专利名称：利用数字测试仪测量模拟信号的方法
技术领域：
本发明涉及一种半导体集成电路的测试方法，特别是涉及一种利用数字测试仪测量模拟信号的方法。
背景技术：
一般用数字信号测试仪进行模拟信号的一些模拟量(如响应时间、幅值等参数)测试比较难。尤其对象过冲这一类发生时间较为短暂，不太容易捕捉的电信号。如果直接用测试仪内部直流测试单元进行测试，由于测试仪内部直流测试单元本身的内部继电器开闭需要时间，而内部继电器的开闭时间是以毫秒为时间单位，所以，等到内部继电器状态稳定，那些转瞬即逝的信号早就消失了。如果要获得测试结果，则需要借助外接示波器，但这又牵扯到波形是否能够捕捉到，以及示波器的带宽、外接示波器与数字信号测试仪是否匹配等问题。这些问题虽然可以解决，但是在实际测试过程中操作比较麻烦。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种利用数字测试仪测量模拟信号的方法，它操作简单，可获得比较理想的测试结果。
为解决上述技术问题，本发明利用数字测试仪测量模拟信号的方法是采用如下技术方案实现的，首先，采用DIGITIZER(数字化仪器)通过测试仪将被测量的模拟信号转换成数字信号，并将转换后的数字信号存储于数字化仪器的数据存储器中，然后，测试仪将已采集的信号数据从数据存储器中调出并对信号进行还原，最后，对信号数据进行分析处理，得出测试结果。
采用本发明的方法为一般不太复杂的模拟信号测试提供了一种新的解决方法，可获得比较理想的测试结果。采用这种方法的优点为第一，精度可以保证，由于数字化仪器属测试仪自带，往往精度和速度都很高，对于一般的测试在精度上是可以保证测试精确性的。第二，操作简便，无需外接其他仪器，并且由于数字化仪器自带数据存储器，所以数字化仪器会自动将信号的任何的细微快捷的变化如实记录下，存入存储器中，要求得信号具体参数值，实际只是对既有数据进行处理的过程，不需要测试者为是否捕捉得到信号而操心。
具体实施例方式
本发明利用数字测试仪测量模拟信号的方法，使用DIGITIZER实现模拟量测试，整个过程可总结为先用数字形式将被测模拟量如实记录下来，然后通过对存储数据进行处理以求得被测模拟量的各参数值，可以解决用数字信号测试仪测量模拟信号的测试问题。
DIGITIZER实质上是一个高精度的高速模数转换器(ADC)，其工作原理就是先对被测量的模拟信号进行量化，形成数字信号，这样便于数据传输和计算机处理。
DIGITIZER一般是测试仪自带的，通过测试仪(只要测试仪内部ADC速度跟得上)将模拟信号转换成数字信号。DIGITIZER一般会和一个数据存储器合用，数据存储器用于存储转换好后的信号数据。此时数据存储器里的数据实际上是对信号的如实反映，所以，要求得被测模拟信号的具体参数值时，只需将数据存储器里的数据进行分析处理就可以了。数据分析是将已采集的信号数据从数据存储器中调出，并对信号进行还原。还原信号一般还可以显示在测试仪的显示屏上，并对信号(比如响应时间，幅值等参数)进行处理，比如FFT(傅立叶变换)等，从而得出测试结果。
所以，要求得信号具体参数值，实际只是对既有数据进行处理的过程。这种做法好处在于不需要测试者为是否捕捉得到信号而操心。
由于，DIGITIZER是测试仪自带的仪器，所以在精度与速度上规格比较高，对一般的模拟测试不会出现不相匹配的问题。DIGITIZER使用上也比较方便，它接受信号的形式即可是差分输入，也可以是单极输入。在使用时只需在输入端口连上信号传输用导线，通过测试程序给出“开始”命令，便可工作。在对信号数据的还原等处理时，测试仪上备有各种按钮提供实现各种功能。
权利要求
1.一种利用数字测试仪测量模拟信号的方法，其特征在于首先，采用数字化仪器通过测试仪将被测量的模拟信号转换成数字信号，并将转换后的数字信号存储于数字化仪器的数据存储器中，然后，测试仪将已采集的信号数据从数据存储器中调出并对信号进行还原，最后，对信号数据进行分析处理，得出测试结果。
2.根据权利要求1所述的利用数字测试仪测量模拟信号的方法，其特征在于所述还原信号可在测试仪显示屏上显示，并对信号数据进行处理。
3.根据权利要求1或2所述的利用数字测试仪测量模拟信号的方法，其特征在于所述数字化仪器接受信号的形式为差分输入或单极输入。
全文摘要
本发明公开了一种利用数字测试仪测试模拟量的方法。先通过测试仪内部自带数字化仪器将被测模拟信号转换为数字信号，存入存储器中，此时存储器里的数据实际上是对信号的如实反映。所以，要求得被测模拟信号的具体参数值时，只需将存储器里的数据进行处理就可以了。本发明操作简单，可获得比较理想的测试结果。
文档编号G01R31/28GK1979199SQ20051011104
公开日2007年6月13日 申请日期2005年12月1日 优先权日2005年12月1日
发明者王逸峰 申请人:上海华虹Nec电子有限公司