一种电容触摸屏的激光雕刻方法与流程

文档序号:25998903发布日期:2021-07-23 21:14阅读:243来源:国知局
一种电容触摸屏的激光雕刻方法与流程

本发明涉及激光雕刻技术领域,特别是涉及一种电容触摸屏的激光雕刻方法。



背景技术:

在制作电容屏过程中有一道工序为激光雕刻线路,是利用光把不需要的地方烧掉,从而留下需要的导电通道;现在生产的电容屏也越来越大,激光蚀刻就会通过一块一块区域的激光,而电容屏的激光设备是通过振镜分块激光,而块与块之间就会有一个交接拼接位,而现有技术中的拼接位通常易出现爆点和开短路的问题。



技术实现要素:

本发明的目的是提供一种电容触摸屏的激光雕刻方法,以克服现有的拼接位通常易出现爆点和开短路的问题。

为实现上述目的,本发明提供了如下方案:

本发明提供一种电容触摸屏的激光雕刻方法,所述激光雕刻方法包括如下步骤:

在相邻六边形的连接处选取拼接位,将激光走线图案划分成多个图案块;所述激光走线图案为电容触摸屏在激光雕刻时采用的通过设置拐点连接的方式连接相邻六边形的激光走线图案;每个所述图案块包括n×m个六边形,m个六边形依次连接形成六边形行,n个六边形行组成图案块,相邻两个图案块中的前一个图案块每一个六边形行的第m个六边形与后一个图案块的每一个六边形行的第1个六边形的连接处为相邻两个图案块的拼接位;

在不改变电容触摸屏的导电通道的条件下,将每相邻两个图案块之间的拼接位的设置拐点连接的方式修改为通过直线延长连接的方式,获得改进后的图案块;

通过振镜分块激光方法依次对每个改进后的图案块进行激光雕刻。

可选的,所述图案块的尺寸等于振镜的尺寸。

可选的,振镜的尺寸为180mm×180mm。

本发明还提供另一种电容触摸屏的激光雕刻方法,所述激光雕刻方法包括如下步骤:

在不改变电容触摸屏的导电通道的条件下,将电容触摸屏在激光雕刻时采用的通过设置拐点连接的方式连接相邻六边形的激光走线图案修改为通过直线延长连接的方式连接相邻六边形的激光走线图案,作为改进后的激光走线图案;

在相邻六边形的连接处选取拼接位,将改进后的激光走线图案划分成多个图案块;每个所述图案块包括n×m个六边形,m个六边形依次连接形成六边形行,n个六边形行组成图案块,前一个图案块每一个六边形行的第m个六边形与后一个图案块的每一个六边形行的第1个六边形的连接处为相邻两个图案块的拼接位;

通过振镜分块激光方法依次对多个所述图案块进行激光雕刻。

可选的,所述图案块的尺寸等于振镜的尺寸。

可选的,振镜的尺寸为180mm×180mm。

根据本发明提供的具体实施例,本发明公开了以下技术效果:

本发明公开了一种电容触摸屏的激光雕刻方法,所述激光雕刻方法包括如下步骤:在相邻六边形的连接处选取拼接位,将激光走线图案划分成多个图案块;所述激光走线图案为电容触摸屏在激光雕刻时采用的通过设置拐点连接的方式连接相邻六边形的激光走线图案;每个所述图案块包括n×m个六边形,m个六边形依次连接形成六边形行,n个六边形行组成图案块,相邻两个图案块中的前一个图案块每一个六边形行的第m个六边形与后一个图案块的每一个六边形行的第1个六边形的连接处为相邻两个图案块的拼接位;在不改变电容触摸屏的导电通道的条件下,将每相邻两个图案块之间的拼接位的设置拐点连接的方式修改为通过直线延长连接的方式,获得改进后的图案块;通过振镜分块激光方法依次对每个改进后的图案块进行激光雕刻。本发明将拼接位设置在六边形的连接处,并将拼接位位置的拐点修改为直线,避免了拐点位置设置为拼接位会造成多个激光点重叠的技术缺陷,同时减小需要拼接的激光线数,克服了现有的拼接位通常易出现爆点和开短路的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的实施例1提供的一种电容触摸屏的激光雕刻方法的流程图;

图2为本发明的实施例1提供的现有的激光雕刻方法的激光走线图案的示意图;

图3为本发明的实施例1提供的拐点位置设置拼接位造成的爆点现象示意图;

图4为本发明的实施例1提供的本发明的激光雕刻方法中的拼接位的设置位置示意图;

图5为本发明的实施例1提供的未修改拼接位的走线方式时的拼接位示意图;

图6为本发明的实施例1提供的改进后的拼接位的走线方式;

图7为本发明的实施例1提供的利用改进后的拼接位的走线方式进行激光雕刻的示意图;

图8为本发明的实施例2提供的偏位测试结果示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

本发明的目的是提供一种电容触摸屏的激光雕刻方法,以克服现有的拼接位通常易出现爆点和开短路的问题。

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

实施例1

本发明提供一种电容触摸屏的激光雕刻方法,所述激光雕刻方法包括如下步骤:

步骤101,在相邻六边形的连接处选取拼接位,将激光走线图案划分成多个图案块;所述激光走线图案为电容触摸屏在激光雕刻时采用的通过设置拐点连接的方式连接相邻六边形的激光走线图案;每个所述图案块包括n×m个六边形,m个六边形依次连接形成六边形行,n个六边形行组成图案块,相邻两个图案块中的前一个图案块每一个六边形行的第m个六边形与后一个图案块的每一个六边形行的第1个六边形的连接处为相邻两个图案块的拼接位。

具体的,在制作电容屏过程中,当中有一道工序为镭射激光蚀刻线路,正常一个振镜范围是:180*180mm,也就是当产品尺寸小于这个尺寸是可以不用分块激光的;而现在电容屏,如做一个86寸,长宽约1950*1120mm:如下图2所示为现有技术中的激光的走线;为方便激光拼接,所以拼接位都考虑放在一条直线的中间左右的位置,不会放在线拐弯的附近。

激光的拼接位既是上一段激光的末尾段,又是下一个激光的开始段,同时还是这2个地方的交接位;所以会尽量再避开拐弯位,免得多个激光点重叠更容易出现问题;图3(a)为实际的激光产品拼接位出现爆点(即数据不均匀)的激光效果,图3(b)为实际爆点数据。

对于这种激光上拼接有异常,前段单膜测试无法卡控到(互容产品,数据需要x,y轴组合后才能检测到对于点的电容值,前段单张可以测试通道的开短路问题),只有后段sensor测试可以显现。到后段卡控,前段不良的数量会比较多,发现时间有延迟,会造成较大的不良损失。改善拼接异常的发生率,可以避免此类不良的大量发生。

本发明把拼接位调整为如图4的虚线所示的位置,即,调整到激光线窄的地方,尽量少线需要拼接。

步骤102,在不改变电容触摸屏的导电通道的条件下,将每相邻两个图案块之间的拼接位的设置拐点连接的方式修改为通过直线延长连接的方式,获得改进后的图案块。

如图4的虚线所示的位置刚好是激光线拐弯的地方,如图5所示为其中一根线激光的示意,激光是识别每一段线的首尾中3个点,会根据这3个点来规划激光的走线,如果激光拼接在拐弯的地方,激光设备需要针对每个点做动作,而拼接位的线段首尾点又是激光的点,而本身拐弯的拼接精度也没直线的好,所有目前激光拼接位都是需要规避拐弯的点。

本发明采用如下方式调整激光的走线方式:

将如图4的虚线所示的位置调整为图6所示的连接方式,使激光在拼接位的位置不做拐弯,而是斜线直接往前伸,这样这个地方就不会有线条拐弯。详细如图7所示,图7为其中2根激光线,可以发现这段激光的首尾中3个点,是距离很远的了,拼接位已避开线条拐弯的地方。

步骤103,通过振镜分块激光方法依次对每个改进后的图案块进行激光雕刻。

实施例2

本发明还提供另一种电容触摸屏的激光雕刻方法,所述激光雕刻方法包括如下步骤:

在不改变电容触摸屏的导电通道的条件下,将电容触摸屏在激光雕刻时采用的通过设置拐点连接的方式连接相邻六边形的激光走线图案修改为通过直线延长连接的方式连接相邻六边形的激光走线图案,作为改进后的激光走线图案;

在相邻六边形的连接处选取拼接位,将改进后的激光走线图案划分成多个图案块;每个所述图案块包括n×m个六边形,m个六边形依次连接形成六边形行,n个六边形行组成图案块,前一个图案块每一个六边形行的第m个六边形与后一个图案块的每一个六边形行的第1个六边形的连接处为相邻两个图案块的拼接位;

通过振镜分块激光方法依次对多个所述图案块进行激光雕刻。

其中,所述图案块的尺寸等于振镜的尺寸。振镜的尺寸为180mm×180mm。

根据本发明提供的具体实施例,本发明公开了以下技术效果:

本发明把激光拼接位移到少激光线的位置,并且把原激光线拐弯的位置调整为直的斜线,并进行了偏位测试。通过偏位测试证明了本发明的图纸实际偏移图示,最大偏移容错可达到0.3mm,而数据都不会出现有爆点。

其中,偏位测试,是指人为的调动拼接错位,模拟批量生产,有时拼接错位没看出来对后段的影响有多大,主要是依据平时拼接出现异常错位,有可能会出现多大的错位;图8中,图8(a)-图8(c)是模拟错位0.2mm,图8(a)为y轴偏移0.2mm,图8(b)为x轴偏移0.2mm,图8(c)为x,y都偏移0.2mm;图8(d)-图8(f)是模拟错位0.3mm,图8(d)为y轴偏移0.3mm,图8(e)为x轴偏移0.3mm,图8(f)为x,y都偏移0.3mm;对每一个错位都进行了电容数据的测试,发现0.3mm偏位时都不会出现爆点。

经过偏位测试可知本发明可以有效的改善拼接位的数据爆点,本身拼接位已调整到激光线少的地方,对拼接出现异常的概率就降低了,同时调整了此地方的激光走线,出现低于0.3mm的拼接错位均不会形成爆点或开短路的不良,提高了生产的良率和产品数据的平整度,稳定性。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

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