专利名称：组合式零件测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种组合式零件测试装置，且特别涉及一种对电路板上的元件进行测试的组合式零件测试装置。
电子工业界所使用的各种测试系统，均由许多功能不同的子系统组成，从一、放置待测电路板，二、设定测试状态，三、选择测试仪表，四、设定测试仪表，五、选择测试点，六、测试并读取数据，七、对比测试规格，八、判定测试是否通过到九、取下测试过的电路板。一位测试技术员，在作电路功能测试时必须依照此流程来进行测试。测试完成后，必需人工取下测试过的电路板，然后再回到步骤一，周而复始地进行测试工作。
一个电路通常需要在很多不同的测试点进行测试。而一个测试的参数有多少，就必须重复二至八的步骤多次，因此测试的程序变得很复杂。
利用这种传统的测试方式，在电路板上进行零部件信号测量或电路设计时，常须焊接许多测量点，费时又费力，若同时须测量多组接点时，更加复杂且容易出错或造成短路。
有鉴于此，本发明的目的是为了解决上述问题，将复杂的信号测量工作简单化，而提供一种组合式零件测试装置，可以对电路板上大部分元件进行测试，并可容易地与元件的测量点接触或分离。
本发明的另一目的在于提供一种组合式零件测试装置，可以重复使用于电路板上的各种元件。
为实现本发明的上述和其他目的，提供了一种组合式零件测试装置，用于电路板上元件的测试，其包括透明基底，其上均匀布满多个第一小洞；透明上盖，其上均匀布满多个第二小洞，其中第二小洞分别对应于第一小洞，且透明上盖适于与透明基底接合；多个导电弹性垫片，适于配置于第二小洞中；多个导电探针，适于配置于第一小洞中；固定装置，适于将透明基底与透明上盖固定于电路板上。
由于本发明的组合式零件测试装置具有上述结构，因此结构简单，使信号测量工作得以简化，并提高测量效率和测量的准确性。
为证本发明上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举一优选实施例，并配合附图作详细说明如下，其中
图1是本发明组合式零件测试装置的透明上盖、透明基底的示意图；图2是本发明组合式零件测试装置的透明上盖上面的小洞与弹性垫片的连接图；图3是本发明组合式零件测试装置的透明基底上面的小洞与探针的连接图；图4是本发明组合式零件测试装置的探针与受测元件接触点的连接图；图5是本发明组合式零件测试装置的使用示意图。
请参照图1，其示出本发明一优选实施例的透明上盖和透明基底。
图1中的透明上盖10、透明基底12基本构造是一样的，其上面的小洞11、13的大小、间距与数目依情况而定。但基本上，它们必须有秩序地排列整齐，比如以阵列的方式规则排列，或者以环形的方式排列。
其中透明基底12比如为一方形的透明PBT材质，其上面有秩序地钻满小洞13。小洞13的大小以能让探针方便插紧为准，小洞13与小洞13之间的间距是固定的，其距离大小与小洞13数目的选择以能让所有的受测元件的所有测量点完全接受测试为原则。
透明上盖10比如为一方形的透明PBT材质，上面亦有秩序地钻满小洞11。小洞11的大小、间距与数目与透明基底12上面的小洞13完全一样。而且透明上盖10与透明基底12上的每一个小洞11、13必须一对一地对称。也就是说，透明上盖10和透明基底12上面的每一个小洞11、13必须可以正确地接合。
当透明上盖10与透明基底12分别装入和插入弹性垫片与探针时，它们必须完全接合，不能有一些小洞11、13没有接合。若存在有小洞11、13没有接合或接触不良的情况，则将会有一些受测点的讯号遗失，接收不到真正的信息或产生误判的情形。
图2是组合式零件测试装置的透明上盖上面的小洞与弹性垫片的连接图。导电弹性垫片17放入透明上盖(图1的10)内的小洞11后，测量线路连接线14的接触点15与导电弹性垫片17接合。由于导电弹性垫片17的弹性，因此能与测量线路连接线14、探针的尾端密切接合。而导电弹性垫片17是具有良好导电性的材质，以便精确传递测试讯号。
此导电弹性垫片17的结构设计必须保证能够与透明上盖10紧密贴合。而为了能顺利地更换导电弹性垫片17，它必须能够随时抽出与装入透明上盖的小洞11里面。随受测点的不同它装入透明上盖的小洞11的方式大约有两种一种是透明上盖内所有的小洞11均装入弹性垫片17；另一种是随受测点位置的不同而在相应位置插入弹性垫片17。前者的好处是节省插入、拔出的时间，而后者的好处是数目较少的弹性垫片17可以重复使用。待弹性垫片17装入透明上盖的小洞11之后，弹性垫片17的上方必须能与测量线路的连接线14顺利地接触，而下方亦必须能接触到探针的尾端。
图3是组合式零件测试装置的透明基底上面的小洞与探针的连接图。探针20插入透明基底(图1的12)上面的小洞13，由于受测元件的受测点有许多个，因此插入透明基底上的小洞13的探针20数目也不少。而为了每一个受测元件的测量点均能有效地进行测试，透明基底上小洞13内的探针20必须要能上下伸缩移动以确定探针20的尖端与受测元件是完全接触的。
探针20的材质亦必须是导电性良好的导体，以确保测试讯号的传递。它的结构设计必须与图2中小洞11内的导电弹性垫片17密切接合，并能与受测元件有良好的、唯一的接触点，而且能够随时抽出与装入透明基底上的小洞13里面。因此，探针20的尾端可设计为圆形隆起的结构，这样与导电弹性垫片17较容易密切接合，而底端则为尖头结构，这样与受测元件的受测点能唯一地接触，以达到正确无误的测量。而其插入的方式是随受测点位置的不同而插入与受测点相应位置的探针20。
图4是组合式零件测试装置的探针的尖端与受测元件接触点的连接图。使用本发明组合式零件测试装置时，先将透明基底置于电路板上欲受测的元件23上，通过透明基底使用者可以轻易地将导电探针20插入与受测元件23相对应的小洞13，并使得导电探针20的尖端接触受测元件23的接触点22。接着再将透明上盖与透明基底结合，此时透明上盖中与探针20相对应的小洞11内的导电弹性垫片17将与导电探针20连接，而通过导电弹性垫片17及连接线14与测试仪器连接，以进行测试。
另外，请参照图5，图5是本发明组合式零件测试装置的使用示意图。当透明基底12与透明上盖10连同导电探针、导电弹性垫片、连接线等架设于电路板30的受测元件23上时，还需一固定装置将整个组合式零件测试装置固定在电路板30上。例如使用最简易的透明胶布32，它能使整个组合式零件测试装置的透明上盖10与透明基底12能粘贴固定在电路板30上面，以利于对电路板30的电路各部分进行测量。熟习该技术者应知，固定装置除了上述透明胶布外，亦可以利用电路板30上的通孔，以锚栓或螺丝固定；或者以一夹具夹持电路板30与组合式零件测试装置；任何可以达成固定组合式零件测试装置于电路板30上的装置，都应涵盖于本发明的精神范围内。而本发明组合式零件测试装置容易安装、拆卸，更可以重复使用。
概括起来，本组合式零件测试的测试程序为首先，将透明基底放置在欲测量元件上，测试点与透明基底上面的小洞对齐；再插入导电探针；待欲测试点全部插上导电探针后，盖上已装好弹性垫片的透明上盖并正确接合；再以透明胶布将其粘贴固定在电路板上，完成后，即可对测试点进行测量。
虽然本发明已结合一优选实施例进行了说明，然其并非用以限定本发明，对于业内人士来说，在不背离本发明的精神和范围的情况下，可作些许更改与润饰。
权利要求
1．一种组合式零件测试装置，用于对一电路板上的元件进行测试，其特征在于，该组合式零件测试装置包括一透明基底，该透明基底均匀布满多个第一小洞；一透明上盖，该透明上盖均匀布满多个第二小洞，其中所述各第二小洞分别对应于所述各第一小洞，且所述透明上盖适于与所述透明基底接合；多个导电弹性垫片，适于配置于相应第二小洞中；多个导电探针，适于配置于相应第一小洞中；以及一固定装置，适于将所述透明基底与透明上盖固定于所述电路板上。
2．如权利要求1所述的组合式零件测试装置，其特征在于，所述透明基底的材质为PBT。
3．如权利要求1所述的组合式零件测试装置，其特征在于，所述透明上盖的材质为PBT。
4．如权利要求1所述的组合式零件测试装置，其特征在于，当所述透明基底与所述透明上盖接合时，所述导电探针分别与相应的导电弹性垫片接触。
5．如权利要求1所述的组合式零件测试装置，其特征在于，还包括多条连接线，分别与相应导电弹性垫片连接。
6．如权利要求1所述的组合式零件测试装置，其特征在于，所述固定装置为透明胶布。
全文摘要
本发明公开了一种组合式零件测试装置,用于对电路板上的元件进行测试,其包括:透明基底,其上均匀布满多个第一小洞;透明上盖,其上均匀布满多个第二小洞,其中第二小洞分别对应第一小洞,且透明上盖适于与透明基底接合;多个导电弹性垫片,适于配置于相应第二小洞中;多个导电探针,适于配置于相应第一小洞中;固定装置,适于将透明基底与透明上盖固定于电路板上。
文档编号G01R31/28GK1304045SQ0010101
公开日2001年7月18日 申请日期2000年2月19日 优先权日2000年2月19日
发明者杨鸿 申请人:神达电脑股份有限公司