铁氧体颗粒及使用其的电子照相显影用载体、电子照相用显影剂以及铁氧体颗粒的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及表面为凹凸形状、具有规定的磁特性的铁氧体颗粒及使用其的电子照 相显影用载体（以下，有时简称为"载体"）、电子照相用显影剂（以下，有时简称为"显影 剂"）以及铁氧体颗粒的制造方法。
【背景技术】
[0002] 例如，在使用电子照相方式的传真机、打印机、复印机等图像形成设备中，使调色 剂附着于感光体的表面上形成的静电潜像，进行可视图像化，将该可视图像转印到纸张等 后，进行加热/加压来进行定影。从高画质化、色彩化的观点出发，作为显影剂，广泛使用了 包含载体和调色剂的所谓的双组分显影剂。
[0003] 在使用双组分显影剂的显影方式中，在显影设备内搅拌混合载体和调色剂，利用 摩擦使调色剂带电至规定量。然后，向旋转的显影辊供给显影剂，在显影辊上形成磁刷，介 由磁刷使调色剂向感光体电移动，使感光体上的静电潜像可视图像化。调色剂移动后的载 体残留在显影辊上，在显影设备内再次与调色剂混合。因此，作为载体的特性，要求用于形 成磁刷的磁特性、向调色剂赋予所需的电荷的带电特性以及反复使用时的耐久性。
[0004] 因此，目前为止较多地使用用树脂覆盖磁铁矿、各种铁氧体等磁性颗粒的表面的 所谓的涂层载体。然而，颗粒表面的覆盖树脂层由于在显影设备内的长期的搅拌等而磨损。 若颗粒表面的覆盖树脂层整体磨损，则载体的带电特性降低，产生调色剂的带电不良，图像 质量下降。
[0005] 专利文献1提出了为了提高与覆盖树脂层的粘接强度，对于特定组成的铁氧体颗 粒，在晶粒（結晶粒）的表面形成微小的凹凸。另外，专利文献2提出了在铁氧体颗粒的表 面形成细条状褶纹的凹凸。
[0006] 现有技术文献
[0007] 专利文献
[0008] 专利文献1 :日本特开平10-104884号公报（权利要求书和（0029)段等）
[0009] 专利文献2 :W02007/63933号公报
【发明内容】
[0010] 发明要解决的问题
[0011] 专利文献1提出的铁氧体颗粒中，在晶粒的表面形成的凹凸的优选的深度为 0. 5ym以下，另外，专利文献2提出的铁氧体颗粒中，颗粒表面的凹凸也为褶纹，因此认为 随着长期使用，颗粒表面的覆盖树脂层整体均等地磨损。因此，不能充分地抑制载体的带电 特性的降低。
[0012] 本发明是鉴于这样的现有问题而做出的，其目的在于，提供一种覆盖树脂随着长 期使用仍部分地残留在颗粒表面，能够抑制带电特性的降低的铁氧体颗粒。
[0013] 另外，本发明的目的在于，提供一种稳定地维持带电性能的电子照相显影用载体 和电子照相用显影剂。
[0014] 进而，本发明的目的在于，提供一种高效地制造颗粒表面的凹凸度为特定范围、显 露在颗粒表面的晶粒（夕uO)的大小的波动为规定范围的铁氧体颗粒的方法。
[0015] 用于解决问题的方案
[0016] 用于实现前述目的的本发明的铁氧体颗粒是将Mn铁氧体作为主相且含有Sr铁氧 体的铁氧体颗粒，颗粒表面的凹凸度为2. 5ym~4. 5ym的范围，显露在颗粒表面的晶粒的 大小的标准偏差为1.5iim~3. 5iim的范围。
[0017] 需要说明的是，本说明书中"凹凸度"和"标准偏差"是根据实施例中所示测定方 法测定的值。
[0018] 另外，根据本发明，提供一种电子照相显影用载体，其特征在于，前述铁氧体颗粒 的表面被树脂覆盖。
[0019] 进而，根据本发明，提供一种电子照相用显影剂，其包含前述电子照相显影用载体 和调色剂。
[0020] 另外，根据本发明，提供一种铁氧体颗粒的制造方法，其特征在于，其具有：将Fe 成分原料、Mn成分原料、体积平均粒径（以下，有时简称为"平均粒径"）为1. 0ym~4. 5ym 的Sr铁氧体颗粒投入到分散剂中而得到浆料的工序；对前述浆料进行喷雾干燥而得到造 粒物的工序；以及对前述造粒物进行焙烧而得到焙烧物的工序。
[0021] 另外，Sr铁氧体颗粒的添加量优选为2. 5wt%~15wt%的范围。
[0022]发明的效果
[0023] 对于本发明的铁氧体颗粒，覆盖树脂随着长期使用仍部分地残留在颗粒表面，能 够抑制带电特性的降低。
[0024] 本发明的电子照相显影用载体和电子照相用显影剂能够稳定地维持带电性能。
[0025] 本发明的制造方法能够高效地制造颗粒表面的凹凸度为特定范围、显露在颗粒表 面的晶粒的大小的波动为规定范围的铁氧体颗粒。
【附图说明】
[0026] 图1是实施例1的铁氧体颗粒的SEM照片。
[0027] 图2是示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和铁氧体颗粒表面的凹凸度的关系的图。
[0028] 图3是示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏 差〇的关系的图。
[0029] 图4是说明铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差〇的计算方法的图。
【具体实施方式】
[0030] 首先，对本发明的铁氧体颗粒进行说明。本发明的铁氧体颗粒的一大特征在于，颗 粒表面的凹凸度为2. 5ym~4. 5ym的范围。由此，铁氧体颗粒表面被树脂覆盖时，凹部的 覆盖树脂随着长期使用也不会磨损，因此能够抑制带电特性的降低。颗粒表面的凹凸度小 于2. 5ym时，覆盖树脂整体均匀地磨损，另一方面，颗粒表面的凹凸度大于4. 5ym时，铁氧 体颗粒的流动性极度恶化，将铁氧体颗粒用作载体芯材时，调色剂的带电特性降低。颗粒表 面的凹凸度的更优选的范围为3.lym~4. 5ym的范围。
[0031] 另外，本发明的铁氧体颗粒的另外一大特征在于，显露在颗粒表面的晶粒的大小 的标准偏差为1. 5 y m~3. 5 y m的范围。如此，通过晶粒的大小某种程度地波动并结合前 述颗粒表面的凹凸度，能够防止颗粒表面被树脂覆盖情况下的、铁氧体颗粒表面的覆盖树 脂的均匀的磨损，覆盖树脂残留在凹部，能够抑制带电特性的降低。
[0032] 为了使铁氧体颗粒的颗粒表面的凹凸度和晶粒的大小的标准偏差为前述范围，如 后述那样，重要的是使用Sr铁氧体颗粒作为铁氧体颗粒的原料，并且调整Sr铁氧体颗粒的 平均粒径。图2示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和铁氧体颗粒表面的凹凸度的关系。另外， 图3示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和显露在铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差的 关系。
[0033] 由图2可知，用作原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径与铁氧体颗粒表面的凹凸度大 致成比例关系，增大作为原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径时，所得铁氧体颗粒的表面的凹 凸度变大。另外，由图3可知，用作原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径与显露在铁氧体颗粒 表面的晶粒的大小的标准偏差也大致成比例关系，增大作为原料的Sr铁氧体颗粒的平均 粒径时，显露在铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差也变大。
[0034] 如此，推测通过将Sr铁氧体用作原料而使所得铁氧体颗粒的表面的凹凸度以及 显露在铁氧体颗粒表面的晶粒的标准偏差变大是由于，作为原料的Sr铁氧体作为晶种促 进纵向晶体生长，其结果，所得铁氧体颗粒的表面的凹凸度以及显露在铁氧体颗粒表面的 晶粒的波动变大。
[0035] 用作原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径为1.0 ym~4.5 ym的范围。更优选为 LOym~3. 5ym的范围。将Sr铁氧体颗粒的平均粒径设定为该范围，由此戶斤得铁氧体颗 粒表面的凹凸度以及晶粒的大小的标准偏差容易处于本发明的规定范围。
[0036] 需要说明的是，本发明的铁氧体颗粒将Mn铁氧体作为主相，因此容易得到所需的 磁特性和电阻。
[0037] 本发明的铁氧体颗粒的体积平均粒径优选为10ym~100ym的范围。通过使体 积平均粒径为10ym以上，能够确实地赋予各个颗粒所需的磁力，例如，将铁氧体颗粒用作 电子照相显影用载体时，变得能够抑制载体附着于感光体。另一方面，使体积平均粒径为 100ym以下，由此变得能够良好地保持图像特性。为了将铁氧体颗粒的平均粒径设定为上 述范围，在铁氧体颗粒的制造工序中或者制造工序后，使用筛等进行分级处理即可。另外， 优选的是粒径分布窄。
[0038] 本发明的铁氧体颗粒的表观密度优选为2. 5g/cm3以下。通过使表观密度为2. 5g/ cm3以下，由此例如将铁氧体颗粒用作载体芯材时，可以实现减轻包含载体的显影剂的搅拌 动力。
[0039] 本发明的铁氧体颗粒的、外部磁场79. 58X103A/m(1000奥斯特）下的磁化〇 lk优 选为50A?mVkg~60A?mVkg的范围。通过使铁氧体颗粒的磁化〇lk处于该范围，由此例 如将铁氧体颗粒用作载体芯材时，能够充分地确保磁刷的矫顽力，能够抑制载体附着于感 光体的现象。
[0040] 本发明的铁氧体颗粒能够用于各种用途，例如可以用作电子照相显影用载体；电 磁波吸收材料、电磁波屏蔽材料用材料粉末；橡胶、塑料用填充材料/增强材料；油漆、颜料 /粘接剂用消光材料、填充材料、增强材料等。其中，尤其适用于电子照相显影用载体。
[0041 ] 对本发明的铁氧体颗粒的制造方法没有特别限制，但优选以下将要说明的制造方 法。
[0042] 首先，称量