光敏器件自检电路、自检方法、自检系统和空调器的制造方法
【专利摘要】本发明提供了一种光敏器件自检电路，包括：光敏传感器；光源，设置于所述光敏传感器的感光范围内，用于在所述光敏传感器的自检过程中向所述光敏传感器提供检测光源；微处理器，连接至所述光源，用于通过控制所述光源开启以实现所述光敏器件的自检过程。本发明还提供了一种光敏器件自检方法、一种光敏器件自检系统和一种空调器。通过本发明的技术方案，实现了光敏器件的自检过程，以便捷地判断光敏器件是否有效工作，另外，对光敏器件的可靠性进行及时地判断，进而使得微处理器可以准确地获取光敏器件的测试信号以进行对功能模块的准确控制。
【专利说明】光敏器件自检电路、自检方法、自检系统和空调器
【技术领域】
[0001]本发明涉及光敏器件领域，具体而言，涉及一种光敏器件自检电路、一种光敏器件自检方法、一种光敏器件自检系统和一种空调器
【背景技术】
[0002]在相关技术中，光敏传感器因其测试原理简单、制作成本低信号兼容度高等优点被广泛地应用于家电设备、终端设备、环境检测技术和能源再生利用技术等领域，其中，光敏传感器应用于家电设备中，主要是对于环境光进行检测后，将检测结果发送至微处理器后，通过微处理器对检测结果的处理结果对功能电路的智能控制过程。
[0003]但是，相关技术中并未对光敏传感器的工作状况进行测试，这就导致了诸多降低设备可靠性的问题，诸如，在光敏传感器失效时，默认环境光的亮度较低，而控制设备长时间处于亮度较低的工作模式，设备容易发生故障以及违背了其智能化设计的初衷。
[0004]因此，如何设计光敏器件自检电路及自检方案以实现对光敏传感器的及时检测成为亟待解决的技术问题。
【发明内容】
[0005]本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0006]为此，本发明的一个目的在于提出了一种能够及时检测光敏传感器的有效性的光敏器件自检电路。
[0007]本发明的另一个目的在于提出了一种光敏器件自检方法。
[0008]本发明的又一个目的在于提出了一种光敏器件自检系统。
[0009]本发明的再一个目的在于提出了一种空调器。
[0010]为实现上述目的，根据本发明的第一方面的实施例，提出了一种光敏器件自检电路，包括:光敏传感器；光源，设置于所述光敏传感器的感光范围内，用于在所述光敏传感器的自检过程中向所述光敏传感器提供检测光源；微处理器，连接至所述光源，用于通过控制所述光源开启以实现所述光敏器件的自检过程。
[0011 ] 根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过在光敏器件中设置光源以向光敏传感器提供检测光源，实现了光敏器件的自检过程，以便捷地判断光敏器件是否有效工作，另夕卜，对光敏器件的可靠性进行及时地判断，进而使得微处理器可以准确地获取光敏器件的测试信号以进行对功能模块的准确控制。
[0012]根据本发明的一个实施例，所述微处理器连接至所述光敏传感器，用于获取所述光敏传感器的信号。
[0013]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过将微处理器连接至光敏传感器，简便地对光敏传感器的输出信号进行处理，并且根据上述输出信号对功能电路进行相应的控制过程。
[0014]根据本发明的一个实施例，包括:计时器，连接至所述微处理器，用于将未检测到所述信号的空闲时间发送至所述微处理器。
[0015]根据本发明的一个实施例，所述微处理器在判断所述空闲时间大于或等于预设空闲时间时，开启所述光源。
[0016]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过计时器将未检测到信号的空闲时间发送至微处理器，避免了光敏传感器失效造成的微处理器的误控制，具体地，在判定空闲时间大于或等于预设空闲时间时，一方面，可能是由于环境光线较差，诸如夜间环境，另一方面，可能是光敏传感器发生故障，因此，需要对环境光线较差和光敏传感器的故障的情况进行区分，在光敏传感器持续输出低电平信号时，开启所述光源对光敏传感器的性能进行检测。
[0017]根据本发明的一个实施例，包括:电源；第一开关器件，连接至所述光源和所述电源之间，所述第一开关器件还连接至所述微处理器，所述微处理器通过控制所述第一开关器件导通以控制所述光源开启。
[0018]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过设置电源，及连接在电源和光源之间的第一开关器件，并将将第一开关器件连接至微处理器，实现了对光源的便捷控制过程，具体地，通过微处理器控制第一开关器件的开启和闭合状态，可以间接地控制光源的开启和闭合状态，也即对自检过程的开始和结束进行了便捷地控制。
[0019]根据本发明的一个实施例，所述光源包括LED 二极管和/或红外辐射源。
[0020]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过设置光源包括LED 二极管和/或红外辐射源，实现了光敏器件的便捷测试，同时降低了测试过程的成本，以及提高了测试过程的准确性，同时，由于LED 二极管和/或红外辐射源的低成本和低功耗特性，有效降低了自检过程的成本和功耗。
[0021]根据本发明的一个实施例，所述光源为所述红外辐射源时，包括:调制模块，连接至所述红外辐射源，用于在所述红外辐射源开启时，对所述红外辐射源进行调制。
[0022]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，在采用红外辐射源作为光源时，通过增加调制模块，克服了红外辐射源造成的温度持续升高的问题，通过调制模块设置红外辐射源的输出功率，以实现光敏传感器的稳定的自检过程，防止温度升高超过光敏传感器阈值而造成的器件损坏问题，另外，通过更改调制频率，可以有效获取光敏传感器的频率响应，更进一步的验证光敏传感器的有效性。
[0023]具体地，采用红外辐射源作为光源进行检测，主要是针对最大吸收波峰处于红外波长范围的光敏传感器，采用红外辐射源对上述光敏传感器进行检测时，可以最快获得光敏传感器的最佳响应值，这种自检过程也最为准确可靠。
[0024]根据本发明的一个实施例，所述微处理器用于在所述自检过程中，将未检测到检测信号的检测时间发送至所述微处理器。
[0025]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过将未检测到检测信号的检测时间发送至微处理器，准确的获知了光敏传感器的信号响应时间，并且通过检测时间准确地判断光敏传感器是否有效工作，以实现对设备的功能电路的准确控制，另外，计时器在自检过程结束后，会进行检测时间的清零，以减小计时器的内存和运算量，提高了检测效率和准确率。
[0026]根据本发明的一个实施例，所述微处理器连接至功能电路，所述微处理器根据所述自检过程的检测结果控制功能电路的工作状态。
[0027]根据本发明的一个实施例，还包括:第二开关器件，连接在所述功能电路和所述微处理器之间，用于根据所述微处理器的触发指令控制所述功能电路开始工作，以及用于根据所述微处理器的关闭指令控制所述功能电路停止工作。
[0028]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过在功能电路和微处理器之间设置第二开关器件，实现了对功能电路的快速控制，具体地，第二开关器件和第一开关器件均可以采用低功耗的MOS、NPN型三极管或PNP型三极管，成本低且相应速率快。
[0029]根据本发明的第二方面，还提出了一种光敏器件自检方法，适用于如上述任一项技术方案所述的光敏器件自检电路，包括:控制所述微处理器开启所述光源；在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器控制所述功能电路停止工作。
[0030]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过开启光源对光敏传感器进行检测，检测的方式包括实时检测(例如，在指定时间段内采用小功率光源进行自检)或定时检测，或者采用非周期性的检测，通过增设光源，可以便捷地、灵活地对光敏传感器的可靠性进行检测，具体地，光敏传感器在光线较差或者失效的情况下，会保持低电平状态，微处理器长时间未检测到高电平信号时，有必要对光线较差和失效这两种情况进行区分，此时，通过开启光源检测光敏传感器是否正常工作，即快速验证了光敏传感器的可靠性，以实现了对功能电路的准确控制，保证了系统运行的可靠性。
[0031]根据本发明的一个实施例，控制所述微处理器开启所述光源，包括以下具体步骤:在所述光敏传感器未产生所述信号的所述空闲时间大于或等于第二预定时间时，预设所述光源的工作曲线；根据所述工作曲线控制所述光源进行工作以实现所述光敏传感器的自检过程。
[0032]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过预设工作曲线控制光源的工作状态，实现了自检过程的智能化，具体地，可以采用恒定功率控制光源进行工作，或者采用周期性的检测，以多次检测来保证自检过程的可靠性，进而确保光敏传感器的有效性。
[0033]根据本发明的一个实施例，在所述光源为所述LED光源时，预设所述LED光源的第一工作曲线，所述第一工作曲线用于通过所述第一开关器件控制所述电源在第一预定时间内保持固定发光功率。
[0034]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过设置LED光源的第一工作曲线，保证了 LED光源的工作可靠性，以确保测试信号平稳有效，进而保证了自检过程的可靠性和准确性。
[0035]根据本发明的一个实施例，在所述光源为所述红外辐射源时，预设所述红外辐射源的第二工作曲线，所述第二工作曲线用于通过所述调制模块和所述第一开关器件控制对所述红外辐射源进行调制。
[0036]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过设置第二工作曲线对红外辐射源进行调制，克服了红外辐射源造成的温度持续升高的问题，通过调制模块设置红外辐射源的输出功率，以实现光敏传感器的稳定的自检过程，防止温度升高超过光敏传感器阈值而造成的器件损坏问题，另外，通过更改调制频率，可以有效获取光敏传感器的频率响应，更进一步的验证光敏传感器的有效性。
[0037]具体地，采用红外辐射源作为光源进行检测，主要是针对最大吸收波峰处于红外波长范围的光敏传感器，采用红外辐射源对上述光敏传感器进行检测时，可以最快获得光敏传感器的最佳响应值，这种自检过程也最为准确可靠。
[0038]根据本发明的一个实施例，在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器关闭所述功能电路，包括以下具体步骤:在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器通过所述第二开关器件控制所述功能电路停止工作。
[0039]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过在检测时间大于或等于第一预定时间时，控制功能电路停止工作，保证了在光敏传感器失效的情况下，不会误触发功能电路，以保证系统运行的可靠性。
[0040]根据本发明第三方面，还提出了一种光敏器件自检系统，适用于如上述任一项技术方案所述的光敏器件自检电路，包括:控制单元，用于控制所述微处理器开启所述光源；以及用于在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器控制所述功能电路停止工作。
[0041]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过开启光源对光敏传感器进行检测，检测的方式包括实时检测(例如，在指定时间段内采用小功率光源进行自检)或定时检测，或者采用非周期性的检测，通过增设光源，可以便捷地、灵活地对光敏传感器的可靠性进行检测，具体地，光敏传感器在光线较差或者失效的情况下，会保持低电平状态，微处理器长时间未检测到高电平信号时，有必要对光线较差和失效这两种情况进行区分，此时，通过开启光源检测光敏传感器是否正常工作，即快速验证了光敏传感器的可靠性，以实现了对功能电路的准确控制，保证了系统运行的可靠性。
[0042]根据本发明的一个实施例，所述控制单元还用于，在所述光敏传感器未产生所述信号的所述空闲时间大于或等于第二预定时间时，预设所述光源的工作曲线；以及用于根据所述工作曲线控制所述光源进行工作以实现所述光敏传感器的自检过程。
[0043]根据本发明实施例的光敏器件自检系统，通过预设工作曲线控制光源的工作状态，实现了自检过程的智能化，具体地，可以采用恒定功率控制光源进行工作，或者采用周期性的检测，以多次检测来保证自检过程的可靠性，进而确保光敏传感器的有效性。
[0044]根据本发明的一个实施例，在所述光源为所述LED光源时，预设LED光源的第一工作曲线，所述第一工作曲线用于通过所述第一开关器件控制所述电源在第一预定时间内保持固定发光功率。
[0045]根据本发明实施例的光敏器件自检系统，通过设置LED光源的第一工作曲线，保证了 LED光源的工作可靠性，以确保测试信号平稳有效，进而保证了自检过程的可靠性和准确性。
[0046]根据本发明的一个实施例，在所述光源为所述红外辐射源时，预设所述红外辐射源时的第二工作曲线，所述第二工作曲线用于通过所述调制模块和所述第一开关器件控制对所述红外辐射源进行调制。
[0047]根据本发明实施例的光敏器件自检系统，通过设置第二工作曲线对红外辐射源进行调制，克服了红外辐射源造成的温度持续升高的问题，通过调制模块设置红外辐射源的输出功率，以实现光敏传感器的稳定的自检过程，防止温度升高超过光敏传感器阈值而造成的器件损坏问题，另外，通过更改调制频率，可以有效获取光敏传感器的频率响应，更进一步的验证光敏传感器的有效性。
[0048]具体地，采用红外辐射源作为光源进行检测，主要是针对最大吸收波峰处于红外波长范围的光敏传感器，采用红外辐射源对上述光敏传感器进行检测时，可以最快获得光敏传感器的最佳响应值，这种自检过程也最为准确可靠。
[0049]根据本发明的一个实施例，所述控制单元还用于，在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器通过所述第二开关器件关闭所述功能电路。
[0050]根据本发明实施例的光敏器件自检系统，通过在检测时间大于或等于第一预定时间时，控制功能电路停止工作，保证了在光敏传感器失效的情况下，不会误触发功能电路，以保证系统运行的可靠性。
[0051]根据本发明的第四方面，还提出了一种空调器，包括:如上述任一项技术方案所述的光敏自检电路或如上述任一项技术方案所述的光敏器件自检系统。
[0052]本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
【专利附图】
【附图说明】
[0053]本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中:
[0054]图1示出了根据本发明的一个实施例的光敏器件自检电路的结构示意图；
[0055]图2示出了根据本发明的另一个实施例的光敏器件自检电路的结构示意图；
[0056]图3示出了根据本发明的再一个实施例的光敏器件自检电路的结构示意图；
[0057]图4示出了根据本发明的一个实施例的光敏器件自检方法的示意流程图；
[0058]图5示出了根据本发明的一个实施例的光敏器件自检方法的示意流程图；
[0059]图6示出了根据本发明的一个实施例的光敏器件自检系统的示意框图；
[0060]图7示出了根据本发明的实施例的光源的固定发光功率时的工作曲线；
[0061]图8示出了根据本发明的实施例的红外辐射源的调制频率后的工作曲线。
【具体实施方式】
[0062]为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和【具体实施方式】对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0063]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
[0064]如图1至图3所示，根据本发明的实施例的光敏器件自检电路包括多种实施方式。
[0065]实施例一
[0066]如图1所示，根据本发明的实施例的光敏器件自检电路100，包括:光敏传感器101 ;光源102，设置于所述光敏传感器101的感光范围内，用于在所述光敏传感器101的自检过程中向所述光敏传感器101提供检测光源102 ;微处理器103，连接至所述光源102，用于通过控制所述光源102开启以实现所述光敏器件的自检过程。
[0067]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过在光敏器件中设置光源102以向光敏传感器101提供检测光源102，实现了光敏器件的自检过程，以便捷地判断光敏器件是否有效工作，另外，对光敏器件的可靠性进行及时地判断，进而使得微处理器103可以准确地获取光敏器件的测试信号以进行对功能模块的准确控制。
[0068]根据本发明的一个实施例，所述微处理器103连接至所述光敏传感器101，用于获取所述光敏传感器101的信号。
[0069]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过将微处理器103连接至光敏传感器101，简便地对光敏传感器101的输出信号进行处理，并且根据上述输出信号对功能电路109进行相应的控制过程。
[0070]根据本发明的一个实施例，包括:计时器104，连接至所述微处理器103，用于将未检测到所述信号的空闲时间发送至所述微处理器103。
[0071]根据本发明的一个实施例，所述微处理器103在判断所述空闲时间大于或等于预设空闲时间时，开启所述光源102。
[0072]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过计时器104将未检测到信号的空闲时间发送至微处理器103，避免了光敏传感器101失效造成的微处理器103的误控制，具体地，在判定空闲时间大于或等于预设空闲时间时，一方面，可能是由于环境光线较差，诸如夜间环境，另一方面，可能是光敏传感器101发生故障，因此，需要对环境光线较差和光敏传感器101的故障的情况进行区分，在光敏传感器101持续输出低电平信号时，开启所述光源102对光敏传感器101的性能进行检测。
[0073]根据本发明的一个实施例，包括:电源105 ;第一开关器件106，连接至所述光源102和所述电源105之间，所述第一开关器件106还连接至所述微处理器103，所述微处理器103通过控制所述第一开关器件106导通以控制所述光源102开启。
[0074]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过设置电源105，及连接在电源105和光源102之间的第一开关器件106，并将将第一开关器件106连接至微处理器103，实现了对光源102的便捷控制过程，具体地，通过微处理器103控制第一开关器件106的开启和闭合状态，可以间接地控制光源102的开启和闭合状态，也即对自检过程的开始和结束进行了便捷地控制。
[0075]根据本发明的一个实施例，所述光源102包括LED 二极管和/或红外辐射源。
[0076]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过设置光源102包括LED 二极管和/或红外辐射源，实现了光敏器件的便捷测试，同时降低了测试过程的成本，以及提高了测试过程的准确性，同时，由于LED 二极管和/或红外辐射源的低成本和低功耗特性，有效降低了自检过程的成本和功耗。
[0077]根据本发明的一个实施例，所述光源102为所述红外辐射源时，包括:调制模块107，连接至所述红外辐射源，用于在所述红外辐射源开启时，对所述红外辐射源进行调制。
[0078]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，在采用红外辐射源作为光源102时，通过增加调制模块107，克服了红外辐射源造成的温度持续升高的问题，通过调制模块107设置红外辐射源的输出功率，以实现光敏传感器101的稳定的自检过程，防止温度升高超过光敏传感器101阈值而造成的器件损坏问题，另外，通过更改调制频率，如图8所示，可以有效获取光敏传感器101的频率响应，更进一步的验证光敏传感器101的有效性。
[0079]具体地，采用红外辐射源作为光源102进行检测，主要是针对最大吸收波峰处于红外波长范围的光敏传感器101，采用红外辐射源对上述光敏传感器101进行检测时，可以最快获得光敏传感器101的最佳响应值，这种自检过程也最为准确可靠。
[0080]根据本发明的一个实施例，所述微处理器103用于在所述自检过程中，将未检测到检测信号的检测时间发送至所述微处理器103。
[0081]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过将未检测到检测信号的检测时间发送至微处理器103，准确的获知了光敏传感器101的信号响应时间，并且通过检测时间准确地判断光敏传感器101是否有效工作，以实现对设备的功能电路109的准确控制，另外，计时器104在自检过程结束后，会进行检测时间的清零，以减小计时器104的内存和运算量，提高了检测效率和准确率。
[0082]根据本发明的一个实施例，所述微处理器103连接至功能电路109，所述微处理器103根据所述自检过程的检测结果控制功能电路109的工作状态。
[0083]根据本发明的一个实施例，还包括:第二开关器件108，连接在所述功能电路109和所述微处理器103之间，用于根据所述微处理器103的触发指令控制所述功能电路109开始工作，以及用于根据所述微处理器103的关闭指令控制所述功能电路109停止工作。
[0084]根据本发明实施例的光敏器件自检电路，通过在功能电路109和微处理器103之间设置第二开关器件108，实现了对功能电路109的快速控制，具体地，第二开关器件108和第一开关器件106均可以采用低功耗的MOS、NPN型三极管或PNP型三极管，成本低且相应速率快。
[0085]实施例二
[0086]如图2所示，根据本发明的实施例的光敏器件自检电路，包括:在PCB基板201上固定光源102和光敏传感器101，在开启光源102后，光线经过面板202反射至光敏传感器101，其中，为了减少光源工作过程中的损耗，可以在面板202的反射区域设置增反涂层，具体地，针对光源的波段进行增反处理，而并不影响光敏传感器101对面板202外侧的环境光的感测，另外，为了增强光敏传感器101的感光特性，将光敏传感器101的裙边加高，或者增高光敏传感器101的固定座的高度。
[0087]实施例三
[0088]如图3所示，根据本发明的实施例的光敏器件自检电路，包括:以微处理器103为核心部件，通过第一开关器件106控制光源102的开启和闭合，第一开关器件的另一侧连接至电阻R2和电源105，其中，电源105还用于对第二开关器件108和光敏传感器101提供工作电压，第二开关器件108用于根据微处理器103的指令控制功能电路109的工作状态，其中，Rl和R3用于对光敏传感器101的输出电压进行分压处理，并将分压处理后的电压发送至微处理器进行运算和控制。
[0089]如图4至图5所示，根据本发明的实施例的光敏器件自检方法包括多种实施方式。
[0090]实施例一
[0091]如图4所示，根据本发明的实施例的光敏器件自检方法，适用于上述任一项技术方案所述的光敏器件自检电路，包括:控制所述微处理器开启所述光源；在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器控制所述功能电路停止工作。
[0092]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过开启光源对光敏传感器进行检测，检测的方式包括实时检测(例如，在指定时间段内采用小功率光源进行自检)或定时检测，或者采用非周期性的检测，通过增设光源，可以便捷地、灵活地对光敏传感器的可靠性进行检测，具体地，光敏传感器在光线较差或者失效的情况下，会保持低电平状态，微处理器长时间未检测到高电平信号时，有必要对光线较差和失效这两种情况进行区分，此时，通过开启光源检测光敏传感器是否正常工作，即快速验证了光敏传感器的可靠性，以实现了对功能电路的准确控制，保证了系统运行的可靠性。
[0093]根据本发明的一个实施例，控制所述微处理器开启所述光源，包括以下具体步骤:在所述光敏传感器未产生所述信号的所述空闲时间大于或等于第二预定时间时，预设所述光源的工作曲线；根据所述工作曲线控制所述光源进行工作以实现所述光敏传感器的自检过程。
[0094]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过预设工作曲线控制光源的工作状态，实现了自检过程的智能化，具体地，可以采用恒定功率控制光源进行工作，或者采用周期性的检测，以多次检测来保证自检过程的可靠性，进而确保光敏传感器的有效性。
[0095]根据本发明的一个实施例，在所述光源为所述LED光源时，预设所述LED光源的第一工作曲线，所述第一工作曲线用于通过所述第一开关器件控制所述电源在第一预定时间内保持固定发光功率，如图7所示。
[0096]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过设置LED光源的第一工作曲线，保证了 LED光源的工作可靠性，以确保测试信号平稳有效，进而保证了自检过程的可靠性和准确性。
[0097]根据本发明的一个实施例，在所述光源为所述红外辐射源时，预设所述红外辐射源的第二工作曲线，所述第二工作曲线用于通过所述调制模块和所述第一开关器件控制对所述红外辐射源进行调制。
[0098]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过设置第二工作曲线对红外辐射源进行调制，克服了红外辐射源造成的温度持续升高的问题，通过调制模块设置红外辐射源的输出功率，以实现光敏传感器的稳定的自检过程，防止温度升高超过光敏传感器阈值而造成的器件损坏问题，另外，通过更改调制频率，如图8所示，可以有效获取光敏传感器的频率响应，更进一步的验证光敏传感器的有效性。
[0099]具体地，采用红外辐射源作为光源进行检测，主要是针对最大吸收波峰处于红外波长范围的光敏传感器，采用红外辐射源对上述光敏传感器进行检测时，可以最快获得光敏传感器的最佳响应值，这种自检过程也最为准确可靠。
[0100]根据本发明的一个实施例，在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器关闭所述功能电路，包括以下具体步骤:在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器通过所述第二开关器件控制所述功能电路停止工作。
[0101]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过在检测时间大于或等于第一预定时间时，控制功能电路停止工作，保证了在光敏传感器失效的情况下，不会误触发功能电路，以保证系统运行的可靠性。
[0102]实施例二
[0103]如图5所示，根据本发明的实施例的光敏器件自检方法，包括:步骤502，上电工作；步骤504，检测光敏传感器输出电压为零；步骤506，开始计时；步骤508，判断电压为零的持续时间是否大于预设时间Ts，若是，则执行步骤512，若否，则执行步骤510 ;步骤510，计时器104清零；步骤512，暂停功能电路；步骤514，持续闭合第一开关器件Tl时间；步骤516，判断Tl时间内，光敏传感器是否有输出信号，若是，则执行步骤520，若否，则执行步骤518 ;步骤518，关闭功能电路；步骤520，开启功能电路，等待微处理器触发指令后进彳丁工作。
[0104]图6出了根据本发明的一个实施例的光敏器件自检系统的示意框图。
[0105]如图6所示，根据本发明的一个实施例的光敏器件自检系统600，适用于如上述任一项技术方案所述的光敏器件自检电路，包括:控制单元602，用于控制所述微处理器开启所述光源；以及用于在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器控制所述功能电路停止工作。
[0106]根据本发明实施例的光敏器件自检方法，通过开启光源对光敏传感器进行检测，检测的方式包括实时检测(例如，在指定时间段内采用小功率光源进行自检)或定时检测，或者采用非周期性的检测，通过增设光源，可以便捷地、灵活地对光敏传感器的可靠性进行检测，具体地，光敏传感器在光线较差或者失效的情况下，会保持低电平状态，微处理器长时间未检测到高电平信号时，有必要对光线较差和失效这两种情况进行区分，此时，通过开启光源检测光敏传感器是否正常工作，即快速验证了光敏传感器的可靠性，以实现了对功能电路的准确控制，保证了系统运行的可靠性。
[0107]根据本发明的一个实施例，所述控制单元602还用于，在所述光敏传感器未产生所述信号的所述空闲时间大于或等于第二预定时间时，预设所述光源的工作曲线；以及用于根据所述工作曲线控制所述光源进行工作以实现所述光敏传感器的自检过程。
[0108]根据本发明实施例的光敏器件自检系统，通过预设工作曲线控制光源的工作状态，实现了自检过程的智能化，具体地，可以采用恒定功率控制光源进行工作，或者采用周期性的检测，以多次检测来保证自检过程的可靠性，进而确保光敏传感器的有效性。
[0109]根据本发明的一个实施例，在所述光源为所述LED光源时，预设LED光源的第一工作曲线，所述第一工作曲线用于通过所述第一开关器件控制所述电源在第一预定时间内保持固定发光功率，如图7所示。
[0110]根据本发明实施例的光敏器件自检系统，通过设置LED光源的第一工作曲线，保证了 LED光源的工作可靠性，以确保测试信号平稳有效，进而保证了自检过程的可靠性和准确性。
[0111]根据本发明的一个实施例，在所述光源为所述红外辐射源时，预设所述红外辐射源时的第二工作曲线，所述第二工作曲线用于通过所述调制模块和所述第一开关器件控制对所述红外辐射源进行调制。
[0112]根据本发明实施例的光敏器件自检系统，通过设置第二工作曲线对红外辐射源进行调制，克服了红外辐射源造成的温度持续升高的问题，通过调制模块设置红外辐射源的输出功率，以实现光敏传感器的稳定的自检过程，防止温度升高超过光敏传感器阈值而造成的器件损坏问题，另外，通过更改调制频率，如图8所示，可以有效获取光敏传感器的频率响应，更进一步的验证光敏传感器的有效性。
[0113]具体地，采用红外辐射源作为光源进行检测，主要是针对最大吸收波峰处于红外波长范围的光敏传感器，采用红外辐射源对上述光敏传感器进行检测时，可以最快获得光敏传感器的最佳响应值，这种自检过程也最为准确可靠。
[0114]根据本发明的一个实施例，所述控制单元602还用于，在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器通过所述第二开关器件关闭所述功能电路。
[0115]根据本发明实施例的光敏器件自检系统，通过在检测时间大于或等于第一预定时间时，控制功能电路停止工作，保证了在光敏传感器失效的情况下，不会误触发功能电路，以保证系统运行的可靠性。
[0116]以上结合附图详细说明了本发明的技术方案，考虑到相关技术中提出如何设计光敏器件自检电路及自检方案以实现对光敏传感器的及时检测的技术问题，本发明提出了一种光敏器件自检电路、一种光敏自检自检方法、一种光敏器件自检系统和一种空调器，通过在光敏器件中设置光源以向光敏传感器提供检测光源，实现了光敏器件的自检过程，以便捷地判断光敏器件是否有效工作，另外，对光敏器件的可靠性进行及时地判断，进而使得微处理器可以准确地获取光敏器件的测试信号以进行对功能模块的准确控制。
[0117]以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种光敏器件自检电路，其特征在于，包括: 光敏传感器； 光源，设置于所述光敏传感器的感光范围内，用于在所述光敏传感器的自检过程中向所述光敏传感器提供检测光源； 微处理器，连接至所述光源，用于通过控制所述光源开启以实现所述光敏器件的自检过程，所述微处理器连接至所述光敏传感器，用于获取所述光敏传感器的信号。
2.根据权利要求1所述的光敏器件自检电路，其特征在于，包括: 计时器，连接至所述微处理器，用于将未检测到所述信号的空闲时间发送至所述微处理器，所述微处理器在判断所述空闲时间大于或等于预设空闲时间时，开启所述光源； 电源； 第一开关器件，连接至所述光源和所述电源之间，所述第一开关器件还连接至所述微处理器，所述微处理器通过控制所述第一开关器件导通以控制所述光源开启。
3.根据权利要求2所述的光敏器件自检电路，其特征在于，所述光源包括LED二极管和/或红外辐射源。
4.根据权利要求3所述的光敏器件自检电路，其特征在于，所述光源为所述红外辐射源时，包括: 调制模块，连接至所述红外辐射源和所述微处理器，用于在所述红外辐射源开启时，根据所述微处理器的预定调制频率对所述红外辐射源进行调制。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的光敏器件自检电路，其特征在于，所述微处理器用于在所述自检过程中，将未检测到检测信号的检测时间发送至所述微处理器。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的光敏器件自检电路，其特征在于，所述微处理器连接至功能电路，所述微处理器根据所述自检过程的检测结果控制功能电路的工作状态。
7.根据权利要求6所述的光敏器件自检电路，其特征在于，还包括: 第二开关器件，连接在所述功能电路和所述微处理器之间，用于根据所述微处理器的触发指令控制所述功能电路开始工作，以及用于根据所述微处理器的关闭指令控制所述功能电路停止工作。
8.一种光敏器件自检方法，适用于如权利要求1至7中任一项所述的光敏器件自检电路，其特征在于，包括: 控制所述微处理器开启所述光源； 在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器控制所述功能电路停止工作。
9.根据权利要求8所述的光敏器件自检方法，其特征在于，控制所述微处理器开启所述光源，包括以下具体步骤: 在所述光敏传感器未产生所述信号的所述空闲时间大于或等于第二预定时间时，预设所述光源的工作曲线； 根据所述工作曲线控制所述光源进行工作以实现所述光敏传感器的自检过程。
10.一种光敏器件自检系统，适用于如权利要求1至7中任一项所述的光敏器件自检电路，其特征在于，包括: 控制单元，用于控制所述微处理器开启所述光源；以及 用于在所述光敏传感器未产生所述检测信号的所述检测时间大于或等于第一预定时间时，则控制所述微处理器控制所述功能电路停止工作。
11.根据权利要求10所述的光敏器件自检系统，其特征在于，所述控制单元还用于，在所述光敏传感器未产生所述信号的所述空闲时间大于或等于第二预定时间时，预设所述光源的工作曲线；以及 用于根据所述工作曲线控制所述光源进行工作以实现所述光敏传感器的自检过程。
12.—种空调器，其特征在于，包括:如权利要求1至7中任一项所述的光敏自检电路或如权利要求10或11所述的光敏器件自检系统。
【文档编号】F24F11/02GK104501851SQ201410743116
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月5日 优先权日:2014年12月5日
【发明者】邹晓亚, 郭新生 申请人:广东美的制冷设备有限公司