一种转移式分类的高速分选方法
【专利摘要】本发明涉及一种转移式分类的高速分选方法，其中包括转盘、转料机构、分料盘。其特征在于，元器件在转盘上测试后不在转盘上落料分类，而是将元器件转移至分料盘上进行。分选机关键动作流程包括元器件上料、测试、落料、分类等，传统方式是各项工艺流程围绕转盘呈输入输出逻辑关系完成，而落料及分类已成为目前分选机的技术瓶颈。转移式分类的分选方式与直接在转盘上落料分类不同，在转盘上落料分类时，周期时间需加上落料及分类的时间，速度上已难于有大的提升。而转移式分类的分选方式是将落料及分类的过程转移至分料盘上进行，转盘只承载元器件上料及测试的过程，提高整机的运行速度及稳定性。
【专利说明】
一种转移式分类的高速分选方法
技术领域
[0001]本发明涉及一种转移式分类的高速分选方法，进一步涉及通过改变元器件落料、分类的方式提高元器件的分选速度。
【背景技术】
[0002]分选机关键工艺流程包括元器件上料、测试、落料、分类等，围绕转盘呈递进关系完成。分料系统是分选机主机构之一，分料系统的速度已成为现分选机的瓶颈，传统的分料方式是在转盘上设计落料装置，在落料装置之后设计分类机构，分类机构将元器件分类至对应的BIN数，转盘转速受落料与分类速度的限制，不能进行大的提升，故而影响整机的运行速度。
【发明内容】
[0003]鉴于以上内容，本发明提供一种转移式分类的高速分选方法，该方案包括:
一种转移式分类的高速分选方法，其特征在于，在转盘后设计分料盘，将分选机对元器件的关键工艺流程，如上料、测试、落料、分类过程进行分解，元器件的上料与测试在转盘上完成，再将测试后的元器件转移至分料盘进行落料与分类。分料盘的数量不局限于一个，可根据设备性能或客户需求设计分料盘数量、大小、材质及单分料盘的BIN数。具体包括:
步骤I)元器件通过上料机构进入转盘，并在转盘上完成测试；
步骤2)在转盘后设计分料盘，测试后的元器件通过转料机构从转盘转移至分料盘； 步骤3)元器件在分料盘上进行落料与分类。
[0004]与现有技术相比，本发明的优点在于:
1、将分选机的关键动作流程进行分解，上料与测试在转盘上完成，保证元器件的测试精度。落料与分类转移至分料盘进行，不影响转盘的运行；
2、分料盘数量、大小、材质及单分料盘的BIN数可根据设备性能或客户需求设计对应BIN 数；
3、落料与分料时间不累加在转盘的周期上，转盘的速度可进行大的提升，以提高整机的运行速度。
【附图说明】
[0005]图1是本发明一种转移式分类的高速分选方法的流程图；
图2是本发明一种转移式分类的高速分选装置的结构示意图；
图3是本发明一种转移式分类的高速分选装置的局部放大图。
[0006]【具体实施方式】:
请参阅图1、图2、图3，本发明一种转移式分类的高速分选方法的流程图，该方案包括: 首先:元器件101进入转盘I，在转盘上完成测试；
其次:测试后的元器件通过转料机构从转盘转移至分料盘2; 最后:元器件在分料盘上进行落料分类。
[0007]本发明主要针对电子元器件分选方式进行的改进，以上所述仅为本发明较佳实施例而已，非因此即局限本发明的专利范围，故举凡用本发明说明书及图式内容所为的简易变化及等效变换，均应包含于本发明的专利范围。
【主权项】
1.一种转移式分类的高速分选方法，其特征在于，在转盘后设计分料盘，将分选机对元器件的关键工艺流程，如上料、测试、落料、分类过程进行分解，元器件的上料与测试在转盘上完成，保证测试精度，再将测试后的元器件转移至分料盘进行落料与分类； 分料盘的数量不局限于一个，可根据设备性能或客户需求设计分料盘数或单分料盘的BIN 数； 具体包括: 步骤I)元器件通过上料机构进入转盘，并在转盘上完成测试； 步骤2 )在转盘后设计分料盘，测试后的元器件通过转料机构从转盘转移至分料盘； 步骤3)元器件在分料盘上进行落料与分类； 其中，所述分料盘的数量、大小、材质及单分料盘的BIN数可根据设备性能或客户需求设计。2.根据权利要求1所述的转移式分类的高速分选方法，其特征在于，所述转盘与分料盘独立旋转运动，转盘承接元器件上料、测试及转料过程，整机的关键速度在于转盘完成各项动作的时间；而分料盘承接元器件从转盘转料，再落料、分类的过程，分料盘转速根据元器件从转盘至分料盘转料的时间调整配合，分料盘转速不影响整机的运行速度。
【文档编号】B07C5/00GK105834116SQ201610278114
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年4月29日
【发明人】卓维煌, 黄新青, 刘骏, 蔡建镁, 齐建, 徐思江
【申请人】深圳市华腾半导体设备有限公司