一种滤棒二维扫描剔除装置的制作方法

本实用新型涉及一种滤棒二维扫描剔除装置。

背景技术：

目前，针对滤棒中的爆珠检测方法主要有微波测定法，LED光源结合工业相机检测，微波检测通过检测密度的方法判定内部爆珠的有无，LED光源结合工业相机的方法则通过在滤棒的一侧设置LED光源，在另一侧通过工业相机成像然后由计算机分析处理来判断爆珠的有无，微波检测方法不能用于在线检测，而且检测存在诸多的漏检，另外如果爆珠存在破损或漏液现象微波检测法也难以检测的到，LED光源结合工业相机的方法速度上虽能满足要求，但是误判比较多，并且爆珠颜色的变化很大程度的影响检测的准确性，同样对有漏液的爆珠无法得到有效的检测。

技术实现要素：

为了克服现有滤棒爆珠检测法不能实现在线检测、漏检、误判率高以及不能对漏液爆珠有效检测的问题，本实用新型提供一种滤棒二维扫描剔除装置，该装置不仅能适应生产线的在线检测，而且对于破损，漏液爆珠滤棒能实现精准的检测，并不合格的滤棒进行剔除回收，整个安装方便，操作简单。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种滤棒二维扫描剔除装置，包括一个机体，机体上方安装有射线成像腔体，射线成像腔体与机体通过螺栓连接，机体上方靠近射线成像腔体的位置安装有射线图像数据采集机构，射线图像数据采集机构与机体通过螺栓连接，射线成像腔体下方安装有直角拐弯机构，直角拐弯机构与机体通过螺栓连接，直接拐弯机构上安装有传感器，传感器与直角拐弯机构通过卡槽连接，射线成像腔体与直角拐弯机构通过输送管道连接，机体下方靠近直角拐弯机构的位置安装有图像识别动作机构，图像识别动作机构与机体通过螺栓连接，图像识别动作机构与直角拐弯机构通过输送管道连接，机体下方设置有回收出口。

所述射线成像腔体包括射线发射源、防护铅块壳体、成像板。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本装置在线透视检测出不合格爆珠滤棒的同时，并且爆珠材质、颜色的改变不影响检测的准确性，极大的降低了对被检测滤棒的误判。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为图1中射线成像腔体结构示意图；

图中：1、机体，2输送管道，3射线成像腔体，31射线发射源，32防护铅块壳体，33成像板，4射线图像数据采集机构，5直角拐弯机构，6传感器，7图像识别动作机构，8不合格滤棒，10合格滤棒，11回收出口。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，2所示的一种滤棒二维扫描剔除装置，包括一个机体1，机体1上方安装有射线成像腔体3，射线成像腔体3与机体1通过螺栓连接，机体1上方靠近射线成像腔体3的位置安装有射线图像数据采集机构4，射线图像数据采集机构4与机体1通过螺栓连接，射线成像腔体3下方安装有直角拐弯机构5，直角拐弯机构5与机体1通过螺栓连接，直接拐弯机构5上安装有传感器6，传感器6与直角拐弯机构5通过卡槽连接，射线成像腔体3与直角拐弯机构5通过输送管道2连接，机体1下方靠近直角拐弯机构5的位置安装有图像识别动作机构7，图像识别动作机构7与机体1通过螺栓连接，图像识别动作机构7与直角拐弯机构5通过输送管道2连接，机体1下方设置有回收出口11。

所述射线成像腔体3包括射线发射源31、防护铅块壳体32、成像板33。

使用时,被检测滤棒由输送管道2输送的过程中，先经过射线成像腔体3进行二维透视扫描，射线图像数据采集机构4对射线成像腔体3的透视图像数据进行采集并处理，处理好的数据传输给图像识别动作机构7，图像动作识别动作机构7对图像进行分析处理，如果被检测滤棒不合格，则监测传感器6的状态并进行计数，当计数到要剔除的滤棒时，图像识别动作机构7发出动作对不合格滤棒8进行剔除，然后由回收出口11对不合格滤棒8进行回收处理，如果被检测滤棒是合格的，图像识别动作机构7不动作，合格滤棒10由输送管道2直接输送给下一道工序。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。