一种芯片加工筛选装置的制作方法

本发明涉及芯片筛选技术领域，具体为一种芯片加工筛选装置。

背景技术：

芯片筛选装置对于生产过程中芯片筛选是必不可少的设备，而现存的芯片筛选装置一般通过电流检测，而日常设备的电流检测往往对芯片的筛选过程过于广泛，不能准确的进行筛选。所以现设计一款可以改变电路的电阻，从而对芯片进行多种电流的筛选，以提高筛选的准确性。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种芯片加工筛选装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片加工筛选装置，包括步进电机，所述步进电机的上方通过转轴转动连接有传送带，所述传送带的上方设置有检测通道和分离装置，所述分离装置设置在检测通道的一侧，所述分离装置的上方设置有支架板，所述支架板的内腔上壁设置有移动滑轨，所述移动滑轨的内部通过滑轮与滑轨滑动连接有移动柄，所述移动柄固定连接在分离装置的上方，所述检测通道的内腔上壁设置有主控制单元，所述主控制单元的下方电性连接有检测模块,所述检测模块的下方电性连接有脉冲电路板，所述脉冲电路板的下方电性连接有滑动变阻器，所述滑动变阻器的下方电性连接有第一电流测试针、第二电流测试针和第三电流测试针，所述第一电流测试针、第二电流测试针和第三电流测试针的下方设置有数据接收器，所述数据接收器的下方电性连接有ad转换器，所述ad转换器电性连接有控制装置，所述控制装置电性连接有分离装置。

优选的，所述传送带的上表面均匀间隔设置有芯片座，所述芯片座设置有若干个。

优选的，所述分离装置的两侧设置有废料箱和可用芯片箱。

优选的，所述滑动变阻器的电阻控制在10欧至15欧姆之间。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该芯片筛选装置能够对芯片进行不同程度的电流测试，从而提高筛选的准确性，降低了筛选过程中的错误率。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明废料箱和可用芯片箱结构示意图；

图3为本发明移动滑轨结构示意图；

图4为本发明检测通道结构示意图；

图5为本发明工作原理结构示意图。

图中：1移动柄、2分离装置、3检测通道、4芯片座、5传送带、6步进电机、7支架板、8废料箱、9可用芯片箱、10移动滑轨、11主控制单元、12第一电流测试针、13第二电流测试针、14第三电流测试针、15数据接收器、16检测模块、17脉冲电路板、18滑动变阻器、19ad转换器、20控制装置。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的描述中，需要说明的是，术语“竖直”、“上”、“下”、“水平”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本实用和简化描述，而不是指示或者暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，“第一”、“第二”、“第三”、“第四”仅用于描述目的，而不能理解为指示或者暗示相对重要性。

本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限制，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接连接，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

请参阅图1-5，本发明提供一种技术方案：一种芯片加工筛选装置，包括步进电机6，所述步进电机6的上方通过转轴转动连接有传送带5，所述传送带5的上表面均匀间隔设置有芯片座4，所述芯片座4设置有若干个，所述传送带5的上方设置有检测通道3和分离装置2，所述分离装置2设置在检测通道3的一侧，所述分离装置2的两侧设置有废料箱8和可用芯片箱9，所述分离装置2的上方设置有支架板7，所述支架板7的内腔上壁设置有移动滑轨10，所述移动滑轨10的内部通过滑轮与滑轨滑动连接有移动柄1，所述移动柄1固定连接在分离装置2的上方，所述检测通道3的内腔上壁设置有主控制单元11，所述主控制单元11的下方电性连接有检测模块16,所述检测模块16的下方电性连接有脉冲电路板17，所述脉冲电路板17的下方电性连接有滑动变阻器18，可以改变电路的电阻，从而改变测试电流的大小，所述滑动变阻器18的电阻控制在10欧至15欧姆之间，所述滑动变阻器18的下方电性连接有第一电流测试针12、第二电流测试针13和第三电流测试针14，所述第一电流测试针12、第二电流测试针13和第三电流测试针14的下方设置有数据接收器15，所述数据接收器15的下方电性连接有ad转换器19，所述ad转换器19电性连接有控制装置20，所述控制装置20电性连接有分离装置2。

工作原理：芯片放置在芯片座4上，通过步进电机6带动传送带5，将芯片移动到检测通道3的内部，检测通道3内部的主控制单元11控制检测模块16检测到芯片移动到指定位置后，脉冲电路板17通过第一电流测试针12、第二电流测试针13和第三电流测试针14依次输出第一测试电流、第二测试电流和第三测试电流，第三测试电流结束后，滑动变阻器18调节电阻通过脉冲电路板17释放不同的电流，从而对芯片进行多轮检测，芯片检测后，数据接收器15将数据传输到ad转换器19，若检测合格，ad转换器19将数据传送至控制装置20，控制装置20指定移动柄1带动分离装置2将芯片移到可用芯片箱9；若检测不合格，控制装置20将指定移动柄1带动分离装置2将芯片移到废料箱8。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种芯片加工筛选装置，包括步进电机，所述分离装置的上方设置有支架板，所述移动滑轨的内部通过滑轮与滑轨滑动连接有移动柄，所述检测通道的内腔上壁设置有主控制单元，所述主控制单元的下方电性连接有检测模块,所述检测模块的下方电性连接有脉冲电路板，所述脉冲电路板的下方电性连接有滑动变阻器，所述滑动变阻器的下方电性连接有第一电流测试针、第二电流测试针和第三电流测试针，所述数据接收器的下方电性连接有AD转换器，所述AD转换器电性连接有控制装置，所述控制装置电性连接有分离装置。该芯片筛选装置对芯片进行不同电压控制下的电流测试，从而提高筛选的准确性。

技术研发人员：卓廷厚
受保护的技术使用者：华天恒芯半导体（厦门）有限公司
技术研发日：2017.07.30
技术公布日：2017.09.08