一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置的制作方法

文档序号:5614603阅读:84来源:国知局
专利名称:一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种支撑装置,特别涉及一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支 撑装置。
背景技术
用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时,不但需要支架支撑和固定测试探头,而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地,校准瞬变电磁场的场均匀性时,通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度,甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能,因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。目前,非常需要一种能够用于校准瞬变电磁场的场均匀性的支撑装置。

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置。本实用新型提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置包括底座、转轴、主体架、第一旋转盘、第二旋转盘、第一探头固定装置和第二探头固定装置;所述底座包括固定盘、第一座臂和第二座臂,所述第一座臂和所述第二座臂被设置于同一平面内,且在该平面内所述第一座臂与所述第二座臂之间成一夹角,所述固定盘固定于所述第一座臂与所述第二座臂连接处的顶端,所述转轴固定于所述固定盘的中心位置;所述主体架包括测试杆、第一支杆、第二支杆、第一立柱和第二立柱,所述测试杆的一端与所述转轴可旋转连接且所述测试杆能够绕所述转轴转动,所述第一支杆和所述第二支杆设于所述测试杆的下侧,所述第一支杆和所述第二支杆的顶端连接呈倒置的“V”字形,且所述第一支杆和所述第二支杆的顶端连接处与所述测试杆固接,所述第一立柱和所述第二立柱分别固接于所述测试杆的中间和末端位置,且所述第一立柱和所述第二立柱设于所述测试杆的上侧;所述第一旋转盘设置于所述第一立柱的顶端且能够绕所述第一立柱转动,所述第二旋转盘设置于所述第二立柱的顶端且能够绕所述第二立柱转动,所述第一探头固定装置设于所述第一旋转盘上,所述第二探头固定装置设于所述第二旋转盘上。优选地,所述第一支杆底端设有滚轮,所述第二支杆的底端设有滚轮。优选地,所述第一座臂与所述第二座臂之间的夹角为90°。优选地,所述固定盘的下方能够固定探头。本实用新型具有如下有益效果(I)当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时,所述支架不仅能够用于支撑和固定探头,而且能够用于调节探头的位置和角度;(2)所述支架对探头的位置和角度的调节精度高;[0015](3)所述支架制作成本低,使用方便。

图I为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置的示意图。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型的内容作进一步的描述。本实施例提供的本实用新型提供的用于校准瞬变电磁场场 均匀性的支撑装置包括底座I、转轴2、主体架3、第一旋转盘4、第二旋转盘5、第一探头固定装置6和第二探头固定装置7,如图I所示。所述底座I包括固定盘11、第一座臂12和第二座臂13,如图I所示。在本实施例中,所述固定盘11呈例如圆形。所述第一座臂12和所述第二座臂13被设置于同一平面内,且在该平面内所述第一座臂12与所述第二座臂13之间成一夹角。在本实施例中,所述第一座臂12与所述第二座臂13之间的夹角为例如90°。所述固定盘11固定于所述第一座臂12与所述第二座臂13连接处的顶端。所述转轴2固定于所述固定盘11的中心位置。所述主体架3包括测试杆31、第一支杆32、第二支杆33、第一立柱34和第二立柱35,如图I所示。所述测试杆31的一端与所述转轴2可旋转连接且所述测试杆31能够绕所述转轴2转动。所述第一支杆32和所述第二支杆33设于所述测试杆31的下侧。所述第一支杆32和所述第二支杆33的顶端连接呈倒置的“V”字形,且所述第一支杆32和所述第二支杆32的顶端连接处与所述测试杆31固接。所述第一立柱34和所述第二立柱35分别固接于所述测试杆31的中间和末端位置,且所述第一立柱34和所述第二立柱35设于所述测试杆31的上侧。在本实施例中,所述第一支杆32底端设有滚轮36,所述第二支杆33的底端设有滚轮37。所述第一旋转盘4设置于所述第一立柱34的顶端且能够绕所述第一立柱34转动,所述第二旋转盘5设置于所述第二立柱35的顶端且能够绕所述第二立柱35转动。所述第一探头固定装置6设于所述第一旋转盘4上,所述第二探头固定装置7设于所述第二旋转盘5上。所述第一探头固定装置6和所述第二探头固定装置7用于固定探头。在本实施例中,所述第一探头固定装置6用于固定例如第一探头8,所述第二探头固定装置7用于固定例如第二探头9。所述固定盘11的下方也能够固定探头。在本实施例中,所述固定盘11的下方固定有例如第三探头(图中未示出)。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时,所述支架不仅能够用于支撑和固定探头,而且能够用于调节探头的位置和角度。所述支架对探头的位置和角度的调节精度高。所述支架制作成本低,使用方便。应当理解,以上借助优选实施例对本实用新型的技术方案进行的详细说明是示意性的而非限制性的。本领域的普通技术人员在阅读本实用新型说明书的基础上可以对实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
权利要求1.用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置,其特征在于, 该支撑装置包括底座(I)、转轴(2)、主体架(3)、第一旋转盘(4)、第二旋转盘(5)、第一探头固定装置(6)和第二探头固定装置(7); 所述底座(I)包括固定盘(11)、第一座臂(12)和第二座臂(13),所述第一座臂(12)和所述第二座臂(13)被设置于同一平面内,且在该平面内所述第一座臂(12)与所述第二座臂(13)之间成一夹角,所述固定盘(11)固定于所述第一座臂(12)与所述第二座臂(13)连接处的顶端,所述转轴(2)固定于所述固定盘(11)的中心位置; 所述主体架(3)包括测试杆(31)、第一支杆(32)、第二支杆(33)、第一立柱(34)和第二立柱(35),所述测试杆(31)的一端与所述转轴(2)可旋转连接且所述测试杆(31)能够绕所述转轴(2)转动,所述第一支杆(32)和所述第二支杆(33)设于所述测试杆(31)的下侦牝所述第一支杆(32)和所述第二支杆(33)的顶端连接呈倒置的“V”字形,且所述第一支杆(32)和所述第二支杆(32)的顶端连接处与所述测试杆(31)固接,所述第一立柱(34)和所述第二立柱(35)分别固接于所述测试杆(31)的中间和末端位置,且所述第一立柱(34)和所述第二立柱(35)设于所述测试杆(31)的上侧; 所述第一旋转盘(4)设置于所述第一立柱(34)的顶端且能够绕所述第一立柱(34)转动,所述第二旋转盘(5)设置于所述第二立柱(35)的顶端且能够绕所述第二立柱(35)转动,所述第一探头固定装置(6)设于所述第一旋转盘(4)上,所述第二探头固定装置(7)设于所述第二旋转盘(5)上。
2.根据权利要求I所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置,其特征在于,所述第一支杆(32)底端设有滚轮(36),所述第二支杆(33)的底端设有滚轮(37)。
3.根据权利要求I所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置,其特征在于,所述第一座臂(12)与所述第二座臂(13)之间的夹角为90°。
4.根据权利要求I所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置,其特征在于,所述固定盘(11)的下方能够固定探头。
专利摘要本实用新型公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置,该支撑装置包括底座(1)、转轴(2)、主体架(3)、第一旋转盘(4)、第二旋转盘(5)、第一探头固定装置(6)和第二探头固定装置(7);所述底座(1)包括固定盘(11)、第一座臂(12)和第二座臂(13);所述主体架(3)包括测试杆(31)、第一支杆(32)、第二支杆(33)、第一立柱(34)和第二立柱(35)。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时,所述支架不仅能够用于支撑和固定探头,而且能够用于调节探头的位置和角度。所述支架对探头的位置和角度的调节精度高。所述支架制作成本低,使用方便。
文档编号F16M11/06GK202746871SQ20122042889
公开日2013年2月20日 申请日期2012年8月27日 优先权日2012年8月27日
发明者黄建领, 沈涛, 姚利军 申请人:北京无线电计量测试研究所
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