检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种液晶显示器技术，特别涉及一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板的液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法。
【背景技术】
[0002]薄膜晶体管液晶显示器(TFT-1XD)的主体结构包括液晶面板和背光模组，液晶面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在其间的液晶盒。随着液晶技术的迅猛发展，原有RGB三色技术已经不能满足客户的需求，近年来，RGBW四色技术因其高穿透率、高亮度和低能耗的特点更容易受到客户的青睐。
[0003]在显示器的制作过程中，LCD光板在绑定IC前，需要对液晶盒进行点灯检测，筛选出不良产品，防止其进入下一步的工序。阵列基板上设置有与单色数据线一一对应的信号线，液晶盒检测(cell test)时，通过与每条信号线对应的引针/引线(pin)输入检测信号，检测信号相同的信号线与同一条短路线短接。
[0004]如图1所示，在RGB液晶显示器工艺中的检测单元，一般包括三条(R/G/B)短路线(shorting &&0111、112、113，分别通过三条像素引线121、122、123连接至三条像素信号线131、132、133，在液晶盒检测(cell test)阶段用来点亮白色/纯红/纯绿/纯蓝画面，以检查屏幕质量。同理，如图2所示，在RGBW液晶显示器工艺中，一般也会设计四条(R/G/B/W)短路线211、212、213、214，通过四条像素引线221、222、223、224连接至四条像素信号线231、232、233、234，在液晶盒检测(cell test)阶段用来点亮全白/纯红/纯绿/纯蓝/纯白画面，以检查屏幕质量。
[0005]RGBW显示器是RGB显示器的一种改进技术，在产品升级过程中，生产厂家为了节约成本，会尽可能地利用原有设备以及工艺，因此在RGBW显示器的生产工艺中，厂家希望尽可能地减少结构部件，如Array光罩，在设计上的改动。倘若RGBW显示器的Array光罩与RGB显示器的Array光罩完全相同，厂家在生产Array光罩时只需要一套模具即可。
[0006]然而，如图3所示，在RGB显示器升级为RGBW显示器的过程中，如果完全不改动Array光罩，短路线及引线的排线连接方式与RGB显示器(图1)完全一样，由于输入的像素信号线由三条变为四条，每一条短路线上都会有白色像素介入，在液晶盒检测(cell test)阶段，就只能点亮纯白画面，而不能点亮纯色画面；因此，Array光罩必须要改动，设计人员只能尽量减少需要改动的Array光罩的数量。如果将RGB液晶显示器工艺中三条短路线(R/G/B)的设计方案(如图1)改成RGBW液晶显示器工艺中的四条短路线(R/G/B/W)的设计方案(如图2)，则需要改动2张以上的Array光罩。不仅如此，RGB显示器中所用的光罩，其版面图上并没有足够空间来增加走线数目，需要更换全新的Array光罩。而Array光罩技术改动过多，厂家的生产成本就会明显提高。因此，RGBW显示器加工领域，需要一个全新的设计方案，在尽可能减少Array光罩改动的前提下，在液晶盒检测(cell test)阶段实现纯色点灯的效果。
【发明内容】
[0007]本发明的目的在于，解决现有的RGBW液晶显示器生产工艺中，短路线较多、Array光罩改动较大、生产成本较高等技术问题。
[0008]为实现上述目的，本发明提供一种用以进行LCD点灯检测的检测单元，包括一短路线组、至少一引线组以及至少一信号线组;所述短路线组包括一第一短路线、一第二短路线以及一第三短路线;所述引线组包括一R像素引线，连接至所述第一短路线;一G像素引线，连接至所述第二短路线；一B像素引线，连接至所述第三短路线；以及一W像素引线，连接至所述第二短路线;每一信号线组连接至一引线组，所述信号线组包括:一 R像素信号线，连接至所述R像素引线;一 G像素信号线，连接至所述G像素引线;一 B像素信号线，连接至所述B像素引线；以及一W像素信号线，连接至所述W像素引线。
[0009]为实现上述目的，本发明提供一种包含该检测单元的阵列基板，包括:一显示区，其内设有液晶以及至少一数据线组；以及一非显示区，设置于所述显示区周围，其内设有至少一如权利要求1所述的检测单元;其中，每一数据线组连接至一信号线组，所述数据线组包括:一 R像素数据线，连接至所述R像素信号线;一 G像素数据线，连接至所述G像素信号线；一B像素数据线，连接至所述B像素信号线；以及一W像素数据线，连接至所述W像素信号线。
[0010]为实现上述目的，本发明提供一种液晶显示装置，包括上述的阵列基板。
[0011]为实现上述目的，本发明提供一种用以进行LCD点灯检测的检测方法，包括如下步骤:将至少一数据线组通过至少一信号线组、至少一引线组连接至一短路线组，构成至少一检测线路;通过至少一检测信号点模拟输入至少一检测信号；点亮液晶，在显示区显示至少一纯色画面和/或混色画面；以及在纯色画面和/或混色画面下，检测是否存在异常像点或亮度不均匀的现象，检测所述检测线路的走线是否存在短路现象。
[0012]其中，将至少一数据线组通过至少一引线组连接至一短路线组，具体包括如下步骤:将一R像素数据线通过一R像素引线连接至一第一短路线;将一G像素数据线通过一G像素引线连接至一第二短路线;将一B像素数据线通过一B像素引线连接至一第三短路线；以及将一 W像素数据线通过一 W像素引线连接至一第二短路线;上述各步骤的先后次序可以任意交换。
[0013]本发明的优点在于，本发明提出一种新的技术手段，包括一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法，对原有RGB液晶显示器生产工艺进行简单的改进，减少短路线的数量，只需改动一张Array光罩，即可使RGBW液晶显示器半成品实现纯色及混色的点灯检测，有效降低生产成本。
【附图说明】
[0014]图1所示为现有技术中一RGB检测单元的结构示意图；
[0015]图2所示为现有技术中一RGBW检测单元的结构示意图；
[0016]图3所示为在Array光罩完全不改动的情况下，由RGB检测单元直接改进成的RGBW检测单元的结构示意图；
[0017]图4所示为本发明一实施例中一检测单元的结构示意图；
[0018]图5所示为本发明一实施例中一阵列基板的结构示意图；
[0019]图6所示为本发明一阵列基板中检测单元与数据线组部分的局部放大图；
[°02°]图7所示为本发明一实施例中一液晶显示装置的结构示意图；
[0021 ]图8所示为本发明一实施例中一种LCD点灯检测方法的流程图。
[0022]图中主要部件标识如下:
[0023]1、短路线组，2、引线组，3、信号线组，4、显示区，5、数据线组，6、非显示区；
[0024]11、第一短路线，12、第二短路线，13、第三短路线；
[0025]21、R像素引线，22、G像素引线，23、B像素引线，24、W像素引线；
[0026]31、R像素信号线，32、G像素信号线，33、B像素信号线，W像素信号线34
[0027]51、透光层，52、波导层，53、焚光层。
[0028]100、检测单元，200、阵列基板，300、液晶显示装置；
[0029]111、短路线，112、短路线，113、短路线；
[0030]121、像素引线，122、像素引线，123、像素引线;
[0031]131、像素信号线，132、像素信号线，133、像素信号线；
[0032]211、短路线，212、短路线，213、短路线，214、短路线；
[0033]221、像素引线，222、像素引线，223、像素引线，224、像素引线；
[0034]231、像素信号线，232、像素信号线，233、像素信号线，234、像素信号线。
【具体实施方式】
[0035]以下参考说明书附图介绍本发明的一个优选实施例，证明本发明可以实施，这些实施例可以向本领域中的技术人员完整介绍本发明，使其技术内容更加清楚和便于理解。本发明可以通过许多不同形式的实施例来得以体现，本发明的保护范围并非仅限于文中提到的实施例。
[0036]在附图中，结构相同的部件以相同数字标号表示，各处结构或功能相似的组件以相似数字标号表示。附图所示的每一组件的尺寸和厚度是任意示出的，本发明并没有限定每个组件的尺寸和厚度。为了使图示更清晰，附图中有些地方适当夸大了部件的厚度。
[0037]当一个组件被描述为“安装至”或“连接至”另一组件时，二者可以理解为直接“安装”或“连接”，或者一个组件通过一中间组件间接“安装至”、或“连接至”另一个组件。
[0038]如图4所示，本实施例提供一种用以进行LCD点灯检测的检测单元100，包括一短路线组1、至少一引线组2以及至少一信号线组3。
[0039]短路线组I包括一第一短路线11、一第二短路线12以及一第三短路线13。
[0040]引线组2包括:一R像素引线21，连接至第一短路线11; 一G像素引线22，连接至第二短路线12; — B像素引线23，连接至第三短路线13;以及一W像素引线24，连接至第二短路线
12ο
[0041]每一信号线组3连接至一引线组2，信号线组3包括:一 R像素信号线31，连接至R