分振幅离轴x射线全息装置的制作方法

文档序号:5968762阅读:152来源:国知局
专利名称:分振幅离轴x射线全息装置的制作方法
技术领域
本发明涉及一种X射线全息装置,特别是一种分振幅离轴X射线全息装置,具有很高的学术价值和应用前景。
背景技术
1949年,Gabor发明了全息,由于缺少高亮度的相干光源,一直处于沉寂状态,记录方式也停留在同轴方式,由于孪生像的影响,图像质量也很差。
1960年激光问世,为全息术提供了一个理想的相干光源。1962年,利思等人用一个很简单的方法—离轴全息术,很好地消除了孪生像的影响。1964年还是利思,他们提出漫射照明全息术的概念。在这之前,所有制出的全息图都是透明物体的全息图,这一类物体的全息图往往就是该物体的近乎可以辨认的阴影图。
当物体以漫射方式照明以后,全息图上就不再出现物体的可辨认的阴影图。由物体每一点散射的光扩散开来,能覆盖整个全息图。因此,全息图上每一小部分,都含有整个物体的信息。如果全息图破碎,被擦伤或遭到其它破坏,仍然可能形成整个物体的像,当然,分辨率受到了损失。
全息术是一个双光束干涉过程,即将物体的特定波前以干涉条纹的形式记录下来,然后利用光的衍射原理,再现记录时的波前。
全息的记录方法多种多样,主要可分为同轴全息术和离轴全息术。同轴全息有夫琅和费全息、菲涅耳全息、菲涅耳单边带全息。离轴全息有菲涅耳全息、像面全息、傅里叶全息等等。
由于同轴全息图的物像和共轭像、背景光不能完全分开,只有在满足弱位相条件或Frauhaufer条件时,才能基本消除共轭像的影响。所以同轴全息仅在X射线全息术里得到应用,目前在光学全息术中多采用离轴全息术,离轴全息术克服了弱位相和弱振幅的限制。
在离轴全息术中,假设参考波是沿与Z轴夹角为θE=sin-1(vλ)入射的平面波Ur(r→H)=Ar(r→H)exp(2πiγ→·r→H)]]>式中γ是空间频率,参考波和物波在全息图平面上干涉叠加,全息图上的密度分布为IH(rH)=|U0+Ur|2]]>=|A0|2+|Ar|2]]>+ArA0exp{i[φ0(r)-2πq→r·r→H]}]]>+ArA0exp{-i[φ0(r)-2πq→r·r→H]}]]>重现时,如果参考波Uc’=1,重现后的波前为UR=(Tb+βIH)Ur′]]>=(Tb+βA02+βAr2)]]>+βArA0exp{i[φ0(rH)-2πq→r·r→H]}]]>+βArA0exp{-i[φ0(rH)-2πq→r·r→H]}]]>用相位因子判断法,第一项是零级透射光,沿Z轴方向传播,第二项正是物波,沿与Z轴夹角为θE的方向传播,第三项是物波的共轭波,沿与Z轴夹角为-θE的方向传播。
从频谱平面上看更清楚,假设物波的频谱宽度为Bx,如图1,中间是物波频谱自相关函数,带宽是2Bx;两边分别是以载频±γ=sinθE/λ为中心的物波的频谱和物波共轭的频谱。为了使频谱不重叠,必须要θE角足够大。
sinθEλ>3BX]]>对于弱位相物体,物波的自相关很小,可以忽略。只要θE满足
sinθEλ>2BX]]>由于全息是利用波的基本性质衍射和干涉,因而不仅适用于光波,而且也适用于其它所有波,例如声波全息、微波全息、X光全息、中子全息、原子全息和电子全息等等。根据波动力学的观点,物质具有波粒二象性,粒子可用几率波来描述,而几率波同样具有叠加干涉的性质,因而也可以利用全息成像,X射线当然也不例外。
从上面的讨论可以看出,在X射线波段欲采用离轴法记录全息图,物束与参考束之间必须有一定的角度,这样对记录介质的分辨率有一定的要求。若采用水窗波段30的X射线记录全息图,物束与参考束之间的夹角为60°,那么干涉条纹间距则为30。在目前,所有的X射线波段的记录介质分辨率都远远不能满足这个要求。这就是为什么到现在为止,X射线全息术仅局限于同轴记录方式的根本原因。

发明内容
本发明要解决的技术问题在于克服上述现有技术的不足,提供一种分振幅式离轴X射线全息装置。
本发明的实质是利用X射线光栅对X射线进行分束,即X射线入射到光栅上,光栅产生衍射,形成零级波和一级衍射波,然后让它们会合形成全息图,再采用波带片将X射线干涉条纹间距进行放大,以便能采用现有商业X射线记录介质进行记录。
本发明的技术解决方案如下一种分振幅离轴X射线全息装置,其特征在于它包括准单色X射线源、光栅、第一反射镜、第二反射镜、X射线波带片、和记录介质,各元件的关系如下在准单色X射线源的输出光路上安置一光栅,将X射线分成A光束和B光束,A光束经第一反射镜反射作为参考束,B光束经第二反射镜反射通过一待测物体作为物束与作为参考束的A束相遇,再经X射线波带片后被记录介质记录。
所述的准单色X射线源是一台同步辐射光源,经单色器以后成为准单色X射线源,或者是一台激光等离子体X射线源。
所述的光栅是一台X射线反射式光栅。
所述的两块反射镜是工作在X射线波段的反射镜。
所述的X射线波带片是一块直径为100μm~10mm、波带数大于500的成像X射线波带片。
所说的记录介质是一种高分辨率X射线光刻胶,市场有售。与在先技术相比具有的优点本发明的分振幅离轴X射线全息装置与在先技术相比,可以进行离轴式记录,具有离轴式全息的一切优点,例如没有孪生像干扰,可以两次曝光记录,可以做成全息干涉仪等,打开了X射线全息的一个新的窗口,具有很高的学术价值和应用前景。


图1为全息重现图的频谱2为本发明的分振幅离轴X射线全息装置图。
具体实施例方式
下面结合实施例,对本发明作进一步说明,但不应以此限制本发明的保护范围。
本发明的分振幅离轴X射线全息装置如图2所示,由7部分组成,它包括准单色X射线源1,光栅2,第一反射镜3和第二反射镜4,待测物体5,X射线波带片6和记录介质7。
所说的准单色X射线源是一台同步辐射光源经单色器以后,成为准单色X射线源,波长从1到50可调。
所说的光栅是一台X射线反射式光栅,3000线/mm,市场有售。
所说的两块反射镜是工作在X射线波段的反射镜。
所说的X射线波带片是一块直径为3mm、波带数大于500的成像X射线波带片,市场有售。
所说的记录介质是一种高分辨率X射线光刻胶,市场有售。
下面阐述其工作原理当准单色X射线源1入射到光栅2上,产生了零级波和+1级衍射波,零级波为B束即物束,+1级衍射波作为参考波,A束和B束间的夹角可以根据常数选择,即sin12θ=λd]]>式中,λ为波长,d为光栅常数,θ/2为零级波和+1级衍射波间的夹角。
B束经待测物体5以后,和A束即参考束相交形成全息图,该全息图设置在离X射线波带片焦点外3μm的地方,则这个全息图在3米以外被放大了1000倍。干涉条纹间距为3μm,不仅光刻胶可以记录,Kodak胶卷也可以记录,从而解决了X射线全息术中,记录离轴全息图的一大难题。
特别要指出的是,如果本实验在软X射线实施,整个装置需在真空中运行,若采用硬X射线,可在大气中运转。如果是连续X射线源,整个系统要防震,若脉冲源无须防震。
权利要求
1.一种分振幅离轴X射线全息装置,其特征在于它包括准单色X射线源(1),光栅(2),第一反射镜(3)、第二反射镜(4),X射线波带片(6)和记录介质(7),各元件的关系如下在准单色X射线源(1)的输出光路上安置一光栅(2),将X射线分成A光束和B光束,A光束经第一反射镜(3)反射作为参考束,B光束经第二反射镜(4)反射通过一待测物体(5)作为物束与作为参考束的A束相遇,再经X射线波带片(6)后被记录介质(7)记录。
2.根据权利要求1所述的分振幅离轴X射线全息装置,其特征在于所说的准单色X射线源(1)是一台同步辐射光源,经单色器以后成为准单色X射线源,或者是一台激光等离子体X射线源。
3.根据权利要求1所述的分振幅离轴X射线全息装置,其特征在于所述的光栅(2)是一台X射线反射式光栅。
4.根据权利要求1所述的分振幅离轴X射线全息装置,其特征在于所述的两块反射镜(3或4)是工作在X射线波段的反射镜。
5.根据权利要求1所述的分振幅离轴X射线全息装置,其特征在于所述的X射线波带片(6)是一块直径为100μm~10mm、波带数大于500的成像X射线波带片。
6.根据权利要求1所述的分振幅离轴X射线全息装置,其特征在于所述的记录介质(7)是一种高分辨率X射线光刻胶。
全文摘要
一种分振幅离轴X射线全息装置,其特征在于它包括准单色X射线源、光栅、第一反射镜、第二反射镜、X射线波带片、和记录介质,各元件的关系如下在准单色X射线源的输出光路上安置一光栅,将X射线分成A光束和B光束,A光束经第一反射镜反射作为参考束,B光束经第二反射镜反射通过一待测物体作为物束与作为参考束的A束相遇,再经X射线波带片后被记录介质记录。本发明具有离轴式全息的一切优点。
文档编号G01N23/04GK1624461SQ20041009302
公开日2005年6月8日 申请日期2004年12月15日 优先权日2004年12月15日
发明者陈建文, 高鸿奕, 干慧菁, 朱化凤, 李儒新, 徐至展 申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所
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