液晶显示器制程异常测试方法
【专利摘要】一种液晶显示器制程异常测试方法，包括以下步骤：将从生产线上抽取的液晶显示器进行编号并通电；将液晶显示器置于常温环境中；对液晶显示器进行温度湿度冲击测试，检测液晶显示器的耐低温冲击性能、耐低温性能、耐高温高湿冲击性能及耐高温高湿性能，快速暴露因制程异常而导致液晶显示器出现亮线、暗线、无画面、画面异常等现象；对液晶显示器进行画面品质检测，对出现异常的液晶显示器根据其编号找出对应生产线的制程进行检修，纠正可能存在的制程异常。本方法可以检测出可能潜在的需经过长时间使用后才出现的液晶显示器异常现象，从而找出对应生产线的制程异常缺陷。
【专利说明】
液晶显示器制程异常测试方法
技术领域
[0001]本发明涉及液晶显示器技术领域，特别是涉及一种液晶显示器制程异常测试方法。
【背景技术】
[0002]LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成，放置于光源或者反射面前方。液晶显示器因为其省电、低辐射、体积小和画面柔和不伤眼等优点倍受青睐，广泛应用于数码相机、手机及电脑等电子产品中。
[0003]由于LCD依靠许许多多零部件组成，同时通过各种电路或者连接器将其组成一个整体，所要进行的工作相对繁杂并需要较高的精度水准，这决定了 LCD的生产需要依靠大量机器来完成，在自动化生产过程中，由于机器本身的原因可能导致生产出来的产品在某些制程上出现偏差，而这些微小的偏差并未能通过机器识别出来。
[0004]在生产制作过程中出现制程异常的LCD在经过长期使用后，经受使用环境变化和电气效应影响，LCD可能出现亮线、暗线、无画面、画面异常等缺陷，导致LCD无法正常工作，而目前常规的性能检测无法检测出可能潜在的LCD制程异常缺陷。
【发明内容】
[0005]基于此，有必要提供一种能检测出可能潜在的LCD制程异常缺陷的液晶显示器制程异常测试方法。
[0006]—种液晶显示器制程异常测试方法，包括以下步骤:将从生产线上抽取的液晶显示器进行编号并通电；将所述液晶显示器置于常温环境中；对所述液晶显示器进行温度湿度冲击测试，在短时间内将所述液晶显示器所处的环境温度降至第一温度，保持第一温度第一时长，然后在所述短时间内将所述液晶显示器所处的环境温度和湿度升至第二温度和第一湿度，保持第二温度和第一湿度第二时长;所述短时间为0.5小时，所述第一温度大于或等于零下20摄氏度，且小于或等于10摄氏度，所述第二温度大于或等于40摄氏度，且小于或等于60摄氏度，所述第一湿度大于或等于70%相对湿度;对所述液晶显示器进行画面品质检测。
[0007]在其中一个实施例中，所述抽取为等时间间隔抽取。
[0008]在其中一个实施例中，所述抽取为每隔I小时抽取，一条生产线上抽取12个作为一批次。
[0009]在其中一个实施例中，所述温度湿度冲击测试是将所述液晶显示器置于恒温恒湿箱内进行。
[0010]在其中一个实施例中，所述第一温度为O摄氏度，所述第二温度为50摄氏度，所述第一湿度为80%相对湿度，所述第一时长为2小时，所述第二时长为20小时。
[0011]在其中一个实施例中，所述液晶显示器的数量是至少两个，所述液晶显示器两两之间至少间隔20厘米。
[0012]在其中一个实施例中，将所述液晶显示器置于常温环境中的步骤之前包括对所述液晶显示器进行所述画面品质检测的步骤，若画面品质检测通过，则进行所述将所述液晶显示器置于常温环境中的步骤，否则中止测试。
[0013]在其中一个实施例中，所述画面品质检测的检测环境照度为:200±10勒克司。
[0014]在其中一个实施例中，所述温度湿度冲击测试之后，对所述液晶显示器进行所述画面品质检测之前包括在常温下静置所述液晶显示器的步骤。
[0015]在其中一个实施例中，对所述液晶显示器进行所述画面品质检测之后，包括根据出现异常的液晶显示器的编号拦截相应时间段生产的液晶显示器，并对所述出现异常的液晶显示器对应生产线的制程进行检修的步骤。
[0016]上述液晶显示器制程异常测试方法，将从生产线上抽取的液晶显示器进行编号并通电后，对液晶显示器进行温度湿度冲击测试，检测液晶显示器的耐低温冲击性能、耐低温性能、耐高温高湿冲击性能及耐高温高湿性能，快速暴露因制程异常而导致液晶显示器出现亮线、暗线、无画面、画面异常等现象，再对液晶显示器进行画面品质检测，对出现异常的液晶显示器根据其编号便可以找出对应生产线的制程进行检修，纠正可能存在的制程异常。本方法可以检测出可能潜在的需经过长时间使用后才出现的液晶显示器异常现象，从而找出对应生产线的制程异常缺陷。
【附图说明】
[0017]图1为一实施例中液晶显示器制程异常测试方法的流程图。
[0018]图2为另一实施例中液晶显示器制程异常测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0019]一种液晶显示器制程异常测试方法，如图1所示，包括以下步骤:步骤S110:将从生产线上抽取的液晶显示器进行编号并通电。
[0020]在本实施例中液晶显示器是从生产线上等时间间隔抽取得到。具体地，可根据液晶显示器生产的时间先后，在生产线上每隔I个小时抽取I件液晶显示器，可以将生产线每12小时内生产的产品划分为同一批次的产品，则每批次产品中抽取12个液晶显示器作为样品进行测试。抽样间隔时间和划分产品批次的间隔时间并不是唯一的，可根据实际情况进行调整。通过在生产线上等时间间隔抽取液晶显示器作为样品，保证能及时发现存在制程异常缺陷的产品，确保测试的有效性。对抽取的样品进行编号主要包括标明样品的生产线号和生产时间，能保证样品的可追溯性，即根据样品的编号可以找到与样品同时间段生产的产品及对应的生产线。
[0021]步骤S130:将液晶显示器置于常温环境中。
[0022]可将液晶显示器放置在恒温恒湿箱内，设置恒温恒湿箱为25摄氏度、50%相对湿度并保持0.5小时，保证样品在测试前处于常温环境中，排除其他环境因素对测试结果的影响。
[0023]步骤S140:对液晶显示器进行温度湿度冲击测试。
[0024]在短时间内将液晶显示器所处的环境温度降至第一温度，保持第一温度第一时长，然后在短时间内将液晶显示器所处的环境温度和湿度升至第二温度和第一湿度，保持第二温度和第一湿度第二时长。其中，短时间为0.5小时，在其它实施例中可以更快地进行升温/降温，第一温度是指大于或等于零下20摄氏度，且小于或等于10摄氏度，第二温度是指大于或等于40摄氏度，且小于或等于60摄氏度，第一湿度是指大于或等于70%相对湿度，第一时长大于或等于I小时，且小于或等于3小时，第二时长大于或等于15小时，且小于或等于25小时。对液晶显示器进行温度湿度冲击测试，检测液晶显示器的耐低温冲击性能、耐低温性能、耐高温高湿冲击性能及耐高温高湿性能，加速可能潜在的液晶显示器制程异常缺陷的暴露。对于温度、湿度、时间等参数，本领域技术人员可以根据实际需要进行适当的调整改变，本发明并不以此为限。
[0025]具体地，同样可通过调节恒温恒湿箱设置测试条件为:在0.5小时内将温度降低至O摄氏度，保持2小时，然后在0.5小时内将温度和湿度升至50摄氏度、80%相对湿度，保持20小时，即设置第一温度为O摄氏度，第二温度为50摄氏度，第一湿度为80%相对湿度，第一时长为2小时，第二时长为20小时。可以理解，温度、湿度的选择以及第一和第二时长都不是唯一的，可以根据液晶显示器的使用环境进行调整，具体可参考前述的温度、湿度和第一第二时长的范围，结合液晶显示器自身的耐受极端条件的能力来确定。
[0026]步骤S160:对液晶显示器进行画面品质检测。
[0027]画面品质检测包含:检查画面是否有亮点、暗点、压力点、断线、暗线、压力线、亮线、漏光、Cell/CF刮伤异物、偏光片异物、偏光片刮伤等。检查经过温度湿度冲击测试后液晶显示器是否出现因制程异常而导致的亮线、暗线、无画面、画面异常等现象。本实施例中可设置检测环境照度为200±10勒克司，使检测效果更好。
[0028]上述液晶显示器制程异常测试方法，将从生产线上抽取的IXD进行编号并通电后，对LCD进行温度湿度冲击测试，检测LCD的耐低温冲击性能、耐低温性能、耐高温高湿冲击性能及耐高温高湿性能，快速暴露因制程异常而导致IXD出现亮线、暗线、无画面、画面异常等现象，再对LCD进行画面品质检测，对出现异常的液晶显示器根据其编号拦截同时间段生产的LCD，并对出现异常的LCD对应生产线的制程进行检修，纠正可能存在的制程异常。本方法可以检测出可能潜在的需经过长时间使用后才出现的LCD异常现象，从而找出对应生产线的制程异常缺陷。
[0029]在其中一个实施例中，是对多条生产线上生产的液晶显示器进行抽取及测试，且液晶显示器放置在恒温恒湿箱内时两两之间至少间隔20厘米。保证液晶显示器之间间隔放置，可降低测试样品之间的相互影响，确保测试过程的合理性。
[0030]在其中一个实施例中，如图2所示，步骤S130之前包括步骤SI20:对液晶显示器进行第一次画面品质检测。
[0031]本实施例中对液晶显示器进行两次画面品质检测，即除了如前一实施例中的步骤S160外，还包括步骤S120。若步骤120中的第一次画面品质检测通过，则进行步骤S130，否则中止测试。增加本步骤是为了在测试前确认液晶显示器质量，确保后续测试的有效性。
[0032]如图2所示，步骤S140和步骤S160之间还可包括步骤S150:在常温下静置液晶显示器。
[0033]本步骤中的常温环境可参考步骤S130中的设置，静置的时间为至少2小时。常温下静置可降低前面步骤中温度湿度冲击测试对后续的第二次画面品质检测的干扰。
[0034]在步骤S160之后，可以进行步骤S170:根据出现异常的液晶显示器的编号拦截相应时间段生产的液晶显示器，并对出现异常的液晶显示器对应生产线的制程进行检修。
[0035]即在步骤S160中发现存在制程异常的LCD根据其编号拦截同时间段生产的LCD，并对出现异常的LCD对应生产线的制程进行检修。确保存在制程异常缺陷的产品在设计生产阶段就得到解决，能有效地降低存在制程异常缺陷的LCD出现流入市场的概率，减少后续因为长期使用后可能会出现LCD亮线、暗线、无画面、画面异常等不良问题，降低售后维修成本，为客户提供可靠的产品，提高公司的知名度和信誉度。可以对更改后的产品再次进行步骤SllO?S160的测试。纠正异常制程后的首批次产品应通过上述液晶显示器制程异常测试方法进行确认，确保异常制程得到整改，提尚广品的品质。
[0036]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，包括以下步骤:将从生产线上抽取的液晶显示器进行编号并通电；将所述液晶显示器置于常温环境中；对所述液晶显示器进行温度湿度冲击测试，包括在短时间内将所述液晶显示器所处的环境温度降至第一温度，保持第一温度第一时长，然后在所述短时间内将所述液晶显示器所处的环境温度和湿度升至第二温度和第一湿度，保持第二温度和第一湿度第二时长;所述短时间为0.5小时，所述第一温度大于或等于零下20摄氏度，且小于或等于10摄氏度，所述第二温度大于或等于40摄氏度，且小于或等于60摄氏度，所述第一湿度大于或等于70%相对湿度;对所述液晶显示器进行画面品质检测。2.根据权利要求1所述的液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，所述抽取为等时间间隔抽取。3.根据权利要求2所述的液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，所述抽取为每隔I小时抽取，一条生产线上抽取12个作为一批次。4.根据权利要求1所述的液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，所述温度湿度冲击测试是将所述液晶显示器置于恒温恒湿箱内进行。5.根据权利要求1所述的液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，所述第一温度为O摄氏度，所述第二温度为50摄氏度，所述第一湿度为80%相对湿度，所述第一时长为2小时，所述第二时长为20小时。6.根据权利要求1所述的液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，所述液晶显示器的数量是至少两个，所述液晶显示器两两之间至少间隔20厘米。7.根据权利要求1所述的液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，所述将所述液晶显示器置于常温环境中的步骤之前包括对所述液晶显示器进行所述画面品质检测的步骤，若检测通过，则进行所述将所述液晶显示器置于常温环境中的步骤，否则中止测试。8.根据权利要求1所述的液晶显示器区块缺陷测试方法，其特征在于，所述画面品质检测的检测环境照度为:200 土 10勒克司。9.根据权利要求1所述的液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，所述温度湿度冲击测试之后，对所述液晶显示器进行所述画面品质检测之前包括在常温下静置所述液晶显示器的步骤。10.根据权利要求1所述的液晶显示器制程异常测试方法，其特征在于，对所述液晶显示器进行所述画面品质检测之后，包括根据出现异常的液晶显示器的编号拦截相应时间段生产的液晶显示器，并对所述出现异常的液晶显示器对应生产线的制程进行检修的步骤。
【文档编号】G02F1/13GK105954894SQ201610420308
【公开日】2016年9月21日
【申请日】2016年6月15日
【发明人】熊勇军
【申请人】苏州众显电子科技有限公司