测量液晶层对入射光的液晶效率的方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及液晶技术领域，特别是涉及一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方 法。
【背景技术】
[0002] 目前常用的液晶面板显示模式主要包括扭曲向列相模式(Twisted Nematic，简写 TN)、垂直取向模式(Vertical Alignment，简写VA)，共面开关模式（In Plain Switching， 简写IPS)。
[0003] 以VA模式为例：VA显示是一种垂直配向的常黑模式，其上下基板偏光片的偏光轴 垂直偏贴。VA液晶显示的原理基于液晶的透光率随其所施电压的大小而变化的特性。当光 通过下基板(即TFT基板)偏振片后，变成线性偏振光，偏振方向与下偏振片偏光轴的方向一 致。在不加电压时，光线经过液晶不会发生偏振方向的改变。经过上基板（即CF基板)偏光 片，光线被吸收，因而为黑态。当加上电压以后，液晶在电场作用下沿配向方向发生偏转。当 光通过液晶层时，由于受液晶折射，线性偏振光被分解为两束光。又由于这两束光传播速度 不同，因而当两束光合成后，必然使偏振光的偏振方向发生变化。当入射光达到上基板偏振 片时，与下偏振片的偏光轴方向平行的光线可以通过，因而为亮态。在整个显示过程中，液 晶起到一个电压控制的光阀作用。可见液晶对线偏振光的偏振方向的偏转能力非常重要， 它直接影响了穿透率结果。
[0004] 液晶层对入射光的液晶效率定义为:经过下偏光片产生的与下偏光片偏光轴方向 平行的偏振光，在最大灰阶下，排除液晶材料吸收因素，经过液晶层后，液晶层能将多大比 例的入射光的偏振方向旋转90度，从而与上偏光片偏光轴平行，使光线穿透出去。现有技术 中，常规的液晶效率的测量方法是:多次测量液晶面板穿透率，通过计算排除其他影响穿透 率的因素，最终计算出液晶效率。但是，这种方法测量次数多，测量过程中变异较多，且做了 近似处理，所以效率和准确度均偏低。
【发明内容】
[0005] 本发明主要解决的技术问题是提供一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方法， 能够不用拆卸模组，测量次数少、简单，且效率和准确度均很高。
[0006] 为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种测量液晶层对入 射光的液晶效率的方法，所述方法包括:保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏 振片和下偏振片处于第一状态，所述第一状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片 的偏光轴平行的状态;在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为〇灰阶，并测量目标 位置所述液晶面板的亮度Lvx;在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并 测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvy;根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液 晶层对入射光的液晶效率。
[0007] 其中，所述液晶层对入射光的液晶效率A为：
[0008] 其中，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处 于第一状态的步骤之前，包括:使所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于第二状 态，所述第二状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴垂直的状态;在所 述第二状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮 度Lvz;所述根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率的步 骤，包括:根据所述亮度Lvx、所述亮度Lvy以及所述亮度Lvz，确定所述液晶层对入射光的液 晶效率。
[0009] 其中，所述液晶层对入射光的液晶效率B为：
[0010] 其中，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处 于第一状态的步骤，包括:在处于所述第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与所述原始上 偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于所述原始上偏光片的偏贴方向偏转90 度重新偏贴，以使得所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于所述第一状态。
[0011] 为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是:提供一种测量液晶层对 预定灰阶入射光的液晶效率的方法，所述方法包括:保持液晶层的下偏振片不变，使所述液 晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，所述第一状态是指所述上偏振片的偏光轴和所 述下偏振片的偏光轴平行的状态;在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为〇灰阶， 并测量目标位置所述液晶面板的亮度Lvx;在所述第一状态下，控制液晶面板预定颜色画面 的亮度为预定灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvy'；根据所述亮度Lvx和所 述亮度Lvy '，确定所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率。
[0012] 其中，所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率A'为：
[0013] 其中，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处 于第一状态的步骤之前，包括:使所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于第二状 态，所述第二状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴垂直的状态;在所 述第二状态下，控制液晶面板画面的亮度为〇灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮 度Lvz '；所述根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率的步 骤，包括:根据所述亮度Lvx、所述亮度Lvy'以及所述亮度Lvz'，确定所述液晶层在预定灰阶 下对预定颜色的入射光的液晶效率。
[0014] 其中，所述液晶层在预定灰阶下对预定颜色的入射光的液晶效率B'为：
[0015] 其中，所述保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处 于第一状态的步骤，包括:在处于所述第二状态时，去掉原始上偏光片，使用与所述原始上 偏光片同型号的新偏光片作为上偏光片，按照相对于所述原始上偏光片的偏贴方向偏转90 度重新偏贴，以使得所述液晶层的所述上偏振片和所述下偏振片处于所述第一状态。
[0016] 本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明保持液晶层的下偏振片不 变，使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，第一状态是指上偏振片的偏光轴和下 偏振片的偏光轴平行的状态;在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为〇灰阶，并测量目 标位置液晶面板的亮度Lvx;在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量目 标位置液晶面板的亮度Lvy;根据亮度Lvx和亮度Lvy，确定液晶层对入射光的液晶效率。通 过以上方式，能够避免现有技术中透过率的测量，不用拆装背光模组，避免因拆装导致的透 过率波动的影响，使测量更简单和准确；同时，不需要采用对照组，测量数据是在同一背光 亮度状态下测量出来的，量测数据很准确。
【附图说明】
[0017] 图1是现有技术中测量液晶效率的一示意图；
[0018]图2是现有技术中测量液晶效率的另一不意图；
[0019] 图3是现有技术中测量液晶效率的又一示意图；
[0020] 图4是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的一原理示意图；
[0021]图5是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的另一原理不意图；
[0022]图6是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的方法一实施方式的流程图；
[0023]图7是现有技术中液晶面板的结构不意图；
[0024] 图8是本发明测量液晶层对入射光的液晶效率的方法另一实施方式的流程图；
[0025] 图9是本发明测量液晶层对预定灰阶入射光的液晶效率的方法一实施方法的流程 图。
【具体实施方式】
[0026]在详细介绍本发明之前，先说明一下与本发明相关的现有技术情况。
[0027] 液晶层对入射光的液晶效率的测量方法，现有技术中的一个测量方法如下：
[0028] 请参见图1至图3,中间为液晶层1，液晶层1的上面为上偏光片2,液晶层1的下面为 下偏光片3。
[0029]如图1所示，第一步，测量液晶面板的正常透过率，L为背光源亮度为透过液晶 盒后的亮度。据此可以得出：
[0030 ] T = Li/L = rrp麻胞懸振)fe (1)
[0031 ] T是图1中透过液晶盒后的总光透过率，rmMMM是下偏光片对自然光的透过率，AR 是开口率(Aperture ratio,简写AR)，neF是彩色滤光片基板(Color Filter，简写CF)的透过 率，是液晶效率，即液晶层的透过率，niJMIIDfe是上偏光片对偏振光的透过率。
[0032]如图2所示，第二步，剥离上基板（即CF基板）的偏光片，测量液晶面板的透过率，L2 是剥离上偏光片2后透过液晶盒的亮度，据此可以得出：
[0033] T'=L2/L = nTfl对gg^AI^ncF (2)
[0034] 其中，T'是图2中透过液晶盒后的总光透过率。
[0035]如