专利名称：基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子信息产品检测领域，尤其涉及基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备。
背景技术：
随着高技术产业的飞速发展，对于精密测量系统的需求越来越大，其中又以自动光学检测方式为技术潮流，而传统的检测方式和设备无法应用于现代的“轻量化、精密化” 的产品的快速精密的检测要求。现有技术中专门有一种机器视觉，机器视觉是配备有传感视觉仪器的检测机器，其中光学检测仪器占有比重非常高，可用于检测出各种产品的缺陷， 或者用与判断并选择出物体或者用来测量尺寸等，应用在自动化生产线上对物料进行校准与定位。是计算机视觉中最具有产业化的部分，主要大量应用于工厂自动化检测及机器人产业等。机器视觉的应用范围变得更为广泛，而机器视觉是一门集电子、光学、机械、控制等综合性技术，而目前数字图像处理配合机器视觉系统，已被广泛的用来作为自动化生产的在线自动检测的重要工具，以改善生产品质与生产效率。但是除了大型的测试中心，很少有成套的自动化的测试设备用于工业生产中，且大部分的设备结构复杂，成本高，无法大规模的推广应用。
实用新型内容本实用新型的目的是提供基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，通过数控定位，提高检测精度。整体的结构简单实用，能大规模运用到实际生产中。为了达到所述效果，本实用新型采用了如下技术方案基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，包括底座，底座上设有安置台，所述底座后方设有Y轴平移导轨， 所述底座上方设有X轴平移导轨，所述X轴平移导轨和Y轴平移导轨上均装有数控滑块，所述数控滑块上装载有精密成像系统。优选的，所述精密成像系统包括并排设置的光学测量头和LED灯。LED灯不仅起到补光的作用，同时还能进一步确保光学测量头的拍摄质量。优选的，所述光学测量头通过数据线连接数据处理终端。测量到的数据由数据处理终端进行处理，检测人员也可以直接通过数据处理终端检测工件。优选的，所述安置台为玻璃板，玻璃板四周设有一圈背光灯。背光灯对安置台上的待测工件自下而上地提供光源，使得其轮廓更为清晰。优选的，所述底座上设有位置微调装置。通过微调装置可以在不调整X轴平移导轨和Y轴平移导轨上数控滑块的情况下，对待测物的位置进行细微调整，确保其落入精密成像系统中最佳检测位置。由于采用了所述技术方案，本实用新型基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备上所述X轴平移导轨和Y轴平移导轨上均装有设有数控滑块上装载有精密成像系统，定位精准，立体成像，能够准确测绘出待测工件的精密结构，而且操作非常方便，无需额外培训即可使用。以下结合附图对本实用新型作进一步说明
图1为本实用新型基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备整体系统结构示意图。图2为本实用新型基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备的俯视示意图。
具体实施方式
如
图1以及图2所示，本实用新型基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，包括底座1，底座1上设有安置台2，所述底座1后方设有Y轴平移导轨3，所述底座1上方设有X轴平移导轨4，所述X轴平移导轨4和Y轴平移导轨3上均装有设有数控滑块6， 所述数控滑块6上装载有精密成像系统5。所述精密成像系统5包括并排设置的光学测量头51和LED灯52。所述光学测量头51通过数据线连接数据处理终端。所述安置台2为玻璃板，玻璃板四周设有一圈背光灯7。所述底座1上设有位置微调装置8。工作时，只需将待测的工件放置到底座1上的安置台2上即可。根据实际情况确认是否需要打开安置台2四周的背光灯7。工件放置好后，即可通过调整所述X轴平移导轨 4和Y轴平移导轨3上均装有的数控滑块6，带动精密成像系统5对待测工件进行成像。所述精密成像系统5包括并排设置的光学测量头51和LED灯52。LED灯52能进行补光，所述光学测量头51通过数据线连接数据处理终端，形成一个立体的成像。当更换需要测量的工件时，为避免工件放置的位置不在正确位置，也可以直接调整底座1上的位置微调装置8。这样简化了操作。本实用新型借助于数控加工中心的精密移动与定位，可以用于数控加工中心在位测量产品的尺寸，以及IC芯片导线架的脚位间的距离、电路板文字辨别、薄膜厚度和表面轮廓等检测，还可以推广到其他的相关领域。
权利要求1.基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，包括底座(1)，其特征在于底座 (1)上设有安置台O)，所述底座(1)后方设有Y轴平移导轨(3)，所述底座(1)上方设有X 轴平移导轨G)，所述X轴平移导轨(4)和Y轴平移导轨C3)上均装有数控滑块(6)，所述数控滑块(6)上装载有精密成像系统(5)。
2.如权利要求1所述的基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，其特征在于所述精密成像系统(5)包括并排设置的光学测量头(51)和LED灯(52)。
3.如权利要求2所述的基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，其特征在于所述光学测量头(6)通过数据线连接数据处理终端。
4.如权利要求1-3其中任一项所述的基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，其特征在于所述安置台( 为玻璃板，玻璃板四周设有一圈背光灯(7)。
5.如权利要求1-3其中任一项所述的基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，其特征在于所述底座(1)上设有位置微调装置(8)。
专利摘要本实用新型的目的是提供基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，通过数控定位，提高检测精度。为了达到所述效果，本实用新型采用了如下技术方案基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备，包括底座，底座上设有安置台，所述底座后方设有Y轴平移导轨，所述底座上方设有X轴平移导轨，所述X轴平移导轨和Y轴平移导轨上均装有数控滑块，所述数控滑块上装载有精密成像系统。由于采用了所述技术方案，本实用新型基于数控加工中心的工件尺寸精密光学检测设备上所述X轴平移导轨和Y轴平移导轨上均装有设有数控滑块上装载有精密成像系统，定位精准，立体成像，能够准确测绘出待测工件的精密结构，而且操作非常方便。
文档编号B23Q17/20GK202317867SQ20112035144
公开日2012年7月11日 申请日期2011年9月13日 优先权日2011年9月13日
发明者张克华, 程光明, 许永超, 闵力 申请人:浙江师范大学