专利名称：真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置。
背景技术：
高清晰度大屏幕平板显示已成为当前信息技术发展的热点和趋势，采用高能量的真空紫外激发的彩色等离子体平板显示(简称PDP)，已经成为大屏幕平板显示的佼佼者，也使挂壁彩电成为现实。PDP所用的关键材料之一是荧光粉，由于PDP技术的迅猛突起，所用的荧光粉及其相应的测试急待完善。
由于PDP荧光粉采用光子能量较强的真空紫外线激发，而通常所用的光谱和光学参数测量仪器是在紫外一可见区，因此，无法使用。目前，可以用于测量真空紫外用荧光粉光学参数的方法，文献中主要有三种。一是在高能同步辐射加速器上，利用某一节点输出的真空紫外光激发荧光粉发光，再经光谱仪测量荧光粉的发射光谱。此法不仅需要用同步加速器，而且要附加一整套光学引出系统，因此结构复杂，体积庞大，价格极其昂贵，难以在实际生产中获得应用；二是可利用高温等离子体辐射源，在不断注入所需惰性气体并使其处于高温等离子体状态下电离，并发射出所需的真空紫外光，激发荧光粉发光，再经光谱仪测量荧光粉光谱数据。此法的系统也较庞大，且需不断注入惰性气体和形成高温等离子体，在实际应用中也有许多不便；第三种方法是采用氘灯产生的真空紫外连续放电光谱，经过真空紫外单色仪分光，获得单一波长的真空紫外光谱，激发荧光粉。此方法中的真空紫外光经过真空紫外单色仪分光后信号很弱，测量信噪比和稳定性差。此外，该方法的测量光路长，真空度要求高。而上述这些测量方法，还只能获得真空紫外荧光粉的部分光学参数，在实际应用中存在不少问题。
发明内容
本发明的目的旨在提供一种结构简单、价格低、体积小、测量参数较全、精度高、使用方便的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置。
发明的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置包括带真空泵的真空箱，真空箱内设有和驱动装置联接的托架，托架上分布有若干个放荧光粉的样品盘，在驱动装置伸出真空箱端装有检测样品盘编号的编码装置，在真空箱上安装有至少一个向样品盘照射光的激发光源和至少一个接收样品发射光的光电测量仪。
上述真空箱呈真空状态或充有惰性气体，如氦气、氙气、氖气、氮气等。
所说的光电测量仪可以是装置在真空箱内并与箱外的测量仪表连接的亮度探测器，或是插置在真空箱孔眼的亮度计，或是通过聚光镜或光纤与真空箱相连的光谱辐射仪。
所说的激发光源可以是真空紫外灯、或是电子束激发源、或是离子束激发源、或是激光束激发源。
驱动装置可以是蜗轮蜗杆传动或齿轮传动机构，也可以是步进电机直接驱动。该驱动装置驱动托架作旋转或作直线运动。
为防止镜面反射，通常，使激发光源垂直照射样品盘中的样品，光电测量仪从与样品法线成45°角的方向接收样品发射光，或者激发光源从与样品法线成45°角的方向照射样品，光电测量仪垂直于样品盘方向接收样品发射光。
本发明与已有技术相比取得的效果在于本发明由驱动装置驱动托架运转，使激发光源直接照射相应编号样品盘中的试样，利用光电测量仪，接收处于真空或惰性气体保护的荧光粉试样的发射光，可测得真空紫外荧光粉的光谱分布，相对亮度、色品坐标、色纯度、色温、峰值发射波长及辐射度、带宽等诸多光学参数。它结构简单、价格低，测量参数较全，精度高，信号强，使用方便。
图1是本发明一种具体结构示意图。
具体实施例方式
参照图1，本发明的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置包括带真空泵10的真空箱5，图中19为箱盖，真空箱内设有和驱动装置8联接的托架7，此例，驱动装置采用蜗轮蜗杆传动机构，它通过真空密封轴8-1与转盘式托架相连，驱动托架旋转。在托架上分布有若干个用于放荧光粉的样品盘6，真空密封轴8-1处于真空箱外一端装有检测样品盘编号的编码装置9，这里，编码装置是由具有定位孔和编码孔的编码盘9-1和检测编码的光电中断器9-2构成，或者也可以采用光电轴角编码器。在真空箱上安装有向样品盘照射光的激发光源1，图示实例中，激发光源采用的是体积小、照射强度大的真空紫外灯，它包括具有氟化镁前窗20的灯腔21，灯腔内有两个经引线与电源2相连的放电电极22，腔体内充有一种或几种混合的惰性气体，如充氦气、氙气或其它惰性气体，在放电时产生较强的147nm，172nm或其它波长的真空紫外线。通常，将分别充有不同惰性气体的数个真空紫外灯装置在真空箱上，便于根据需要，选择所需波长的真空紫外线照射试样，给使用带来方便。真空紫外灯灯腔内的两个放电电极可以是两个平板电极，或是两个杆状电极或是中心为杆状，外圈为圆筒状的电极，或者是两个同心式圆筒状电极。此例中，接收样品发射光的光电测量仪有两个，一个是装置在真空箱内并与箱外的测量仪表3连接的亮度探测器4，另一个是通过插置在真空箱孔眼12的光纤13与真空箱相连的光谱辐射仪11。图示发明装置采用真空紫外灯垂直照射样品盘的样品，亮度探测器、光纤从与样品法线成45°角的方向接收样品反射光。其中光谱辐射仪11连接有计算机18，以利用计算机来接收测量数据及控制测量过程，对测量数据进行处理。本发明装置可精确获得真空紫外用荧光粉的光谱分布，相对亮度、色品坐标、色纯度、色温、峰值发射波长及辐射度、带宽等诸多光学参数。
权利要求
1.真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征在于它包括带真空泵[10]的真空箱[5]，真空箱内设有和驱动装置[8]联接的托架[7]，托架[7]上分布有若干个放荧光粉的样品盘[6]，在驱动装置伸出真空箱[5]端装有检测样品盘编号的编码装置[9]，在真空箱上安装有至少一个向样品盘照射光的激发光源[1]和至少一个接收样品发射光的光电测量仪。
2.按权利要求1所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是真空箱[5]内充有惰性气体或呈真空状态。
3.按权利要求1所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是所说的光电测量仪是装置在真空箱内并与箱外的测量仪表[3]连接的亮度探测器[4]，或是插置在真空箱孔眼[12]的亮度计，或是通过聚光镜或光纤[13]与真空箱[5]相连的光谱辐射仪[11]。
4.按权利要求3所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是所说的光谱辐射仪[11]连接有计算机[18]。
5.按权利要求1所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是所说的激发光源[1]是真空紫外灯，它包括具有氟化镁前窗[20]的灯腔[21]，灯腔内有两个经引线与电源相连的放电电极[22]，腔体内充有一种或几种混合的惰性气体。
6.按权利要求5所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是所说的放电电极[22]是两个平板电极，或是两个杆状电极或是中心为杆状，外圈为圆筒状的电极，或者是两个同心式圆筒状电极。
7.按权利要求1所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是所说的激发光源[1]是电子束激发源，或是离子束激发源，或是激光束激发源。
8.按权利要求1所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是激发光源[1]垂直照射样品盘[6]中的样品，光电测量仪从与样品法线成45°角的方向接收样品发射光，或者激发光源[1]从与样品法线成45°角的方向照射样品，光电测量仪垂直于样品盘方向接收样品发射光。
9.按权利要求1所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是所说的驱动装置[8]是蜗轮蜗杆传动或齿轮传动机构或是步进电机直接驱动。
10.按权利要求1所述的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置，其特征是所说的编码装置[9]是由具有定位孔和编码孔的编码盘[9-1]和检测编码的光电中断器[9-2]构成，或者是光电轴角编码器。
全文摘要
本发明的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置包括带真空泵的真空箱，真空箱内设有和驱动装置联接的托架，托架上分布有若干个放荧光粉的样品盘，在驱动装置伸出真空箱端装有检测样品盘编号的编码装置，在真空箱上安装有至少一个向样品盘照射光的激发光源和至少一个接收样品发射光的光电测量仪。本发明由驱动装置驱动托架运转，使激发光源直接照射相应编号样品盘中的试样，利用光电测量仪，接收处于真空或惰性气体保护的荧光粉试样的发射光，可测得真空紫外荧光粉的光谱分布，相对亮度、色品坐标、色纯度、色温、峰值发射波长及辐射度、带宽等诸多光学参数。它结构简单、价格低，测量参数较全，精度高，信号强，使用方便。
文档编号G01N21/62GK1412543SQ0113196
公开日2003年4月23日 申请日期2001年10月18日 优先权日2001年10月18日
发明者牟同升, 洪广言, 王建平, 王立昌 申请人:浙江大学