专利名称：一种电器开关试验检测仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电器开关试验检测仪，具体地说，涉及一种当因检测仪关机或其它失效时也能连续记时记数的电器开关试验检测仪。
背景技术：
目前，有些电子产品，经得起高温老化实验，抗震试验等，却忽略频繁开关机试验，如果电路的设计不合理，在开机瞬间将威胁到大电容附近的桥堆或整流二极管或集成电路。所以许多厂家开始对电器频繁开关机做试验，对开关机次数进行计数，目前使用的类似检测仪器是不断开关输出(间歇输出220V-市电供给被实验电子产品)部分使用模拟电路实现，开关次数计数用数字逻辑电路实现。但是现有技术存在以下缺点(1)用数字逻辑电路实现计数，检测仪器切断电源时计数值将丢失，如果试验时间长达几天，不能做到计时计数的连续性；(2)频繁开关机过程中，当被试验的电子产品失效时，没有报警功能，用户无法保存数据，不知道在什么时间，开关多少次才失效；(3)开机时间与关机时间(指对被试验产品的开机与关机)很难调整，两个参数互相牵制，这两个时间参数需要较长时甚至无法调出；(4)没有计时、定时提醒功能。
发明内容
本发明的主要目的是1)当检测仪关电时，将保存开关机次数、累计时间及其它设置；2)当被试验的电子产品失效时，将保存试验参数并报警；其次本发明还可达到以下目的3)按用户的需求设定开机时间与关机时间；4)按用户的设定计时、定时提醒或失效报警。
为实现上述目的，本发明提出的电器开关试验检测仪，包括微处理芯片IC4、为微处理芯片IC4提供电源的供电电路1和与微处理芯片IC4相连的开关机输出电路7，其特征在于还包括终止试验检测电路2和存储器IC5，所述终止试验检测电路2用于感知试验时的终止信号并将终止信号输入微处理芯片IC4中，所述存储器IC5在终止信号输入微处理芯片IC4中时受固化在微处理芯片IC4中的控制软件的驱动对电器开关试验的参数进行存储或读取。
所述终止试验检测电路2包括一检测仪关机检测电路3，用于感知试验时检测仪的关机信号，所述检测仪关机检测电路3的输入端与电源相连，并在检测仪关机时比供电电路1先掉电，输出端与微处理芯片IC4的关机检测脚相连，用以触发微处理芯片IC4通过固化的失效控制软件指示存储器IC5对电器开关试验的参数进行存储。
所述检测仪关机检测电路3和供电电路1接自同一电源信号，所述供电电路1经第一二极管D1、第二二极管D2整流，第一电容C1滤波，第一稳压器IC1稳压后供给微处理芯片IC4的电源脚，所述检测仪关机检测电路3经第三二极管D3、第四二极管D4整流，第三电容C3滤波，第二稳压器IC2稳压后供给微处理芯片IC4的关机检测脚，所述第一电容C1的容值大于第三电容C3的容值。
所述终止试验检测电路2还包括一电器元件失效检测电路4，用于感知试验时被试验电器的元件失效信号，所述电器元件失效检测电路4的输入端接自被试验电器，将检测到的高低电平信号输入微处理芯片IC4的电器失效检测脚，用以触发微处理芯片IC4通过固化的失效控制软件指示存储器IC5对电器开关试验的参数进行存储。
所述电器元件失效检测电路4包括稳压二极管D7，所述稳压二极管D7的正极接地，负极接微处理芯片IC4的电器失效检测脚，为微处理芯片IC4的电器失效检测脚提供高低电平作为电器失效检测信号。
所述电器元件失效检测电路4包括电压失效检测电路5和光检测电路6。
所述开关机输出电路7包括作为射随器的第一三极管Q1、作为反相器的第四三极管Q4、继电器9和第一开关K1，所述微处理芯片IC4通过定时控制软件指示微处理芯片IC4的电压控制脚输出信号至第一三极管Q1的基极，第一三极管Q1的发射极连接第四三极管Q4的基极，第一三极管Q1的集电极和第四三极管Q4的集电极分别连接继电器9两端，以控制继电器9按照设定的时间或被试验电器的失效信号进行接通或切断，从而控制第一开关K1开合，以达到控制电器开关的目的。
所述电器开关试验检测仪还包括报警电路8，所述报警电路8按照微处理芯片IC4中固化软件的指示，对以下动作进行选择1)按照设定的时间报警；2)被试验电器失效时报警；本发明的有益效果是(1)解决了当检测仪关机或断电不能连续记时记数的问题，通过第二路电源输入电路提前感知检测仪关机或断电并将信号送入微处理芯片IC4中，微处理芯片IC4通过固化软件立即将时间、开关次数及其它设置的参数保存到IC5存储器中，并能利用软件自动调出开机时间和关机时间。
(2)设有电器元件失效检测电路，当电器元件失效时，微处理芯片IC4的失效检测脚会检测到低电平信号，再通过固化软件指示存储器IC5存储数据。
(3)设有定时功能，用户可设定开关机时间，通过软件的控制，使继电器通断，从而控制被试验电器的开关机时间。
(4)有计时，定时提醒功能，当计时达到用户设定的时间时，或被试验电器失效时，通过微处理芯片IC4输出信号使喇叭发声报警。
本发明的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。
图1表示本发明的原理方框图。
图2表示本发明的连续记时记数流程图。
图3表示本发明的定时和报警流程图1。
图4表示本发明的定时和报警流程图2。
图5表示本发明的电路结构图。
具体实施例方式
如图5所示的本发明一种具体实施电路，包括微处理芯片IC4、为微处理芯片IC4提供电源的供电电路1、与微处理芯片IC4相连的定时开关机输出电路6、终止试验检测电路2、存储器IC5和报警电路8，所述终止试验检测电路2包括检测仪关机检测电路3和电器元件失效检测电路4。
所述检测仪关机检测电路3和供电电路1接自同一电源信号，但比供电电路1先感知检测仪关机信号并输入微处理芯片IC4的关机检测脚。插座CON1为220V～输入电源插座，经过双15V变压器T1分为两路，第一路电源输入电路1经第一二极管D1、第二二极管D2整流，第一电容C1滤波，第一稳压器IC1稳压后得到5V电压供给微处理芯片IC4的电源脚，所述第二路电源输入电路2经第三二极管D3、第四二极管D4整流，第三电容C3滤波，第二稳压器IC2稳压后得到5V电压供给微处理芯片IC4的关机检测脚，用以触发微处理芯片IC4通过固化的软件指示存储器IC5动作，所述第一电容C1的容值大于第三电容C3的容值，例如第一电容C1的容值设为2200UF，第三电容C3的容值设为100UF。在检测仪掉电时，由于第一电容C1的容值大于第三电容C3的容值，第三电容C3放电快，IC2输出的5V首先降下来，降到微处理芯片IC4所需的逻辑0电平时，由于第一电容C1放电慢，IC1输出的5V到微处理芯片IC4供电脚暂时还未变，于是微处理芯片IC4立即把待存参数从数据口(I2C总线的SDA、SCL)保存到存储器IC5中。
所述电器元件失效检测电路4，包括稳压二极管D7，所述稳压二极管D7的正极接地，负极接微处理芯片IC4的失效检测脚，将检测到的高低电平信号输入微处理芯片IC4的失效检测脚，触发微处理芯片IC4通过固化的软件指示存储器IC5对电器开关试验的参数进行存储。
所述电器元件失效检测电路4包括电压失效检测电路5和光检测电路6，所述电压失效检测电路5包括用于与电器相连的第二连接器CON2、正极与第二连接器CON2的另一端相连的第五二极管D5，第五二极管D5的负极与第四电阻R4串联后连接稳压二极管D7的负极，另有第五电阻R5和第六电容C6并联后一端接第五二极管D5的正极，另一端接地。所述光检测电路6包括测试电视机屏幕的光敏二极管D8和比较器IC3，所述光敏二极管D8连接在第五连接器CON5上，位于仪器体外，另有第六连接器CON6可与第五连接器CON5匹配插接，使光敏二极管D8的正极通过第一电阻R1接12V基准电压，负极接地，光敏二极管D8的正负极间连接第五电容C5，所述比较器IC3的正极通过一可调电阻R2接12V基准电压，负极连接光敏二极管D8的正极和第一电阻R1的连接点，输出端通过正接第六二极管D6、串联第四电阻R4后连接稳压二极管D7的负极，稳压二极管D7的正极接地，比较器IC3的输出端连接第三电阻R3的一端，第三电阻R3的另一端接地。实验时任意接一个接口，第二连接器CON2为电压检测口，输入高电平为正常，低电平为失效，第六连接器CON6对外通过第五连接器CON5与光检测探头即光敏二极管D8相接。光检测探头D8置于电视机屏幕前(实验对象)，如果电视机在开机时屏幕无光，光检测探头D8未受光，从12V经第一电阻R1流过光敏二极管D8的电流很小，于是比较器IC3的负极输入高电平，经比较器IC3比较后输出0V，于是微处理芯片IC4的电器失效检测脚检测到低电平，即实验对象已失效。反之电视机在开机时屏幕有光，微处理芯片IC4的电器失效检测脚检测到高电平，即实验对象正常。
所述开关机输出电路7包括作为射随器的第一三极管Q1、作为反相器的第四三极管Q4、继电器9和第一开关K1，所述微处理芯片IC4通过软件指示微处理芯片IC4的电压控制脚输出信号至第一三极管Q1的基极，第一三极管Q1的发射极连接第四三极管Q4的基极，第一三极管Q1的集电极和第四三极管Q4的集电极分别连接继电器9两端，以控制继电器9按照设定的时间或被试验电器的失效信号进行接通或切断，从而控制第一开关K1开合，以达到控制电器开关CON3和电源插座CON4的断开与接通目的。
所述报警电路8包括作为射随器的复合管Q2、Q3和喇叭10，所述微处理芯片IC4通过软件指示微处理芯片IC4输出信号至复合管Q2、Q3的基极，所述复合管Q2、Q3的发射极串联第七电容C7后再连接喇叭10的一端，用于驱动喇叭发声，喇叭10的另一端接地，复合管Q2、Q3的发射极串联第九电阻R9后接地。
权利要求
1.一种电器开关试验检测仪，包括微处理芯片(IC4)、为微处理芯片(IC4)提供电源的供电电路(1)和与微处理芯片(IC4)相连的开关机输出电路(7)，其特征在于还包括终止试验检测电路(2)和存储器(IC5)，所述终止试验检测电路(2)用于感知试验时的终止信号并将终止信号输入微处理芯片(IC4)中，所述存储器(IC5)在终止信号输入微处理芯片(IC4)中时受固化在微处理芯片(IC4)中的控制软件的驱动对电器开关试验的参数进行存储或读取。
2.如权利要求1所述的电器开关试验检测仪，其特征在于所述终止试验检测电路(2)包括一检测仪关机检测电路(3)，用于感知试验时检测仪的关机信号，所述检测仪关机检测电路(3)的输入端与电源相连，并在检测仪关机时比供电电路(1)先掉电，输出端与微处理芯片(IC4)的关机检测脚相连，用以触发微处理芯片(IC4)通过固化的失效控制软件指示存储器(IC5)对电器开关试验的参数进行存储。
3.如权利要求2所述的电器开关试验检测仪，其特征在于所述检测仪关机检测电路(3)和供电电路(1)接自同一电源信号，所述供电电路(1)经第一二极管(D1)、第二二极管(D2)整流，第一电容(C1)滤波，第一稳压器(IC1)稳压后供给微处理芯片(IC4)的电源脚，所述检测仪关机检测电路(3)经第三二极管(D3)、第四二极管(D4)整流，第三电容(C3)滤波，第二稳压器(IC2)稳压后供给微处理芯片(IC4)的关机检测脚，所述第一电容(C1)的容值大于第三电容(C3)的容值。
4.如权利要求1或2所述的电器开关试验检测仪，其特征在于所述终止试验检测电路(2)还包括一电器元件失效检测电路(4)，用于感知试验时被试验电器的元件失效信号，所述电器元件失效检测电路(4)的输入端接自被试验电器，将检测到的高低电平信号输入微处理芯片(IC4)的电器失效检测脚，用以触发微处理芯片(IC4)通过固化的失效控制软件指示存储器(IC5)对电器开关试验的参数进行存储。
5.如权利要求4所述的电器开关试验检测仪，其特征在于所述电器元件失效检测电路(4)包括稳压二极管(D7)，所述稳压二极管(D7)的正极接地，负极接微处理芯片(IC4)的电器失效检测脚，为微处理芯片(IC4)的电器失效检测脚提供高低电平作为电器失效检测信号。
6.如权利要求5所述的电器开关试验检测仪，其特征在于所述电器元件失效检测电路(4)包括电压失效检测电路(5)，所述电压失效检测电路(5)包括用于与电器相连的第二连接器(CON2)、正极与第二连接器(CON2)的另一端相连的第五二极管(D5)，第五二极管(D5)的负极连接稳压二极管(D7)的负极。
7.如权利要求5所述的电器开关试验检测仪，其特征在于所述电器元件失效检测电路(4)包括光检测电路(6)，所述光检测电路(6)包括测试电视机屏幕的光敏二极管(D8)和比较器(IC3)，所述光敏二极管(D8)的正极通过第一电阻(R1)接基准电压，负极接地，所述比较器(IC3)的正极通过一可调电阻(R2)接基准电压，负极连接光敏二极管(D8)的正极和第一电阻(R1)的连接点，输出端通过正接第六二极管(D6)后连接稳压二极管(D7)的负极。
8.如权利要求1所述的电器开关试验检测仪，其特征在于所述开关机输出电路(7)包括作为射随器的第一三极管(Q1)、作为反相器的第四三极管(Q4)、继电器(9)和第一开关(K1)，所述微处理芯片(IC4)通过定时控制软件指示微处理芯片(IC4)的电压控制脚输出信号至第一三极管(Q1)的基极，第一三极管(Q1)的发射极连接第四三极管(Q4)的基极，第一三极管(Q1)的集电极和第四三极管(Q4)的集电极分别连接继电器(9)两端，以控制继电器(9)按照设定的时间或被试验电器的失效信号进行接通或切断，从而控制第一开关(K1)开合，以达到控制电器开关的目的。
9.如权利要求1所述的电器开关试验检测仪，其特征在于所述电器开关试验检测仪还包括报警电路(8)，所述报警电路(8)按照微处理芯片(IC4)中固化软件的指示，可对以下动作进行选择1)按照设定的时间报警；2)被试验电器失效时报警；所述报警电路(8)包括作为射随器的复合管(Q2、Q3)和喇叭(10)，所述微处理芯片(IC4)通过软件指示微处理芯片(IC4)输出信号至复合管(Q2、Q3)的基极，所述复合管(Q2、Q3)的发射极连接喇叭(10)的一端，用于驱动喇叭发声，喇叭(10)的另一端接地。
全文摘要
本发明针对现有的电器开关试验检测仪不能感知试验终止、也不能连续记时记数的问题，提供了一种电器开关试验检测仪，包括微处理芯片IC4、为微处理芯片IC4提供电源的供电电路1和与微处理芯片IC4相连的开关机输出电路7，其特征在于还包括终止试验检测电路2和存储器IC5，所述终止试验检测电路2用于感知试验时的终止信号并将终止信号输入微处理芯片IC4中，所述存储器IC5在终止信号输入微处理芯片IC4中时受固化在微处理芯片IC4中的控制软件的驱动对电器开关试验的参数进行存储或读取，当检测仪关机时，将保存开关机试验次数、累计时间及其它设置，当被试验的电子产品失效时，将保存试验参数。
文档编号G01R31/00GK1487302SQ0314017
公开日2004年4月7日 申请日期2003年8月15日 优先权日2003年8月15日
发明者卓成钰, 居兴国, 冀国兴, 边玉涛 申请人:深圳创维－Rgb电子有限公司