专利名称：用以检测光学元件品质的检测方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明关于一种用以检测光学元件品质的检测方法及装置，尤指一种用以检测一光学元件中是否留存有阻挡光程路径的阻碍物的光学元件品质的检测方法及装置。
背景技术：
随着消费性数字电子产品的流行，于所述产品上附加照相功能，已是目前的主要发展趋势之一。但是，因数字电子产品的整体体积，通常会基于成本与便利性的考虑而有所限制，如此一来，与其搭配的相机模块的整体体积当然更加受限。这样，应用其中的光学镜头组的整体体积，亦需跟着一起变小。
此等结果，对于遂行判断所述小型光学镜头组的光学镜面是否存有瑕疵或受到污染(例如，留有灰尘、受到刮伤、材质不均等等)的检测工作，即形成一大挑战。
公知针对所述小型光学镜头组的光学镜面是否存有瑕疵或受到污染的品质检测方法，通常是以高倍显微镜与强光，配合目视方式为之。对于留存于光学镜面表面的污点虽然可以此方式得知，但对于光学镜头组内部阻碍光程路径的阻碍物，抑或属于较不易直接以肉眼目视察觉的瑕疵，则显不易由此方式发现。如此一来，一旦此等具有瑕疵的光学镜头组被组装于产品中，显将引发后续品管与维修问题，甚或造成消费纠纷。
发明内容
本发明的目的之一，是希望提供一种能轻易发现光学镜头组内部阻碍光程路径的阻碍物的光学元件品质检测方法。
本发明的另一目的，是希望提供一种能轻易发现光学镜头组内部阻碍光程路径的阻碍物的光学元件品质检测装置。
为了达到上述目的，本发明提供一种用以检测光学元件品质的检测方法，包含下列步骤提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经一光学元件，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学元件的位置状态，以使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学元件后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学元件的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。
依据本发明上述的构想，其中该点状光源可为一激光光源。
依据本发明上述的构想，其中该光学元件可包含一供该点状光源穿经其中的光学镜头组，与一用以握持该光学镜头组的镜头组夹具。
依据本发明上述的构想，其中该镜头组夹具具有一位置调整元件，以调整该光学镜头组可处于不同的位置状态。
依据本发明上述的构想，其中可为以旋转方式，抑或以倾斜方式改变该光学镜头组的位置状态。
依据本发明上述的构想，其中该阴影区块为由一留存于该光学元件中的阻碍物阻挡该点状光源的光程路径而形成。
依据本发明上述的构想，其中该光学影像处理装置可为一具有二维坐标标记的屏幕，以供该第一与第二光学影像投射于其上。
依据本发明上述的构想，其中该阴影区块的二维坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。
依据本发明上述的构想，其中该光学影像处理装置可为一设有光学感测元件的计算机处理装置，以输入该第一与第二光学影像。
依据本发明上述的构想，其中该计算机处理装置判断该阴影区块的感测影像坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。
本发明的另一较佳做法，关于一种用以检测光学元件品质的检测方法，包含下列步骤提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经可处于不同位置状态的一光学元件，以于一光学影像处理装置中留存不同的光学影像；以及判断该些不同光学影像中是否皆具有形式相同的阴影区块，决定该光学元件的品质。
本发明的又一较佳做法，关于一种用以检测光学元件品质的检测装置，包含一光源产生装置，其用以产生一点状光源；一握持装置，设于该光源产生装置的后方，其用以握持一可供该点状光源穿经其中的光学镜头组，且可调整该光学镜头组的位置状态；以及一光学影像处理装置，设于该光学镜头组的后方，以输入该点状光源于穿经处于不同位置状态的光学镜头组后而所产生的不同光学影像，且可依据该些不同光学影像中的阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。
依据本发明的上述构想，该点状光源可为一激光光源，且该握持装置可为一用以握持该光学镜头组的镜头组夹具，该镜头组夹具具有一位置调整元件，以旋转或以倾斜方式，调整该光学镜头组处于不同的位置状态。
依据本发明的上述构想，该阴影区块为由一留存于该光学镜头组中的阻碍物阻挡该点状光源的光程路径而形成。
依据本发明的上述构想，该光学影像处理装置可为一具有二维坐标标记的屏幕，以供该第一与第二光学影像投射于其上，且该阴影区块的二维坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。
依据本发明的上述构想，该光学影像处理装置可为一设有光学感测元件的计算机处理装置，以输入该第一与第二光学影像，且该计算机处理装置判断该阴影区块的感测影像坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。
本发明的用以检测光学元件品质的检测方法和装置，能够在不大幅增加成本的前提下，轻易地检验出光学元件品质。
图1其为本发明的一较佳实施流程的步骤示例图。
图2(a)、图2(b)其皆为本发明的一第一较佳实施装置的结构与运作示例图。
图3(a)、图3(b)其皆为本发明的一第二较佳实施装置的结构与运作示例图。
其中，附图标记说明如下
1—检测装置；11—光源产生装置；110—点状光源；111—第一光学影像；112—第一光学影像；12—握持装置；121—位置调整元件；13—光学影像处理装置；14—光学镜头组；141—阴影区块；2—检测装置；21—光源产生装置；210—点状光源；211—第二光学影像；212—第二光学影像；22—握持装置；221—位置调整元件；23—光学影像处理装置；231—光学感测元件；232—微处理器；233—输出装置；2321—位置调整信号；24—光学镜头组；241—阴影区块；R—旋转动作；X—二维坐标轴；Y—二维坐标轴。
具体实施例方式
以下兹列举较佳实施例以说明本发明，然熟悉此项技术者皆知此仅为一举例，而并非用以限定发明本身。
首先，兹提出本发明的一较佳实施方法。请参阅图1，其为本发明的一较佳实施方法的流程示例图，其详细步骤如下所述步骤(a)开始；步骤(b)提供一属于点状光源的激光光源；步骤(c)输出该激光光源，并使其穿经一光学元件，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；较佳者，其中该光学元件可包含一供该激光光源穿经其中的光学镜头组，与一用以握持该光学镜头组的镜头组夹具；至于该镜头组夹具，则可具有一位置调整元件，以旋转方式抑或以倾斜方式，调整该光学镜头组处于不同的位置状态；步骤(d)于该第一光学影像中具有一阴影区块时，向左或向右旋转调整该光学镜头组的位置状态，以使该激光光源于穿经遂行调整动作的该光学镜头组后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；其中，该阴影区块为由一留存于该光学镜头组中的阻碍物阻挡该激光光源的光程路径而形成；步骤(e)比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学镜头组的品质；
其中，于该光学影像处理装置为一具有二维坐标标记的屏幕以供该第一与第二光学影像投射于其上，且，该阴影区块的二维坐标值于因应该光学镜头组的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学镜头组的品质不佳；抑或，该光学影像处理装置亦可为一设有光学感测元件的计算机处理装置以输入该第一与第二光学影像，且，该计算机处理装置判断该阴影区块的感测影像坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳；以及步骤(f)结束。
至于有关本发明的较佳实施装置，则请参阅图2(a)、图2(b)，其皆为本发明的一第一较佳实施装置的结构与运作示例图。于其中，检测装置1可包含一光源产生装置11、一设于该光源产生装置11的后方的握持装置12，以及一设于该握持装置12后方的光学影像处理装置13。以此一较佳实施例为例，该握持装置12可为一具有位置调整元件121的镜头组夹具，且该光学影像处理装置13可为一具有二维坐标标记的屏幕。
一等待检测其镜头品质的光学镜头组14可由该镜头组夹具12所握持住，以供该光源产生装置11所产生输出的一点状光源110(例如，为一激光光源)穿经其中，并投射至该具有二维坐标标记的屏幕13上。假设，于该光学镜头组14处于一第一位置时，发现该激光光源110穿经该光学镜头组14后所投射出的光学影像111(可视为一第一光学影像)内包含有一阴影区块141，则可利用该位置调整元件121(例如，为一可遂行左右旋转动作R的手动旋转元件)，以手动调整方式改变被该镜头组夹具12所握持的该光学镜头组14的位置状态至一第二位置，并使得该激光光源110穿经该光学镜头组14后，投射出另一光学影像111(可视为一第二光学影像)至该屏幕13处。
由于该屏幕13上方已标记有X轴与Y轴的二维坐标，因此该光学镜头组14处于该第一位置而所投射出的该第一光学影像，其中该阴影区块141显将具有一第一坐标值。一旦，当该光学镜头组14因应该镜头组夹具12的转动而被带动旋转，以致使该阴影区块141亦跟着该光学镜头组14的转动而一起旋转并形成于该第二光学影像112中时，该阴影区块141显将改为具有一第二坐标值。之后，再行比较位于该第一或第二光学影像111、112中的该阴影区块141的外观形式是否相同，即可确认该阴影区块141是否由位于该光学镜头组14内的阻碍物所形成。亦即，该阴影区块141如确实由位于该光学镜头组14内的阻碍物所形成，则其显将会随着该光学镜头组14的转动而一起旋转，当然，连带亦会使得被投射至该屏幕13处的该阴影区块141亦会跟着移动其所坐落的坐标位置。如此一来，测试者即可轻易得知该光学镜头组14的镜头品质。
再请参阅图3(a)、图3(b)，其皆为本发明的一第二较佳实施装置的结构与运作示例图。于其中，检测装置2可包含一光源产生装置21、一设于该光源产生装置21的后方的握持装置22，以及一设于该握持装置22后方的光学影像处理装置23。以此一较佳实施例为例，该握持装置22可为一具有位置调整元件221的镜头组夹具，且该光学影像处理装置23可为一设有光学感测元件231的计算机处理装置。当然，该计算机处理装置23更包含一电连接于该光学感测元件231与该镜头组夹具22的微处理器232，以及一电连接于该微处理器232的输出装置233。至于该光学感测元件231(例如，可为一CCD光学感测元件)的详细工作原理因仅为一公知技术，在此即不再予以赘述。
再则，一等待检测其镜头品质的光学镜头组24可由该镜头组夹具22所握持住，以供该光源产生装置21所产生输出的一点状光源210(例如，为一激光光源)穿经其中，并投射至该光学感测元件231处以供其遂行感测输入动作。假设，于该光学镜头组24处于一第一位置时，发现该激光光源210穿经该光学镜头组24后所投射出的光学影像211(可视为一第一光学影像)内包含有一阴影区块241，则可利用该位置调整元件221(例如，其受到由该微处理器232所产生的一位置调整信号2321的控制而可遂行一左右旋转动作R的自动旋转元件)，以自动调整方式改变被该镜头组夹具22所握持的该光学镜头组24的位置状态至一第二位置，并使得该激光光源210穿经该光学镜头组24后，投射出另一光学影像212(可视为一第二光学影像)至该光学感测元件231处。
由于该微处理器232输入并处理来自该光学感测元件231所感测得致的感测影像信号(即前述的该第一及第二光学影像211、212)具有感测影像坐标值，因此该光学镜头组14处于该第一位置而所投射出的该第一光学影像211，其中该阴影区块241显将具有一第一感测影像坐标值。一旦，当该光学镜头组24因应该镜头组夹具22的转动而被带动旋转，以致使该阴影区块241亦跟着该光学镜头组24的转动而一起旋转并形成于该第二光学影像212中时，该阴影区块241显将改为具有一第二感测影像坐标值。之后，再行由该微处理器232比较位于该第一或第二光学影像211、212中的该阴影区块241的外观形式是否相同，即可确认该阴影区块241是否由位于该光学镜头组24内的阻碍物所形成。亦即，该阴影区块241如确实是由位于该光学镜头组24内的阻碍物所形成，则其显将会随着该光学镜头组24的转动而一起旋转，当然，连带亦会使得被投射至该光学感测元件231处的该阴影区块241亦会跟着移动其所坐落的坐标位置。如此一来，测试者即可轻易透过该输出装置233得知该光学镜头组24的镜头品质。
综上所述，本发明确实能于不大幅增加成本的前提下，提供一种能轻易发现光学镜头组内部阻碍光程路径的阻碍物的光学元件品质检测方法与装置，故本发明实为一极具产业价值之作。
本发明得由熟习此技术的人士任施匠思而为诸般修饰，然皆不脱所附权利要求书所欲保护的范围。
权利要求
1.一种用以检测光学元件品质的检测方法，其中包含下列步骤提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经一光学元件，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学元件的位置状态，以使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学元件后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学元件的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。
2.如权利要求1所述的用以检测光学元件品质的检测方法，其特征是该点状光源可为一激光光源，而该光学元件则可包含一供该激光光源穿经其中的光学镜头组，与一用以握持该光学镜头组的镜头组夹具；其中，该镜头组夹具具有一位置调整元件，以旋转抑或以倾斜方式，调整该光学镜头组处于不同的位置状态。
3.如权利要求1所述的用以检测光学元件品质的检测方法，其特征是该光学影像处理装置可为一具有二维坐标标记的屏幕，以供该第一与第二光学影像投射于其上，且该阴影区块的二维坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。
4.如权利要求1所述的用以检测光学元件品质的检测方法，其特征是该光学影像处理装置可为一设有光学感测元件的计算机处理装置，以输入该第一与第二光学影像，且该计算机处理装置判断该阴影区块的感测影像坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。
5.一种用以检测光学元件品质的检测方法，其中包含下列步骤提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经可处于不同位置状态的一光学元件，以于一光学影像处理装置中留存不同的光学影像；以及判断该些不同光学影像中是否皆具有形式相同的阴影区块，决定该光学元件的品质。
6.一种用以检测光学元件品质的检测装置，其中包含一光源产生装置，其用以产生一点状光源；一握持装置，设于该光源产生装置的后方，其用以握持一可供该点状光源穿经其中的光学镜头组，且可调整该光学镜头组的位置状态；以及一光学影像处理装置，设于该光学镜头组的后方，以输入该点状光源于穿经处于不同位置状态的光学镜头组后而所产生的不同光学影像，且可依据该些不同光学影像中的阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。
7.如权利要求6所述的用以检测光学元件品质的检测装置，其特征是该点状光源可为一激光光源，且该握持装置可为一用以握持该光学镜头组的镜头组夹具，该镜头组夹具具有一位置调整元件，以旋转或以倾斜方式，调整该光学镜头组处于不同的位置状态。
8.如权利要求6所述的用以检测光学元件品质的检测装置，其特征是该阴影区块为由一留存于该光学镜头组中的阻碍物阻挡该点状光源的光程路径而形成。
9.如权利要求6所述的用以检测光学元件品质的检测装置，其特征是该光学影像处理装置可为一具有二维坐标标记的屏幕，以供该第一与第二光学影像投射于其上，且该阴影区块的二维坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。
10.如权利要求6所述的用以检测光学元件品质的检测装置，其特征是该光学影像处理装置可为一设有光学感测元件的计算机处理装置，以输入该第一与第二光学影像，且该计算机处理装置判断该阴影区块的感测影像坐标值于因应该光学元件的位置调整动作而同步改变时，即表示该光学元件的品质不佳。
全文摘要
本发明关于一种用以检测光学元件品质的检测方法及装置，该方法包含下列步骤利用一光源产生装置以提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经由一握持装置所握持的光学镜头组，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学镜头组的位置状态，以使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学镜头组后，而于该光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。
文档编号G01N21/958GK1869668SQ20051007430
公开日2006年11月29日 申请日期2005年5月25日 优先权日2005年5月25日
发明者秦厚敬, 陈祥男 申请人:致伸科技股份有限公司