基于emi处理的低频射频产品测试系统的制作方法

专利名称:基于emi处理的低频射频产品测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种基于EMI处理的低频射频产品测试系统，包括套装在一起的第三级屏蔽筒，所述屏蔽筒的一端封堵，所述屏蔽筒的另一端安装有可抽拉的前门组件，所述前门组件连接有伸入到所述屏蔽筒内的测试托板，所述测试托板上安装有测试板，所述前门组件上设置有与所述测试板连接的供电装置；所述前门组件和所述屏蔽筒之间安装有抽拉导向装置；本实用新型在超低频段可以提供优越的屏蔽性能，可以保证在测试超低频产品时，不受到外界环境的干扰。
【专利说明】
基于EMI处理的低频射频产品测试系统
技术领域
[0001]本实用新型涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种具有良好的低频屏蔽功能的产品测试系统。
【背景技术】
[0002]手机、无线网卡、无线路由器等射频产品进行测试时，为了避免电磁波的干扰，通常都要将产品所处的空间与外部环境进行屏蔽，目前常见的射频产品测试系统大都只能在高频段(700MHZ-6GHZ)提供初步的屏蔽效果，在超低频(20HZ-150KHZ)并没有屏蔽性能。随着无线通信科技的日新月异，人们对超低频产品也有一定的屏蔽性能要求，现有技术中，一般屏蔽箱的频率高(通常在700MHz-6GHz)，而在超低频(20Hz-150KHz)基本没有屏蔽性能。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种操作简单，屏蔽效果好的基于EMI处理的低频射频产品测试系统。
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是:基于EMI处理的低频射频产品测试系统，包括套装在一起的三级屏蔽筒，所述屏蔽筒的一端封堵，所述屏蔽筒的另一端安装有可抽拉的前门组件，所述前门组件连接有伸入到所述屏蔽筒内的测试托板，所述测试托板上安装有测试板，所述前门组件上设置有与所述测试板连接的供电装置;所述前门组件和所述屏蔽筒之间安装有抽拉导向装置。
[0005]作为一种优选的技术方案，所述屏蔽筒上安装有固定支架。
[0006]作为一种优选的技术方案，三级所述屏蔽筒包括由外向内依次套装的第一级屏蔽筒、第二级屏蔽筒和第三级屏蔽筒，所述第一级屏蔽筒和所述第二级屏蔽筒之间设置有二级限位装置，所述第二级屏蔽筒和所述第三级屏蔽筒之间设置有三级限位装置。
[0007]作为一种优选的技术方案，所述二级限位装置包括设置在所述第一级屏蔽筒内壁上的限位挡块，所述第二级屏蔽筒的外壁上固定安装有二级限位环;所述三级限位装置包括设置在所述第二级屏蔽筒内壁上的限位挡块，所述第二级屏蔽筒的外壁上固定安装有三级限位环。
[0008]作为一种优选的技术方案，所述前门组件包括固定连接的内箱盖和外箱盖，所述外箱盖的外端面柔性连接有前门连接板，所述外箱盖的内端面安装有环所述内箱盖设置的大导向套，所述内箱盖的内端面安装有小导向套和托板支架，所述前门连接板上安装有操作把手，所述前门连接板与所述抽拉导向装置连接。
[0009]作为一种优选的技术方案，所述前门连接板和所述外箱盖之间安装有自适应调节弹簧。
[0010]作为一种优选的技术方案，所述抽拉导向装置包括与所述前门组件连接的两根导杆，所述屏蔽筒上安装有与所述导杆配合的导杆限位块。
[0011]作为一种优选的技术方案，所述前门组件上设置有用于走线的过线套。
[0012]作为一种优选的技术方案，所述供电装置包括穿过所述过线套且与外部电源连接的USB线。
[0013]作为一种优选的技术方案，所述前门组件上安装有与所述屏蔽筒配合的压扣。
[0014]由于采用了上述技术方案，基于EMI处理的低频射频产品测试系统，包括套装在一起的第三级屏蔽筒，所述屏蔽筒的一端封堵，所述屏蔽筒的另一端安装有可抽拉的前门组件，所述前门组件连接有伸入到所述屏蔽筒内的测试托板，所述测试托板上安装有测试板，所述前门组件上设置有与所述测试板连接的供电装置;所述前门组件和所述屏蔽筒之间安装有抽拉导向装置;本实用新型在超低频段可以提供优越的屏蔽性能，可以保证在测试超低频产品时，不受到外界环境的干扰。
【附图说明】

[0015]图1是本实用新型实施例前门组件的结构示意图；
[0016]图2是本实用新型实施例屏蔽筒的结构示意图；
[0017]图中:i卜第一级屏蔽筒；12-第二级屏蔽筒；13-第三级屏蔽筒；21-二级限位环；22-三级限位环;3-固定支架;41-内箱盖;42-外箱盖;43-前门连接板;44-大导向套;45-小导向套;46-托板支架;47-操作把手;48-过线套;51-测试托板;52-测试板;53-USB线;61-导杆;62-导杆限位块;7-压扣。
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图和实施例，进一步阐述本实用新型。在下面的详细描述中，只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例。毋庸置疑，本领域的普通技术人员可以认识到，在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下，可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此，附图和描述在本质上是说明性的，而不是用于限制权利要求的保护范围。
[0019]基于EMI处理的低频射频产品测试系统，如图2所示，包括套装在一起的三级屏蔽筒，三级所述屏蔽筒包括由外向内依次套装的第一级屏蔽筒U、第二级屏蔽筒12和第三级屏蔽筒13，所述第一级屏蔽筒11和所述第二级屏蔽筒12之间设置有二级限位装置，所述第二级屏蔽筒12和所述第三级屏蔽筒13之间设置有三级限位装置;所述二级限位装置包括设置在所述第一级屏蔽筒11内壁上的限位挡块(图中未示出)，所述第二级屏蔽筒12的外壁上固定安装有二级限位环21;所述三级限位装置包括设置在所述第二级屏蔽筒12内壁上的限位挡块(图中未示出)，所述第二级屏蔽筒12的外壁上固定安装有三级限位环22。所述屏蔽筒上安装有固定支架3。
[0020]所述屏蔽筒的一端封堵，所述屏蔽筒的另一端安装有可抽拉的前门组件，如图1所示，所述前门组件包括固定连接的内箱盖41和外箱盖42，所述外箱盖42的外端面柔性连接有前门连接板43，所述前门连接板43和所述外箱盖42之间安装有自适应调节弹簧(图中未示出)，所述外箱盖42的内端面安装有环所述内箱盖41设置的大导向套44，大导向套44与第一级屏蔽筒11配合，所述内箱盖41的内端面安装有小导向套45和托板支架46，所述小导向套45与第二级屏蔽筒12配合，所述前门连接板43上安装有操作把手47，所述前门连接板43连接有抽拉导向装置;所述前门组件连接有伸入到所述屏蔽筒内的测试托板51，所述测试托板51安装在所述托板支架46上;所述前门组件上设置有用于走线的过线套48，所述过线套48贯穿所述内箱盖41和所述外箱盖42。所述测试托板51上安装有测试板52，所述前门组件上设置有与所述测试板52连接的供电装置，所述供电装置包括穿过所述过线套48且与外部电源连接的USB线53;
[0021]所述前门组件和所述屏蔽筒之间安装有抽拉导向装置，所述抽拉导向装置包括与所述前门组件连接的两根导杆61，所述屏蔽筒上安装有与所述导杆61配合的导杆限位块62，所述导杆61和所述导杆限位块62之间设置有直线轴承(图中未示出)。
[0022]所述前门组件的外箱盖42上安装有与所述屏蔽筒配合的压扣7。
[0023]本实用新型采用全手动方式，通过操作把手47人工给予拉力与推力使导杆61在直线轴承内做直线运动实现前门组件的开闭。
[0024]本实用新型具有下述优点:
[0025](一)通过直线轴承和导杆61配合以实现直线运动进而实现前门组件的开关。
[0026](二)采用弹簧镶嵌的方式以实现前门链接板与屏蔽箱外箱盖42的柔性连接，再通过前门组件上的大导向套44与第一级屏蔽筒11配合，以及小导向套45与第二级屏蔽筒12配合，最后实现前门组件均匀紧实的关闭。
[0027](三)前门组件设计有两个箱盖，用以实现双重屏蔽保护，且外箱盖42闭合时，外箱盖42与第一级屏蔽筒11之间设计放有有指型弹片可以使屏蔽效果更佳。
[0028](四)采用卡扣代替传统的门锁，使结构整体变得更加美观以及操作更加方便。
[0029](五)三级屏蔽筒都是用铁镍合金焊接成型，使得在超低频(20Hz-150KHz)具有较高的屏蔽性能。
[0030](六)采用圆筒式的结构使屏蔽性能更高，且方便闭合。
[0031](七)采用三层圆筒叠加的方式组成屏蔽筒，使之组成了三层屏蔽保护，使屏蔽效果更佳。
[0032](八)采用独特的支架来固定屏蔽筒，结构简单，调试方便。
[0033](九)各通信数据接口都采用EMI滤波方式，使屏蔽效果大大提高。
[0034]屏蔽筒是利用导电或者导磁材料制成的壳、板、套等各种形状的屏蔽体，是将电磁能力限制在一定空间范围内用于抑制辐射干扰，并对传导和辐射进行处理以实现给被测无线通讯设备提供无干扰的测试环境。手动关闭屏蔽筒大门，接通USB2.0和DC电源接口，开始测试待测物，测试完成后，手动打开屏蔽筒大门，此时USB2.0和DC电源已经断开，操作结束。
[0035]以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征及本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
【主权项】
1.基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:包括套装在一起的三级屏蔽筒，所述屏蔽筒的一端封堵，所述屏蔽筒的另一端安装有可抽拉的前门组件，所述前门组件连接有伸入到所述屏蔽筒内的测试托板，所述测试托板上安装有测试板，所述前门组件上设置有与所述测试板连接的供电装置;所述前门组件和所述屏蔽筒之间安装有抽拉导向装置。2.如权利要求1所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:所述屏蔽筒上安装有固定支架。3.如权利要求1所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:三级所述屏蔽筒包括由外向内依次套装的第一级屏蔽筒、第二级屏蔽筒和第三级屏蔽筒，所述第一级屏蔽筒和所述第二级屏蔽筒之间设置有二级限位装置，所述第二级屏蔽筒和所述第三级屏蔽筒之间设置有三级限位装置。4.如权利要求3所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:所述二级限位装置包括设置在所述第一级屏蔽筒内壁上的限位挡块，所述第二级屏蔽筒的外壁上固定安装有二级限位环;所述三级限位装置包括设置在所述第二级屏蔽筒内壁上的限位挡块，所述第二级屏蔽筒的外壁上固定安装有三级限位环。5.如权利要求1所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:所述前门组件包括固定连接的内箱盖和外箱盖，所述外箱盖的外端面柔性连接有前门连接板，所述外箱盖的内端面安装有环所述内箱盖设置的大导向套，所述内箱盖的内端面安装有小导向套和托板支架，所述前门连接板上安装有操作把手，所述前门连接板与所述抽拉导向装置连接。6.如权利要求5所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:所述前门连接板和所述外箱盖之间安装有自适应调节弹簧。7.如权利要求1所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:所述抽拉导向装置包括与所述前门组件连接的两根导杆，所述屏蔽筒上安装有与所述导杆配合的导杆限位块。8.如权利要求1所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:所述前门组件上设置有用于走线的过线套。9.如权利要求8所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:所述供电装置包括穿过所述过线套且与外部电源连接的USB线。10.如权利要求1所述的基于EMI处理的低频射频产品测试系统，其特征在于:所述前门组件上安装有与所述屏蔽筒配合的压扣。
【文档编号】G01R1/18GK205720330SQ201620255776
【公开日】2016年11月23日
【申请日】2016年3月30日
【发明人】杨海根, 刘志国, 罗云翔, 黄仁仪
【申请人】珠海市博杰电子有限公司