一种液晶面板缺陷的检测方法及装置的制造方法

文档序号:10685967阅读:471来源:国知局
一种液晶面板缺陷的检测方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明提供一种液晶面板缺陷的检测方法及装置,涉及显示技术领域,用以在不改变缺陷参数的情况下有效的检测出液晶面板中的聚集类缺陷。本发明的方法包括:对液晶面板图像进行AOI处理;根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标;将多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数;将每个聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果;在多个比较结果中,若连续n个比较结果均为小于预设聚集度参数且n大于或等于预设值,则将连续n个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中n为自然数。本发明主要应用在液晶面板的缺陷检测技术中。
【专利说明】
一种液晶面板缺陷的检测方法及装置
技术领域
[0001]本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种液晶面板缺陷的检测方法及装置。
【背景技术】
[0002]AOI(Automatic Optic Inspect1n,自动光学检测)是基于光学原理来对制造业生产中遇到的常见缺陷进行检测的技术。
[0003]在液晶面板制造业中,可利用AOI设备对Panel(面板)进彳丁检测。在检测时,首先对原始照片进行图像处理,然后对处理后的图像进行图像分割,分离出目标。再将目标与缺陷参数(Defect Spec)(包括Size(尺寸)、Length(长度)、Contrast(对比度)、SEMU(塞穆指标))等进行对比。符合缺陷参数要求的目标会被AOI设备检出,被认为是缺陷。
[0004]但是,对于对比度很低、视认性很差的聚集类缺陷,例如密集型的条纹Mura等,由于其特殊性,利用上述统一的缺陷参数是无法检出的。但是,如果将缺陷参数收严,将会造成其他干扰因素被误检,例如吸盘痕迹、轻微的灰度不均等假不良,这样将加大人工确认的工作量。如果将缺陷参数放宽,又会造成缺陷漏检。因此,如何有效的检测出聚集类缺陷是相关研究人员的研究重点。

【发明内容】

[0005]有鉴于此,本发明提供一种液晶面板缺陷的检测方法及装置,用以在不改变缺陷参数的情况下有效的检测出液晶面板中的聚集类缺陷。
[0006]为解决上述技术问题,本发明提供一种液晶面板缺陷的检测方法,包括:
[0007]对液晶面板图像进行自动光学检测AOI处理;
[0008]根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标;
[0009]将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数;其中,所述预定顺序为多个待处理目标的横坐标依次增加的顺序或者纵坐标依次增加的顺序;
[0010]将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果;
[0011]在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中η为自然数。
[0012]其中,所述聚集度参数包括:横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数;
[0013]所述将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列包括:
[0014]获取多个待处理目标的坐标;
[0015]将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列;
[0016]所述获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数,包括:
[0017]对于排列后的多个待处理目标,将相邻两个待处理目标的横坐标之差的绝对值作为所述相邻两个待处理目标的横坐标聚集度参数,将所述相邻两个待处理目标的纵坐标之差的绝对值作为所述相邻两个待处理目标的纵坐标聚集度参数。
[0018]其中,所述预设聚集度参数包括:预设横坐标聚集度参数和预设纵坐标聚集度参数;
[0019]所述将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果,包括:
[0020]分别将每个聚集度参数中的横坐标聚集度参数和所述预设横坐标聚集度参数、纵坐标聚集度参数和所述预设纵坐标聚集度参数进行比较,得到多个横坐标的比较结果和多个纵坐标的比较结果。
[0021]其中,在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,包括:
[0022]在多个比较结果中,在连续η个比较结果中,若横坐标的比较结果和纵坐标的比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷。
[0023]其中,所述对液晶面板图像进行自动光学检测AOI处理包括:
[0024]对所述液晶面板图像进行去噪处理;
[0025]在去噪处理后的液晶面板图像中,在以预设点为中心、预设大小的方块图像区域内,将所述预设点的灰度值与所述方块图像区域预设方向上的像素点的灰度值进行对比,获得多个差异值;
[0026]从所述差异值中获取大于或等于预设差异值的待处理差异值;
[0027]对所述待处理差异值对应的预设方向上的像素点进行判定,获取符合所述缺陷参数的目标。
[0028]第二方面,本发明提供一种液晶面板缺陷的检测装置,包括:
[0029]自动光学检测模块,用于对液晶面板图像进行自动光学检测AOI处理;
[0030]待处理目标确定模块,用于根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标;
[0031 ]聚集度参数获取模块,用于将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数;其中,所述预定顺序为多个待处理目标的横坐标依次增加的顺序或者纵坐标依次增加的顺序;
[0032]比较模块,用于将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果;
[0033]处理模块,用于在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中η为自然数。
[0034]其中,所述聚集度参数包括:横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数;
[0035]所述聚集度参数获取模块包括:
[0036]坐标获取子模块,用于获取所述多个待处理目标的坐标;
[0037]排序子模块,用于将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列;
[0038]参数获取子模块,用于获取排列后的多个待处理目标的横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数,其中横坐标聚集度参数为相邻两个待处理目标的横坐标之差的绝对值,纵坐标聚集度参数为所述相邻两个待处理目标的纵坐标之差的绝对值。
[0039]其中,所述预设聚集度参数包括:预设横坐标聚集度参数和预设纵坐标聚集度参数;
[0040]所述比较模块具体用于:分别将每个聚集度参数中的横坐标聚集度参数和所述预设横坐标聚集度参数、纵坐标聚集度参数和所述预设纵坐标聚集度参数进行比较,得到多个横坐标的比较结果和多个纵坐标的比较结果。
[0041 ]其中,所述处理模块具体用于:
[0042]在多个比较结果中,在连续η个比较结果中,若横坐标的比较结果和纵坐标的比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷。
[0043]其中,所述自动光学检测模块包括:
[0044]去噪处理子模块,用于对所述液晶面板图像进行去噪处理;
[0045]对比子模块,用于在去噪处理后的液晶面板图像中,在以预设点为中心、预设大小的方块图像区域内,将所述预设点的灰度值与所述方块图像区域预设方向上的像素点的灰度值进行对比,获得多个差异值;
[0046]阈值分割子模块,用于从所述差异值中获取大于或等于预设差异值的待处理差异值;
[0047]判定子模块,用于对所述待处理差异值对应的预设方向上的像素点进行判定,获取符合所述缺陷参数的目标。
[0048]本发明的上述技术方案的有益效果如下:
[0049]在本发明实施例中,在AOI处理的结果中确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标,并获得排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数。通过对聚集度参数的分析来确定液晶面板的聚集类缺陷。由上可以看出,本发明实施例的方案是在AOI处理结果的基础上的进一步分析,因此,利用上述方案无需改变AOI处理的缺陷参数。同时,本方案中又可通过对聚集度参数进行分析来确定液晶面板的聚集类缺陷。因而,利用本发明实施例的方案,在不改变缺陷参数的情况下有效的检测出液晶面板中的聚集类缺陷。
【附图说明】
[0050]图1为本发明实施例一的液晶面板缺陷的检测方法的流程图;
[0051 ]图2为本发明实施例二的液晶面板缺陷的检测方法的流程图;
[0052]图3为本发明实施例二中的待处理目标的示意图;
[0053]图4为本发明实施例三的液晶面板缺陷的检测装置的示意图。
【具体实施方式】
[0054]下面将结合附图和实施例,对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
[0055]如图1所示,本发明实施例一的液晶面板缺陷的检测方法,包括:
[0056]步骤101、对液晶面板图像进行AOI处理。
[0057]在此步骤中,Α0Ι处理的过程与现有技术中的相同,可包括如下过程:
[0058]首先,获得液晶面板图像并对该液晶面板图像进行去噪处理。在去噪处理后的液晶面板图像中,在以预设点为中心、预设大小的方块图像区域内,将所述预设点的灰度值与所述方块图像区域预设方向上的像素点的灰度值进行对比,获得多个差异值。然后,从所述差异值中获取大于或等于预设差异值的待处理差异值,对所述待处理差异值对应的预设方向上的像素点的对比度等进行判定,获取符合所述缺陷参数的目标。
[0059]其中,预设差异值可根据经验设置。预设方向可以是预设点的上、下、左、右4个方向(4连通对比),还可以是上、下、左、右、左上、右上、左下、右下等8个方向(8连通对比)。
[0060]步骤102、根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标。
[0061]通过对液晶面板图像进行AOI处理,可获得多个符合缺陷参数要求的目标。在此,将其作为现有技术中液晶面板的缺陷检出。而对于不符合缺陷参数要求的待处理目标,其中有可能存在聚集类缺陷,因此,在本发明实施例中仍要对其进行检测。因此,在此还要在AOI处理的基础上获得不符合缺陷参数要求的多个待处理目标。
[0062]步骤103、将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数。
[0063]其中,所述预定顺序为多个待处理目标的横坐标依次增加的顺序或者纵坐标依次增加的顺序。
[0064]在获取多个待处理目标后,可以任意一点为原点(可以是某个待处理目标,也可以不是)建立χ-y坐标系。因此,可根据建立的坐标系获取排列后的多个待处理目标的坐标,然后将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列。
[0065]为了提高准确性,在本发明实施例中,所述聚集度参数包括:横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数。其中,横坐标聚集度参数指的是在横坐标方向各个待处理目标的聚集度情况,纵坐标聚集度参数指的是在纵坐标方向各个待处理目标的聚集度情况。
[0066]具体的,对于排列后的多个待处理目标,将相邻两个待处理目标的横坐标之差的绝对值作为所述相邻两个待处理目标的横坐标聚集度参数,将所述相邻两个待处理目标的纵坐标之差的绝对值作为所述相邻两个待处理目标的纵坐标聚集度参数。
[0067]步骤104、将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果。
[0068]如前所述,在本发明实施例中,所述聚集度参数包括:横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数。那么相应的,在此所述预设聚集度参数包括:预设横坐标聚集度参数和预设纵坐标聚集度参数,并且该两个参数可根据实际经验设定。
[0069]具体的,在此步骤中,则是分别将每个聚集度参数中的横坐标聚集度参数和所述预设横坐标聚集度参数、纵坐标聚集度参数和所述预设纵坐标聚集度参数进行比较,得到多个横坐标的比较结果和多个纵坐标的比较结果。
[0070]步骤105、在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中η为自然数。[0071 ]其中,该预设值可根据实际经验设置。由于聚集度参数是相邻两个待处理目标的横纵坐标之差的绝对值,因此,每个聚集度参数对应两个待处理目标。
[0072]在多个横坐标的比较结果和纵坐标的比较结果中,从两个结果的第一个结果开始判断,判断第一个横坐标的比较结果和第一个纵坐标的结果是否都小于该预设聚集度参数。若是,则将计数值加1(计数值初始值为O)。然后,对于后续的每个横坐标的比较结果和每个纵坐标的比较结果按照顺序都进行上述判断,直到某个横坐标的比较结果或某个纵坐标的比较结果大于或等于该预设聚集度参数,同时获得此时的计数值。如果该计数值η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷。
[0073]由上可以看出,本发明实施例的方案是在AOI处理结果的基础上的进一步分析,因此,利用上述方案无需改变AOI处理的缺陷参数。同时,本方案中又可通过对聚集度参数进行分析来确定液晶面板的聚集类缺陷。因而,利用本发明实施例的方案,在不改变缺陷参数的情况下有效的检测出液晶面板中的聚集类缺陷。
[0074]以下,结合实施例二详细描述一下本发明实施例的液晶面板缺陷的检测方法。
[0075]如图2所示,本发明第二实施例的液晶面板缺陷的检测方法包括:
[0076]步骤201、对液晶面板图像进行AOI处理。
[0077]步骤202、根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标。
[0078]在步骤201和202中,对液晶面板图像进行去噪处理等处理,将分离出的8连通目标与预设的缺陷参数进行对比。对于不符合缺陷参数要求的多个待处理目标进行后续的处理。
[0079]步骤203、将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数。
[0080]以任意一点为原点建立坐标系,并获得在此坐标系下各个待处理目标的坐标。在此,以横坐标由小到大的顺序对各个待处理目标进行排序。对于排列后的多个待处理目标,将相邻两个待处理目标的横坐标之差的绝对值作为所述相邻两个待处理目标的横坐标聚集度参数,将所述相邻两个待处理目标的纵坐标之差的绝对值作为所述相邻两个待处理目标的纵坐标聚集度参数。
[0081 ]假设,在此步骤中获得的m个待处理目标的坐标分别为:m、n2、…nm,其坐标按X向递加排列,分别为(11,71)、(12,72)"七111,7111)』向坐标组成的数列定义为父={χ?,Χ2,...Χιιι},其差分算子Axm= |Xm+1-Xm|,应用这个算子,从原数列X构成一个新的数列,即相邻两个待处理目标的横坐标聚集度参数构成的数列ΛΧ= {Λχι,Ax2,…厶化―!}。
[0082]同理,相应的Y向坐标组成的数列定义为Y={yi,y2,‘"ym},其差分算子Aym =ym+1-ym I,应用这个算子,从原数列Y构成一个新的数列,即相邻两个待处理目标的纵坐标聚集度参数构成的数列ΛΥ= {Ayi,Ay2,…Aym-1}。
[0083]步骤204、将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果。
[0084]对于步骤203中获得的数列ΛΧ和数列ΛΥ,将数列中的每个值按照在数列中的顺序分别和预设横坐标聚集度参数、预设纵坐标聚集度参数进行比较。其中,所述预设横坐标聚集度参数、预设纵坐标聚集度参数的值可以设置为相同,也可设置为不同。在本发明实施例中,假设预设横坐标聚集度参数和预设纵坐标聚集度参数相同,用R表示。
[0085]具体的,在此步骤中,将数列ΛΧ中的值按照在数列中的顺序和R进行比较,得到多个比较结果,将其称为第一结果数列;将数列ΛΥ中的值按照在数列中的顺序和R进行比较,得到多个比较结果,在此将其称为第二结果数列。
[0086]步骤205、对多个比较结果进行判断,确定液晶面板的聚集类缺陷。
[0087]具体的,在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中η为自然数。
[0088]其中,预设值可根据实际经验设置,在此用C表示。
[0089]对于步骤204中的第一结果数列和第二结果数列中的多个结果,分别从两个数列中的第一个结果开始,若两个数列中的第一结果均为小于R,则将计数值η(η从O开始)加I。按照这种方式,将两个数列中的每个结果都进行上述判定,直到某个数列中的任意一个结果大于或等于R,同时获得此时的计数值η。
[0090]将计数值η和C进行比较,若η大于或等于C,则可将η个横坐标聚集度参数或者η个纵坐标聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷。例如,假设第一结果数列和第二结果数列中第一个到第三个比较结果满足上述条件,由于每个比较结果都是由横坐标聚集度参数和预设横坐标聚集度参数、纵坐标聚集度参数和预设纵坐标聚集度参数进行比较获得的,而横坐标聚集度参数或纵坐标聚集度参数又是由相邻两个待处理目标的横坐标或纵坐标计算获得,因此,可将第一个到第三个比较结果对应的待处理目标,也即第一个到第三个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷。
[0091 ]例如,如图3所示,按X坐标由小到大的顺序排列后的待处理目标m-m中,相邻两个待处理目标的横坐标聚集度参数构成的数列和相邻两个待处理目标的纵坐标聚集度参数构成的数列分别为厶父=(1,3,2,0,10,11),厶¥=(2,1,1,2,3,13)。若1? = 5< = 3,可知111-114的差分八叉1,八71、八叉2,八72、八叉3,八73、八叉4,八74符合条件:八叉11〈1?且八5^〈1?,且连续出现的次数4次,即计数值n = 4>C,故m-n4符合“聚集”的特征,在此将其作为液晶面板的聚集类缺陷。
[0092]由上可以看出,本发明实施例的方案是在AOI处理结果的基础上的进一步分析,因此,利用上述方案无需改变AOI处理的缺陷参数。同时,本方案中又可通过对聚集度参数进行分析来确定液晶面板的聚集类缺陷。因而,利用本发明实施例的方案,在不改变缺陷参数的情况下有效的检测出液晶面板中的聚集类缺陷。
[0093]如图4所示,本发明实施例三的液晶面板缺陷的检测装置,包括:
[0094]自动光学检测模块401,用于对液晶面板图像进行自动光学检测AOI处理;
[0095]待处理目标确定模块402,用于根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标;
[0096]聚集度参数获取模块403,用于将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数;其中,所述预定顺序为多个待处理目标的横坐标依次增加的顺序或者纵坐标依次增加的顺序;
[0097]比较模块404,用于将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果;
[0098]处理模块405,用于在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中η为自然数。
[0099]具体的,所述自动光学检测模块401包括:
[0100]去噪处理子模块,用于对所述液晶面板图像进行去噪处理;对比子模块,用于在去噪处理后的液晶面板图像中,在以预设点为中心、预设大小的方块图像区域内,将所述预设点的灰度值与所述方块图像区域预设方向上的像素点的灰度值进行对比,获得多个差异值;阈值分割子模块,用于从所述差异值中获取大于或等于预设差异值的待处理差异值;判定子模块,用于对所述待处理差异值对应的预设方向上的像素点进行判定,获取符合所述缺陷参数的目标。
[0101]其中,所述聚集度参数包括:横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数。所述预设聚集度参数包括:预设横坐标聚集度参数和预设纵坐标聚集度参数。
[0102]具体的,所述聚集度参数获取模块403包括:坐标获取子模块,用于获取所述多个待处理目标的坐标;排序子模块,用于将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列;参数获取子模块,用于获取排列后的多个待处理目标的横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数,其中横坐标聚集度参数为相邻两个待处理目标的横坐标之差的绝对值,纵坐标聚集度参数为所述相邻两个待处理目标的纵坐标之差的绝对值。
[0103]具体的,所述比较模块404具体用于:分别将每个聚集度参数中的横坐标聚集度参数和所述预设横坐标聚集度参数、纵坐标聚集度参数和所述预设纵坐标聚集度参数进行比较,得到多个横坐标的比较结果和多个纵坐标的比较结果。
[0104]具体的,所述处理模块405具体用于:在多个比较结果中,在连续η个比较结果中,若横坐标的比较结果和纵坐标的比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷。
[0105]本发明实施例装置的工作原理可参照前述方法实施例的描述。
[0106]由上可以看出,本发明实施例的方案是在AOI处理结果的基础上的进一步分析,因此,利用上述方案无需改变AOI处理的缺陷参数。同时,本方案中又可通过对聚集度参数进行分析来确定液晶面板的聚集类缺陷。因而,利用本发明实施例的方案,在不改变缺陷参数的情况下有效的检测出液晶面板中的聚集类缺陷。
[0107]以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明所述原理的前提下,还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种液晶面板缺陷的检测方法,其特征在于,包括: 对液晶面板图像进行自动光学检测AOI处理; 根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标; 将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数;其中,所述预定顺序为多个待处理目标的横坐标依次增加的顺序或者纵坐标依次增加的顺序; 将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果; 在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中η为自然数。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述聚集度参数包括:横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数; 所述将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列包括: 获取所述多个待处理目标的坐标; 将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列; 所述获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数,包括: 对于排列后的多个待处理目标,将相邻两个待处理目标的横坐标之差的绝对值作为所述相邻两个待处理目标的横坐标聚集度参数,将所述相邻两个待处理目标的纵坐标之差的绝对值作为所述相邻两个待处理目标的纵坐标聚集度参数。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设聚集度参数包括:预设横坐标聚集度参数和预设纵坐标聚集度参数; 所述将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果,包括: 分别将每个聚集度参数中的横坐标聚集度参数和所述预设横坐标聚集度参数、纵坐标聚集度参数和所述预设纵坐标聚集度参数进行比较,得到多个横坐标的比较结果和多个纵坐标的比较结果。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,包括: 在多个比较结果中,在连续η个比较结果中,若横坐标的比较结果和纵坐标的比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷。5.根据权利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述对液晶面板图像进行自动光学检测AOI处理包括: 对所述液晶面板图像进行去噪处理; 在去噪处理后的液晶面板图像中,在以预设点为中心、预设大小的方块图像区域内,将所述预设点的灰度值与所述方块图像区域预设方向上的像素点的灰度值进行对比,获得多个差异值; 从所述差异值中获取大于或等于预设差异值的待处理差异值; 对所述待处理差异值对应的预设方向上的像素点进行判定,获取符合所述缺陷参数的目标。6.一种液晶面板缺陷的检测装置,其特征在于,包括: 自动光学检测模块,用于对液晶面板图像进行自动光学检测AOI处理; 待处理目标确定模块,用于根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标; 聚集度参数获取模块,用于将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列,并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数;其中,所述预定顺序为多个待处理目标的横坐标依次增加的顺序或者纵坐标依次增加的顺序; 比较模块,用于将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较,得到多个比较结果; 处理模块,用于在所述多个比较结果中,若连续η个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷,其中η为自然数。7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述聚集度参数包括:横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数; 所述聚集度参数获取模块包括: 坐标获取子模块,用于获取所述多个待处理目标的坐标; 排序子模块,用于将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列; 参数获取子模块,用于获取排列后的多个待处理目标的横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数,其中横坐标聚集度参数为相邻两个待处理目标的横坐标之差的绝对值,纵坐标聚集度参数为所述相邻两个待处理目标的纵坐标之差的绝对值。8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述预设聚集度参数包括:预设横坐标聚集度参数和预设纵坐标聚集度参数; 所述比较模块具体用于:分别将每个聚集度参数中的横坐标聚集度参数和所述预设横坐标聚集度参数、纵坐标聚集度参数和所述预设纵坐标聚集度参数进行比较,得到多个横坐标的比较结果和多个纵坐标的比较结果。9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述处理模块具体用于: 在多个比较结果中,在连续η个比较结果中,若横坐标的比较结果和纵坐标的比较结果均为小于所述预设聚集度参数且η大于或等于预设值,则将连续η个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷。10.根据权利要求6-9任一所述的装置,其特征在于,所述自动光学检测模块包括: 去噪处理子模块,用于对所述液晶面板图像进行去噪处理; 对比子模块,用于在去噪处理后的液晶面板图像中,在以预设点为中心、预设大小的方块图像区域内,将所述预设点的灰度值与所述方块图像区域预设方向上的像素点的灰度值进行对比,获得多个差异值; 阈值分割子模块,用于从所述差异值中获取大于或等于预设差异值的待处理差异值;判定子模块,用于对所述待处理差异值对应的预设方向上的像素点进行判定,获取符合所述缺陷参数的目标。
【文档编号】G02F1/13GK106054421SQ201610608741
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年7月28日
【发明人】刘杰, 边征, 苏建兵, 梁开杰, 刘淑媛, 孙桐波, 陈思洋
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司
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