显示模组的维修方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种显示模组的维修方法及装置，该方法包括：显示模组的维修方法及装置，通过确定显示模组存在异物的不良区域，并在不良区域内确定多个测试点；以多个偏光角度对至少一个测试点发射预设强度的激光，并接收测试点的各反射光；根据测试点的各反射光强确定不良区域的最佳偏光角度；以最佳偏光角度对不良区域发射激光，对不良区域进行维修。由于显示模组的偏光片和保护膜会对维修用激光产生阻挡作用，因此，本发明实施例提供的上述方法根据不同偏光角度下测试点反射光强来确定出最佳的激光入射偏光角度，更有利于激光作用到异物，将异物打碎，从而优化维修异物的效果，保证显示模组的生产效率。
【专利说明】
显示模组的维修方法及装置
技术领域
[0001 ]本发明涉及显示技术领域，尤指一种显示模组的维修方法及装置。
【背景技术】
[0002]在液晶显不(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display，TFT_LCD)的制造工艺中，会出现显示不良。通常可将显示不良分为由于阵列基板和对向基板之间的间隙产生的Gap性不良和非Gap性不良，Gap性不良通常显示白色或黑色;非Gap性不良多为白色或黑色污渍，界限较为明显。
[0003]在TFT-LCD显示模组的制作过程中，部分产品因为阵列基板与对向基板内存在异物导致盒厚不均匀，使电场出现异常，造成液晶偏转受到影响，致使产品出现Gap不良。但是，目前显示模组制作过程中检测到异物而造成Gap不良后，不能消除由异物引起的显示不良，只能将该产品降为低等级，这将影响显示模组工段的产品产量，严重影响生产效率。
【发明内容】
[0004]本发明实施例提供一种显示模组维修方法及装置，用以解决现有技术中液晶显示装置模组存在异物而产生的显示不良的问题。
[0005]第一方面，本发明实施例提供一种显示模组的维修方法，包括:
[0006]确定所述显示模组存在异物的不良区域，并在所述不良区域内确定多个测试点；
[0007]以多个偏光角度对至少一个所述测试点发射预设强度的激光，并接收所述测试点的各反射光；
[0008]根据所述测试点的各反射光强确定所述不良区域的最佳偏光角度；
[0009]以所述最佳偏光角度对所述不良区域发射激光，对所述不良区域进行维修。
[0010]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述方法中，所述根据所述测试点的各反射光强确定所述不良区域的最佳偏光角度，包括:
[0011 ]根据所述测试点的各反射光强，将所述测试点的各反射光强中的最小值对应的偏光角度确定为所述最佳偏光角度。
[0012]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述方法中，在所述根据所述测试点的各反射光强确定所述不良区域的最佳偏光角度之后，还包括:
[0013]以所述最佳偏光角度对所述不良区域的多个所述测试点发射所述预设强度的激光，并接收各所述测试点的反射光；
[0014]根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，确定所述不良区域内异物的维修最尚点；
[0015]所述以所述最佳偏光角度对所述不良区域发射激光，对所述不良区域进行维修，包括:
[0016]以所述最佳偏光角度对所述维修最高点发射激光，对所述不良区域进行维修。
[0017]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述方法中，所述根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，确定所述不良区域内异物的维修最高点，包括:
[0018]根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，将各所述时长中的最小值对应的测试点位置确定为所述不良区域内异物的维修最高点。
[0019]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述方法中，在所述根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，确定所述不良区域内异物的维修最高点之后，还包括:
[0020]以所述最佳偏光角度对所述维修最高点位置发射所述预设强度的激光，并采集所述维修最高点位置的维修图像；
[0021]根据采集的所述维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度；
[0022]所述以所述最佳偏光角度对所述维修最高点发射激光，对所述不良区域进行维修，包括:
[0023]以所述最佳偏光角度和所述最佳激光发射强度对所述维修最高点位置发射激光，对所述不良区域进行维修。
[0024]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述方法中，所述根据采集的所述维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度，包括:
[0025]在采集的所述维修图像的亮度小于所述标准图像的亮度时，增大所述激光发射强度，在采集的所述维修图像的亮度大于所述标准图像的亮度时，减小所述激光器的发射强度，使调整后采集的维修图像的亮度与所述标准图像的亮度一致；
[0026]将与所述标准图像的亮度一致时采集的维修图像对应的激光发射强度作为最佳激光发射强度。
[0027]第二方面，本发明实施例提供一种显示模组的维修装置，包括:
[0028]不良区域确定单元，用于确定所述显示模组存在异物的不良区域，并在所述不良区域内确定多个测试点；
[0029]测试单元，用于以多个偏光角度对至少一个所述测试点发射预设强度的激光，并接收所述测试点的各反射光；
[0030]第一确定单元，用于根据所述测试点的各反射光强确定所述不良区域的最佳偏光角度；
[0031]维修单元，用于以所述最佳偏光角度对所述不良区域发射激光，对所述不良区域进行维修。
[0032]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述装置中，所述第一确定单元，具体用于根据所述测试点的各反射光强，将所述测试点的各反射光强中的最小值对应的偏光角度确定为所述最佳偏光角度。
[0033]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述装置中，在所述装置还包括第二确定单元时，
[0034]所述测试单元，还用于以所述最佳偏光角度对所述不良区域的多个所述测试点发射所述预设强度的激光，并接收各所述测试点的反射光；
[0035]所述第二确定单元，用于根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，确定所述不良区域内异物的维修最高点；
[0036]所述维修单元，还用于以所述最佳偏光角度对所述维修最高点发射激光，对所述不良区域进行维修。
[0037]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述装置中，所述第二确定单元，具体用于根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，将各所述时长中的最小值对应的测试点位置确定为所述不良区域内异物的维修最高点。
[0038]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述装置中，在所述装置还包括第三确定单元时；
[0039]所述测试单元，还用于以所述最佳偏光角度对所述维修最高点位置发射所述预设强度的激光，并采集所述维修最高点位置的维修图像；
[0040]所述第三确定单元，用于根据采集的所述维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度；
[0041]所述维修单元，还用于以所述最佳偏光角度和所述最佳激光发射强度对所述维修最高点位置发射激光，对所述不良区域进行维修。
[0042]在一种可能的实现方式中，在本发明实施例提供的上述装置中，所述第三确定单元，具体用于在采集的所述维修图像的亮度小于所述标准图像的亮度时，增大所述激光发射强度，在采集的所述维修图像的亮度大于所述标准图像的亮度时，减小所述激光器的发射强度，使调整后采集的维修图像的亮度与所述标准图像的亮度一致;将与所述标准图像的亮度一致时采集的维修图像对应的激光发射强度作为最佳激光发射强度。
[0043]本发明有益效果如下:
[0044]本发明实施例提供的显示模组的维修方法及装置，通过确定显示模组存在异物的不良区域，并在不良区域内确定多个测试点；以多个偏光角度对至少一个测试点发射预设强度的激光，并接收测试点的各反射光;根据测试点的各反射光强确定不良区域的最佳偏光角度；以最佳偏光角度对不良区域发射激光，对不良区域进行维修。由于显示模组的偏光片和保护膜会对维修用激光产生阻挡作用，因此，本发明实施例提供的上述方法根据不同偏光角度下测试点反射光强来确定出最佳的激光入射偏光角度，更有利于激光作用到异物，将异物打碎，从而优化维修异物的效果，保证显示模组的生产效率。
【附图说明】
[0045]图1为本发明实施例中显示模组的维修方法的流程图之一；
[0046]图2为本发明实施例中显示模组的维修方法的流程图之二；
[0047]图3为本发明实施例中显示模组的维修方法的流程图之三；
[0048]图4为本发明实施例中显示模组的维修装置的结构示意图之一；
[0049]图5为本发明实施例中显示模组的维修装置的结构示意图之二。
【具体实施方式】
[0050]针对现有技术中存在的液晶显示装置模组存在异物而产生的显示不良的问题，本发明实施例提供了一种显示模组的维修方法及装置。首先，本发明实施例提供的显示模组的维修方法的流程如图1所示，本发明实施例提供的上述显示模组的维修方法，依次执行步骤如下:
[0051]S101、确定显示模组存在异物的不良区域，并在不良区域内确定多个测试点；
[0052]S102、以多个偏光角度对至少一个测试点发射预设强度的激光，并接收测试点的各反射光；
[0053]S103、根据测试点的各反射光强确定不良区域的最佳偏光角度；
[0054]S104、以最佳偏光角度对不良区域发射激光，对不良区域进行维修。
[0055]由于显示模组的偏光片和保护膜会对维修用激光产生阻挡作用，因此，本发明实施例提供的上述方法根据不同偏光角度下测试点反射光强来确定出最佳的激光入射偏光角度，更有利于激光作用到异物，将异物打碎，从而优化维修异物的效果，保证显示模组的生产效率。
[0056]具体地，在上述的步骤S103中，根据测试点的各反射光强确定不良区域的最佳偏光角度，具体可以包括:
[0057]根据测试点的各反射光强，将测试点的各反射光强中的最小值对应的偏光角度确定为最佳偏光角度。
[0058]由于用于维修异物的激光需要由显示模组的阵列基板侧入射，因此，需要穿过阵列基板侧的保护膜和偏光片作用到异物上，而激光的能量是一定的，若接收到的反射光强越小，则通过保护膜和偏光片作用到异物的激光能量越大，由此，将反射光强中的最小值对应的偏光角度确定为最佳偏光角度。
[0059]在实际应用时，可调节激光器偏光轴变换，以每次出射的偏光角度依次增加10度，再依次向不良区域内的至少一个测试点发射激光，根据测试点的反射光强确定最佳偏光角度。例如，激光器在偏光角度为a时，向测试点A发射激光，米集的反射光强为Λ ;激光器在偏光角度为a+10°时，向测试点A发射激光，采集的反射光强为Ξ;激光器在偏光角度为a+20°时，向测试点A发射激光，采集的反射光强为τ;依次类推，在采集的各反射光强中提取出反射光强最小值，并将该最小值对应的偏光角度确定为维修时所需要的最佳偏光角度。
[0060]进一步地，如图2所示，在上述的步骤S103之后，本发明实施例提供的上述方法还包括如下步骤:
[0061]S201、以最佳偏光角度对不良区域的多个测试点发射预设强度的激光，并接收各测试点的反射光；
[0062]S202、根据接收到各测试点的反射光时所用的时长，确定不良区域内异物的维修最尚点；
[0063]由此，在上述的步骤S104中，以最佳偏光角度对不良区域发射激光，对不良区域进行维修，具体可以包括:
[0064]以最佳偏光角度对维修最高点发射激光，对不良区域进行维修。
[0065]为提高维修异物的准确性，在确定了最佳偏光角度之后，需要确定出引起不良的根本位置，即异物的最高点进行维修。因此，可根据接收到反射光所用时长，来确定异物的最高点，从而确定出引起不良的根本位置，在激光以最佳偏光角度入射到最高维修点时，可进一步提高维修的准确性。
[0066]具体地，在上述的步骤S202中，根据接收到各测试点的反射光时所用的时长，确定不良区域内异物的维修最高点，具体可以包括:
[0067]根据接收到各测试点的反射光时所用的时长，将各时长中的最小值对应的测试点位置确定为不良区域内异物的维修最高点。
[0068]在对异物的最高点发射激光时，由于异物最高点至阵列基板的距离最小，即异物最高点至激光发射源的距离也最小，相对于其它各点，在对发射激光进行反射后接收到反射光所有的时长也最小。
[0069]在实际应用时，可设定激光器维修异物时的最佳偏光角度，并使激光器在不良区域内的多个测试点进行移动并同时发射小能量激光，并根据接收到激光反射信号所有的时长来确定异物的维修最高点。例如，激光器对不良区域内的测试点I发射能量为M的激光，记录激光的反射时间为T1;激光器对测试点2发射能量为M的激光，记录激光的反射时间为T2;激光器对测试点3发射能量为M的激光，记录激光的反射时间为T3;依次类推，在记录的反馈时间中提取最小值，并将该最小值对应的测试点位置确定为偏光角度确定为不良区域内异物的维修最高点。
[0070]进一步地，如图3所示，在上述的步骤S202之后，本发明实施例提供的上述方法中，还包括如下步骤:
[0071]S301、以最佳偏光角度对维修最高点位置发射预设强度的激光，并采集维修最高点位置的维修图像；
[0072]S302、根据采集的维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度；
[0073]由此，在上述的步骤中，以最佳偏光角度对维修最高点发射激光，对不良区域进行维修，具体可以包括:
[0074]以最佳偏光角度和最佳激光发射强度对维修最高点位置发射激光，对不良区域进行维修。
[0075]在具体实施时，可根据采集的对维修最高点发射激光时的图像与标准图像之间的亮度关系，来调整激光发射强度，以确定出最佳激光发射强度对维修最高点进行维修，从而可以避免由于激光发射强度不足而不足以维修异物，或者由于激光发射强度过大而使显示丰旲组受损的状况，从而进一步提尚维修准确性，提尚维修的良率。
[0076]具体地，在上述的步骤S302中，根据采集的维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度，具体可以包括:
[0077]在采集的维修图像的亮度小于标准图像的亮度时，增大激光发射强度，在采集的维修图像的亮度大于标准图像的亮度时，减小激光器的发射强度，使调整后采集的维修图像的亮度与标准图像的亮度一致；
[0078]将与标准图像的亮度一致时采集的维修图像对应的激光发射强度作为最佳激光发射强度。
[0079]需要说明的是，上述的标准图像为在实际多次对由异物引起的显示不良维修过程中经过多次测试和验证的图像，该标准图像可适用于所有显示模组维修。在实际应用中，可根据每次发射激光时采集的维修图像与标准图像的亮度关系调整激光发射强度，使与标准图像亮度一致时对应的激光发射强度作为最佳激光发射强度。例如，在对维修最高点发射激光时激光能量为M，此时采集的维修图像与标准图像相比颜色较浅，即该维修图像的亮度小于标准图像的亮度，此时，可增大激光的发向强度，再一次对维修最高点发射激光，直至采集的维修图像与标准图像的亮度一致时，将此时的激光发射强度作为最佳激光发射强度。
[0080]在确定了对不良区域维修时所用激光的最佳偏光角度、异物的维修最高点以及最佳激光发射强度之后，对维修最高点发射激光，从而将位于显示模组中的异物打碎，使显示模组中阵列基板与对向基板之间的间隙恢复为正常值，从而减轻或消除由于异物引起的显示不良。
[0081]基于同一发明构思，本发明实施例提供一种显示模组的维修装置，由于该装置解决问题的原理与前述一种显示模组的维修方法相似，因此该装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
[0082]本发明实施例提供的一种显示模组的维修装置，如图4所示，包括:
[0083]不良区域确定单元41，用于确定显示模组存在异物的不良区域，并在不良区域内确定多个测试点；
[0084]测试单元42，用于以多个偏光角度对至少一个测试点发射预设强度的激光，并接收测试点的各反射光；
[0085]第一确定单元43，用于根据测试点的各反射光强确定不良区域的最佳偏光角度；
[0086]维修单元44，用于以最佳偏光角度对不良区域发射激光，对不良区域进行维修。
[0087]具体地，上述第一确定单元43，具体用于根据测试点的各反射光强，将测试点的各反射光强中的最小值对应的偏光角度确定为最佳偏光角度。
[0088]在具体实施时，如图5所示，在本发明实施例提供的上述装置还包括第二确定单元45时，
[0089]测试单元42，还用于以最佳偏光角度对不良区域的多个测试点发射预设强度的激光，并接收各测试点的反射光；
[0090]第二确定单元45，用于根据接收到各测试点的反射光时所用的时长，确定不良区域内异物的维修最高点；
[0091]维修单元44，还用于以最佳偏光角度对维修最高点发射激光，对不良区域进行维修。
[0092]具体地，上述第二确定单元45，具体用于根据接收到各测试点的反射光时所用的时长，将各时长中的最小值对应的测试点位置确定为不良区域内异物的维修最高点。
[0093]在具体实施时，如图5所示，在本发明实施例提供的上述装置还包括第三确定单元46时;
[0094]测试单元42，还用于以最佳偏光角度对维修最高点位置发射预设强度的激光，并采集维修最高点位置的维修图像；
[0095]第三确定单元46，用于根据采集的维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度；
[0096]维修单元44，还用于以最佳偏光角度和最佳激光发射强度对维修最高点位置发射激光，对不良区域进行维修。
[0097]具体地，上述第三确定单元46，具体用于在采集的维修图像的亮度小于标准图像的亮度时，增大激光发射强度，在采集的维修图像的亮度大于标准图像的亮度时，减小激光器的发射强度，使调整后采集的维修图像的亮度与标准图像的亮度一致;将与标准图像的亮度一致时采集的维修图像对应的激光发射强度作为最佳激光发射强度。
[0098]本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施例的示意图，附图中的单元或流程并不一定是实施本发明所必须的。
[0099]本领域技术人员可以理解实施例中的装置中的单元可以按照实施例描述进行分布于实施例的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施例的一个或多个装置中。上述实施例的单元可以合并为一个单元，也可以进一步拆分成多个子单元。
[0100]上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
[0101]本发明实施例提供的显示模组的维修方法及装置，通过确定显示模组存在异物的不良区域，并在不良区域内确定多个测试点；以多个偏光角度对至少一个测试点发射预设强度的激光，并接收测试点的各反射光;根据测试点的各反射光强确定不良区域的最佳偏光角度；以最佳偏光角度对不良区域发射激光，对不良区域进行维修。由于显示模组的偏光片和保护膜会对维修用激光产生阻挡作用，因此，本发明实施例提供的上述方法根据不同偏光角度下测试点反射光强来确定出最佳的激光入射偏光角度，更有利于激光作用到异物，将异物打碎，从而优化维修异物的效果，保证显示模组的生产效率。
[0102]显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
【主权项】
1.一种显示模组的维修方法，其特征在于，包括: 确定所述显示模组存在异物的不良区域，并在所述不良区域内确定多个测试点； 以多个偏光角度对至少一个所述测试点发射预设强度的激光，并接收所述测试点的各反射光； 根据所述测试点的各反射光强确定所述不良区域的最佳偏光角度； 以所述最佳偏光角度对所述不良区域发射激光，对所述不良区域进行维修。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试点的各反射光强确定所述不良区域的最佳偏光角度，包括: 根据所述测试点的各反射光强，将所述测试点的各反射光强中的最小值对应的偏光角度确定为所述最佳偏光角度。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述测试点的各反射光强确定所述不良区域的最佳偏光角度之后，还包括: 以所述最佳偏光角度对所述不良区域的多个所述测试点发射所述预设强度的激光，并接收各所述测试点的反射光； 根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，确定所述不良区域内异物的维修最尚点; 所述以所述最佳偏光角度对所述不良区域发射激光，对所述不良区域进行维修，包括: 以所述最佳偏光角度对所述维修最高点发射激光，对所述不良区域进行维修。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，确定所述不良区域内异物的维修最高点，包括: 根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，将各所述时长中的最小值对应的测试点位置确定为所述不良区域内异物的维修最高点。5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，确定所述不良区域内异物的维修最高点之后，还包括: 以所述最佳偏光角度对所述维修最高点位置发射所述预设强度的激光，并采集所述维修最高点位置的维修图像； 根据采集的所述维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度； 所述以所述最佳偏光角度对所述维修最高点发射激光，对所述不良区域进行维修，包括: 以所述最佳偏光角度和所述最佳激光发射强度对所述维修最高点位置发射激光，对所述不良区域进行维修。6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据采集的所述维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度，包括: 在采集的所述维修图像的亮度小于所述标准图像的亮度时，增大所述激光发射强度，在采集的所述维修图像的亮度大于所述标准图像的亮度时，减小所述激光器的发射强度，使调整后采集的维修图像的亮度与所述标准图像的亮度一致； 将与所述标准图像的亮度一致时采集的维修图像对应的激光发射强度作为最佳激光发射强度。7.一种显示模组的维修装置，其特征在于，包括: 不良区域确定单元，用于确定所述显示模组存在异物的不良区域，并在所述不良区域内确定多个测试点； 测试单元，用于以多个偏光角度对至少一个所述测试点发射预设强度的激光，并接收所述测试点的各反射光； 第一确定单元，用于根据所述测试点的各反射光强确定所述不良区域的最佳偏光角度； 维修单元，用于以所述最佳偏光角度对所述不良区域发射激光，对所述不良区域进行维修。8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一确定单元，具体用于根据所述测试点的各反射光强，将所述测试点的各反射光强中的最小值对应的偏光角度确定为所述最佳偏光角度。9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，在所述装置还包括第二确定单元时， 所述测试单元，还用于以所述最佳偏光角度对所述不良区域的多个所述测试点发射所述预设强度的激光，并接收各所述测试点的反射光； 所述第二确定单元，用于根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，确定所述不良区域内异物的维修最高点； 所述维修单元，还用于以所述最佳偏光角度对所述维修最高点发射激光，对所述不良区域进行维修。10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第二确定单元，具体用于根据接收到各所述测试点的反射光时所用的时长，将各所述时长中的最小值对应的测试点位置确定为所述不良区域内异物的维修最高点。11.如权利要求9所述的装置，其特征在于，在所述装置还包括第三确定单元时； 所述测试单元，还用于以所述最佳偏光角度对所述维修最高点位置发射所述预设强度的激光，并采集所述维修最高点位置的维修图像； 所述第三确定单元，用于根据采集的所述维修图像与预置的标准图像之间的亮度关系，调整激光的发射强度以确定最佳激光发射强度； 所述维修单元，还用于以所述最佳偏光角度和所述最佳激光发射强度对所述维修最高点位置发射激光，对所述不良区域进行维修。12.如权利要求11所述的装置，其特征在于，所述第三确定单元，具体用于在采集的所述维修图像的亮度小于所述标准图像的亮度时，增大所述激光发射强度，在采集的所述维修图像的亮度大于所述标准图像的亮度时，减小所述激光器的发射强度，使调整后采集的维修图像的亮度与所述标准图像的亮度一致;将与所述标准图像的亮度一致时采集的维修图像对应的激光发射强度作为最佳激光发射强度。
【文档编号】G02F1/13GK105954904SQ201610576229
【公开日】2016年9月21日
【申请日】2016年7月20日
【发明人】王博宁, 于洪俊, 赵天笑, 杨瑞锋, 王子健
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方光电科技有限公司