一种面板的检测方法及其检测系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤指一种面板的检测方法及其检测系统。
【背景技术】
[0002]目前，液晶显示面板(LiquidCrystal Display，LCD)具有高画面质量、体积小、重量轻等优点，广泛应用于移动电话、笔记本电脑、电视机以及显示器等产品中。
[0003]薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)阵列基板中的TFT开关对液晶显示有着极其重要的作用，TFT开关性能的优劣直接影响着液晶显示品质的高低。但传统的使用液晶技术的LCD显示产品在进行信赖性测试时会出现大量的高温污渍或者相邻像素相互干扰(crosstalk)的问题，此批量性不良会给市场端造成低竞争力影响。现有的高温信赖性测试方法一般是将产品制作成模组以后，投入到温控箱(高温存储设备)中数个小时以上，出现高温不良后会浪费大量模组资材。但此时产品的基板设计早已在前段完成，产品也经历了从基板到模组的流程，周期很长，问题暴露后没有足够的时间进行设计和工艺变更。
【发明内容】
[0004]有鉴于此，本发明实施例提供一种面板的检测方法，可以在未将标准面板组制成模组之前，及时判断标准面板组中阵列基板的TFT是否合格，节约了工艺制程的时间，以及降低了成本。
[0005]因此，本发明实施例提供了一种面板的检测方法，包括:
[0006]对测试样品组进行高温信赖性测试，确定所述测试样品组中出现缺陷的面板;所述测试样品组为包括未切割的多个面板的标准面板组；
[0007]将所述测试样品组进行拆解得到包含多个阵列基板的母板，根据所述阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定所述出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与所述栅极截止电压值对应的漏电流值；
[0008]若确定的所述漏电流值与预先确定的标准关态电流值之间的差值小于或等于设定阈值，判断所述测试样品组中阵列基板的TFT合格;若否，则判断所述测试样品组中阵列基板的TFT未合格。
[0009]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测方法中，根据所述阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定所述出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与所述栅极截止电压值对应的漏电流值，具体包括:
[0010]对所述出现缺陷的面板中阵列基板上的测试点进行TFT特性曲线测试;所述测试点设置在所述阵列基板的非显示区域且包含与显示区域和栅极驱动电路的TFT形状相同的TFT；
[0011]根据所述阵列基板的TFT的栅极截止电压值，在得到的TFT特性曲线中确定所述出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与所述栅极截止电压值对应的漏电流值。
[0012]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测方法中，采用下述方式确定测试样品组中出现缺陷的面板:
[0013]对所述测试样品组中所有阵列基板加载栅极开启信号；
[0014]在所述测试样品组中的所有像素点被点亮时，控制温度上升至预定温度，确定在温度上升的过程中出现不良现象的面板作为出现缺陷的面板。
[0015]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测方法中，对所述测试样品组中所有阵列基板加载栅极开启信号，具体包括:
[0016]通过在所述测试样品组的周边区域设置的与所有阵列基板电性连接的启动信号端对所有阵列基板加载栅极开启信号;或，
[0017]分别对所有阵列基板加载栅极开启信号。
[0018]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测方法中，采用下述方式确定标准关态电流值:
[0019]对未出现缺陷的面板中阵列基板上的测试点进行TFT特性曲线测试;所述测试点设置在所述阵列基板的非显示区域且包含与显示区域和栅极驱动电路的TFT形状相同的TFT；
[0020]根据所述阵列基板的TFT的栅极截止电压值，在得到的TFT特性曲线中确定所述未出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与所述栅极截止电压值对应的漏电流值作为标准关态电流值。
[0021]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测方法中，判断所述测试样品组中阵列基板的TFT未合格时，对所述阵列基板的TFT设计或工艺条件进行改进，并重新制作测试样品组进行检测直至改进后的测试样品组中所有阵列基板的TFT合格。
[0022]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测方法中，对阵列基板的TFT设计进行改进，具体包括:
[0023]调整阵列基板上的各TFT的栅极与有源层的位置对应关系;或，
[0024]调整有源层的尺寸大小。
[0025]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测方法中，对阵列基板的工艺条件进行改进，具体包括:
[0026]调整阵列基板上的栅极绝缘层、有源层、钝化层或欧姆接触层的工艺参数。
[0027]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测方法中，所述设定阈值为15pA。
[0028]本发明实施例提供了一种面板的检测系统，包括:
[0029]测试单元，用于对测试样品组进行高温信赖性测试，确定所述测试样品组中出现缺陷的面板;所述测试样品组为包括未切割的多个面板的标准面板组；
[0030]确定单元，用于将所述测试样品组进行拆解得到包含多个阵列基板的母板，根据所述阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定所述出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与所述栅极截止电压值对应的漏电流值；
[0031]判断单元，用于若确定的所述漏电流值与预先确定的标准关态电流值之间的差值小于或等于设定阈值，判断所述测试样品组中阵列基板的TFT合格;若否，则判断所述测试样品组中阵列基板的TFT未合格。
[0032]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测系统中，测试单元，具体用于对所述测试样品组中所有阵列基板加载栅极开启信号；
[0033]在所述测试样品组中的所有像素点被点亮时，控制温度上升至预定温度，确定在温度上升的过程中出现不良现象的面板作为出现缺陷的面板。
[0034]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述面板的检测系统中，确定单元，具体用于对出现缺陷的面板中阵列基板上的测试点进行TFT特性曲线测试;所述测试点设置在所述阵列基板的非显示区域且包含与显示区域和栅极驱动电路的TFT形状相同的TFT；
[0035]根据所述阵列基板的TFT的栅极截止电压值，在得到的TFT特性曲线中确定出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与所述栅极截止电压值对应的漏电流值。
[0036]本发明实施例的有益效果包括:
[0037]本发明实施例提供的一种面板的检测方法及其检测系统，该方法包括:对测试样品组进行高温信赖性测试，确定测试样品组中出现缺陷的面板;测试样品组为包括未切割的多个面板的标准面板组;将测试样品组进行拆解得到包含多个阵列基板的母板，根据阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与栅极截止电压值对应的漏电流值;若确定的漏电流值与预先确定的标准关态电流值之间的差值小于或等于设定阈值，判断阵列基板的TFT合格;若否，则判断未合格。本发明实施例提供的方法可以在未将标准面板组制成模组之前，及时判断标准面板组中阵列基板的TFT是否合格，节约了工艺制程的时间，以及降低了成本。
【附图说明】
[0038]图1为本发明实施例提供的面板的检测方法的流程图；
[0039]图2为本发明实施例提供的测试装置示意图之一；
[0040]图3为本发明实施例提供的测试装置示意图之二；
[0041]图4为本发明实施例提供的阵列基板的TFT特性曲线图。
【具体实施方式】
[0042]下面结合附图，对本发明实施例提供的面板的检测方法及其检测系统的【具体实施方式】进行详细地说明。
[0043]本发明实施例提供了一种面板的检测方法，如图1所示，可以包括以下步骤:
[0044]S101、对测试样品组进行高温信赖性测试，确定测试样品组中出现缺陷的面板;测试样品组为包括未切割的多个面板的标准面板组(Q-panel);
[0045]S102、将测试样品组进行拆解得到包含多个阵列基板的母板，根据阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定出现缺陷的面板中阵列基