一种高均匀性的电热mems微镜/微镜阵列及制造方法

文档序号:10697301阅读:490来源:国知局
一种高均匀性的电热mems微镜/微镜阵列及制造方法
【专利摘要】一种集成MEMS微镜阵列,包括M×N个热驱动MEMS微镜单元1、器件层PAD2、底部PAD3、TSV通孔4、TSV基底5和电引线6,其中M、N为大于等于1的整数,该热驱动MEMS微镜单元1包括镜面1?1、驱动臂1?2和镜框1?3,镜面1?1通过驱动臂1?2连接在镜框1?3上,驱动臂1?2通过电引线6依次与器件层PAD2、TSV通孔4和底部PAD3电连接,驱动臂1?2位于镜面1?1的侧面。本申请通过键合带热驱动结构图形的SOI圆片和带腔TSV圆片,解决了热驱动MEMS微镜的释放均匀性、阵列结构的引线电阻分布不均和散热困难的技术问题。
【专利说明】
一种高均匀性的电热MEMS微镜/微镜阵列及制造方法
技术领域
[0001]本发明涉及的是一种集成MEMS微镜阵列及制造方法,特别是涉及电热式微镜阵列,属于微机电技术领域。
【背景技术】
[0002]基于热双层材料(bimorph)结构的电热MEMS微镜有很多其它驱动方式不可比拟的优势,比如同时获得大转角、大位移、高镜面填充率和低电压。Bimorph是薄膜结构,需要与娃衬底分离,即结构释放。目前Bimorph的释放主要依靠对薄膜下的娃进行Undercut,这个释放工艺已经取得了很多应用,但是这个Undercut工艺很容易造成过度侧向刻蚀、侧向刻蚀的非均匀甚至留下一些残余硅等结构非均匀性问题,进而导致芯片与芯片的响应特性差异,对于微镜阵列而言,就会导致单元与单元之间的差异。
[0003]同时,现有热式MEMS微镜阵列器件(如CN104020561 B)只能将所有引线都引到芯片边沿,可用来制作I XN阵列结构,或小阵列的MXN阵列结构。但需要制作较大的MXN阵列结构时,将中心单元的引线引导到芯片的边沿就变得十分困难,且会造成引线电阻分布不均和散热困难等技术问题。

【发明内容】

[0004]本发明解决的技术问题是:热驱动MEMS微镜的驱动臂释放均匀性、阵列结构的引线电阻分布不均和散热困难的技术问题。
[0005]本发明的技术方案是:一种集成MEMS微镜阵列,包括MX N个热驱动MEMS微镜单元
1、器件层?402、底部?403、了5¥通孔4、了5¥基底5和电引线6,其中1^为大于等于1的整数,该热驱动MEMS微镜单元I包括镜面1-1、驱动臂1-2和镜框1-3,镜面1-1通过驱动臂1-2连接在镜框1-3上,驱动臂1-2通过电引线6依次与器件层PAD2、TSV通孔4和底部PAD3电连接,驱动臂1-2位于镜面1-1的侧面。
[0006]本发明的优点和技术效果:本申请通过键合带热驱动结构图形的SOI圆片和带腔TSV圆片,解决了热驱动MEMS微镜的释放均匀性、阵列结构的引线电阻分布不均和散热困难的技术问题。
【附图说明】
[0007]图1是集成MEMS微镜单元的三维示意图。
[0008]图2是热驱动MEMS微镜单元的剖面图。
[0009]图3是实施例2中选择SOI圆片作为微镜基底8的步骤示意图;
图4是实施例2中在微镜基底8的顶硅层8-1的表面形成驱动臂1-2和上层PAD2-1的步骤示意图;
图5是实施例2中选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3的步骤示意图; 图6是实施例2中将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成新圆片9的步骤不意图;
图7是实施例2中去除新圆片9的底娃层8_3的步骤不意图;
图8是实施例2中去除新圆片9的底娃层8_3和氧埋层8_2的步骤不意图;
图9是实施例2中淀积金属层10并图形化,形成镜面1-1(结合图7)的步骤示意图;
图10是实施例2中淀积金属层10并图形化,形成镜面1-1(结合图8)的步骤示意图;
图11是实施例2中图形化顶硅层8-1的步骤示意图(结合图9);
图12是实施例2中图形化刻蚀氧埋层8-2和顶硅层8-3的步骤示意图(结合图10);
图13是实施例3中选择圆片作为微镜基底8的步骤示意图;
图14是实施例3中在微镜基底8的表面形成驱动臂1-2和上层PAD2-1的步骤示意图;
图15是实施例3中选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5的步骤示意图;
图16是实施例3中将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成新圆片9的步骤不意图;
图17是实施例3中减薄新圆片9的下表面至设定厚度的步骤示意图;
图18是实施例3中淀积金属层10并图形化,形成镜面1-1的步骤示意图;
图19是实施例3中图形化新圆片9上表面,释放镜面1-1和驱动臂1-2的步骤示意图。
[0010]图20是实施例4的MEMS微镜单元的三维示意图。
[0011 ]图21是实施例4的MEMS微镜单元的剖面图。
[0012]图22是实施例5中选择SOI圆片作为微镜基底8的步骤示意图;
图23是实施例5在微镜基底8的顶硅层8-1的表面形成驱动臂1-2和上层PAD2-1的步骤示意图;
图24是实施例5中释放驱动臂1-2的步骤示意图
图25是实施例5中选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,空腔包含凸台结构的步骤示意图;
图26是实施例5中将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成新圆片9的步骤不意图;
图27是实施例5中去除新圆片9的底娃层8_3的步骤不意图;
图28是实施例5中去除新圆片9的底娃层8_3和氧埋层8_2的步骤不意图;
图29是实施例5中淀积金属层10并图形化,形成镜面1-1(结合图27)的步骤示意图;
图30是实施例5中淀积金属层10并图形化,形成镜面1-1(结合图28)的步骤示意图;
图31是实施例5中图形化顶硅层8-1的步骤示意图(结合图29);
图32是实施例5中图形化刻蚀氧埋层8-2和顶硅层8-3的步骤示意图(结合图30);
图33是实施例6中选择圆片作为微镜基底8的步骤示意图;
图34是实施例6中在微镜基底8的表面形成驱动臂1-2和上层PAD2-1的步骤示意图;
图35是实施例6释放驱动臂1-2的步骤示意图图36是实施例6中选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5的步骤示意图;
图37是实施例6中将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成新圆片9的步骤不意图;
图38是实施例6中减薄新圆片9的下表面至设定厚度的步骤示意图; 图39是实施例6中淀积金属层10并图形化,形成镜面1-1的步骤示意图;
图40是实施例6中图形化新圆片9上表面,释放镜面1-1和驱动臂1-2的步骤示意图。
[0013]图中,I是微镜阵列,2是器件层PAD,2-1是上层PAD,2_2是下层PAD,3是底部PAD,4是TSV通孔,5是TSV基底,6是热驱动MEMS微镜单元,6_1是镜面,6_1_1是反射层,6_2是驱动臂,6_3是镜框,7是电引线,8是微镜基底,8_1是顶娃层,8_2是氧埋层,8_3是底娃层,9是新圆片。
【具体实施方式】
[0014]一种集成MEMS微镜阵列,包括M X N个热驱动MEMS微镜单元1、器件层PAD2、底部PAD3、TSV通孔4、TSV基底5和电引线6,其中M、N为大于等于I的整数,该热驱动MEMS微镜单元I包括镜面1-1、驱动臂1-2和镜框1-3,镜面1-1通过驱动臂1-2连接在镜框1-3上,驱动臂1-2通过电引线6依次与器件层PAD2、TSV通孔4和底部PAD3电连接,驱动臂1-2位于镜面1-1的侧面。
[0015]所述器件层PAD2包括上层PAD2-1和下层PAD2-2,上层PAD2-1连接在镜框1-3下部,下层PAD2-2连接在引线基底5上部,上层PAD2-1和下层PAD2-2通过键合连接在一起。
[0016]所述镜面1-1下方的TSV基底5开有空腔5-1。
[0017]所述镜面1-1为正方形、长方形、圆形、椭圆形或多边形中的一种,并由4组驱动臂1-2在所述镜面1-1的4个边支撑。
[0018]所述驱动臂1-2包括至少两层热膨胀系数不同的材料,其中至少一层材料为加热电阻材料层,该加热电阻材料层与所述器件层电引线6电连接。
[0019]所述驱动臂1-2中一种材料可以用一次或多次,并且所述驱动臂1-2的每一层可以是连续的,也可以是不连续的。
[0020]当M和N均等于I,即该器件为单镜面微镜芯片。
[0021 ] 一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,包括如下步骤:
1)选择SOI圆片作为微镜基底8,该微镜基底8包括顶硅层8-1、氧埋层8-2和底硅层8-3;
2)在微镜基底8的顶硅层8-1的表面淀积并图形化形成驱动臂1-2和上层PAD2-1;
3)选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,下层PAD2-2和底部PAD3通过TSV通孔4连接;
4)将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成第一新圆片9;
5)去除第一新圆片9的底硅层8-3,或去除第一新圆片9的底硅层8-3和氧埋层8-2;
6)淀积金属层并图形化,形成镜面1-1的反射层1-1-1;
7)图形化顶硅层8-1,或图形化刻蚀氧埋层8-2和顶硅层8-1,释放镜面1-1和驱动臂1-2,形成所述集成MEMS微镜阵列。
[0022]所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-二氧化硅-铝-二氧化硅构成,也可依次由二氧化硅-钛-铜-钛-二氧化硅-钨-二氧化硅构成。
[0023]—种集成MEMS微镜阵列的制造方法,包括如下步骤:
1)选择圆片作为微镜基底8;
2)在微镜基底8的表面淀积并图形化形成驱动臂1-2和上层PAD2-1;
3)选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,下层PAD2-2和底部PAD3通过TSV通孔4连接;
4)将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成第二新圆片11;
5)减薄第二新圆片11的下表面至设定厚度;
6)淀积金属层并图形化,形成镜面1-1的反射层1-1-1;
7)图形化第二新圆片11上表面,释放镜面1-1和驱动臂1-2,形成所述集成MEMS微镜阵列。
[0024]所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-二氧化硅-铝-二氧化硅构成,也可依次由二氧化硅-钛-铜-钛-二氧化硅-钨-二氧化硅构成。
[0025]一种集成MEMS微镜阵列,包括MXN个热驱动MEMS微镜单元1、器件层PAD2、底部PAD3、TSV通孔4、TSV基底5和电引线6,其中M、N为大于等于I的整数,该热驱动MEMS微镜单元I包括镜面1-1、驱动臂1-2和镜框1-3,镜面1-1通过驱动臂1-2连接在镜框1-3上,驱动臂1-2通过电引线6依次与器件层PAD2、TSV通孔4和底部PAD3电连接,驱动臂1-2位于镜面1-1的下方。
[0026]—种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于包括如下步骤:
1)选择SOI圆片作为微镜基底8,该微镜基底8包括顶硅层8-1、氧埋层8-2和底硅层8-3;
2)在微镜基底8的顶硅层8-1的表面淀积并图形化形成驱动臂1-2和上层PAD2-1;
3)释放驱动臂1-2,使驱动臂1-2处于悬浮状态;
4)选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,下层PAD2-2和底部PAD3通过TSV通孔4连接;
5)将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成第三新圆片12;
6)去除第三新圆片12的底硅层8-3,或去除第三新圆片12的底硅层8-3和氧埋层8-2;
7)淀积金属层并图形化,形成镜面1-1的反射层1-1-1;
8)图形化顶硅层8-1,或图形化刻蚀氧埋层8-2和顶硅层8-1,释放镜面1-1,形成所述集成MEMS微镜阵列。
[0027]所述驱动臂1-2中的一段依次由二氧化硅-钛-二氧化硅-铝-二氧化硅构成,也可依次由二氧化硅-钛-铜-钛-二氧化硅-钨-二氧化硅构成。
[0028]—种集成MEMS微镜阵列的制造方法,包括如下步骤:
1)选择圆片作为微镜基底8;
2)在微镜基底8的表面淀积并图形化形成驱动臂1-2和上层PAD2-1;
3)释放驱动臂1-2,使驱动臂1-2处于悬浮状态;
4)选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,下层PAD2-2和底部PAD3通过TSV通孔4连接;
5)将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成第四新圆片13;
6)减薄第四新圆片13的下表面至设定厚度;
7)淀积金属层并图形化,形成镜面1-1的反射层1-1-1;
8)图形化第四新圆片13上表面,释放镜面1-1,形成所述集成MEMS微镜阵列。
[0029]所述驱动臂1-2中的一段依次由二氧化硅-钛-二氧化硅-铝-二氧化硅构成,也可依次由二氧化硅-钛-铜-钛-二氧化硅-钨-二氧化硅构成。
[0030]
实施例1
如图1、图2所示,一种集成MEMS微镜阵列,包括M X N个热驱动MEMS微镜单元1、器件层PAD2、底部PAD3、TSV通孔4、TSV基底5和电引线6,其中M、N为大于等于I的整数,该热驱动MEMS微镜单元I包括镜面1-1、驱动臂1-2和镜框1-3,镜面1-1通过驱动臂1-2连接在镜框1-3上,驱动臂1-2通过电引线6依次与器件层PAD2、TSV通孔4和底部PAD3电连接,驱动臂1-2位于镜面1-1的侧面。
[0031]所述器件层PAD2包括上层PAD2-1和下层PAD2-2,上层PAD2-1连接在镜框1-3下部,下层PAD2-2连接在引线基底5上部,上层PAD2-1和下层PAD2-2通过键合连接在一起。
[0032]所述镜面1-1下方的TSV基底5开有空腔5-1。
[0033]所述镜面1-1为正方形、长方形、圆形、椭圆形或多边形中的一种,并由4组驱动臂1-2在所述镜面1-1的4个边支撑。
[0034]所述驱动臂1-2包括至少两层热膨胀系数不同的材料,其中至少一层材料为加热电阻材料层,该加热电阻材料层与所述器件层电引线6电连接。
[0035]所述驱动臂1-2中一种材料可以用一次或多次,并且所述驱动臂1-2的每一层可以是连续的,也可以是不连续的。
[0036]当M和N均等于I,即该器件为单镜面微镜芯片。
[0037]所述驱动臂1-2包括至少两层热膨胀系数不同的材料、至少一层加热电阻材料层和至少一层电隔离层,该电隔离层将加热电阻材料层与两层热膨胀系数不同的材料隔离,该加热电阻材料层和电引线6电连接。所述驱动臂1-2为由薄膜梁连接而成的折叠梁结构,可为多段Bimorph结构与直梁构成,参照专利CN 103091835 B,也可以是正反叠放Bimorph级联而成,参照专利CN 203101727 U。作为一种优选方案,驱动臂1_2有Cu和W两种金属材料组成Bimorph结构,W同时可作为电引线,Cu有极高的热膨胀系数,且其热导率高,W的杨氏模量大,且这两种材料的熔点都高,两种材料组成的驱动臂,可实现大的位移量程。
[0038]所述驱动臂包含多层薄膜,其中变形Bimorph结构其厚度范围是0.5um~4um,隔离层其厚度范围0.01um~0.5um,加热器其厚度范围0.0lunH).3um。优选地,Al和Si02厚度分别为lum,l.lum,隔离层厚度0.lum,加热器厚度0.2umo
[0039 ]所述镜面,包括镜面反射层和镜面支撑,反射层厚度范围30nm?500nm,镜面支撑厚度范围1um?50um;优选地,金属反射层厚度10nm,镜面支撑厚度20um;
实施例2
本实施例是实施例1的具体制造方法,选择的是SOI圆片作为微镜基底8的制造方法。
[0040]如图3?图11所示,一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,包括如下步骤:
1)如图3所示,选择SOI圆片作为微镜基底8,该微镜基底8包括顶硅层8-1、氧埋层8-2和底硅层8-3;
2)如图4所示,在微镜基底8的顶硅层8-1的表面淀积并图形化形成驱动臂1-2和上层PAD2-1;驱动臂1-2包含淀积金属层、电隔离层和加热层。金属淀积可以是溅射或者蒸发。电隔离层淀积可以是化学气相沉积或者物理气相沉积。图形化可以是湿法刻蚀或者干法刻蚀。
[0041]3)如图5所示,选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,下层PAD2-2和底部PAD3通过TSV通孔4连接;
4)如图6所示,将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成第一新圆片9 ;
5)如图7所不,去除第一新圆片9的底娃层8_3,或如图8所不,去除第一新圆片9的底娃层8_3和氧埋层8_2 ;
6)如图9或图10所示,淀积金属层并图形化,形成镜面1-1的反射层1-1-1,作为一种优选方案,此金属层可以是Au,其反射率高;
7)如图11所示,图形化刻蚀氧埋层8-2和顶硅层8-1,或如图12所示,图形化顶硅层8_1,释放镜面1-1和驱动臂1-2,形成所述集成MEMS微镜阵列,作为一种优选方案,图形化工艺为各向异性刻蚀,保证无侧向刻蚀。
[0042]实施例3
本实施例是实施例1的具体制造方法,选择的是圆片作为微镜基底8的制造方法。
[0043]如图13?图19所示,一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,包括如下步骤:
1)如图13所示,选择圆片作为微镜基底8;
2)如图14所示,在微镜基底8的表面淀积并图形化形成驱动臂1-2和上层PAD2-1;
3)如图15所示,选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,下层PAD2-2和底部PAD3通过TSV通孔4连接;
4)如图16所示,将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成第二新圆片11;
5)如图17所示,减薄第二新圆片11的下表面至设定厚度;
6)如图18所示,淀积金属层并图形化,形成镜面1-1的反射层1-1-1;
7)如图19所示,图形化第二新圆片11上表面,释放镜面1-1和驱动臂1-2,形成所述集成MEMS微镜阵列。
[0044]实施例4
本实施例与实施例1的区别在于,①、驱动臂1-2位于镜面1-1的下方,②、TSV圆片基底5的空腔中包含一个凸台结构。“驱动臂1-2位于镜面1-1的下方”可以有效提高微镜阵列的镜面填充率;“凸台”可以对微镜初始面型起到限位作用,保证阵列单元之间的一致性。
[0045]如图20、图21所示,一种集成MEMS微镜阵列,包括MXN个热驱动MEMS微镜单元1、器件层PAD2、底部PAD3、TSV通孔4、TSV基底5和电引线6,其中M、N为大于等于I的整数,该热驱动MEMS微镜单元I包括镜面1-1、驱动臂1-2和镜框1-3,镜面1-1通过驱动臂1-2连接在镜框1-3上,驱动臂1-2通过电引线6依次与器件层PAD2、TSV通孔4和底部PAD3电连接,驱动臂1-2位于镜面1-1的下方。
[0046]TSV基底5的空腔中可包含一个凸台结构。
[0047]实施例5
本实施例是实施例4的具体制造方法,选择的是SOI圆片作为微镜基底8的制造方法。
[0048]如图22?31所示,一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于包括如下步骤:
1)如图22所示,选择SOI圆片作为微镜基底8,该微镜基底8包括顶硅层8-1、氧埋层8_2和底硅层8-3;
2)如图23所示,在微镜基底8的顶硅层8-1的表面淀积并图形化形成驱动臂1-2和上层PAD2-1;
3)如图24所示,释放驱动臂1-2,使驱动臂1-2处于悬浮状态;
4)如图25所示,选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,下层PAD2-2和底部PAD3通过TSV通孔4连接,该带腔的TSV圆片的腔体中心可带有凸台,该凸台可对微镜起限位作用;
5)如图26所示,将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成第三新圆片12;
6 )如图27所示,去除第三新圆片12的底硅层8-3;或如图28所示,去除第三新圆片12的底娃层8_3和氧埋层8_2 ;
7)如图29或30所示,淀积金属层并图形化,形成镜面1-1的反射层1-1-1;
8)如图31所示,图形化刻蚀氧埋层8-2和顶硅层8-1,或如图32所示,图形化顶硅层8-1,释放镜面1-1,形成所述集成MEMS微镜阵列。
[0049]实施例6
本实施例是实施例4的具体制造方法,选择的是圆片作为微镜基底8的制造方法。
[0050]如图33?40所示,一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于包括如下步骤:
1)如图33所示,选择圆片作为微镜基底8;
2)如图34所示,在微镜基底8的表面淀积并图形化形成驱动臂1-2和上层PAD2-1;
3)如图35所示,释放驱动臂1-2,使驱动臂1-2处于悬浮状态;
4)如图36所示,选择带腔的TSV圆片作为TSV基底5,该TSV基底5的上表面有下层PAD2-2,下表面有底部PAD3,下层PAD2-2和底部PAD3通过TSV通孔4连接,该带腔的TSV圆片的腔体中心可带有凸台,该凸台可对微镜起限位作用;
5)如图37所示,将TSV基底5的下层PAD2-2与微镜基底8的上层PAD2-1键合,形成第四新圆片13;
6)如图38所示,减薄第四新圆片13的下表面至设定厚度;
7)如图39所示,淀积金属层并图形化形成镜面1-1的反射层1-1-1;
8)如图40所示,图形化第四新圆片13上表面,释放镜面1-1,形成所述集成MEMS微镜阵列。
[0051]关于热驱动MEMS微镜的释放均匀性的技术问题,本申请采用带腔TSV原片与驱动臂圆片键合,背面采用DRIE各向异性刻蚀释放,驱动臂底部硅可被完全刻蚀,无任何侧向刻蚀量。
[0052]关于阵列结构的引线电阻分布不均的技术问题,本申请采用TSV点对点引线技术,将阵列中的每个微镜单元的PAD直接引到TSV片的背面,实现了走线电阻的一致性。
[0053]关于散热困难的技术问题,本申请通过TSV片将微镜单元中驱动臂的热量直接传导到芯片外部,减小了微镜单元间的温度差异,TSV片缩短了散热通道,提高了散热效率。
【主权项】
1.一种集成MEMS微镜阵列,其特征在于包括M X N个热驱动MEMS微镜单元(I)、器件层PAD(2)、底部PAD(3)、TSV通孔(4)、了3¥基底(5)和电引线(6),其中1^为大于等于1的整数,该热驱动MEMS微镜单元(I)包括镜面(1-1)、驱动臂(1-2)和镜框(1-3),镜面(1-1)通过驱动臂(1-2)连接在镜框(1-3)上,驱动臂(1-2)通过电引线(6)依次与器件层PAD(2)、TSV通孔(4)和底部PAD(3)电连接,驱动臂(1-2)位于镜面(1-1)的侧面。2.根据权利要求1所述一种集成MEMS微镜阵列,其特征在于所述驱动臂(1-2)位于镜面(1-1)的下方。3.根据权利要求1所述一种集成MEMS微镜阵列,其特征在于所述器件层PAD(2)包括上层PAD(2-1)和下层PAD(2-2),上层PAD(2-1)连接在镜框(1-3)下部,下层PAD(2-2)连接在引线基底(5)上部,上层PAD(2-1)和下层PAD(2-2)通过键合连接在一起。4.根据权利要求1所述一种集成MEMS微镜阵列,其特征在于所述镜面(1-1)下方的TSV基底(5)开有空腔(5-1)。5.根据权利要求1所述一种集成MEMS微镜阵列,其特征在于所述镜面(1-1)为正方形、长方形、圆形、椭圆形或多边形中的一种,并由4组驱动臂(1-2)在所述镜面(1-1)的4个边支撑。6.根据权利要求1所述一种集成MEMS微镜阵列,其特征在于所述驱动臂(1-2)包括至少两层热膨胀系数不同的材料,其中至少一层材料为加热电阻材料层,该加热电阻材料层与所述器件层电引线(6)电连接。7.根据权利要求6所述一种热驱动MEMS微镜阵列器件,其特征在于所述驱动臂(1-2)中一种材料可以用一次或多次,并且所述驱动臂(1-2)的每一层可以是连续的。8.根据权利要求6所述一种热驱动MEMS微镜阵列器件,其特征在于所述驱动臂(1-2)中一种材料可以用一次或多次,并且所述驱动臂(1-2)的每一层可以是不连续的。9.根据权利要求1所述一种集成MEMS微镜阵列,其特征在于所述M和N均等于I,即该器件为单镜面微镜芯片。10.根据权利要求1所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于包括如下步骤: 1)选择SOI圆片作为微镜基底(8),该微镜基底(8)包括顶硅层(8-1)、氧埋层(8-2)和底娃层(8-3); 2)在微镜基底(8)的顶硅层(8-1)的表面淀积并图形化形成驱动臂(1-2)和上层PAD(2-1); 3)选择带腔的TSV圆片作为TSV基底(5),该TSV基底(5)的上表面有下层PAD(2-2),下表面有底部PAD (3 ),下层PAD (2-2 )和底部PAD (3 )通过TSV通孔(4 )连接; 4)将TSV基底(5)的下层PAD(2-2)与微镜基底(8)的上层PAD(2-1)键合,形成第一新圆片(9); 5)去除第一新圆片(9)的底硅层(8-3),或去除第一新圆片(9)的底硅层(8-3)和氧埋层(8-2); 6)淀积金属层并图形化,形成镜面(1-1)的反射层(1-1-1); 7)图形化顶硅层(8-1),或图形化刻蚀氧埋层(8-2)和顶硅层(8-1),释放镜面(1-1)和驱动臂(1-2),形成所述集成MEMS微镜阵列。11.根据权利要求10所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-二氧化硅-铝-二氧化硅构成。12.根据权利要求10所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-铜-钛-二氧化硅-钨-二氧化硅构成。13.根据权利要求1所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于包括如下步骤: I)选择圆片作为微镜基底(8); 2)在微镜基底(8)的表面淀积并图形化形成驱动臂(1-2 )和上层PAD( 2-1); 3)选择带腔的TSV圆片作为TSV基底(5),该TSV基底(5)的上表面有下层PAD(2-2),下表面有底部PAD (3 ),下层PAD (2-2 )和底部PAD (3 )通过TSV通孔(4 )连接; 4)将TSV基底(5)的下层PAD(2-2)与微镜基底(8)的上层PAD(2-1)键合,形成第二新圆片(11); 5)减薄第二新圆片(11)的下表面至设定厚度; 6)淀积金属层并图形化,形成镜面(1-1)的反射层(1-1-1); 7)图形化第二新圆片(11)上表面,释放镜面(1-1)和驱动臂(1-2),形成所述集成MEMS微镜阵列。14.根据权利要求13所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-二氧化硅-铝-二氧化硅构成。15.根据权利要求13所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-铜-钛-二氧化硅-钨-二氧化硅构成。16.根据权利要求2所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于包括如下步骤: 1)选择SOI圆片作为微镜基底(8),该微镜基底(8)包括顶硅层(8-1)、氧埋层(8-2)和底娃层(8-3); 2)在微镜基底(8)的顶硅层(8-1)的表面淀积并图形化形成驱动臂(1-2)和上层PAD(2-1); 3)释放驱动臂(1-2),使驱动臂(1-2)处于悬浮状态; 4)选择带腔的TSV圆片作为TSV基底(5),该TSV基底(5)的上表面有下层PAD(2-2),下表面有底部PAD (3 ),下层PAD (2-2 )和底部PAD (3 )通过TSV通孔(4 )连接; 5)将TSV基底(5)的下层PAD(2-2)与微镜基底(8)的上层PAD(2-1)键合,形成第三新圆片(12); 6 )去除第三新圆片(12 )的底硅层(8-3 ),或去除第三新圆片(12 )的底硅层(8-3 )和氧埋层(8-2); 7)淀积金属层并图形化,形成镜面(1-1)的反射层(1-1-1); 8)图形化顶硅层(8-1),或图形化刻蚀氧埋层(8-2)和顶硅层(8-1),释放镜面(1-1),形成所述集成MEMS微镜阵列。17.根据权利要求16所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-二氧化硅-铝-二氧化硅构成。18.根据权利要求16所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述TSV基底5的空腔中可包含一个凸台结构。19.根据权利要求16所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-铜-钛-二氧化硅-钨-二氧化硅构成。20.根据权利要求2所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于包括如下步骤: I)选择圆片作为微镜基底(8); 2)在微镜基底(8)的表面淀积并图形化形成驱动臂(1-2 )和上层PAD( 2-1); 3)释放驱动臂(1-2),使驱动臂(1-2)处于悬浮状态; 4)选择带腔的TSV圆片作为TSV基底(5),该TSV基底(5)的上表面有下层PAD(2-2),下表面有底部PAD (3 ),下层PAD (2-2 )和底部PAD (3 )通过TSV通孔(4 )连接; 5)将TSV基底(5)的下层PAD(2-2)与微镜基底(8)的上层PAD(2-1)键合,形成第四新圆片(13); 6)减薄第四新圆片(13)的下表面至设定厚度; 7)淀积金属层并图形化,形成镜面(1-1)的反射层(1-1-1); 8)图形化第四新圆片(13)上表面,释放镜面(1-1),形成所述集成MEMS微镜阵列。21.根据权利要求20所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-二氧化硅-铝-二氧化硅构成。22.根据权利要求20所述一种集成MEMS微镜阵列的制造方法,其特征在于所述驱动臂(1-2)中的一段依次由二氧化硅-钛-铜-钛-二氧化硅-钨-二氧化硅构成。
【文档编号】G02B26/08GK106066535SQ201610400899
【公开日】2016年11月2日
【申请日】2016年6月8日 公开号201610400899.5, CN 106066535 A, CN 106066535A, CN 201610400899, CN-A-106066535, CN106066535 A, CN106066535A, CN201610400899, CN201610400899.5
【发明人】王伟, 丁金玲, 陈巧, 孙其梁, 谢会开
【申请人】无锡微奥科技有限公司
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