粘合剂膜和包含其的显示构件的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及粘合剂膜和包含其的显示构件。
【背景技术】
[0002] 透明粘合剂膜被用作光学显示器中用于堆叠零件的层间粘结或移动电话的触摸 屏幕的连接中的粘合剂膜。
[0003] 具体来说，光学显示器中的电容式触摸板经由粘合剂膜连接到窗口或膜并且通过 感测窗口或膜的电容改变而具有其特性。触摸板中的粘合剂膜堆叠在窗口玻璃与触摸屏幕 面板(Touch Screen化nel，TSP)传感器玻璃之间。
[0004] 透明粘合剂膜相比于现有的双面胶来说，具有改善屏幕清晰度的优点，并且展现 良好的粘附同时像玻璃一样起作用，透射97%或大于97%的光。透明粘合剂膜可W用于平 板电脑、电视等，包含中等尺寸或大尺寸的显示屏幕W及移动电话。
[0005] 近来，随着使用、储存和/或制造光学显示器的环境变得苛刻并且对柔性光学显示 器的兴趣逐渐增加等，透明粘合剂膜需要各种特性。具体来说，对于柔性显示器的应用来 说，需要一种在宽的溫度范围内维持粘弹性并且还展现优良的可恢复性的透明粘合剂膜。
[0006] 现有技术的一个实例披露于第2007-0055363A号韩国专利公开中。
【发明内容】
[0007] 本发明的一个方面是提供粘合剂膜，其在苛刻条件下展现优良的可恢复性、透明 度W及可靠性，同时在宽的溫度范围内维持粘弹性，W及包含所述粘合剂膜的显示构件。 [000引根据本发明的一个方面，粘合剂膜由粘合剂组合物形成，所述粘合剂组合物包含： 单体混合物，包含含径基的（甲基)丙締酸醋和共聚单体；W及纳米粒子，其中所述粘合剂膜 的玻璃化转变溫度(Tg)为-20°C或小于-20°C，折射率为1.40至1.55,并且在所述粘合剂膜 的厚度为100微米下，浊度为3%或小于3%。
[0009] 在一实施例中，所述粘合剂膜包括由所述单体混合物聚合而成的含径基的（甲基） 丙締酸共聚物。
[0010] 在一实施例中，所述含径基的（甲基)丙締酸醋的玻璃化转变溫度(Tg)为-80°〇到-20°C。
[ocm]在一实施例中，所述含径基的（甲基）丙締酸共聚物由包括5重量％到4〇重量％所 述含径基的（甲基)丙締酸醋W及60重量％到95重量％所述共聚单体的所述单体混合物聚 合而成。
[001^ 在一实施例中，所述纳米粒子的平均粒子直径为5纳米到400纳米。
[0013] 在一实施例中，所述纳米粒子与所述含径基的（甲基)丙締酸共聚物之间的折射率 差值为0.05或小于0.05。
[0014] 在一实施例中，WlOO重量份的所述单体混合物计，所述纳米粒子WO. 1重量份到 20重量份的量存在。
[0015] 在一实施例中，所述纳米粒子是核屯、-外壳粒子。
[0016] 在一实施例中，所述核屯、包括聚（甲基)丙締酸烧醋W及聚硅氧烷中的至少一种， W及所述外壳包括聚（甲基)丙締酸烧醋。
[0017] 在一实施例中，所述粘合剂组合物更包括起始剂W及交联剂中的至少一种。
[0018] 在一实施例中，厚度为100微米的所述粘合剂膜的浊度是3%或小于3%，在所述粘 合剂膜经受200%拉伸后所测量。
[0019] 在一实施例中，厚度为100微米的所述粘合剂膜的浊度是1%或小于1%，在所述粘 合剂膜经受200%拉伸后所测量。
[0020] 在一实施例中，所述粘合剂膜的平均斜度为-5到0,在描绘所述粘合剂膜的溫度相 关储能模量分布的图中-20°C到80°C范围内所测量，其中X轴表示溫度rC)W及y轴表示储 能模量(千帕）。
[0021 ]在一实施例中，所述粘合剂膜在80°C下的储能模量是10千帕到200千帕。
[0022] 在一实施例中，所述粘合剂膜的T剥离强度是400克力/英寸到4,000克力/英寸，在 25°C下针对经电晕处理的聚对苯二甲酸乙二醋膜所测量。
[0023] 在一实施例中，所述粘合剂膜的T剥离强度是200克力/英寸到3,000克力/英寸，在 60°C下针对经电晕处理的聚对苯二甲酸乙二醋膜所测量。
[0024] 在一实施例中，厚度为100微米的所述粘合剂膜的恢复率是30%到98%，W等式1 所计算：
[002引[等式U
[0026] 恢复率（％ ) = Q-(XfAo)) X 100
[0027] (其中XoW及Xf定义为：当大小是50毫米X约20毫米(长度X宽度)的聚对苯二甲酸 乙二醋(PET)膜(厚度:75微米）中的每一个的两个末端分别定义为第一末端W及第二末端 时，通过经由大小是20毫米X约20毫米(长度X宽度）的粘合剂膜，按第一聚对苯二甲酸乙 二醋膜的第一末端/粘合剂膜(长度X宽度:20毫米X约20毫米)/第二聚对苯二甲酸乙二醋 膜的第二末端的顺序，将两个聚对苯二甲酸乙二醋膜的末端彼此粘结而制备样本。随后，将 夹具分别固定到所述样本的所述聚对苯二甲酸乙二醋膜的未粘结末端。随后，保持一侧的 所述夹具固定，W及W300毫米/分钟的速率将另一侧的所述夹具拉到长度为所述粘合剂膜 厚度(单位:微米)的1,000% (所述粘合剂膜的初始厚度(Xo)的10倍）W及接着维持10秒。当 通过W与拉动速率相同的速率(约300毫米/分钟)恢复所述粘合剂膜而向所述粘合剂膜施 加 0千帕的力时，所述粘合剂膜的增加的长度定义为Xf(单位:微米））。
[0028] 在一实施例中，所述粘合剂膜具有0%的气泡产生区域，当包括堆叠在所述粘合剂 膜的一个表面上的50微米厚的聚对苯二甲酸乙二醋膜W及堆叠在所述粘合剂膜的另一个 表面上的100微米厚的聚对苯二甲酸乙二醋膜的所述粘合剂膜(长度X宽度X厚度:13厘米 X约3厘米X约100微米)朝向所述50微米厚的聚对苯二甲酸乙二醋膜弯曲，使得所述粘合 剂膜的长度减半，继而将所述粘合剂膜放置在间隙为1厘米的平行框架之间，W及接着在70 °C W及93%相对湿度(Relative Humidity ,RH)的条件下经受老化24小时后所测量。
[0029] 在一实施例中，所述粘合剂膜的厚度为10微米到2毫米。
[0030] 根据本发明的另一个方面，显示构件可W包含光学膜和光学膜的一个或两个表面 上如上文所阐述的粘合剂膜。
[0031] 在一实施例中，所述光学膜包括触摸面板、窗口、偏光板、彩色滤光片、延迟膜、楠 圆形偏光膜、反射偏光膜、抗反射膜、补偿膜、亮度改善膜、配向膜、光学扩散膜、防玻璃碎裂 膜、表面保护膜、OLED装置阻挡层、塑料LCD衬底、氧化铜锡（ITO)、氣化氧化锡(FTO)、经侣渗 杂的氧化锋(AZ0)、含碳纳米管(CNT)的膜、含Ag纳米线的膜或含石墨締的膜。
【附图说明】
[0032] 图1是根据本发明的一个实施例的显示构件的截面视图。
[0033] 图2(a)与图2(b)是用于测量T剥离强度的样本的概念图。
[0034] 图3(a)与图3(b)分别绘示用于测量恢复率的样本的截面图和平面图。
【具体实施方式】
[0035] 如本文所用，术语"(甲基)丙締酸醋"可W指丙締酸醋和/或甲基丙締酸醋。
[0036] 如本文所用，术语"共聚物"可W包括寡聚物、聚合物或树脂。
[0037] 如本文所用，术语"共聚单体"是指与含径基的（甲基）丙締酸醋聚合的单体，并且 可W是(但不限于)任何单体，只要所述单体可W与含径基的（甲基)丙締酸醋聚合即可。
[0038] 如本文所用，术语单体的"玻璃化转变溫度"可W指使用DSC Discovery(TA仪器公 司（TA Ins化ument Inc.))在测量目标单体的均聚物上所测量到的玻璃化转变溫度。具体 来说，将测量目标单体的均聚物W20°C/分钟的速率加热到180°C，继而将所述均聚物缓慢 地冷却到-180°C，并且接着W10°C/分钟的速率加热到100°C，从而获得吸热转变曲线的数 据。确定吸热转变曲线的拐点为玻璃化转变溫度。
[0039] 如本文所用，术语"平均粒子直径"是指纳米粒子的Z均粒子直径，如使用 Zetasizer nano-ZS(马尔文有限公司（Malvern Co. ,Ltd.))在水基溶剂或有机溶剂中所测 量。
[0040] 如本文所用，术语"核屯、外壳结构"可W指典型的核屯、外壳结构，包含具有若干层 核屯、或外壳的结构，并且术语"最外层"是指若干层中的最外层。另外，术语"核屯、-外壳粒 子"是指具有核屯、外壳结构的纳米粒子。
[0041] 如本文所用，术语"平均斜度"是指描绘粘合剂膜的溫度相关储能模量分布的图 中-20°C到80°C范围内的平均斜度，其中X轴表示溫度rc)并且y轴表示储能模量(千帕），并 且通过等式2计算。
[00创[等式2]
[0043] 平均斜度=(Mo (80°C) -Mo (-20°C)) /(80-( -20))，
[0044] (其中M〇(80°C)为80°C下的储能模量，并且M〇(-20°C)为-20°C下的储能模量）。
[0045] 如本文所用，术语"T剥离强度"是指通过W下程序i)到V)测量的值。
[0046] i)将粘合剂组合物涂布到聚对苯二甲酸乙二醋(polyethylene tere地thalate; PET)离型膜上，继而在2000毫焦/平方厘米的剂量下进行UV照射，从而制造出粘合剂膜和 PET膜的100微米厚的粘合剂薄片。
[0047] ii)制备PET膜，所述PET膜具有150毫米X约25毫米X约75微米(长度X宽度X厚 度）的大小并且使用电晕处理装置，在78的剂量下，在电晕放电下经受电晕处理两次（总剂 量:156)。
[004引iii)从粘合剂薄片获得大小为100毫米X约25毫米X约100微米(长度X宽度X厚 度）的粘合剂膜300样品，继而将PET膜310的经电晕处理的表面层压到粘合剂膜300样品的 两个表面上，从而制备出样本，如图2(a)中所示。
[0049] iv)样本在3.5己和50°C的条件下高压处理1，000秒并且固定到TA.XT_Plus质构分 析仪(稳定微系统有限公司（Sl:able Micro Systems Co. ,Ltd.))。
[0050] V)在TA.XT_Plus质构分析仪中，保持PET膜310的一侧固定并且W50毫米/分钟的 速率拉动另一侧的PET膜310,从而测量T剥离强度(参见图2(b))。
[0051] 如本文所用，术语"气泡产生区域"是指经由W下程序测量的值（％ ):包含堆叠在 一个表面上的50微米厚的PET膜和堆叠在另一个表面上的100微米厚的PET膜的粘合剂膜 (长度X宽度X厚度：13厘米X约3厘米X约100微米)朝向50微米厚的PET膜弯曲，使得粘合 剂膜的长度减半，并且接着放置在间隙为1厘米的平行框架之间。随后，使粘合剂膜在70°C 和93%RH下经受老化24小时，继而使用Mac-View软件（贸腾有限公司（Mountech Co.， Ltd.))分析经由光学显微镜巧X-51，奥林己斯有限公司(Olympus Co. ,Ltd.))获得的图像， 从而测量被气泡占据的区域与粘合剂膜的区域的比率。
[005^ 本文中/'恢复率'可W经由W下程序测量:当大小为50毫米X约20毫米(长度X宽 度）的各聚对苯二甲酸乙二醋(PET)膜310(厚度:75微米）的两个末端分别被定义为第一末 端和第二末端时，通过经由大小为20毫米X约20毫米(长度X宽度)的粘合剂膜300,按第一 PET膜310的第一末端/粘合剂膜300/第二PET膜310的第二末端的顺序，将两个PET膜310的 末端彼此粘结来制备样本，并且所述样本具有介于PET膜310中的每一个与粘合剂膜300之 间的20毫米X约20毫米(长度X宽度）的接触区域(粘合剂膜粘合部分302)(参见图3(a)和 图3(b))。参看图3(a)，在室溫（25°C)下，将夹具分别固定到样本的PET膜310的未粘结末端 (夹具固定部分312)。随后，保持一侧的夹具固定，并且W300毫米/分钟的速率将另一侧的 夹具拉到长度为粘合剂膜300厚度(单位:微米)的1,000% (粘合剂膜300的初始厚度(Xo)的 10倍)并且接着维持10秒。随后，当通过W与拉动速率相同的速率(约3