专利名称：一种测试试验器件的方法
技术领域：
本发明涉及电子及通信领域中的测试技术，具体指一种测试试验器件的方法。
背景技术：
在电子装联可靠性试验中，现有技术一般是将一个试验器件构成一条测试菊花链路(Daisy ChainDC)，该菊花链路两端与可靠性测试系统的测试接口相连构成电气回路，然后通过对试验器件施加机械应力或热应力使器件加速失效，再由测试系统实时监控菊花链路的性能变化过程(如阻值等)，从而自动判断链路是否失效，在这种测试方法中，仅仅能得到一个试验器件的一个样本分析数据。
当使用测试周期不同的可靠性测试系统时，例如假设测试系统A、B，二者的测试通道数均为128个，而测试系统A的可靠性试验周期为1天，测试系统B的可靠性试验周期为3～6个月；当采用测试系统A时，试验板上可设计128条测试链路，一次测试一块试验板，为得到32个统计样本数，需进行32次试验，仅耗时32天；而对于测试系统B，若一块试验板上也设计128条不同的测试链路，为得到最少16个统计样本数，需试验16次，耗时48～96个月，或四套系统同步工作12～24个月。
可见，上述现有技术显然存在许多不足，具体包括1、试验器件需要量大，试验成本高，试验周期长实验者在进行试验时，为得到可靠可信的试验结论，需要较多的试验样本数，一般需要32个，至少也需要16个，而现有技术仅仅能得到一个试验器件的一个样本分析数据，因此完成一个试验需要大量的器件，而且成本高、时间长。
2、兼容性差同一块试验板不能适用于不同可靠性的测试系统。
发明内容
本发明提出了一种测试试验器件的方法，以解决现有技术中存在的试验器件需要量大、试验成本高、试验周期长的问题。
为了解决上述问题，本发明的解决方案是一种测试试验器件的方法，该方法是在试验板中组装试验器件后，形成菊花链路进行测试，包含如下步骤a、将该试验器件和试验板分为数个测试区域；b、将所述每个测试区域中的试验器件和试验板的焊点及线路构成独立的测试通道，形成菊花链路，并从该菊花链路引出测试点；c、将所述的测试点和测试系统的测试接口相连并进行完成测试，进而得到测试数据。
其中所述的步骤a中的数个测试区域为多个结构相互对称且独立的测试区域。
所述的步骤b中的测试点是从菊花链路的两端引出的。
所述的步骤b中的测试点还可以是从菊花链路中间引出的若干个测试点。
所述步骤b和所述步骤c间还包括下列步骤bc1、将各个测试区域中菊花链路两端的测试点首尾相连，构成一条菊花链路；或者bc2、将各个测试区域中菊花链路一端的测试点相连后，再和地相连，构成菊花链路。
本发明充分利用试验器件结构上的对称性，将试验器件分为结构对称的几个测试区域，每个测试区域构成一条菊花链路。也由于试验器件其结构上的对称性与相似性，同一个试验器件中的各菊花链路基本类似，可认为是独立的菊花链路，其可靠性测试数据可作为分析的样本数。这样可以用较少的试验器件获得统计分析所需的样本数。具体而言，本发明有如下有益效果1、能够实现以较少的试验器件获得足够的统计分析样本数；2、通过简单地改变菊花链路的连接关系，使同一试验板适用于不同的可靠性测试系统；3、本发明在保证了试验数据与结论的可信度的前提下，节约了试验成本，缩短了试验周期。
图1是本发明实施例中BGA器件的俯视示意图；图2是本发明实施例中包含有菊花链路的BGA试验器件的俯视示意图；图3是本发明的方法流程图；图4是本发明实施例BGA试验器件与试验板构成的菊花链路测试通道示意图；图5是本发明实施例BGA试验器件与试验板构成的菊花链路测试通道的一种连接关系示意图；图6是本发明实施例BGA试验器件与试验板构成的菊花链路测试通道的另一种连接关系示意图。
具体实施例方式
本发明下面的实施例以BGA器件(Ball Grid Array球栅阵列器件)为例进行说明，其不仅仅限于BGA器件，还用于其他结构对称的器件。如图1所示为BGA器件的俯视示意图，黑色实心圆为该器件上的焊球位置11；如图2所示是包含有局部菊花链路的BGA试验器件的俯视示意图，该BGA试验器件可从试验器件制作厂商处采购或定做包含对称菊花链路的器件，从图中可以看出，该试验器件与菊花链路均成水平方向、垂直方向轴向对称。
实施例所采用的测试系统同现有技术的测试系统完全相同，也通过该测试系统的测试接口和菊花链路相连，而菊花链路就是通过BGA试验器件和试验板上的焊点、线路构成的测试通道，本发明的重点就在于该菊花链路的具体形成过程。
实施例一下面将详细介绍本实施例所述的一种通过设计、测试菊花链路以达到测试目的的方法，其是在该试验板上组装BGA试验器件后，形成菊花链路进行测试。如图3所示，该方法包含有如下步骤第一、将该试验器件和试验板分为数个测试区域。
本实施例利用该BGA试验器件及其菊花链路轴向对称的特点，将该BGA试验器件分为四个测试区域(根据需要，也可分为2个、8个测试区域)，如图2所示，如同平面坐标系中的第一象限、第二象限、第三象限、第四象限。
在该试验板上组装BGA试验器件，该试验板是一种印刷电路板，其上已按设计要求制作了导线和焊盘，通过焊接组装，试验器件的焊端/焊球与焊盘相连，以实现特定功能。组装后形成如图4所示的菊花链路，该BGA试验器件的焊球对应于该试验板的焊盘，二者之间焊接后通过已有的连线形成电气通路。
第二、在各个测试区域中，该试验器件和试验板的焊点、线路构成独立的测试通道，即为菊花链路，并从该菊花链路中引出测试点。
在该试验板上组装BGA试验器件后，如图4所示，每个测试区域内的焊点11、线路12和13构成一条测试通道，其中，焊点11为BGA试验器件焊球和试验板焊盘的位置，线路12为BGA试验器件上已存在的线路；线路13为试验板上的设计线路。这样，由于位置上的对称性，在四个测试区域内便可得到四条基本相同的、且相互独立的测试用的菊花链路。
在每个测试区域的菊花链路上，首先从该菊花链路的两端分别引出2个测试点，如图4中的测试点T1+、T1-、T2+、T2-、T3+、T3-、T4+、T4-，相应的菊花链路为T1、T2、T3、T4。
第三、将该测试点和测试系统的测试接口相连完成测试，从而得到测试数据。
将菊花链路两端与可靠性测试系统的测试接口相连构成电气回路，通过对BGA试验器件施加机械应力或热应力使其加速失效，测试系统实时监控菊花链路的性能变化过程(例如阻值等)，从而能够自动判断菊花链路是否失效，此时试验一个BGA试验器件可得到四个样本分析数据。
本实施例可以通过简单地改变测试区域之间菊花链路的连接关系，使同一试验板适用于不同的可靠性测试系统。
当应用测试周期较短的可靠性测试系统A时，如图5所示，将测试点T1-与T2-相连、T2-与T3-相连、T3-与T4-相连，再与地GND相连，此时一个器件形成四条基本类似的共地的测试链路，可靠性试验后得到四组可靠性寿命数据。由于每次测试的时间短，一批试验板分多次测试，总耗时也不长。当应用测试周期较长且测试通道数相同的可靠性测试系统B时，将T2+与T3+相连，此时四条链路形成了一条测试链路，如图6所示，每次试验可同时进行多块试验板和试验器件的测试，从而减少了试验次数，大为缩短了总测试耗时。这样使两套不同的测试系统A和B可共用同一试验板进行测试。
实施例二本实施例和实施例一基本一致，不同之处仅仅在步骤二。本实施例除了在菊花链路两端设置测试点外，还在每条菊花链路中还增加了三个测试点，以便在试验的测试过程中准确判断具体的失效位置，以利于进一步分析。
以T2菊花链路为例，如图4所示，在该菊花链路中共有5个测试点，即T2+、T21、T20、T22、T2-通过T2+和T21两个测试点可判断该菊花链路中水平方向的外排链路是否失效；通过T2-和T22两个测试点可判断该菊花链路中水平方向的内排链路是否失效；通过T20和T21两个测试点可判断该菊花链路中垂直方向的外排链路是否失效；通过T20和T22两个测试点可判断该菊花链路中水平方向的内排链路是否失效。
本实施例通过将较少的测试点布局在菊花链路中合理的位置，而能够准确判断地判断失效的具体位置。
权利要求
1.一种测试试验器件的方法，该方法是在试验板中组装试验器件后，形成菊花链路进行测试，其特征在于，包含如下步骤a、将该试验器件和试验板分为数个测试区域；b、将所述每个测试区域中的试验器件和试验板的焊点及线路构成独立的测试通道，形成菊花链路，并从该菊花链路引出测试点；c、将所述的测试点和测试系统的测试接口相连并进行完成测试，进而得到测试数据。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤a中的数个测试区域为多个结构相互对称且独立的测试区域。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤b中的测试点是从菊花链路的两端引出的。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤b中的测试点还可以是从菊花链路中间引出的若干个测试点。
5.如权利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，所述步骤b和所述步骤c间还包括下列步骤bc1、将各个测试区域中菊花链路两端的测试点首尾相连，构成一条菊花链路；或者bc2、将各个测试区域中菊花链路一端的测试点相连后，再和地相连，构成菊花链路。
全文摘要
本发明提出了一种通过菊花链路来测试试验器件的方法，以解决现有技术中存在的试验器件需要量大、试验成本高、试验周期长和兼容性差等问题。其是在试验板中组装试验器件后，形成菊花链路进行测试，该方法包含有如下步骤a.将该试验器件和试验板分为数个测试区域；b.在该测试区域中，该试验器件和试验板的焊点、线路构成独立的测试通道，即为菊花链路，并从该菊花链路中引出测试点；c.将该测试点和测试系统的测试接口相连完成测试，从而得到测试数据。本发明能够实现以较少的试验器件获得足够的统计分析样本数；通过简单地改变菊花链路的连接关系，使同一试验板适用于不同的可靠性测试系统；本发明节约了试验成本，缩短了试验周期。
文档编号G01N27/04GK1624467SQ200310120069
公开日2005年6月8日 申请日期2003年12月3日 优先权日2003年12月3日
发明者陈松柏, 刘桑 申请人:华为技术有限公司