一种静电保护器的正导层单颗切割装置及方法与流程

文档序号:12330600阅读:304来源:国知局

本发明涉及一种静电保护器的切割装置,具体涉及一种静电保护器的正导层单颗切割装置及方法。



背景技术:

在静电保护器的正导层切割过程中,激光的目的是将前道工序印刷的正导层切断,以往的激光切割都是采用连续切割的方式,将整条多颗静电保护器的正导导体一次性切断。但连续切割有缺点:激光在陶瓷基板上切割形成的沟槽会贯穿到基板边缘,包括导体和没有导体的部位,在后续的制作过程中印刷保护层会影响保护层和基板之间的结合,导致空气中的水气易从沟槽侵入静电保护器的功能层,导致静电保护器发生因耐湿问题引起的漏电流超规格。



技术实现要素:

本发明目的是:提供一种静电保护器的正导层单颗切割装置及方法,解决了沟槽切割到基板边缘的问题,产品的耐湿性能有明显改善。

本发明的技术方案是:一种静电保护器的正导层单颗切割装置,包括基板,定位平台,相机,直线电机,激光器和自动光学检测仪;所述基板位于所述定位平台上,所述相机位于所述基板的正上方,所述直线电机连接所述激光器。

进一步的,所述相机包括CCD图像传感器,所述CCD图像传感器的像素为2900万像素,所述相机的光源为亮度可调的LED背光式光源。

一种静电保护器的正导层单颗切割方法,包括以下步骤:

步骤1)所述相机置于所述基板的正上方,通过所述定位平台做X、Y方向移动,对所述基板进行拍照,一幅图像对应的实际尺寸是17.5mm*12mm,取所述基板的三个角拍图,以3幅图像对所述基板的位置及所述基板上的印刷导体的位置进行计算,以达到所述基板和所述直线电机 运动轨迹的一致,并计算所述印刷导体位置的上下偏移量;

步骤2)影像处理算法通过计算所述基板边缘、所述基板上的剥裂线及所述基板上的所述印刷导体的位置信息,参考UE电阻工艺要求,计算出定位的资料,包括:a)角度旋转:旋转所述定位平台,使得所述基板上的剥裂线与所述直线电机夹角小于0.002度并保持该旋转位置;b)位置移动:计算所述印刷导体的水平位置,当该水平位置有上下偏移时,计算出实际的位置,然后将所述印刷导体位于所述相机的所述CCD图像传感器的上下位置偏移量全部转换到所述直线电机坐标上;

步骤3)所述直线电机通过所述相机的所述CCD图像传感器得到的位置信息开始引导所述激光器进行单颗切割,采用适时开关所述激光器的方式,只切割所述基板的导体部分,所述基板的基板部分不切割;切割刀口完成后,当所述自动光学检测仪测出所述基板的某处不良时,激光对其进行打标破坏。

本发明的优点是:本发明通过相机进行拍照并进行影像处理的算法定位,采用适时开关激光的方式,只切割导体部分,空白基板部分不切割,不会划伤基板,保证其后续印刷保护层后的密闭性,对产品的耐湿性能有明显改善;当自动光学检测仪检测出某一颗料不良时,激光对其进行打标破坏,在后续的检包中可对其进行剔除,从而达到不伤基板、不影响气密性、提高良率的目的。

附图说明

下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述:

图1为本发明的结构示意图。

其中:1、基板,2、定位平台,3、相机,4、直线电机,5、激光器,6、自动光学检测仪。

具体实施方式

实施例:参见图1所示,一种静电保护器的正导层单颗切割装置,包括基板1,定位平台2,相机3,直线电机4,激光器5和自动光学检测仪6;所述基板1位于所述定位平台2上,所述相机3位于所述基板1的正上方, 所述直线电机4连接所述激光器5。

进一步的,所述相机3包括CCD图像传感器,所述CCD图像传感器的像素为2900万像素,所述相机3的光源为亮度可调的LED背光式光源。

一种静电保护器的正导层单颗切割方法,包括以下步骤:

步骤1)所述相机3置于所述基板1的正上方,通过所述定位平台2做X、Y方向移动,对所述基板1进行拍照,一幅图像对应的实际尺寸是17.5mm*12mm,取所述基板1的三个角拍图,以3幅图像对所述基板1的位置及所述基板1上的印刷导体的位置进行计算,以达到所述基板1和所述直线电机4运动轨迹的一致,并计算所述印刷导体位置的上下偏移量;

步骤2)影像处理算法通过计算所述基板1边缘、所述基板1上的剥裂线及所述基板1上的所述印刷导体的位置信息,参考UE电阻工艺要求,计算出定位的资料,包括:a)角度旋转:旋转所述定位平台2,使得所述基板1上的剥裂线与所述直线电机4夹角小于0.002度并保持该旋转位置;b)位置移动:计算所述印刷导体的水平位置,当该水平位置有上下偏移时,计算出实际的位置,然后将所述印刷导体位于所述相机3的所述CCD图像传感器的上下位置偏移量全部转换到所述直线电机4坐标上;

步骤3)所述直线电机4通过所述相机3的所述CCD图像传感器得到的位置信息开始引导所述激光器5进行单颗切割,采用适时开关所述激光器5的方式,只切割所述基板1的导体部分,所述基板1的基板部分不切割;切割刀口完成后,当所述自动光学检测仪6测出所述基板1的某处不良时,激光对其进行打标破坏。

当然上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人能够了解本发明的内容并据以实施,并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明主要技术方案的精神实质所做的修饰,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

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