五电极环形压敏电阻十针单面测试装置及方法与流程

本发明涉及一种环形压敏电阻检测装置；具体涉及一种五电极环形压敏电阻十针单面测试装置及方法。

背景技术：

五电极环形压敏电阻的五个电极均匀分布在圆周上。出厂前，为保证产品合格率，需要对其进行测试分级。先有的五电极环形压敏电阻测试仪采用五极五针法测试，即用五个探针测试环形压敏电阻的五个电极，这就需要设置检测对准装置，在检测过程中调整环形压敏电阻的位置，以保证测量时五个探针能够对准五个电极。检测对准装置一般包括光电传感器和旋转装置，旋转装置用于选择环形压敏电阻，光电传感器用于检测探针是否对准电极，如此一来，就多了一道对准工序，使得生产成本增加，检测效率不高。

技术实现要素：

为解决上述技术问题，本发明的目的在于：提供一种五电极环形压敏电阻十针单面测试装置及方法，设备结构紧凑，检测效率高，降低生产成本。

本发明为解决其技术问题所采用的技术方案为：

所述五电极环形压敏电阻十针单面测试装置，包括筛选件、测试头、电极检测件、测试圆盘和控制单元，所述筛选件通过输送通道连通至测试圆盘，测试圆盘上对应环形压敏电阻设有容置凹槽，测试圆盘的旋转方向依次设置电极检测件和由升降驱动组件驱动的测试头，所述测试头包括圆周对称分布的十个探针，每相间设置的五个探针为同一测试组，筛选件、电极检测件和测试头均与控制单元相连。

测试时，通过筛选件筛选电极朝上的环形压敏电阻，并将筛选出来的产品通过输送通道输送至测试圆盘，测试圆盘上设置的电极检测件检测到位的环形压敏电阻的电极位置，并根据检测结果决定为哪一组测试探针通电，例如，如果电极检测件检测到其检测位置为环形压敏电阻的电极，在测试头对环形压敏电阻进行检测时，第一组测试组的探针正好落在环形压敏电阻的电极上，需要为第一组测试组的探针通电，如果电极检测件检测到其检测位置为环形压敏电阻的瓷体表面，在测试头对环形压敏电阻进行检测时，第二组测试组的探针正好落在环形压敏电阻的电极上，需要为第二组测试组的探针通电，如此一来，不论环形压敏电阻在容置凹槽内的位置如何，总能找到合适的探针对其电极进行测量，测量后，根据其测量结果进行分级，并转移至分级工位对环形压敏电阻进行分级，分级工位的分级组件采用市面现售的分级设备。整个测试过程，筛选、正反检测和测试头检测均同步进行，省略了旋转对正装置，节省了工序，提高了工作效率，降低了设备功耗。

优选地，所述筛选件包括振盘、正反检测件和剔除气嘴，所述振盘一侧设置正反检测件，对应正反检测件设置剔除气嘴，将待检测的环形压敏电阻放置在振盘内，由正反检测件检测检测位的环形压敏电阻的电极朝向，如果朝上，剔除气嘴不动作，如果朝下，剔除气嘴吹掉该环形压敏电阻，保证进入输送通道的都是电极朝上的环形压敏电阻。

优选地，所述输送通道包括圆筒形送料管，所述振盘的直线送料器输出口连接至圆筒形送料管的顶部开口，圆筒形送料管的底部开口连通至测试圆盘。振盘的直线送料器将电极面朝上的环形压敏电阻一个一个的输送到圆筒形送料管，然后垂直输送到测试圆盘的容置凹槽内部，由测试圆盘将环形压敏电阻转移至下一工位。

优选地，升降驱动组件包括驱动电机，驱动电机转轴连接凸轮，对应凸轮设置滑块，滑块固定连接测试头，滑块与滑轨滑动连接，滑轨和滑块之间设置伸缩弹簧。因凸轮不是规则的圆形，在驱动电机旋转的过程中，与滑块接触的凸轮带动滑块沿滑轨上下移动，进而实现十探针测试头的升降，伸缩弹簧对滑块的移动起缓冲作用。每次十探针测试头对环形压敏电阻进行测试时，测试圆盘停转，直至探针测试完毕后，十探针测试头离开测试圆盘，测试圆盘才继续转动。

本发明在上述五电极环形压敏电阻十针单面测试装置的基础上提供一种测试方法，包括以下步骤：

第一步，通过筛选件筛选电极面朝上的环形压敏电阻，并将筛选后的产品输送至测试圆盘的容置凹槽内；

第二步，测试圆盘带动待检测环形压敏电阻到达电极检测件的正下方检测环形压敏电阻的电极位置；

第三步，检测完电极位置的环形压敏电阻在测试圆盘的带动下到达测试头正下方，测试圆盘停转，十探针测试头压紧环形压敏电阻，控制单元根据环形压敏电阻电极位置选择合适的测试组，并向该测试组的探针通电；

第四步，控制单元测量通电的测试组中两两相邻探针之间的电压并记录；

第五步，根据第四步采集的电压值对检测的环形压敏电阻进行分级。

优选地，第一步中筛选的流程为：

1.1、振盘中放置待检测的环形压敏电阻；

1.2、通过正反检测件检测环形压敏电阻的电极朝向，并通过剔除气嘴吹掉电极面朝下的环形压敏电阻；

1.3、筛选后的环形压敏电阻通过输送通道输送至测试圆盘容置凹槽。

优选地，所述第二步检测电极位置的逻辑为：

2.1、测量环形压敏电阻位于电极检测件正下方一点的反射率；

2.2、通过反射率判断是测量点的材质是瓷体还是电极；

2.3、以步骤2.2的测量结果为依据确定测量时通电的测试组。

测试组中两两相邻探针之间的电压的测量电路与现有的五极五针测试法相同，分级标准也与环形压敏电阻的分级标准一致，不属于本发明的改进点，此处不赘述。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

本发明设备结构紧凑，检测效率高，降低生产成本。测试时，通过筛选件筛选电极朝上的环形压敏电阻，并将筛选出来的产品通过输送通道输送至测试圆盘，测试圆盘上设置的电极检测件检测到位的环形压敏电阻的电极位置，并根据检测结果决定为哪一组测试探针通电，不论环形压敏电阻在容置凹槽内的位置如何，总能找到合适的探针对其电极进行测量，测量后，根据其测量结果进行分级，并转移至分级工位对环形压敏电阻进行分级，整个测试过程，筛选、正反检测和测试头检测均同步进行，省略了旋转对正装置，节省了工序，提高了工作效率，降低了设备功耗。

附图说明

图1本发明结构示意图。

图2升降驱动组件结构示意图之一。

图3升降驱动组件结构示意图之二。

图中：1、振盘；2、正反检测件；3、剔除气嘴；4、测试圆盘；5、电极检测件；6、测试头；7、容置凹槽；8、探针；9、驱动电机转轴；10、凸轮；11、滑块；12、滑轨；13、伸缩弹簧。

具体实施方式

实施例1：

如图1-2所示，本实施例所述五电极环形压敏电阻十针单面测试装置，包括筛选件、测试头6、电极检测件5、测试圆盘4和控制单元，所述筛选件通过输送通道输送至测试圆盘4，测试圆盘4上对应环形压敏电阻设有容置凹槽7，测试圆盘4的旋转方向依次设置电极检测件5和由升降驱动组件驱动的测试头6，所述测试头6包括圆周对称分布的十个探针8，每相间设置的五个探针8为同一测试组，筛选件、电极检测件5和测试头6均与控制单元相连。

其中，所述筛选件包括振盘1、正反检测件2和剔除气嘴3，图中1中的正反检测件2的探头8和剔除气嘴3的吹嘴均被遮挡，未示出，所述振盘1一侧设置正反检测件2，对应正反检测件2设置剔除气嘴3，将待检测的环形压敏电阻放置在振盘1内，由正反检测件2检测检测位的环形压敏电阻的电极朝向，如果朝上，剔除气嘴3不动作，如果朝下，剔除气嘴3吹掉该环形压敏电阻，保证进入输送通道的都是电极朝上的环形压敏电阻，正反检测件2采用光电传感器。

输送通道包括圆筒形送料管，所述振盘1的直线送料器输出口连接至圆筒形送料管的顶部开口，圆筒形送料管的底部开口连通至测试圆盘4。振盘1的直线送料器将电极面朝上的环形压敏电阻一个一个的输送到圆筒形送料管，然后垂直输送到测试圆盘4的容置凹槽7内部，由测试圆盘4将环形压敏电阻转移至下一工位；如图2-3所示，升降驱动组件包括驱动电机，驱动电机转轴9连接凸轮10，对应凸轮10设置滑块11，滑块11固定连接测试头6，滑块11与滑轨12滑动连接，滑轨12和滑块11之间设置伸缩弹簧13。因凸轮10不是规则的圆形，在驱动电机旋转的过程中，与滑块11接触的凸轮10带动滑块11沿滑轨12上下移动，进而实现测试头6的升降，伸缩弹簧13对滑块11的移动起缓冲作用。每次十探针测试头对环形压敏电阻进行测试时，测试圆盘4停转，直至探针8测试完毕后，十探针测试头离开测试圆盘4，测试圆盘4才继续转动。

测试时，通过筛选件筛选电极朝上的环形压敏电阻，并将筛选出来的产品通过输送通道输送至测试圆盘4，测试圆盘4上设置的电极检测件5检测到位的环形压敏电阻的电极位置，并根据检测结果决定为哪一组测试探针8通电，例如，如果电极检测件5检测到其检测位置为环形压敏电阻的电极，在测试头6对环形压敏电阻进行检测时，第一组测试组的探针8正好落在环形压敏电阻的电极上，需要为第一组测试组的探针8通电，如果电极检测件5检测到其检测位置为环形压敏电阻的瓷体表面，在测试头6对环形压敏电阻进行检测时，第二组测试组的探针8正好落在环形压敏电阻的电极上，需要为第二组测试组的探针8通电，如此一来，不论环形压敏电阻在容置凹槽7内的位置如何，总能找到合适的探针8对其电极进行测量，测量后，根据其测量结果进行分级，并转移至分级工位对环形压敏电阻进行分级，分级工位的分级组件采用市面现售的分级设备。整个测试过程，筛选、正反检测和测试头检测均同步进行，省略了旋转对正装置，节省了工序，提高了工作效率，降低了设备功耗。

实施例2；

本实施例在实施例1的基础上提供一种方法，包括以下步骤：

第一步，通过筛选件筛选电极面朝上的环形压敏电阻，并将筛选后的产品输送至测试圆盘4的容置凹槽7内；

第二步，测试圆盘4带动待检测环形压敏电阻到达电极检测件5的正下方检测环形压敏电阻的电极位置；

第三步，检测完电极位置的环形压敏电阻在测试圆盘4的带动下到达测试头6正下方，测试圆盘4停转，十探针测试头压紧环形压敏电阻，控制单元根据环形压敏电阻电极位置选择合适的测试组，并向该测试组的探针8通电；

第四步，控制单元测量通电的测试组中两两相邻探针8之间的电压并记录；

第五步，根据第四步采集的电压值对检测的环形压敏电阻进行分级。

其中，第一步中筛选的流程为：

1.1、振盘1中放置待检测的环形压敏电阻；

1.2、通过正反检测件2检测环形压敏电阻的电极朝向，并通过剔除气嘴3吹掉电极面朝下的环形压敏电阻；

1.3、筛选后的环形压敏电阻通过输送通道输送至测试圆盘4的容置凹槽7。

第二步检测电极位置的逻辑为：

2.1、测量环形压敏电阻位于电极检测件5正下方一点的反射率；

2.2、通过反射率判断是测量点的材质是瓷体还是电极；

2.3、以步骤2.2的测量结果为依据确定测量时通电的测试组。

因测试圆盘4中容置凹槽7的个数是固定，相邻容置凹槽7间的角度也就固定，同样的，电极检测件5和测试头6之间的角度也是固定的，在确定好电极检测件5正下方的测量点是瓷体还是电极后，待测环形压敏电阻从电极检测件5转移至测试头6下方，其电极的分布位置也能相应的确定，如此，就能确定采用哪一组测试组进行测量能够获取有效数据。

测试组中两两相邻探针8之间的电压的测量电路与现有的五极五针测试法相同，分级标准也与环形压敏电阻的分级标准一致，不属于本发明的改进点，此处不赘述。