电介质组合物及电子部件的制作方法

文档序号:25544001发布日期:2021-06-18 20:41阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种电介质组合物,其中,

所述电介质组合物包含主相和ca-si-p-o偏析相,

所述主相包含以abo3表示的主成分,

所述a包含选自钙及锶中的至少任意一种,

所述b包含选自锆、钛、铪及锰中的至少任意一种,

所述ca-si-p-o偏析相中至少包含钙、硅及磷。

2.根据权利要求1所述的电介质组合物,其中,

将所述ca-si-p-o偏析相中所包含的钙、锶、硅及磷的合计设为1摩尔份时,

在所述ca-si-p-o偏析相中,包含0.24~0.77摩尔份的钙,包含0.00~0.40摩尔份的锶,包含0.05~0.30摩尔份的硅,并且包含0.05~0.40摩尔份的磷。

3.根据权利要求1所述的电介质组合物,其中,

所述ca-si-p-o偏析相的晶系为斜方晶系。

4.根据权利要求1所述的电介质组合物,其中,

所述电介质组合物进一步包含ca-zr-o系偏析相。

5.根据权利要求1所述的电介质组合物,其中,

所述ca-si-p-o偏析相的圆当量直径为0.02~1μm。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的电介质组合物,其中,

以(所述ca-si-p-o偏析相的面积/所述主相的面积)×100%的式子表示的所述ca-si-p-o偏析相的面积比率为0.5~10%。

7.一种电子部件,其中,

具备权利要求1~6中任一项所述的电介质组合物。


技术总结
本发明提供一种对于高温多湿的环境下的裂纹的产生能够发挥较高的抑制效果的电介质组合物。电介质组合物包含主相和Ca‑Si‑P‑O偏析相,主相包含以ABO3表示的主成分,A包含选自钙及锶中的至少任意一种,B包含选自锆、钛、铪及锰中的至少任意一种,Ca‑Si‑P‑O偏析相中至少包含钙、硅及磷。

技术研发人员:井口俊宏
受保护的技术使用者:TDK株式会社
技术研发日:2020.12.11
技术公布日:2021.06.18
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