γ射线测厚仪样板快速标定方法

文档序号:9314290阅读:1069来源:国知局
γ射线测厚仪样板快速标定方法
【技术领域】
[0001]本发明属于金属检测自动化领域,主要用于检测硅钢厚度。所述γ射线测厚仪是美国DMC(瑞美)公司生产的γ射线测厚仪。
【背景技术】
[0002]森吉米尔乳机为可逆式冷乳20棍乳机,将2.6mm厚度的娃钢原料卷乳制为0.5mm成品卷需要5道次往复乳制,在乳制过程中厚度反馈是美国DMC(瑞美)公司生产的γ射线测厚仪,入口和出口各有一个C型架,安装有两套相同的射源和电离接收放大器。
[0003]由于是往复乳制,测厚仪需要测量不同钢种不同厚度的钢板,为保证测量厚度精度,必须对不同钢种不同厚度的所有样板进行标定,标定后得到不同的补偿系数,乳钢时电离室测回的电压信号与补偿系数计算,得到钢板实际厚度反馈值和偏差值,与乳机压下实现厚度闭环控制,乳制出要求厚度的钢板。
[0004]由于一种钢种只有一个补偿系数,所以补偿系数不能满足全部厚度测量精度(不同厚度和元素含量对射源吸收率不同)。
[0005]现有的标定方法是:C型架上放置2.6mm—0.5mm相同钢种不同厚度标准检测样板(标准仪器测量标定好的)5片,每个样板标定5次,测厚仪软件计算补偿系数平均值并保存,然后测量每个样板,观察厚度反馈值,如偏差较大重新执行标定程序,直到测量相同钢种不同厚度样板厚度偏差< ±6 μπι认为合格,两个C型架分别测量计算,每个钢种分别测量计算,不能混淆和穿插。
上述标定过程中需要手动放置样板测量,必须严格确认防止射线伤害。每次新钢钟标定时间长达3小时。随着高牌号硅钢品种和产量的增加,高牌号硅钢硅含量较高,成分微小的变化对标定成功率和测量精度影响较大,上述标定精度和标定时间已经不能适应高牌号硅钢厚度质量和产量。

【发明内容】

[0006]为了减少标定时间且提高标定精度,本发明提供γ射线测厚仪样板快速标定方法。
[0007]本发明的技术方案:γ射线测厚仪样板快速标定方法,包括下述步骤:
(1)采集0.5_厚度和其它厚度硅钢样板并分别对0.5mm厚度和其它厚度硅钢样板进行物理测量获得各厚度样板绝对厚度值;
(2)分别将0.5mm厚度和其它厚度硅钢样板在γ射线测厚仪上进行1~5次手动测量,并计算平均手动测量厚度值;其中0.5_厚度硅钢样板在γ射线测厚仪上进行5次手动测量;其它厚度硅钢样板在γ射线测厚仪上进行1~2次手动测量;
(3)计算:样板厚度偏差值=平均手动测量厚度值-样板绝对厚度值;
(4)根据公式:样板测量厚度值=补偿系数+电离室测量电压转换值,确定补偿系数,补偿系数满足: 厚度是0.5mm的硅钢样板厚度偏差值的绝对值不大于3 μ m且其它厚度样板厚度偏差值的绝对值不大于6 μπι ;
(5)在γ射线测厚仪上保存标定补偿系数。
[0008]电离室测量电压转换值为γ射线穿透样板后,电离室转换得到的测量厚度值,它是通过?射线测厚仪程序计算自动获得的。
[0009]所述其它厚度样板分别是厚度是0.6mm、1.0mm、1.8mm、2.6mm的娃钢样板。
[0010]其它厚度样板是最终产品厚度0.5mm样板的中间道次的厚度。
[0011]确定补偿系数的方法是:先设定补偿系数,如果设定补偿系数+电离室测量电压转换厚度值#样板测量厚度值,调整设定补偿系数后再进行下一次计算;如此反复计算;直至设定补偿系数+电离室测量电压转换厚度值=样板测量厚度值,此为最佳状态。
[0012]本发明标定时间为45分钟~1小时,射源开启次数是原标定时间的1/5,标定精度比原程序标定高,提高了成品钢板厚度质量从而减少因厚度测量精度低造成的断带等生产事故。
【具体实施方式】
[0013]以50W310高牌号硅钢为例,样板厚度是0.5240mm,为保证成品厚度精度,按照
0.5240mm样板进行手动精确标定。其中间道次厚度分别是2.6mm、1.8mm、1.0mm、0.6mm。
[0014]1、在γ射线测厚仪操作界面进行手动测量厚度是0.5240mm的硅钢样板5次,获得5个样板测量厚度值,然后将5个样板测量厚度值求和后除于5=平均测量厚度值;
2、将硅钢的平均测量厚度值与0.5240mm样板的绝对厚度值进行比较,获得样板厚度偏差值(即样板厚度偏差值=平均测量厚度值-样板绝对厚度值);其中0.5240mm样板的绝对厚度值是通过实验室物理测量获得的;如果样板厚度偏差值的绝对值不大于3 μ m执行第4步;对其它厚度的样板进行标定(执行第3步骤);
如果0.5240mm样板厚度偏差值的绝对值大于3 μ m,反复进行补偿系数设定,调整补偿系数直至符合样板厚度偏差值的绝对值不大于3 μπι要求为止;
补偿系数设定原则:先设定补偿系数,如果设定补偿系数+电离室测量电压转换厚度值#样板测量厚度值;调整(增大或减小)设定补偿系数后再进行下一次计算;如此反复计算;直至设定补偿系数+电离室测量电压转换厚度值=样板测量厚度值;样板测量厚度值为γ射线测厚仪的即时测量值。
[0015]3、分别测量厚度是0.6mm、1.0mm、1.8mm、2.6mm娃钢样板:
在Y射线测厚仪操作界面进行手动测量厚度是0.6mm的硅钢样板I次,获得样板厚度测量值;
当样板厚度测量值-样板绝对厚度值的绝对值不大于6 μ m,根据补偿系数+电离室测量电压转换厚度值=样板测量厚度值来确定补偿系数;
当样板厚度测量值-样板绝对厚度值的绝对值大于6 μ m时,反复进行调整补偿系数直至符合样板厚度偏差值的绝对值不大于6 μπι要求为止;
4、当0.5240mm样板厚度偏差值的绝对值小于3 μ m且0.6mm、1.0mm样板厚度偏差值的绝对值小于6 μ m且1.8mm样板厚度偏差值的绝对值小于6 μ m且2.6mm样板厚度偏差值的绝对值小于6 μπι时的设定补偿系数,即为γ射线测厚仪的标定补偿系数。
[0016]最终确定硅钢样板γ射线测厚仪的左测厚仪补偿系数是1.0670 ;右测厚仪补偿系数是1.0590 ;
4、输入相应的钢总号和修改密码并保存,快速标定50W310高牌号硅钢结束。
[0017]0W350、50W290、50W270 标定与此方法相同。
[0018]硅钢牌号是50W270的厚度是0.4808 mm的γ射线测厚仪的左测厚仪补偿系数是
1.0795 ;右测厚仪补偿系数是1.0770。其它牌号的硅钢样板补偿系数与50W310高牌号硅钢相同,不累述。
【主权项】
1.γ射线测厚仪样板快速标定方法,其特征是包括下述步骤: (1)分别采集0.5mm厚度和其它厚度硅钢样板并对0.5mm厚度和其它厚度硅钢样板进行物理测量获得各厚度样板绝对厚度值; (2)分别将0.5mm厚度和其它厚度硅钢样板在γ射线测厚仪上进行1~5次手动测量,并计算平均手动测量厚度值;其中0.5_厚度硅钢样板在γ射线测厚仪上进行5次手动测量;其它厚度硅钢样板在γ射线测厚仪上进行1~2次手动测量; (3)计算:样板厚度偏差值=平均手动测量厚度值-样板绝对厚度值; (4)根据公式:样板测量厚度值=补偿系数+电离室测量电压转换值,来确定补偿系数,其中补偿系数满足: 厚度是0.5mm的硅钢样板厚度偏差值的绝对值不大于3 μ m且其它厚度样板厚度偏差值的绝对值不大于6μπι ; (5)在γ射线测厚仪上保存标定补偿系数。2.根据权利要求1所述γ射线测厚仪样板快速标定方法,其特征是确定补偿系数的方法是:先设定补偿系数,如果设定补偿系数+电离室测量电压转换厚度值#样板测量厚度值,调整设定补偿系数后再进行下一次计算;如此反复计算;直至设定补偿系数+电离室测量电压转换厚度值=样板测量厚度值。3.根据权利要求1所述γ射线测厚仪样板快速标定方法,其特征是所述其它厚度高牌号娃钢样板分别是0.6mm、1.0mm、1.8mm、2.6mm娃钢样板。
【专利摘要】γ射线测厚仪样板快速标定方法,主要用于检测硅钢厚度,它包括:(1)分别不同厚度硅钢样板并对其进行物理测量获得各厚度样板绝对厚度值;(2)分别将不同厚度硅钢样板在γ射线测厚仪上进行1~5次手动测量,并计算平均手动测量厚度值;(3)计算样板厚度偏差值;(4)确定补偿系数,补偿系数满足:厚度是0.5mm的硅钢样板厚度偏差值的绝对值不大于3μm且其它厚度样板厚度偏差值的绝对值不大于6μm;(5)在γ射线测厚仪上保存标定补偿系数。本发明标定时间为45分钟~1小时,射源开启次数是原标定时间的1/5,标定精度比原程序标定高,提高了成品钢板厚度质量。
【IPC分类】B21B38/04
【公开号】CN105032953
【申请号】CN201510507473
【发明人】王绘宇, 邢一, 刘勇, 罗洵, 罗冉杰
【申请人】山西太钢不锈钢股份有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年8月19日
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