一种cob光组件测试分选机的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种COB光组件测试分选机，包括机台、控制系统装置、测试机构以及上料机构，测试机构设置在上料机构上，且测试机构和上料机构与控制系统装置电连接；上料机构架包括X轴驱动装置、Y轴驱动装置和测试夹具，测试夹具装置在X轴驱动装置上，X轴驱动装置卡扣在Y轴驱动装置上，X轴驱动装置可在Y轴驱动装置上移动；测试机构包括测试架、凸轮机构、积分球和测试探针，测试架和积分球分别固定在机台上，测试探针分别设置在X轴驱动装置的滑块和Y轴驱动装置的滑块上，凸轮机构包括凸轮、探针圈和链条，凸轮通过驱动探针圈和链条，与测试探针连接。本实用新型解决人工检测中存在的问题，提高生产效率和检测的准确性。
【专利说明】
一种COB光组件测试分选机
技术领域
[0001]本实用新型涉及生产设备领域，更具体地涉及一种COB光组件测试分选机。
【背景技术】
[0002]现有技术中，⑶B光组件的测试机包括有:大功率集成(COB)手动单颗补粉分光机、双工位集成(COB)排测补粉分光机，COB半自动分光机。
[0003]大功率集成(COB)手动单颗补粉分光机是一种功能较全的排测补粉分光机，它适用于单颗补粉分光，分光速度1PCS/5S。可根据不同的COB光组件订制夹具进行检测，适用不同外形集成C0B，基本兼容市面上可见外形。可测量正向电压、正向电流、光通量、波长、色度坐标、色温、显色指数等等。可通过设置XY或色温参数，形象显示出具体补粉位置，智能提示补粉增减操作。通过软件分光模式，支撑光电参数任意组合分选，自动生成BIN号，测试完成后，通过人工来分开，达到分类的目的。双工位集成(COB)手动排测补粉分光机与大功率集成(COB)手动单颗补粉分光机的主要区别在于两个工位操作，可以进行多颗联排测试(最多32颗)，提高检测速度，现实双人操作功能，节约成本。上述手动设备操作采用人工操作方式进行，不能实现自动上料、自动检测、自动下料和自动分类，造成了检测速度慢，效率低，不同的人测试对其准确性产生的影响大，人工成本高，很难适应现阶段生产需求。
[0004]COB半自动测试分光机，其测试的材料是已经从联排基座上剥离下来后的单个COBLED灯。其中一种实现方式是利用手工将COB LED放置到一个长方形的槽里面，测试的时候利用气缸从槽的尾部向前推一个出去到测试位，测试完成后，继续推一个新的到测试位，将已测试完成的COB LED继续往前推，如此循环往复。下料方式是，当测试过的材料到收料口的时候，移动所有的料箱，将对应的料箱停止在收料口位置，测试下一颗COB LED的时候，同时将收料口的那一颗材料推到对应收料箱。该种实现方式的缺陷在于，由于采用长方形的槽上料，导致他只能适应方形材料，如果是圆形，在上料槽的推进过程中，由于圆形材料会在上料槽里面滚动，会导致测试的时候，测试探针无法接触到材料的电机。而且，每次必须手工在上料槽里面排好材料，这样会极大的降低生产效率。另外由于下料机构比较大，又比较笨重，在移动下料箱到收料口的时候，速度会比较慢，所以导致整机的测试速度很慢，只有1500个/小时左右。另外一种半自动实现方式是采用托盘上料，在托盘中根据要测试的COB外观，开好多个对应的形状，利用人工将材料一个一个的摆放在托盘的对应位置，再利用真空吸嘴将材料吸到测试位置，测试完成后，再次根据测试结果利用真空吸嘴吸到另外一个下料托盘中。这种做法的缺陷在于上料方式非常复杂，而且每一种材料都需要做不同的托盘，兼容性不好。
[0005]上述手动测试机、半自动测试机上料的方式本质上都是通过人工摆放好，才能进行测试，速度慢，效率低，而且不同种类的COB光组件需要更换不同的夹具，造成成本过高。
【实用新型内容】
[0006]为了解决上述问题，本实用新型的目的在于:提供一种具有可调节夹具的COB光组件测试分选机，代替人工检测COB光组件性能参数，解决人工检测中存在的种种问题，提高生产效率和检测的准确性，以解决上述问题。
[0007]为了达到上述目的，本实用新型的技术方案为:一种COB光组件测试分选机，包括机台、控制系统装置、测试机构以及设置在机台上的上料机构，所述测试机构设置在所述上料机构上，所述控制系统装置设置在所述机台内部，且所述测试机构和所述上料机构与所述控制系统装置电连接;所述上料机构架包括X轴驱动装置、Y轴驱动装置和可调节位置的测试夹具，所述测试夹具装置在所述X轴驱动装置上，所述X轴驱动装置卡扣在所述Y轴驱动装置上，所述X轴驱动装置可在所述Y轴驱动装置上移动;所述测试机构包括测试架、凸轮机构、积分球和测试探针，所述测试架和所述积分球分别固定在所述机台上，所述测试探针分别设置在所述X轴驱动装置的滑块和所述Y轴驱动装置的滑块上，所述凸轮机构包括凸轮、探针圈和链条，所述凸轮通过驱动所述探针圈和所述链条，与所述测试探针连接。
[0008]本实用新型的有益效果在于:通过可调节位置的测试夹具和可在X轴驱动装置移动的测试探针，可随意设定测试位置，降低一些人为因素的影响，检测精度高，降低劳动强度，降低人工成本，不需更换夹具，节约资源，使操作简单化。
[0009]作为本实用新型的进一步改进，所述探针圈设置在所述测试夹具上，且所述测试夹具包括调节滑槽和调节螺母。
[0010]作为本实用新型的进一步改进，所述机台还设有辅助滑轨，所述X轴驱动装置卡扣在其中，可沿所述辅助滑轨的轨道移动。
[0011]作为本实用新型的进一步改进，所述控制系统装置包括运动控制系统、影像系统、恒流恒压源系统、光谱分析系统和数据分析系统，所述运动控制系统、所述影像系统、所述恒流恒压源系统、所述光谱分析系统和所述数据分析系统相互电连接。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型的结构示意图。
[0013]图2为本实用新型的凸轮机构的结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]为了使本实用新型的目的，技术方案及优点更加清晰明了，对其进一步详细说明，参照图1至图2。
[0015]—种COB光组件测试分选机，包括机台1、控制系统装置、测试机构2以及分别设置在机台I上的上料机构3，测试机构2设置在上料机构3上，控制系统装置设置在机台I内部，且测试机构2和上料机构3与控制系统装置电连接;上料机构3架包括X轴驱动装置31、Y轴驱动装置32和可调节位置的测试夹具33，测试夹具33装置在X轴驱动装置31上，X轴驱动装置31卡扣在Y轴驱动装置32上，X轴驱动装置31可在Y轴驱动装置32上移动；测试机构2包括测试架21、凸轮机构24、积分球22和测试探针23，测试架21和积分球22分别固定在机台I上，测试探针23设置在X轴驱动装置31的滑块上，凸轮机构24包括凸轮241、探针圈242和链条，凸轮241通过驱动探针圈242和链条，与测试探针23连接。
[0016]通过可调节位置的测试夹具33和可在X轴驱动装置31移动的测试探针23，可随意设定测试位置，降低一些人为因素的影响，检测精度高，降低劳动强度，降低人工成本，不需更换夹具，节约资源，使操作简单化。
[0017]探针圈242设置在测试夹具33上，且测试夹具33包括调节滑槽和调节螺母。
[0018]机台I还设有辅助滑轨，X轴驱动装置31卡扣在其中，可沿辅助滑轨的轨道移动。
[0019]控制系统装置包括运动控制系统、影像系统、恒流恒压源系统、光谱分析系统和数据分析系统，运动控制系统、影像系统、恒流恒压源系统、光谱分析系统和数据分析系统相互电连接。
[0020]根据上述说明书的揭示和教导，本实用新型所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行适当的变更和修改。因此，本实用新型并不局限于上面揭示和描述的【具体实施方式】，对本实用新型的一些修改和变更也应当落入本实用新型的权利要求的保护范围内。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本实用新型构成任何限制。
【主权项】
1.一种COB光组件测试分选机，其特征在于，包括机台、控制系统装置、测试机构以及设置在机台上的上料机构，所述测试机构设置在所述上料机构上，所述控制系统装置设置在所述机台内部，且所述测试机构和所述上料机构与所述控制系统装置电连接;所述上料机构架包括X轴驱动装置、Y轴驱动装置和可调节位置的测试夹具，所述测试夹具装置在所述X轴驱动装置上，所述X轴驱动装置卡扣在所述Y轴驱动装置上，所述X轴驱动装置可在所述Y轴驱动装置上移动;所述测试机构包括测试架、凸轮机构、积分球和测试探针，所述测试架和所述积分球分别固定在所述机台上，所述测试探针分别设置在所述X轴驱动装置的滑块和所述Y轴驱动装置的滑块上，所述凸轮机构包括凸轮、探针圈和链条，所述凸轮通过驱动所述探针圈和所述链条，与所述测试探针连接。2.根据权利要求1所述的COB光组件测试分选机，其特征在于，所述探针圈设置在所述测试夹具上，且所述测试夹具包括调节滑槽和调节螺母。3.根据权利要求1所述的COB光组件测试分选机，其特征在于，所述机台还设有辅助滑轨，所述X轴驱动装置卡扣在其中，可沿所述辅助滑轨的轨道移动。4.根据权利要求1的所述的COB光组件测试分选机，其特征在于，所述控制系统装置包括运动控制系统、影像系统、恒流恒压源系统、光谱分析系统和数据分析系统，所述运动控制系统、所述影像系统、所述恒流恒压源系统、所述光谱分析系统和所述数据分析系统相互电连接。
【文档编号】G01M11/00GK205436349SQ201620215754
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年3月21日
【发明人】林开钊, 廖湘涛, 李冰
【申请人】东莞市中谱光电设备有限公司