轴校正装置的制作方法

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轴校正装置的制造方法

本实用新型涉及工件校正、校形技术领域,尤其涉及一种轴校正装置,更具体是涉及一种细长轴校正装置。



背景技术:

在机械行业中,长度和直径之比大于25的轴称为细长轴,细长轴的刚性较差,受到频繁的振动或摩擦后容易发生弯曲变形。

现有的细长轴的校正一般采用捻打直轴法,将细长轴的凹面朝上,凸面的下方垫上较硬的木块或退过火的铜垫,然后利用锤子敲打捻棒,使细长轴的凹面的材料受到捻棒的敲击而延伸。由于在捻打过程中,细长轴上需要被捻打的凹面未完全约束而容易攒动,造成细长轴每次被捻打的位置不同,从而不能有效的释放凹面处的内应力,使得校正精度较低。



技术实现要素:

本实用新型要解决的是现有技术中的轴校正装置校正精度低的技术问题。

为解决上述问题,本实用新型提供一种轴校正装置,该装置包括卡紧机构和固定机构;所述固定机构横向贯穿开设有用于穿设被校正轴的第一通孔;所述固定机构的顶部开设有通向所述第一通孔的第二通孔;所述固定机构的底部开设有通向所述第一通孔的第三通孔;所述卡紧机构的顶端插设于所述第三通孔、并抵设于被校正轴。

其中,所述卡紧机构包括调节螺栓和设于所述调节螺栓上方的压紧件,所述调节螺栓与所述第三通孔螺纹连接。

其中,还包括滚珠,所述滚珠设于所述压紧件与所述调节螺栓之间。

其中,所述压紧件的顶面设有向外凸起的压紧部,在被校正轴的长度方向上,所述压紧部的宽度小于所述压紧件的宽度。

其中,所述压紧部的顶面为向内凹陷的曲面。

其中,至所述第一通孔的下方设有向外延伸的限位部,所述限位部用于在所述压紧件上升至设定距离时与所述压紧件抵触配合。

其中,还包括两个V形支撑架,两个所述V形支撑架分别支撑设置在被校正轴的两端。

其中,所述第一通孔的轴线与所述第二通孔的轴线垂直。

其中,所述第一通孔的轴线与所述第三通孔的轴线垂直。

其中,所述第二通孔与所述第三通孔同轴。

本实用新型通过卡紧机构相对第三通孔向上进给来抵紧被校正轴,卡紧机构对被校正轴形成的外部应力与凹面处的结晶组织积聚所形成的内应力相反,再配合敲击形成的振动来实现校正,另外也避免了被校正轴上被校正的部位攒动,从而提高了校正精度,且结构简单,操作便捷。

附图说明

图1是本实用新型实施例的一种轴校正装置的正视图;

图2是本实用新型实施例的一种轴校正装置的固定机构的剖视图;

图3是本实用新型实施例的一种轴校正装置的压紧件的侧视图。

附图标记:

1、V形支撑架;2、被校正轴;3、冲针;4、手锤;

5、固定机构;5-1、第一通孔;5-2、第二通孔;5-3、第三通孔;

6、压紧件;6-1、压紧部;7、滚珠;8、调节螺栓。

具体实施方式

为使实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合实用新型中的附图,对实用新型中的技术方案进行清楚地描述,显然,所描述的实施例是实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中,除非另有说明,术语“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。

需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在实用新型中的具体含义。

结合图1和图2所示,本实用新型提供了一种轴校正装置,该装置包括卡紧机构和固定机构5;固定机构5横向贯穿开设有用于穿设被校正轴2的第一通孔5-1;固定机构5的顶部开设有通向第一通孔5-1的第二通孔5-2;固定机构5的底部开设有通向第一通孔5-1的第三通孔5-3;卡紧机构的顶端插设于第三通孔5-3、并抵设于被校正轴2。

本实施例的轴校正装置使用时:

第一步、沿被校正轴2的轴向选取多个测量点;

第二步、将被校正轴2水平放置,安装好百分表,使百分表的测量头与测量点接触,缓慢而均匀地转动被校正轴2一周,并观察百分表指针的波动,取最大读数与最小读数的差值,作为该测量点处的圆跳动值;

第三步、选取圆跳动值最大的测量点作为被校正点,将被校正轴2插设在第一通孔5-1中,并使被校正点位于固定机构5的顶部第二通孔5-2处;

第四步、转动被校正轴2使被校正点处的凹面朝上凸面朝下,向上移动卡紧机构,使卡紧机构抵紧凸面,确保被校正轴2不会攒动;

第五步、将冲针3的一端插入第二通孔5-2中并放在被校正点处的凹面上、另一端用手锤4进行敲打,敲打时,卡紧机构对被校正轴2形成的外部应力与凹面处的结晶组织积聚所形成的内应力相反,再配合敲击形成的振动可将凹面处的内应力释放,使凹面处的晶粒组织重新分布,其中敲打的次数可根据圆跳动值的大小确定,应当明确的是敲打时不要用重力打而是使凹面处产生振动即可;

第六步、敲打完成以后,取下固定机构5和卡紧机构,重新测量被校正轴2各测量点的圆跳动值,重复第三步至第五步,直到圆跳动值满足要求为止。

另外,还包括两个V形支撑架1,两个V形支撑架分别支撑设置在被校正轴的两端。将被校正轴2放置在V形支撑架1上可便于安装百分表进行圆跳动值的测量。

其中,卡紧机构包括调节螺栓8和设于调节螺栓8上方的压紧件6,调节螺栓8与第三通孔5-3螺纹连接。通过旋转调节螺栓8使调节螺栓8相对于第三通孔5-3向上进给,从而带动压紧件6向上移动直至抵紧被校正轴2。这样设置的好处在于,一方面,通过调节螺栓8与第三通孔5-3螺纹连接,能够保持压紧件6对被校正轴2的抵紧状态,避免压紧件6上下滑动;另一方面,可根据被校正点的直径选择相应尺寸的压紧件6,而不需更换整个卡紧机构,大大节省的材料、节约了制造成本。需要说明的是,对于如何通过卡紧机构抵紧被校正轴,本领域技术人员很容易想到通过多种常规手段来实现,比如卡紧机构也可由液压装置本体和伸缩于液压装置本体的液压杆组成,液压装置本体固定在固定机构5上,液压杆插入到第三通孔5-3内,液压杆在液压力的推动下向上移动直至抵紧被校正轴;卡紧机构还可以由电磁铁、杆套和插设于杆套中的磁性杆组成,电磁铁固定安装在固定机构5的底部,杆套固定安装在电磁铁的上方,磁性杆插入第三通孔5-3内,对电磁铁通电,通过改变电流来改变电磁铁的极性和电磁强度,使电磁铁对磁性杆产生相反的排斥力,将磁性杆推出杆套并抵紧被校正轴2;或者卡紧机构是一端设有与第三通孔5-3的螺纹相适应的螺纹的直杆,直接旋转直杆即可抵紧被校正轴2。

其中,还包括滚珠7,滚珠7设于压紧件6与调节螺栓8之间,压紧件6和调节螺栓8上均设有用于盛放滚珠7的凹槽。当拧紧调节螺栓8时,滚珠7跟随调节螺栓8一起旋转上升,并将调节螺栓8对其施加的向上的作用力传递至压紧件6,从而使压紧件6向上移动并抵紧被校正轴2。由于压紧件6和调节螺栓8与滚珠7的接触面积相对较小,可大大减小滑动摩擦,避免压紧件6与调节螺栓8的接触面过渡磨损。

进一步地,再结合图3所示,压紧件6的顶面设有向外凸起的压紧部6-1,在被校正轴的长度方向上,压紧部6-1的宽度小于压紧件6的宽度。由于调节螺栓8对压紧件6施加的作用力是一定的,而压紧部6-1的顶面的面积较小,从而压紧部6-1与被校正轴2接触的面积也较小,施加到被校正轴2单位面积的力就相对较大,使压紧件6能够进一步抵紧被校正轴2,避免被校正轴2攒动。另外,也可保证压紧部6-1直接抵触在被校正处的凸面上。

优选地,压紧部6-1的顶面为向内凹陷的曲面,即该曲面的曲率半径等于被校正点处被校正轴2的半径,从而可使压紧部6-1的顶面与被校正轴2完全接触,避免了被校正轴2径向移动。

其中,至第一通孔5-1的下方设有向外延伸的限位部,限位部用于在压紧件6上升至设定距离时与压紧件6抵触配合。样设置的好处在于,约束压紧件6相对固定机构5的位移,避免调节螺栓8旋转上升的过多而导致压紧件6过渡挤压被校正轴2导致其变形。

优选地,第一通孔5-1的轴线与第二通孔5-2的轴线垂直,不仅便于在固定机构5上设置第一通孔5-1和第二通孔5-2,还便于冲针3插到凹面处。

优选地,第一通孔5-1的轴线与第三通孔5-3的轴线垂直,可保证通过卡紧件施加的向上的作用力垂直于被校正轴2的轴线,使所做的功最大,从而可大大省力。

优选地,第二通孔5-2与第三通孔5-3同轴,从而可直接在固定机构5上设置一个纵向贯穿且与第一通孔5-1连通的通孔,即为第二通孔5-2与第三通孔5-3。

最后应说明的是:以上实施例仅用以说明实用新型的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

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