺时所使用的定位标识。
[0039]作为示例性介绍,假设第一图形A为吸光材料形成、第二图形B为反光材料形成,可以理解的是,反光材料的反光率通常要大于吸光材料的反光率。在对衬底基板I的第一侧面进行定位时,只需要对衬底基板I的第一侧面进行照射。参考图3,显然光线打到第一通孔产生的反射光的强度,要大于光线打到第一图形A上产生反射光的强度,以第一通孔为十字形作为示例性介绍(第一通孔也可以是圆形或其他多边形),参考图4,通过反射光的识别方法,最终会在基板上确定出比周边亮度高的十字标记,该十字标记即为作为定位标识的第一通孔。
[0040]同理,若第一图形A为反光材料形成、第二图形B为吸光材料形成,则最终会识别出比周边亮度低的十字标记,本文不再赘述。
[0041]可见,在本实施例的基板中,定位标识不需要设置在基板完全透光的区域上,因此不需要使用额外的制作工艺对透光区域进行防漏光处理,从而减小阵列基板的制作工序,进而降低生产成本。
[0042]当然,也可以采用本发明的方法设置衬底基板I位于第二侧面(即图2中衬底基板I的下侧,是衬底基板上与第一侧面相对的一侧)的定位标识。即在上述图2的基础之上,本实施例的第二图形B具有一正对第一图形A的第二通孔Mark2,该第二通孔Mark2位于衬底基板I第一侧面的正向投影与第一通孔Markl位于所述衬底基板I第一侧面的正向投影相互错开,作为衬底基板I第二侧面一侧的定位标识。
[0043]示例地,还是以第一图形A为吸光材料形成、第二图形B为反光材料形成为例,在对衬底基板I的第二侧面识别定定位标识时,只需要对衬底基板I的第二侧面进行照射。参考图5,显然照射的光线打到第二通孔产生的反射光的强度,要小于光线打到第二图形A上产生反射光的强度,以第二通孔为十字形作为示例性介绍(第二通孔也可以是圆形或其他多边形),参考图6,通过反射光的识别方法,最终在基板第二侧面上确定出比周边亮度低的十字标记,该低亮度的十字标记即为第二通孔,作为对衬底基板I第二侧面进行定位时所使用的定位标识。
[0044]通过对比可以知道,现有技术的定位标识由一个材料层形成,且需要设置在显示基板单独的一个透明区域上,而本发明的定位标识由两个反光率不同的材料层共同形成,且不需要设置在
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