光纤插头试验安置盒的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种光纤试验装置，特别涉及一种光纤插头试验安置盒。
【背景技术】
[0002]变电站站内的保护装置与智能组件之间的通信，均大量地使用光纤。其中的光纤接头为各个厂家以及相关专家研宄的重点。光纤插头是由折射率很高的二氧化硅材料组合而成，用于传输信号，如果插头弯曲或表面受损，都将影响光的传送，使信号丢帧，影响通信。
[0003]光缆入柜之后，均通过法兰盘内的插座与屏柜内的尾纤相连，从而将信号通过尾纤接入保护装置、智能终端、合并单元以及交换机等光通信设备。
[0004]运维人员对设备进行检修试验时，特别是对光纤进行衰耗测试时，都会把尾纤插头从设备上拔下来，对装置和光纤分别进行测试检修。
[0005]从工作量方面考虑，运维人员需要对每条光纤进行光衰减测量，所以要求测试工作效率要高。之前的测试方法只能依次对单根光纤进行测量，工作耗时大、效率低。运维人员面临的问题是，如何提高工作效率，节省时间。
[0006]从安全性方面考虑，之前的测试方法为了防止光纤插头损伤，对测试完的光纤插头需要套上“保护帽”丢在屏柜里或者重新恢复到设备的光纤接口上。采用套上“保护帽”丢在屏柜里的方法，在光纤数量较多时，屏柜内的光纤放置将非常杂乱，容易造成光纤恢复错误。采用重新恢复到设备的光纤接口上的方法，在需要对光纤进行反复测试时，容易造成设备的光纤接口损坏。运维人员面临的问题是，如何放置这些光纤插头，以保证光纤插头无损伤。
【实用新型内容】
[0007]为了提高光纤测试工作的效率，同时保证在测试工作中不损伤设备的光纤接口和光纤插头，本实用新型提供了一种光纤插头试验安置盒，包括:壳体，其一个面上形成有开口 ；分光器，其通过所述开口使得其主体安装于所述壳体的内部空间，且其面板位于所述开口处；吸附装置，其固定设置于所述壳体的其他面中的至少一个面的外壁上，其中，所述分光器的面板上设置有多个光纤耦合连接器，其中一个用于光信号的输入，其他的一个或多个用于光信号的输出。
[0008]优选地，所述壳体为立方体状，其在与所述开口所在的面相垂直的两相对的面的内壁上设置有滑槽，所述分光器的主体能够沿着所述滑槽通过所述开口安装于所述壳体的内部空间。所述分光器的面板上还设置有插销，所述壳体在所述开口处与所述插销对应的位置设置有与所述插销相匹配的插孔。优选地，所述插销和插孔均为两个，两个所述插销分别位于所述分光器的面板的相对的两个边部。
[0009]优选地，所述分光器为多个，所述光纤耦合连接器的接头上设置有保护套，所述壳体为绝缘壳体，所述吸附装置为至少一块磁铁。
[0010]利用本实用新型的光纤插头试验安置盒，可以将需要测试的光纤插头放置在安置盒对应的接口上进行测试或者存放，这样不仅可以提高测试效率，还能够避免光纤插头受损。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型的光纤插头试验安置盒的示意图(其中分光器处于半拉出状态)；
[0012]图2为本实用新型的光纤插头试验安置盒的立体图；
[0013]图3为本实用新型的光纤插头试验安置盒的一个实施例的示意图；
[0014]图4为本实用新型的光纤插头试验安置盒的另一个实施例的示意图。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型的光纤插头试验安置盒作进一步的详细描述，但不作为对本实用新型的限定。
[0016]参照图1至图4，为本实用新型的光纤插头试验安置盒的结构示意图。该光纤插头试验安置盒包括壳体100、分光器200、吸附装置300。
[0017]壳体100的材质为绝缘材质，其一个面上形成有开口 110，其内部还形成有内部空间。分光器200通过开口 110安装于壳体100的内部空间，参照图1，当分光器200安装到位之后，其主体位于壳体100的内部空间，其面板210位于开口 110处。分光器200的面板210上设置有多个光纤耦合连接器211，其中一个用于光信号的输入，其他的一个或多个用于光信号的输出。
[0018]例如，图1中所示的分光器200的面板210上设置的光纤耦合连接器211的个数为八个，其中最左边的一个用于光信号的输入，右边的七个用于光信号的输出，从而实现分光的功能。进行光衰耗测试的时候，将连接光源的光纤连接到最左边的光纤耦合连接器，即将该光纤的光纤插头插入该光纤耦合连接器的接头，并且将需要测试的光纤依次连接到其他的几个光纤耦合连接器；然后测试人员在这些待测光纤的另一端用光功率计测量接收到的光功率，从而计算出每条光纤的光衰耗值。假设光源的光功率值为A dB，用光功率计测量得到的光功率为B dB，该分光器的衰减为C dB，则光纤的衰耗值为(A-B-C) dB。
[0019]为了使得该光纤插头试验安置盒在测试时能够吸附于电气设备的电气柜上，该光纤插头试验安置盒还包括设置于壳体100的其他面中的至少一个面的外壁上的吸附装置，如图3或4所示。可以在壳体100的其他面中的一个面(例如，与开口 110相对的面)上设置吸附装置300，也可以在其他面(例如，与开口 110垂直的面)上设置，使得光纤插头试验安置盒可以依照测试的现场需要调整其吸附于电气柜上的方位。优选地，吸附装置300为一块或多个强力磁铁，可以使得该光纤插头试验安置盒牢固地吸附于电气柜上。吸附装置300也可以为其他具有吸附力的物体，例如强力胶、可剥离式强力吸附层等。
[0020]继续参照图1，本实施例的壳体100为立方体状，为了使得分光器200便于插拔，壳体100在与开口 110所在的面相垂直的两相对的面的内壁上均设置有滑槽120，分光器200的主体能够通过开口 110沿着滑槽120安装于壳体100的内部空间。为了使得分光器200安装于壳体100的内部空间中时的连接更加牢固可靠，分光器200的面板210上还设置有插销213(图中示出的只是插销213的外部可见部分)；相应地，壳体100在开口 110处与插销213对应的位置设置有与插销213相匹配的插孔130。优选地，插销213和插孔130的个数均为两个，这两个插销213分别位于分光器200的面板210的相对的两个边部。
[0021]优选地，光纤插头试验安置盒的分光器200的个数为多个，例如图2中所示的两个。其中，各个分光器200上的光纤耦合连接器211的型号可以相同也可以不同，例如，可以选择将其中一个分光器200上的光纤耦合连接器211型号设置为FC型，另一个分光器200上的光纤耦合连接器211型号设置为SC型。
[0022]为了防止光纤插头污染受损，特别地，光纤耦合连接器211的接头上设置有保护套212。测试人员需要使用某个光纤耦合连接器211时，需将其保护套212取下，然后将光纤耦合连接器211的接头和光线插头相连接；当不需要使用某个光纤耦合连接器211时，需要将其保护套212盖上，以保证光纤耦合连接器211的接头清洁。
[0023]本实用新型的光纤插头试验安置盒主要应用于智能变电站保护室保护屏(柜)、GIS室内的智能终端及合并单元相关的汇控柜；以及目前常规变电站内的光纤、光缆应用较多的屏柜。同时也可以应用于非电力设备的大型工业及居民用光纤配线柜。
[0024]以上【具体实施方式】仅为本实用新型的示例性实施方式，不能用于限定本实用新型，本实用新型的保护范围由权利要求书限定。本领域技术人员可以在本实用新型的实质和保护范围内，对本实用新型做出各种修改或等同替换，这些修改或等同替换也应视为落在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种光纤插头试验安置盒，其特征在于，包括: 壳体，其一个面上形成有开口 ； 分光器，其通过所述开口使得其主体安装于所述壳体的内部空间，且其面板位于所述开口处； 吸附装置，其固定设置于所述壳体的其他面中的至少一个面的外壁上，其中， 所述分光器的面板上设置有多个光纤耦合连接器，其中一个用于光信号的输入，其他的一个或多个用于光信号的输出。
2.根据权利要求1所述的光纤插头试验安置盒，其特征在于，所述壳体为立方体状，其在与所述开口所在的面相垂直的两相对的面的内壁上均设置有滑槽，所述分光器的主体能够沿着所述滑槽通过所述开口安装于所述壳体的内部空间。
3.根据权利要求2所述的光纤插头试验安置盒，其特征在于，所述分光器的面板上还设置有插销，所述壳体在所述开口处与所述插销对应的位置设置有与所述插销相匹配的插孔。
4.根据权利要求3所述的光纤插头试验安置盒，其特征在于，所述插销和插孔均为两个，两个所述插销分别位于所述分光器的面板的相对的两个边部。
5.根据权利要求1所述的光纤插头试验安置盒，其特征在于，所述分光器为多个。
6.根据权利要求1所述的光纤插头试验安置盒，其特征在于，所述光纤耦合连接器的接头上设置有保护套。
7.根据权利要求1所述的光纤插头试验安置盒，其特征在于，所述吸附装置为至少一块磁铁。
8.根据权利要求1所述的光纤插头试验安置盒，其特征在于，所述壳体为绝缘壳体。
【专利摘要】本实用新型提供了一种光纤插头试验安置盒，包括：壳体，其一个面上形成有开口；分光器，其通过所述开口使得其主体安装于所述壳体的内部空间，且其面板位于所述开口处；吸附装置，其固定设置于所述壳体的其他面中的至少一个面的外壁上，其中，所述分光器的面板上设置有多个光纤耦合连接器，其中一个用于光信号的输入，其他的一个或多个用于光信号的输出。利用本实用新型的光纤插头试验安置盒，可以将需要测试的光纤插头放置在安置盒对应的接口上进行测试或者存放，这样不仅可以提高测试效率，还能够避免光纤插头受损。
【IPC分类】G02B6-44
【公开号】CN204496056
【申请号】CN201520031729
【发明人】李小虎, 张加涛, 谢浩, 陈仁杰, 靳智嵩, 钱宇, 周琬津, 牛敏敏, 王茜, 杨旭, 张洪池, 赵志山, 高翔
【申请人】国网冀北电力有限公司廊坊供电公司, 国家电网公司
【公开日】2015年7月22日
【申请日】2015年1月16日